JPH01296172A - 複数の導電部とその電極の並置された基板の導通検査装置 - Google Patents

複数の導電部とその電極の並置された基板の導通検査装置

Info

Publication number
JPH01296172A
JPH01296172A JP63124997A JP12499788A JPH01296172A JP H01296172 A JPH01296172 A JP H01296172A JP 63124997 A JP63124997 A JP 63124997A JP 12499788 A JP12499788 A JP 12499788A JP H01296172 A JPH01296172 A JP H01296172A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
electrode
electrodes
moving
contact
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63124997A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenjiro Ito
伊東 健二郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Semiconductor Equipment Inc
Original Assignee
Nippon Typewriter Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Typewriter Co Ltd filed Critical Nippon Typewriter Co Ltd
Priority to JP63124997A priority Critical patent/JPH01296172A/ja
Publication of JPH01296172A publication Critical patent/JPH01296172A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ) 産業上の利用分野 この発明は、複数の導電部と、その電極との並置された
基板の導通検査装置に関する。
(ロ) 従来の技術 基板上の複数の導電部の導通をテスターによって、個々
に検査する技術と、複数の導電部の電極の夫々に接触す
る複数の接触電極子を具えた治具で、導電部の導通を検
査する技術は従来一般に知られている。
(ハ) 発明の解決しようとする課題 前記した導電部の導通状態をテスターによって、個々に
検出する技術にあっては、導通状態の検査に多くの手数
と、時間とを夫々要する欠点が、又複数の接触電極子を
具えた治具によって、導通状態を検査する技術にあって
は、複数の接触電極子を設けなければならないため、製
作費が高価となると言う欠点が夫々あり、これら従来の
技術に於ける欠点の解決が技術的課題となっていた。
に)課題を解決するための手段 この発明は前記した技術的課題を解決するため、複数の
導電部とその電極との並置された基板載置用の押え手段
を具えた基盤と、該基盤上に載置された前記基板の電極
に接触する一個の接触電極子を具えた移動体と、該移動
体の移動手段と、移動体の案内手段とを具えると共に、
決するための手段とする。
快)  作   用 複数の導電部とその電極の並置された基板を基盤上に電
極が移動体の接触電極子と接触できる位置に抑え手段で
押えて載置せしめた上で、移動手段で移動体を移動させ
ると、接触電極子は電極に次々に接触して、次々に接触
電極子、電極、導電部、電源、電流制限抵抗器及び電流
表示器間の電気回路が閉成せしめ乍ら移動して導電部の
導通状態は次々に電流表示器で検出される。
(へ)  実  施  例 朱 Aは被検査体としての義板にして、この基板A上には、
例えば、ICからなる複数の導電部B(B1”・Bn)
と、その電極C(C1・・・Cn)が並設されている。
lは前記基盤A載置用の基盤、2.2′はその基盤1の
両側部に立設された側板、3は前記基板Aの押え手段と
しての押え板にして、この押え板3は前記基盤lの一個
縁(第一図に於て手前側縁)より少しく内側(同図に於
て前方側)にして、且つ基盤lとの間に、前記基板A挿
入のための間隙を残して、両側板2.2/間に設けられ
ている。4は移動体にして、この移動体4の一側(同図
に於て手前側)には、取付金具5とネジ6とで接触電極
子7カr固定されている外、その前後方向の略中央部騨 には、後に汁記する前記移動体4の移唐手段としての雄
ネジ軸8支承用の孔9が穿設されている。そして、その
−側(同図に於て左側)には前記孔9と連る前記雄ネジ
軸8のネジ部8に螺合する雌ネジ孔lOを具えた突起部
11が一体的に設けられている外、その他側(同図に於
て前方側)には、移動体4の案内手段としての係合用の
切欠部12が設けられている。13は前記移動体4の移
動手段としてのモータにして、このモータ13は前記一
方の側板2の外側(同図に於て右側)にネジ14を介し
て固定されていると共に、その側板2の支承孔15と前
記移動体4の孔9に支承されるモータ軸13/には、前
記雄ネジ軸8が一体的に回動するように設けられていて
、その雄ネジ軸8のネジ部81に前記突起部11の雌ネ
ジ孔10を螺合せしめると共に、前記切欠部12を両側
板2.2/間に架せられた移動体4の案内手段としての
案内杆16に係合せしめた状態で、前記雄ネジ軸8の他
端部を側板2に支承せしめて、前記モータ13の回動に
より、移動体4を接触電極子7と共に基盤!上を従って
、基盤上に押え板3で載置された基板人の電極0(0,
・・・Cn)に接触電極子7が次々に接触し乍ら、第一
図に於て左右方向移動せしめることができるようになっ
ている。そして、前記接触電極7と基盤Aの導電部B(
B1・・・Bn)との間には、電源17と電流制限抵抗
器18と電流表示器19とが設けられていて接触電極子
7と基板Aの電極0 (am・・・On)との接触によ
る導電部B(B、・・・Bn)の導通状態を電流表示器
19で検出することができるようになっている。而して
、電流表示器19としては、電流計又はペンプロッタを
使用する。
(ト)  発明の効果 叙上のように、この発明によれば、本装置の基盤上に被
検査体としての基板を押え板で載置せしめて、モータを
回動させて移動体と共に接触電極子を移動せしめること
により、基板の導電部の導通状態を電流表示器に表示せ
しめるという極めて簡単な構成で、確実且つ迅速に検査
することができて、従来の技術に於ける欠点を解消し得
た効果は極めて多大である。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の実施例であって、第一図は一部の斜視図
、第二図は系統図、第三図は一部の平断面図である。 A・・・基板、B(Bl・・・Bn)・・・導電部、a
 (cl・・・Or+)・・・電極、l・・・基盤、2
.2・・・両側板、3・・・押え板、4・・・移動体、
5・・・取付金具、6・・・ネジ7・・・接触電極子、
8・・・雄ネジ軸、8・・・雄ネジ軸8のネジ部、9・
・・孔、10・・・雌ネジ部、11・・・突起1.12
・・・切欠部、13・・・モータ、131・・・モータ
軸、14・・・ネジ、15・・・支承孔、16・・・案
内杆、17・・・電源、18・・・電流制限抵抗器、1
9・・・電流表示器、

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数の導電部とその電極との並置された基板載置用の押
    え板を具えた基盤と、該基盤上に載置された前記基板の
    電極に接触する一個の接触電極子を具えた移動体と、該
    移動体の移動手段と、移動体の案内手段とを具えると共
    に、前記接触電極子と前記基盤の導電部との間には電源
    と電流制限抵抗器と電流表示器とを設けてなることを特
    徴とした複数の導電部とその電極との並置された基板の
    導通検査装置。
JP63124997A 1988-05-24 1988-05-24 複数の導電部とその電極の並置された基板の導通検査装置 Pending JPH01296172A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63124997A JPH01296172A (ja) 1988-05-24 1988-05-24 複数の導電部とその電極の並置された基板の導通検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63124997A JPH01296172A (ja) 1988-05-24 1988-05-24 複数の導電部とその電極の並置された基板の導通検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01296172A true JPH01296172A (ja) 1989-11-29

Family

ID=14899333

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63124997A Pending JPH01296172A (ja) 1988-05-24 1988-05-24 複数の導電部とその電極の並置された基板の導通検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01296172A (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS504862A (ja) * 1973-05-17 1975-01-18
JPS62188978A (ja) * 1986-02-14 1987-08-18 Toshiba Corp 導電性薄膜のパタ−ンチエツク装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS504862A (ja) * 1973-05-17 1975-01-18
JPS62188978A (ja) * 1986-02-14 1987-08-18 Toshiba Corp 導電性薄膜のパタ−ンチエツク装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ATE265050T1 (de) Vorrichtung zum testen von leiterplatten
KR890002674A (ko) 저항률의 측정방법 및 그 장치
CN212622817U (zh) 一种锂电池电极片焊接电阻测试装置
CN106772011A (zh) 一种全自动微动开关功能测试机
CN222926744U (zh) 一种钙钛矿光伏组件电性测试用线夹机构
JPS63185572U (ja)
CN223123142U (zh) 一种柱形元器件检测装置
CN209400664U (zh) 一种线路板检测治具
JPH0480347B2 (ja)
CN223192989U (zh) 一种载具及具有其的导通测试仪
CN221199851U (zh) 一种高效测试开短路的装置
CN207937481U (zh) 智能快速夹
JPS5890155A (ja) 印刷配線板接栓部の接触抵抗値検出装置
CN218823071U (zh) 一种机械振动试验装置
JPH1151994A (ja) 電気接続補助装置
JPH0350461Y2 (ja)
JPH0283477U (ja)
JPH0541412Y2 (ja)
JP2500359Y2 (ja) 基板測定用支持台
KR910004581Y1 (ko) 평판소자 검사용 집게
KR950006136Y1 (ko) 회로기판검사기의 분리식 압력봉 지지판
CN119644440A (zh) 一种探头式自动检测螺丝装置
CN118534321A (zh) 一种低温动力电池测试装置
JPH0427882A (ja) 回路基板検査装置におけるプローブピン検査方法
JPH0516747B2 (ja)