JPH0130113B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、試験装置の自己チエツク方法に関
する。

第１図は、被試験装置を実運転することなく等
価信号を与えて試験する自動試験装置の１例を示
したものである。図において、１は等価信号発生
器で計算機２の指令にもとずいて例えば第２図に
示す如きパターンの等価信号を発生する。３は被
試験装置、４ａ及び４ｂは計測器である。計測器
４ａ及び４ｂの出力は、計算機２において、該計
算機により予め演算記憶されている所定値と演算
比較され、計算機２により被試験装置３が正常に
機能しているか否かが自動的に判定される。

このような自動試験装置において、等価信号発
生器１及び計測器４ａ，４ｂの機能が正常である
か否かを、試験を行う前に予め自己チエツクする
場合、従来は夫々を、校正された高精度の標準計
測器及び基準電圧発生器を用いてチエツクしてい
たが、この方法では上記標準計測器及び基準電圧
発生器を必要とするために不経済であり、しかも
これらのチエツクも必要となるという欠点があつ
た。

この発明は、上記した従来の欠点を除去する為
になされたもので、試験装置を構成する等価信号
発生器の出力を上記試験装置を構成する２箇の計
測器に同時に入力し、計測器の出力相互又は計測
器の出力と上記等価信号発生器に入力される指令
とを、この指令を与える計算機により、比較させ
ることにより、比較することにより、試験装置を
構成する機器のみを用いて上記等価信号発生器及
び計測器の試験を簡単かつ自動的に行うことがで
きる試験装置の自己チエツク方法を提供すること
を目的とする。

以下、この発明の一実施例を図について説明す
る。

第３図は、自己チエツク回路を示したもので、
等価信号発生器１の出力が計測器４ａと計測器４
ｂに入力される。等価信号発生器１は計算機２の
指令Ｃにもとずいて任意の所定の信号を出力す
る。計算機２は同時に入力される計測器４ａ及び
４ｂの出力Ma及びMbに対応して判定出力を送
出する。

以上の構成において、計算機２は計測器４ａ及
び４ｂの夫々の出力Ma及びMbに対して次のよ
うにプログラムされている。

(イ) 出力Ma及びMbが同一である場合には計測
器４ａ及び４ｂが共に正常であると判定する。

(ロ) 出力Ma及びMbが相異るが、一方の出力が
計算機２の指令Ｃと一致する場合には上記一方
の出力を発生した計測器が正常であると判定す
る。

(ハ) 出力Ma及びMbの少くとも一方が計算機２
のＣと一致した場合には等価信号発生器１が正
常であると判定する。

なお、上記実施例は計測器が２箇である場合に
ついて説明したが、計側器の数が２箇以上である
場合にも、この発明を適用することができる。

以上のように、この発明によれば、試験装置を
構成する等価信号発生器と２箇の計測器を試験す
る場合において、上記等価信号発生器に指令を与
えると共に上記計測器の出力を相互に、または各
計測器の出力と上記指令とを比較する装置を追加
するだけでよく、従来のように高精度の標準計測
器や基準電圧発生器を別途準備する必要がないか
ら、特別な費用を要することなくしかも従来に比
して簡単・容易に自動的に上記等価信号発生器と
上記計測器の自己チエツクを行うことができ、こ
れらの入出力がアナログ系である場合には特に好
適である。

【図面の簡単な説明】

第１図は自動試験装置の１例を示すブロツク
図、第２図は第１図における等価信号発生器の出
力の１例を示す図及び第３図はこの発明による試
験装置の自己チエツク方法を説明する為の自己チ
エツク回路図である。 図において、１……等価信号発生器、２……計
算機、４ａ，４ｂ……計測器。なお、図中、同一
符号は同一又は相当部分を示す。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 等価信号発生器とこの発生器の出力を計測す
   る２個の計測器とから構成される試験装置をチエ
   ツクするものにおいて、上記等価信号発生器の出
   力は上記両計測器に同時に供給され、上記両計測
   器の出力は、上記等価信号発生器に所定の指令を
   与える計算機に導入され、該計算機は、上記両計
   測器の出力が同一である場合には上記両計測器
   を、また両出力が相異なる場合には、上記指令と
   一致する出力を送出した計測器を、それぞれ正常
   であると判定し、上記両計測器の少なくとも一方
   の出力が上記指令と一致した場合には上記等価信
   号発生器は正常であると判定することを特徴とす
   る試験装置の自己チエツク方法。