JPH0283477U - - Google Patents

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JPH0283477U
JPH0283477U JP16410388U JP16410388U JPH0283477U JP H0283477 U JPH0283477 U JP H0283477U JP 16410388 U JP16410388 U JP 16410388U JP 16410388 U JP16410388 U JP 16410388U JP H0283477 U JPH0283477 U JP H0283477U
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prober
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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案の原理説明図、第２図は本考案
による一実施例の説明図で、ａは斜視図、ｂはプ
ローバの側面図、第３図は従来の説明図で、ａは
斜視図、ｂはプローバの斜視図、ｃはプローブピ
ンの当接を示す要部側面を示す。 図に示すように、１は移動機構、２は保持部材
、３は支持台、４はプリント基板、５は電子部品
、６は第１の突出機構、７は多ピンプローバ、８
は１ピンプローバ、９は第２の突出機構、１０は
プローブピン、４Ａはパツドを示す。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 電子部品５が実装されたプリント基板４を垂直
    に支持する支持台３と、該プリント基板４の実装
    面に配設され、保持部材２をＸ―Ｙ―Ｚ方向に移
    動する移動機構１と、該保持部材２によつて保持
    されるプローブピン１０とを備え、該プローブピ
    ン１０が該プリント基板４の所定パツド４Ａに当
    接され、該プローブピン１０を介して該プリント
    基板４の電気特性を検出するプロービイング装置
    において、 第１の突出機構６によつて突出されるよう前記
    プローブピン１０の複数個が配列された多ピンプ
    ローバ７と、第２の突出機構９によつて突出され
    るよう該プローブピン１０の一つが配列された１
    ピンプローバ８とが前記保持部材２に併設されて
    成ることを特徴とするプロービイング装置。
JP16410388U 1988-12-19 1988-12-19 プロービィング装置 Expired - Lifetime JPH0731185Y2 (ja)

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JPH0283477U true JPH0283477U (ja) 1990-06-28
JPH0731185Y2 JPH0731185Y2 (ja) 1995-07-19

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011058908A (ja) * 2009-09-09 2011-03-24 Hioki Ee Corp コンタクトプローブのプロービング方法およびプロービング装置
CN115608718A (zh) * 2022-11-07 2023-01-17 宁波晶创科技有限公司 一种晶片电清洗装置

Cited By (3)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011058908A (ja) * 2009-09-09 2011-03-24 Hioki Ee Corp コンタクトプローブのプロービング方法およびプロービング装置
CN115608718A (zh) * 2022-11-07 2023-01-17 宁波晶创科技有限公司 一种晶片电清洗装置
CN115608718B (zh) * 2022-11-07 2023-11-24 宁波晶创科技有限公司 一种晶片电清洗装置

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Publication number Publication date
JPH0731185Y2 (ja) 1995-07-19

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