JPS6238374A - 電子回路の評価システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用性￥ｆ］ 本発明は電子回路の評価システム番こ関し、特番こ電子
回路の電源電圧変動に応じる能力を評価する電子回路の
評価システムに関する。

し開示の概要］ 本明細書及び図面は、特に電子回路の電源電圧変動に応
じる能力を評価する電子回路の評価システムにおいて、
所定の電圧変動、（ターンに従って変動する直流電圧を
出力する直流電源と、該直流電源に負荷される電子回路
の応答信号を入力する信号入力手段と、該信号入力手段
の入力する応答信号に基づき電子回路の評価を行う情報
処理手段を備えることにより、簡単な構成で電源変動（
こ少達する回路特性が評価できる電子回路の評価システ
ムの技術を開示するものである。

［従来の技術］ 一般に、電子回路の特性評価は複雑であるから充分なま
でにデータをとることは不可能な場合が多く、また経済
的でもない。特に電圧変動に対する電子回路の応答特性
は、数段階に電圧を変化させた状態で各動作出力を測定
する程度（デジタル回路では誤動作の有無を調べる程度
）であり、従来１例えば急激な電圧変動、連続的な電圧
変動等に対する応答特性までは測定されていなかった。

［発明が解決しようとする問題点］ 本発明の課題は、かかる急激な電圧変動、連続的電圧変
動等に対する電子回路のダイナミック応答特性を低コス
トかつ自動的に評価する電子回路の評価システムを提供
することにある。

Ｃ問題点を解決するための手段］ この問題を解決する一手段として、例えば第１図に示す
実施例の電子回路の評価システムは、キーボード１２を
介してプログラムされる電圧変動パターンの電圧制御信
号ＤＶｃ−Ｖａｃ　、ＶｂＣ又はＣＰＵ３内に予めプロ
グラムされている電圧変動パターンの電圧制御信号ＤＶ
ｃ−Ｖａｃ　。

Ｖｂｃに従って変動する直流電圧Ｖａ、Ｖｂを出力する
ＤＣ電源２と、該ＤＣ電源２に負荷される電子回路１の
デジタル応答信号ＤＲ又はアナログ応答信号ＡＲ−ＤＡ
Ｒを入力する信号入力手段（Ｉｌｏ）８と、該信号入力
手段８の入力する応答信号に基づいて電子回路１の評価
を行う情報処理手段（ＣＰＵ）３を備える。

［作用］ かかる第１図の構成において、ＣＰＵ３は電圧制御信号
Ｖａｃ、Ｖｂｃをステップ状に又はパルス状に変化させ
てＤＣ電源２の直流電圧Ｖａ、Ｖｂをステップ状に又は
パルス状に変化させる。また、同時にＣＰＵ３はこの電
圧制御信号Ｖａｃ。

Ｖｂｃの変化と所定の時間（位相）関係にある電子回路
１のデジタル応答信号ＤＨ又はアナログ応答信号ＡＲ−
ＤＡＲを信号入力手段８を介して入力する。こうして入
力した応答信号より、例えばデジタル応答信号ＤＲから
はデジタル回路の電源変動に対する誤動作の有無をダイ
ナミックに調べることができ、またアナログ応答信号Ａ
Ｒ−ＤＡＲからは電子回路１の電源変動に対するアナロ
グ誤動作量が評価できる。

［実施例］ 以下、添付図面に従って本発明の実施例を詳細に説明す
る。

第１図は実施例の電子回路の評価システムのブロック構
成図である。図において、１は評価に供される電子回路
であって、デジタル電子回路又はアナログ電子回路を含
む一般の電子回路である。

２は外部からの電圧制御信号Ｖａｃ　、Ｖｂｃに従って
直流出力電圧Ｖ、ａ　、　Ｖ　ｂを変化させるＤＣ電源
、３は本システムの制御及び供試電子回路ｌの評価を行
うセントラルブロセッシングユニット（ＣＰＵ）、４は
第３図の実施例の制御プログラムを格納したＲＯＭ、５
はプログラム制御に必要な情報を一時的に蓄えるＲＡＭ
、６はＣＰＵ３からのデジタル電圧制御信号ＤＶｃをア
ナログ制御信号Ｖ　ａ　ｃ　、　Ｖ　ｂ　ｃ　ニ変換す
るＤ／Ａ変換器、７は電子回路ｌのアナログ動作電圧Ａ
Ｒをサンプリングしてデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変
換器、８は、必要なら電子回路ｌの動作を付勢す−るた
めライン１０３を介して電子回路１に疑似制御信号ＣＴ
を送ると共に、ライン１００を介して電子回路１からの
デジタル動作信号ＤＲ１若しくはアナログ動作信号ＤＡ
Ｒを受は取る入出力インタフェース（Ｉｌｏ）である。

更に、９は測定データを記憶するディスク装置、１０は
評価結果をプリントするプリンタ、１１はＣＰＵ３の入
出力バス、１２はキーボード、１０２は、必要なら電子
回路１を実際の動作状態で評価するため、該電子回路１
を本来組込まれるはずの装置に接続するパスラインであ
る。

第２図（ａ）及び（ｂ）は電子回路１に加える実施例の
電圧変動パターンを示すタイミングチャートである。同
図（ａ）は電源電圧を段階的に変動させて電子回路１の
動作特性を測定する場合を示している。各段階の時間（
ｔｚ”ｔｚ、ｔ２〜ｔ３．・・・）を長くとれば、従来
より手作業で行なっていた電源変動試験が容易に自動化
される。

更に各段階の電圧変動幅ΔＶと時間（ｔ１〜ｔ２、ｔ２
〜ｔ３．・・・）を変化させているいろなパターンの電
源変動を容易に与えられる。例えば、電圧変動幅ΔＶを
小さくし、かつ−周期がＴになるように時間（ｔｎ”ｔ
ｚ、ｔ２〜ｔ３）を細分割してなめらかな正弦波状の変
動を与えることも可能である。また、電圧変動幅ΔＶを
大きくして、該変動より所定時間τの経過後のデジタル
動作信号ＤＲ若しくはアナログ動作信号ＤＡＲを受は取
ることができる。そして、この時間τを順々に変化させ
ることより変動の発生と誤動作発生時間との間の相関関
係を調べることもできる。同図（ｂ）は定格電源電圧Ｖ
ａにインパルス状の変動が重畳されたときのパターンを
示している。即ち、第１の区間Ｔ１は電源電圧がＯｖの
状態を示し、第２の区間Ｔ２は定格電圧Ｖａが加えられ
た状態を示している。第３の区間Ｔ３はインパルス状変
動＋Δｖ１の印加区間であり、第４の区間Ｔ４は定格電
圧Ｖａに復帰する過程、及び第５の区間Ｔ５はＯｖに復
帰する過程を示している。

ＣＰＵ３は各区間でプログラムされたタイミングτｎに
従って電子回路１からのデジタル動作信号ＤＲ若しくは
アナログ動作信号ＤＡＲをサンプリング入力する。また
、さらに以上の動作をインパルス状変動のピーク値＋Δ
Ｖｎを変化させて行なう、このようにして、インパルス
状の変動を正方向及び負方向に加えることにより、電子
回路１の電圧変動に対するダイナミックマージンを測定
テきる。

第３図は実施例の測定手順を示すフローチャートである
。ステップＳｌではどのような変動パターンの電源電圧
を加えるかキーボード１２から設定する。実験段階では
、電子回路１に対する効果的な印加パターンを確率する
目的で第２図（ａ）、（ｂ）に示すような個々の印加パ
ターンを組み合せる試みなされる。また、工場では電子
回路ｌについて確立した所定の印加パターンプログラム
の選択が行なわれる。ステップＳ２では加える変動パタ
ーンに対応して測定タイミングτを設定する。ステップ
Ｓ３ではその他の測定条件を設定する０例えば、供試電
子回路ｌがＣＰＵ３からの疑似制御信号ＣＴを必要とす
るのか否かの設定である。もし電子回路１がパスライン
１０２′を介して本体装置と接続している場合は、疑似
制御信号ＣＴの必要はない。ステップＳ４では前記設定
条件の下で電子回路１の負荷試験を行なう。ステップＳ
５では測定終了か否かの判別をする。終了ならステップ
Ｓ６に進み測定結果データに基づいて電子回路の評価を
する。このようにして、本実施例装置を使用することに
より、開発室では供試電子回路１のウィークポイントが
追求され、改善される。また工場で供試電子回路１が所
定マージンを越えないと評価された場合は製造ラインか
らはじかれる。

［発明の効果］ 以上述べた如く本発明によれば、簡単な構成で電源変動
に対する電子回路特性の自動測定が可能になると同時に
、従来では困難であったような電源変動パターンに対す
る回路の応答特性を容易に測定し、評価できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は実施例の電子回路の評価システムのブロック構
成図、 第２図Ｃ＆）及び（ｂ）は電子回路ｌに加える実施例の
電圧変動パターンを示すタイミングチャート、 第３図は実施例の測定手順を示すフローチャートである
。 図中、１・・・電子回路、２・・・ＤＣ電源、３・・・
セントラルプロセツシングユニツ）　（ＣＰＵ）、４・
・・ＲＯＭ、５・・・ＲＡＭ、６・・・Ｄ／Ａ変換器、
７・・・Ａ／Ｄ変換器、８・・・入出力インタフェース
（Ｉｌｏ）、９・・・ディスク装置、１０・・・プリン
タ、１１・・・入出力ハス、１２・・・キーボード、１
０２・・・パスラインである。 特許出願人　　　　キャノン株式会社 第２図 （ｂ） 第３図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 所定の電圧変動パターンに従って変動する直流電圧を出
   力する直流電源と、該直流電源に負荷される電子回路の
   応答信号を入力する信号入力手段と、該信号入力手段の
   入力する応答信号に基づいて電子回路の評価を行う情報
   処理手段を備えることを特徴とする電子回路の評価シス
   テム。