JPH021574A - パッケージテスタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野〕 本発明はファンクションテストで不良を検出したテスト
パターンに対して被試験対象物であるパッケージのプロ
・−ブポイントにプローブビンを当ててチエツクしてい
くパッケージテスタに関し、特にプローブピンでのチエ
ツク箇所を削減するパッケージテスタに関する。

〔従来の技術〕

従来、この種のパンケージテスタは、ファンクションテ
ストで不良を検出したテス）・パターンに対して、パッ
ケージの不良を検出した出力端子からファンイン側にト
レースしながらすべてのプローブポイントでチエツクを
行っていた。

このようなパッケージテスタでは、ファンクションテス
トで不良を検出した場合に故障辞書を持たないケースで
はどこの故障が検出されたのかを即座に絞ることができ
ないので、テストパターンを印加した際に人手でプロー
ブを行い信号状態をチエ’７りして故障箇所を探索する
ガイデアドブローブ方式による診断が広く用いられてい
る。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述した従来のパンケージテスタでは、テストパターン
を印加したときの１１０レヘル変化のあったプローブポ
イントの情報（以下、プローブ情報という）が保存され
ていなかったので、Ｏ／１縮退故障を起こしていないプ
ローブポイントがつかめないため、不良を検出したすべ
ての出力端子からすべてのファンイン側のプローブポイ
ントをトレースしなければならないという欠点がある。

本発明の目的は、上述の点に鑑み、ガイソデドプローブ
方式によるプローブ対象箇所に対してプローブ不要箇所
をあらかじめ分かるようにして、故障の被疑範囲を絞り
込むことができるようにしたパンケージテスタを提供す
ることにある。

〔課題を解決するための手段〕

本発明のパッケージテスタは、被試験対象物であるパン
ケージに対してテストパターンを印加するテストパター
ン印加機構と、このテストパターン印加機構によりテス
トパターンが印加されるテストポイントをプローブする
プローブ機構と、このプローブ機構によリプローブされ
たプローブ４ｎ報を重畳して保持する重畳情報保持機構
とを有する。

（作用〕 本発明のパッケージテスタでは、テストパターン印加機
構が被試験対象物であるパッケージに対してテストパタ
ーンを印加し、プローブ機構がテストパターン印加機構
によりテストパターンが印加されるテストポイントをプ
ローブし、重畳情報保持機構がプローブ機構によリプロ
ーブされたプローブ情報を重畳して保持する。

〔実施例〕

次に、本発明について図面を参照して詳細に説明する。

第１図は、本発明の一実施例のパッケージテスタの構成
を示すブロック図である。本実施例のパッケージテスタ
は、被試験対象物２にテストパターンを印加するテスト
パターン印加機ｆＡ　ｌと、テストパターン印加機構１
により被試験対象物２にテストパターンを印加したとき
のテストポイントのプローブ情報を観測して採取するプ
ローブ機構３と、プローブ機構３により採取されたプロ
ーブ情報から内容を重畳した情報（以下、重畳情報とい
う）を作成して保持する重畳情報保持機構５と、重畳情
報保持機構５により保持された重畳情報を表示する表示
機構６とから構成されている。なお、符号７は、すべて
のテストパターンが印加されたか否かを判断する判断手
段を示す。

次に、このように構成された本実施例のパッケージテス
タの動作について説明する。

まず、パッケージテスタ上の被試験対象物２に対してテ
ストパターン印加機構ｌによりテストパターンを印加す
る。そして、このときのプローブポイントのプローブ情
報をプローブ機構３で観測し、観測したプローブ情報を
重畳情報保持機構５でいままで観測されたプローブ情報
の重畳情報上に重ねて新しい重畳情報を作成する。

上記動作をすべてのテストパターンについて行う。

最後に、すべてのテストパターンによって得られた重畳
情報を表示機構６によって使用者がわかる形で出力する
。

第２図は、プローブ機構３で観測されたプローブ情報の
内容の具体例を示す図である。ここでは、プローブポイ
ントはＡ〜Ｇまであり、Ｔｌ−Ｔ４のテストパターンが
印加されたときのそれぞれのプローブ情報の内容を示す
。

第３図は、第２図に示したプローブ情報のときの重畳情
報保持機構５の保持内容の変化例を示す遷移図である。

！！Ｉ畳情報は、プローブポイント分の重畳情報格納エ
リア３５に格納される。１１０−ブポイント当たりの重
畳情報は、左側に０情報、右側に１情報というように２
つの情報（符号３６参照）から構成される。いままで重
畳された既存情報（符号３日参照）および重畳情報以外
の追加情報（符号３７参照）を使ってテストパターンＴ
１〜Ｔ４が順に印加されたときの重畳情報を表現したの
が３１〜３４である。

次に、テストパターンＴ１〜Ｔ４が印加されたときの重
畳情報３１〜３４の変化を時間を追って説明する。

まず、テストパターンＴ１を印加したときの各プローブ
ポイントのプローブ情報は、第２図中の最上段に示すよ
うになり、重畳情報格納エリア３５に格納されている重
畳情報は第３図中の重畳情報３１のようになる。

次に、テストパターンＴ２を印加すると、プロ−ブポイ
ントＡ、Ｃおよび已においてプローブ情報がｆｆ１畳情
報３１と異なるので、これらのプローブ情報が重畳情報
３１に追加されて重畳１１′７報３２の状態に書き替え
られる。

続いて、テストパターンＴ３を印加すると、プローブポ
イントＦおよびＧにおいてプローブ情報が重畳情報３２
と異なるので、これらのプローブ情報が重畳情報３２に
追加されて重畳情ｒｉｉ３３の状態に占き替えられる。

さらに、テストパターンＴ４を印加すると、プローブ情
報が重畳情報３３と異ならないので、重畳１’Ｎ？１ｌ
ｉ３３と重畳情報３４とは同じ内容を持つことになり、
重畳情報の四替えは行われない。

第４図は、本実施例のパンケージテスタの適用例を示す
図である。被試験対象物２にテストパターンを印加した
ときのプローブポイントをプローブ機構３で観測し、得
られたプローブ情報４４を第３図に例示したように重畳
情報保持機構５に重ねていく。

すべてのテストパターンについて上記動作を終了した後
に、重畳情報保持［構５に保持されている重畳１ｎ報を
表示機構６により各プローブポイントについて表示する
。符号４１はＯおよび１の両信号が観測できたプローブ
ポイント、４２は０しか観測できなかったプローブポイ
ント、４３は１しか観測できなかったプローブポイント
を示す。

なお、上記実施例においては重畳情報を表示する形で使
用者に提供したが、この重畳１１′７報をガイデッドプ
ローブ方式による診断時にプローブ対象から外すために
使用してもよい。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明は、各プローブポイントのプ
ローブ情報の統計をとることにより、０／１両信号を観
測できたプローブポイントは０／ｌ縮退故障の対象から
外すことができ、ガイデップローブ方式によるプローブ
対象箇所に対してプローブ不要箇所を事前に提示して、
故障の被疑範囲を絞り込むことができる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例のパッケージテスタの構成を
示すブロック図、 第２図は第１図中のプローブ機構により観測されたプロ
ーブ情報の内容の具体例を示す図、第３図は第２図に示
したプローブ情報での重畳情報保持機構の内容の変化例
を示す遷移図、第４図は本実施例のパンケージテスタの
適用例を示す図である。 図において、 １・・・テストパターン印加機構、 ２・・・被試験対象物、 ３・・・プローブ機構、 ５・・・重畳情報保持機構、 ６・・・表示機構、 ７・・・判断手段、 ３１〜３４・重畳情報、 ３５・・・重畳情報格納エリア、 ３６・・・１プローブポイント当たりの重畳情報、３７
・・・追加情報、 ３８・・・既存情報、 ４１〜４３・プローブポイント、 ４４・・・プローブ情報である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 被試験対象物であるパッケージに対してテストパターン
   を印加するテストパターン印加機構と、このテストパタ
   ーン印加機構によりテストパターンが印加されるテスト
   ポイントをプローブするプローブ機構と、 このプローブ機構によリプローブされたプローブ情報を
   重畳して保持する重畳情報保持機構とを有することを特
   徴とするパッケージテスタ。