JPH01299480A - テスト指示表示装置 - Google Patents
テスト指示表示装置Info
- Publication number
- JPH01299480A JPH01299480A JP63129509A JP12950988A JPH01299480A JP H01299480 A JPH01299480 A JP H01299480A JP 63129509 A JP63129509 A JP 63129509A JP 12950988 A JP12950988 A JP 12950988A JP H01299480 A JPH01299480 A JP H01299480A
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- Japan
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- test
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- program
- displayed
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- Pending
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- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、部品が塔載された基板のインサーキットテ
ストにおいて、表示された図上でテスト部品を指示し、
かつテスト結果をその図上に表示すようにしたテスト指
示表示装置に関するものである。
ストにおいて、表示された図上でテスト部品を指示し、
かつテスト結果をその図上に表示すようにしたテスト指
示表示装置に関するものである。
[従来の技術]
従来、部品が塔載された基板のインサーキットテストに
おいては、基板全体のテストを行うためのテストプログ
ラムを作成しデバッグを行った後。
おいては、基板全体のテストを行うためのテストプログ
ラムを作成しデバッグを行った後。
製造ラインでテストを始めているのが普通である。
従って、テストプログラムには基板上のテスト対象とな
る全部品のテストが盛り込まれているため、解析等で基
板上の特定の部品のみをテストするためのテストプログ
ラムを作成し、デバッグを行ってから、テスト、解析を
しなければならなかった。
る全部品のテストが盛り込まれているため、解析等で基
板上の特定の部品のみをテストするためのテストプログ
ラムを作成し、デバッグを行ってから、テスト、解析を
しなければならなかった。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら従来は、この特定部品をテストするために
必要なテストプログラムの作成をテスター上で人手によ
り行っていたため、効率が悪く、簡単には特定部品のテ
スト解析が行えないという問題点があった。
必要なテストプログラムの作成をテスター上で人手によ
り行っていたため、効率が悪く、簡単には特定部品のテ
スト解析が行えないという問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、基板及び塔載部品を図で表示し、この図上で
特定のテスト部品を指示することにより、その部品をテ
ストするためのテストプロダラムを自動的に作成し、テ
ストできるようにしたテスト指示表示装置を得ることを
目的とする。
たもので、基板及び塔載部品を図で表示し、この図上で
特定のテスト部品を指示することにより、その部品をテ
ストするためのテストプロダラムを自動的に作成し、テ
ストできるようにしたテスト指示表示装置を得ることを
目的とする。
[課題を解決するための手段]
この発明に係るテスト指示表示装置は、テスト指示表示
を行うのに必要な回路情報及び基板全体のテストを行う
ためのテストプログラムを保持する記憶装置と、指示さ
れた部品のテストを行うテストプログラム生成プログラ
ムを有する中央処理装置と、テスト部品を指示するため
のマウスと、このマウスによる指示及びテストの結果を
図式的に指示表示する表示装置とを備えてなるものであ
る。
を行うのに必要な回路情報及び基板全体のテストを行う
ためのテストプログラムを保持する記憶装置と、指示さ
れた部品のテストを行うテストプログラム生成プログラ
ムを有する中央処理装置と、テスト部品を指示するため
のマウスと、このマウスによる指示及びテストの結果を
図式的に指示表示する表示装置とを備えてなるものであ
る。
[作 用]
部品が塔載された基板のインサーキットテストに当たっ
て、まず表示装置に基板及び塔載部品を図式的に表示し
、ついでマウスによりテスト部品をその図上で指示する
と、中央処理装置はテストプログラム生成プログラムを
実行し、記憶装置に保持されている基板全体のテストプ
ログラムを基に指示されたテスト部品のテストプログラ
ムが作成される。そしてテストを実行すると、そのテス
ト結果が表示装置の図上に図式的に表示される。
て、まず表示装置に基板及び塔載部品を図式的に表示し
、ついでマウスによりテスト部品をその図上で指示する
と、中央処理装置はテストプログラム生成プログラムを
実行し、記憶装置に保持されている基板全体のテストプ
ログラムを基に指示されたテスト部品のテストプログラ
ムが作成される。そしてテストを実行すると、そのテス
ト結果が表示装置の図上に図式的に表示される。
[発明の実施例]
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図はこの発明の一実施例になるシステム構成を概念的に
示すブロック構成図であり、図中(1)は演算処理を行
う中央処理装置で、テストプログラム生成プログラムを
有している。(2)はコンソール、(3)は基板及び塔
載部品を表示してテスト指示表示を行う表示装置、(4
)はその指示表示を行うに必要な回路情報、及び基板全
体のテストプログラムを保持する例えば磁気ディスク等
の記憶装置、(5)はプリンター、(7)はテスト部品
の指示を行うマウス、(8)はテスター、(6)はこの
テスター(8)とのインターフェース、 (9)はフィ
クスチャーである。また第2図はマウス(7)で指示さ
れた基板上の部品が表示装置(3)上に表示された一例
を示す説明図で、(11)は基板、(12)(13)は
基板に塔載された部品であり、(13)はマウス(7)
で指示されたテスト部品を示し、他の部品と視覚的に識
別できるように表示される。第3図はテスト結果の表示
例を示す説明図で、部品(13)はテストの結果パスし
た場合は例えば青色、テストフェイルした場合は例えば
赤色というように表示され、かつフェイルした部品のピ
ンは他のピンと視覚的に識別できるように表示される。
図はこの発明の一実施例になるシステム構成を概念的に
示すブロック構成図であり、図中(1)は演算処理を行
う中央処理装置で、テストプログラム生成プログラムを
有している。(2)はコンソール、(3)は基板及び塔
載部品を表示してテスト指示表示を行う表示装置、(4
)はその指示表示を行うに必要な回路情報、及び基板全
体のテストプログラムを保持する例えば磁気ディスク等
の記憶装置、(5)はプリンター、(7)はテスト部品
の指示を行うマウス、(8)はテスター、(6)はこの
テスター(8)とのインターフェース、 (9)はフィ
クスチャーである。また第2図はマウス(7)で指示さ
れた基板上の部品が表示装置(3)上に表示された一例
を示す説明図で、(11)は基板、(12)(13)は
基板に塔載された部品であり、(13)はマウス(7)
で指示されたテスト部品を示し、他の部品と視覚的に識
別できるように表示される。第3図はテスト結果の表示
例を示す説明図で、部品(13)はテストの結果パスし
た場合は例えば青色、テストフェイルした場合は例えば
赤色というように表示され、かつフェイルした部品のピ
ンは他のピンと視覚的に識別できるように表示される。
以上のように構成されたテスト指示表示装置を用いてイ
ンサーキットテストを行う場合、まず表示装置(3)に
基板(11)及び塔載部品(12) (13)を表示し
、ついでマウス(7)によりテスト部品(13)をその
図上で指示すると、この指示により中央処理装置(1)
はテストプログラム生成プログラムを実行し、記憶装置
(4)に保持されている基板全体のテストプログラムを
基にして、指示されたデス1〜部品(13)のテストプ
ログラムが作成される。次にテスター(8)により指示
された部品(3)のテストが行われると、そのテスト結
果が表示装置(3)の図上に視覚的に表示される。すな
わち第3図に記するように、テスト部品(13)は他の
部品(12)と異なる色で表示され、さらにテストがパ
スした場合とフェイルした場合とが区別できるように異
なる色で表示される。そしてテストフェイルした場合は
、部品(13)のどのピンでフェイルが観測されたか分
かるように、そのピンが異なる色で表示される。
ンサーキットテストを行う場合、まず表示装置(3)に
基板(11)及び塔載部品(12) (13)を表示し
、ついでマウス(7)によりテスト部品(13)をその
図上で指示すると、この指示により中央処理装置(1)
はテストプログラム生成プログラムを実行し、記憶装置
(4)に保持されている基板全体のテストプログラムを
基にして、指示されたデス1〜部品(13)のテストプ
ログラムが作成される。次にテスター(8)により指示
された部品(3)のテストが行われると、そのテスト結
果が表示装置(3)の図上に視覚的に表示される。すな
わち第3図に記するように、テスト部品(13)は他の
部品(12)と異なる色で表示され、さらにテストがパ
スした場合とフェイルした場合とが区別できるように異
なる色で表示される。そしてテストフェイルした場合は
、部品(13)のどのピンでフェイルが観測されたか分
かるように、そのピンが異なる色で表示される。
[発明の効果]
この発明は以上に述べたように、指示表示を行う回路情
報及び基板全体のテストプログラムを有する記憶装置と
、テストプログラム生成プログラムを有する中央処理装
置、テスト指示を行うマウスと、指示及びテスト結果を
表示する表示装置とにより構成しているので、基板上の
特定の部品のテストを行う場合でも、その部品のテスト
プログラムは自動的に作成されるため、部品別のテスト
が効率よくしかも簡単にできる効果がある。
報及び基板全体のテストプログラムを有する記憶装置と
、テストプログラム生成プログラムを有する中央処理装
置、テスト指示を行うマウスと、指示及びテスト結果を
表示する表示装置とにより構成しているので、基板上の
特定の部品のテストを行う場合でも、その部品のテスト
プログラムは自動的に作成されるため、部品別のテスト
が効率よくしかも簡単にできる効果がある。
第1図はこの発明の一実施例になるテスト指示表示装置
のシステム構成を示すブロック構成図、第2図及び第3
図は第1図の表示装置に表示された基板の表示例を示す
説明図である。 なお図中(1)中央処理装置、(3)は表示袋m、 (
4)は記憶装置、(7)はマウス、(8)はテスター、
(11)は基板、(12) (13)は部品を示す。
のシステム構成を示すブロック構成図、第2図及び第3
図は第1図の表示装置に表示された基板の表示例を示す
説明図である。 なお図中(1)中央処理装置、(3)は表示袋m、 (
4)は記憶装置、(7)はマウス、(8)はテスター、
(11)は基板、(12) (13)は部品を示す。
Claims (1)
- 部品が塔載された基板のインサーキットテストにおいて
、このテスト指示表示を行うのに必要な回路情報及び基
板全体のテストを行うためのテストプログラムを保持す
る記憶装置と、指示された部品のテストを行うテストプ
ログラム生成プログラムを有する中央処理装置と、テス
ト部品を指示するためのマウスと、このマウスによる指
示及びテストの結果を図式的に表示する表示装置とを備
えてなることを特徴とするテスト指示表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63129509A JPH01299480A (ja) | 1988-05-27 | 1988-05-27 | テスト指示表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63129509A JPH01299480A (ja) | 1988-05-27 | 1988-05-27 | テスト指示表示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01299480A true JPH01299480A (ja) | 1989-12-04 |
Family
ID=15011250
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63129509A Pending JPH01299480A (ja) | 1988-05-27 | 1988-05-27 | テスト指示表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01299480A (ja) |
-
1988
- 1988-05-27 JP JP63129509A patent/JPH01299480A/ja active Pending
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