JPS63168520A - 分光蛍光光度計 - Google Patents

分光蛍光光度計

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JPS63168520A
JPS63168520A JP31325986A JP31325986A JPS63168520A JP S63168520 A JPS63168520 A JP S63168520A JP 31325986 A JP31325986 A JP 31325986A JP 31325986 A JP31325986 A JP 31325986A JP S63168520 A JPS63168520 A JP S63168520A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
fluorescence
detector
fluorescent
dimensional
spectrometer
Prior art date
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Pending
Application number
JP31325986A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshio Tsunasawa
綱沢 義夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Filing date
Publication date
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Publication of JPS63168520A publication Critical patent/JPS63168520A/ja
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  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は生化学や医学の分野などで使用される蛍光分析
法で用られる分光蛍光光度計に関し、特に検出器として
アレイ検出器を用いた分光蛍光光度計の光学系に関する
ものである。
(従来の技術) 検出器としてダイオードアレイを用いた分光蛍光光度計
の概略を第5図に示す。
2は光源、4は光源2からの光を分光し、試料セル6内
の試料を照射する励起側分光器、8は試料6から発せら
れる蛍光を分光する蛍光側分光器ある。蛍光側分光器8
中には分散素子として回折格子10が設けられており、
分光器8の出口側焦点面に検出器として一次元ダイオー
ドアレイ12が設けられている6 14は分光器8の入
口スリットである。
励起側分光器4からは特定の波長の励起光が試料セル6
内の試料に照射され、その波長で励起されて発生する蛍
光が蛍光側分光器已に導かれ、−次元ダイオードアレイ
12によって蛍光スペクトルが直ちに測定される。
(発明が解決しようとする問題点) 第5図の分光蛍光光度計では、試料セル6内の試料を励
起する励起光の波長が特定の波長に限定されており、励
起スペクトルを得ることができない。もちろん、励起側
分光器4を走査し、励起光の波長を順次変えていけば励
起スペクトルが得られるが、分光器を走査すればアレイ
検出器12を用いる目的である同時高速性という機能を
果すことができない。
本発明は、アレイ検出器を用い、分光器の機械的な走査
をしないで励起スペクトルと蛍光スペクトルの両者を得
ることのできる分光蛍光光度計を提供することを目的と
するものである。
(問題点を解決するための手段) 本発明の分光蛍光光度計では、励起側分光器の分散方向
と蛍光側分光器の分散方向を互いに直交するように両分
光器を配置し、試料セルには分光された多波長を同時に
入射させ、蛍光側分光器の出口側焦点面に設けられる検
出器として二次元アレイ検出器又は焦点面上で回転可能
に支持された一次元アレイ検出器を用いる。
(作用) 励起側分光器の分散方向と蛍光側分光器の分散方向が互
いに直交しているので、蛍光側分光器の出口側焦点面上
には励起光波長を一方の座標とし。
蛍光波長を他方の座標とする直交座標系で、蛍光強度が
得られる。
そこで、アレイ検出器によって、励起光波長の座標に沿
って蛍光強度を測定すれば励起スペクトルを得ることが
でき、蛍光波長の座標に沿って蛍光強度を測定すれば蛍
光スペクトルを得ることができる。
(実施例) 第1図は一実施例を表わす。
22は励起側分光器の分散素子としての凹面回折格子、
24は蛍光側分光器の分散素子としての凹面回折格子で
あり、これらの回折格子22,24は互いに分散方向が
直交するように配置されている。いま、励起側分光器の
回折格子22の分散方向を垂直方向Aとし、励起側分光
器の回折格子24の分散方向を水平方向Bとする。
両回折格子22.24の共通の焦点位置に試料セル6が
置かれる。
2は光源、26は励起側分光器の入口スリット、28は
励起側分光器の出口スリット、30は蛍光側分光器の入
口スリットであり、スリット28とスリット30は試料
セル6に接近して配置されている。
32は二次元フォトダイオードアレイ検出器であり、蛍
光側分光器の出口側焦点位置に配置されている。
回折格子22を分散素子とする励起側分光器と回折格子
24を分散素子とする蛍光側分光器は共にポリクロメー
タである。ポリクロメータとは分散素子を固定した状態
で同時に多波長の光を取り出す分光器をいう。
本実施例において、光源2からの光は入口スリット26
を通って回折格子22によって分光され、垂直方向Aに
分散された励起光が出口スリット28を経て試料セル6
の試料に照射される。試料から発生した蛍光は蛍光側分
光器の入口スリット30を経て回折格子24によって分
光され、水平方向Bに分散される。
二次元フォトダイオードアレイ検出器32上では、第2
図に示されるように、励起光の波長λaxを一方の座標
とし、蛍光の波長λemを他方の座標とする二次元直交
座標上での蛍光強度33が得られる。第2図で、二次元
フォトダイオードアレイ検出器32の四角形のそれぞれ
の舛は1つ1つのアレイ素子に対応している。
第3図は二次元アレイ検出器に代えて一次元アレイ検出
器を用いた実施例の検出器部分を表わしている。
一次元フオドダイオードアレイ検出器34を蛍光側分光
器の焦点面上で回転可能に保持具36によって支持する
図のように一次元フオドダイオードアレイ検出器34が
垂直方向に位置決めされた場合、蛍光の波長λemが特
定の波長に固定された状態で励起スペクトルが得られる
ものとする。そして、−次元フオドダイオードアレイ検
出器34を鎖線で示される34aの位置に90度回転さ
せることによって、今度は励起光の波長λexが特定の
波長に固定された状態で蛍光スペクトルが得られること
になる。
第3図の実施例では、蛍光スペクトルを求める場合は励
起光波長λexが固定され、励起スペクトルを求める場
合には蛍光波長λeraが固定されることになるが、励
起側回折格子22又は蛍光側回折格子24を従来の機械
的な方法によって少し回転させることによって、−次元
フオドダイオードアレイ検出器の位置34又は34a上
の像を、第2図の座標に従って励起光波長λex方向又
は蛍光波長λeI+1方向の望む波長に設定することが
できる。
二次元アレイ検出器は高価であるので1本実施例は低コ
スト化の点で有効である6 第4図は他の実施例を表わす。
本実施例を第1図の実施例と比較すると、試料セル6の
位置を移動させ、励起側分光器の出口スリット28を出
た光を凹面鏡38によって試料セル6に結像させ、試料
セル6の試料から発生した蛍光を凹面鏡40によって蛍
光側分光器の入口スリット30上に結像させる点で相違
している。
励起側分光器と蛍光分光器の構成は第1図の実施例と同
じであり、例えば励起側分光器の回折格子22の分散方
向を紙面垂直方向とすれば、蛍光側分光器の回折格子2
4の分散方向は紙面に平行な方向である。
本実施例によれば、試料セル6の大きさに対する制約が
なくなる。
検出器としては二次元アレイ検出器32を使用している
が、第3図に示されるように二次元アレイ検出器34を
蛍光側分光器の焦点面で回転可能に支持して設けてもよ
い。
(発明の効果) 本発明では励起側分光器と蛍光側分光器をともにポリク
ロメータとし、かつ、それらの分光器の分散方向を互い
に直交させたので、検出器として二次元アレイ検出器を
用いると分光器の機械的な走査を全く行なわなくても励
起波長を一方の座標とし蛍光波長を他方の座標とする蛍
光強度の三次元スペクトルを同時に測定することができ
、励起スペクトルと蛍光スペクトルの両者を得ることが
できる。
また、検出器として二次元アレイ検出器を用いた場合に
は、−次元アレイ検出器の方向を90度切り換えること
によって励起スペクトルと蛍光スペクトルのいずれをも
得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は一実施例の光学系を示す概略斜視図、第2図は
同実施例における二次元アレイ検出器によって得られる
蛍光強度のスペクトルを示す模式図、第3図は他の実施
例における検出器部分を示す概略斜視図、第4図は更に
他の実施例の光学系を示す概略平面図、第5図は従来の
分光蛍光光度計を示す概略図である。 2・・・・・・光源、 6・・・・・・試料セル、 22・・・・・・励起側分光器の回折格子。 24・・・・・・蛍光側分光器の回折格子、32・・・
・・・二次元アレイ検出器。 34・・・・・・−次元アレイ検出器。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光源、試料を照射する励起側分光器、試料セル、
    試料からの蛍光を分光する蛍光側分光器及び検出器を備
    えた分光蛍光光度計において、前記励起側分光器の分散
    方向と前記蛍光側分光器の分散方向を互いに直交するよ
    うに両分光器を配置し、前記試料セルには分光された多
    波長を同時に入射させ、前記蛍光側分光器の出口側焦点
    面に設けられる前記検出器として二次元アレイ検出器又
    は焦点面上で回転可能に支持された一次元アレイ検出器
    を用いることを特徴とする分光蛍光光度計。
JP31325986A 1986-12-29 1986-12-29 分光蛍光光度計 Pending JPS63168520A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1993007470A1 (fr) * 1991-10-01 1993-04-15 Tadahiro Ohmi Analyseur
JP2008197088A (ja) * 2007-01-19 2008-08-28 Shimadzu Corp 蛍光検出器
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CN114594080A (zh) * 2022-03-24 2022-06-07 北京卓立汉光分析仪器有限公司 一种三维荧光摄谱仪

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