JPH01302729A - Manufacture of plastic sealed type semiconductor device - Google Patents
Manufacture of plastic sealed type semiconductor deviceInfo
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- JPH01302729A JPH01302729A JP8942289A JP8942289A JPH01302729A JP H01302729 A JPH01302729 A JP H01302729A JP 8942289 A JP8942289 A JP 8942289A JP 8942289 A JP8942289 A JP 8942289A JP H01302729 A JPH01302729 A JP H01302729A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、電力用トランジスタ、ダイオード等の樹脂封
止型半導体装置の製造方法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing resin-sealed semiconductor devices such as power transistors and diodes.
従来の技術
従来の一般的な樹脂封止型パワートランジスタにおいて
は、トランジスタチップが固着さ′れている放熱支持板
の裏面には樹脂層が形成されていな(・。このため、こ
のパワートランジスタを外部放熱体に取付けるに際して
は、これらの間の電気的絶縁のために、上記放熱支持板
の裏面と外部放熱牛との間に比較的熱伝導性の良い絶縁
物であるマイカ薄板等を介在させなければならず、)く
ワートランジスタの取付は作業が煩雑になった。Prior Art In conventional general resin-sealed power transistors, a resin layer is not formed on the back surface of the heat dissipation support plate to which the transistor chip is fixed. When attaching to an external heat radiator, a mica thin plate or the like, which is an insulator with relatively good thermal conductivity, is interposed between the back surface of the heat radiating support plate and the external heat radiating plate for electrical insulation between them. ) The installation of the lower transistor became complicated.
上述の如き欠点を解決するために、例えば、特開昭57
−147260号公報に開示されている゛よ5K、放熱
支持板の裏面にも薄い封止樹脂層(厚さ数百μm)を形
成し、マイカ薄板等を不要とする構造が提案されている
。第11図及び第12図は上述の如き従来のトランジス
タ及びその製造方法を示すものである。この゛第11図
及び第12図において、fi+は放熱支持板、(2)は
リード、(3)はパワートランジスタチップ、(4)は
チップ保護用樹脂、(5)は封止樹脂体、(6)は上部
金型、(7)は下部金型、(8)は上部金を(6)と下
部金型(力が型締めされることによって形成される空所
(9)に封止樹脂を圧入するための注入孔、α■は取付
孔、αD(1′IJはリードフレームを構成するための
連結部である。なお、第12図において、連結部αD0
2は最終的には切り落される。In order to solve the above-mentioned drawbacks, for example,
Japanese Patent No. 147260 discloses a structure in which a thin sealing resin layer (thickness of several hundred micrometers) is formed also on the back surface of the heat dissipation support plate, thereby eliminating the need for a mica thin plate or the like. FIGS. 11 and 12 show the conventional transistor and its manufacturing method as described above. 11 and 12, fi+ is a heat dissipation support plate, (2) is a lead, (3) is a power transistor chip, (4) is a chip protection resin, (5) is a sealing resin body, ( 6) is the upper mold, (7) is the lower mold, (8) is the upper mold and the lower mold (6) and the lower mold (the cavity (9) formed by force clamping is sealed with resin) α■ is a mounting hole, αD(1'IJ is a connecting part for configuring the lead frame.
2 will eventually be cut off.
発明が解決しようとする間厘点
ところで、チップ(3)が装着されている支持板[11
の一方の主表面側の樹脂被覆部(5a)はチップ(3)
を保護するために必然的に厚く形成され、支持板(1)
の曲方の主表面側の樹脂被凹部(5b)は放熱効果を良
くするために薄く形成される。このため、注入孔(8)
から例えばトランスファー成形法で樹脂を注入した時K
、支持板(1)の下側に樹脂が円滑に流入せず、未充填
部分又は絶縁耐力の低い部分が生じるおそれがあった。The problem to be solved by the invention is that the support plate [11
The resin coating part (5a) on one main surface side of the chip (3)
The supporting plate (1) is necessarily formed thickly to protect the
The resin recessed portion (5b) on the curved main surface side is formed thin in order to improve the heat dissipation effect. For this reason, the injection hole (8)
For example, when resin is injected using transfer molding method, K
, the resin would not flow smoothly into the lower side of the support plate (1), and there was a risk that unfilled areas or areas with low dielectric strength would occur.
今、5パワートランジスタを例にとって説明したが、ダ
イオード等の別の半導体装置においても同様な問題があ
る。Although the explanation has been made using a 5-power transistor as an example, similar problems exist in other semiconductor devices such as diodes.
そこで、本発明の目的は、放熱支持板のチップ装着面と
反対の面に薄い樹脂被覆部を良好に形成することが出来
る樹脂封止型半導体装置の製造方法を提供することKあ
る。SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide a method for manufacturing a resin-sealed semiconductor device, which allows a thin resin coating to be satisfactorily formed on the surface of a heat dissipation support plate opposite to the chip mounting surface.
問題点を解決するための手段
上記目的を達成するための本発明は、放熱機能を有する
ように形成され且つ一端部近傍に切欠部又は孔を有して
いる金属製支持板と、前記支持板の一方の主表面上に装
着された半導体チップと、前記チップに電気的に接続さ
れたリードと、前記支持板、前記チップ、及び前記リー
ドの一部を被覆する絶縁性樹脂被覆体とから成り、且つ
前記支持板の一方の主表面側の樹脂被覆部が他方の主表
面側の樹脂被覆部よりも厚くなるように前記樹脂被覆体
が形成され、且つ前記切欠部スは孔の部分に取付用切欠
部又は孔が生じろように前記樹脂被覆体が形成される樹
脂封止型半導体装置の製造方法において、前記一方の主
表面側の樹脂被覆部の前記チップを被覆する部分及び前
記取付用切欠部又は孔の近傍を被覆する部分よりも薄い
被覆部分を前記取付用切欠部又は孔から分離して生じさ
せるように配置され且つ前記支持板の一端部近傍側に配
置された注入孔から注入された封止樹脂の進行を抑制す
るように形成されている突出部を有する樹脂刺止用型を
使用し、前記注入孔から前記封止樹脂を前記樹脂封止用
型の成形窒関内に注入して前記樹脂被覆体を形成するこ
とを特徴とする樹脂封止型中導体装置の製造方法に係わ
るものである。Means for Solving the Problems To achieve the above objects, the present invention provides a metal support plate formed to have a heat dissipation function and having a notch or hole near one end, and the support plate. , a semiconductor chip mounted on one main surface of the chip, leads electrically connected to the chip, and an insulating resin covering covering a portion of the support plate, the chip, and the leads. , and the resin coating is formed such that the resin coating on one main surface side of the support plate is thicker than the resin coating on the other main surface side, and the cutout portion is attached to the hole portion. In the method for manufacturing a resin-sealed semiconductor device, the resin coating is formed such that a notch or a hole is formed for the mounting, and a portion of the resin coating on the one main surface side that covers the chip and a portion for the mounting. Injecting through an injection hole that is arranged so as to separate from the mounting notch or hole and create a thinner covering part than the part that covers the vicinity of the notch or hole, and that is arranged near one end of the support plate. Using a resin-sealing mold having a protrusion formed to suppress the progress of the molded sealing resin, the sealing resin is injected into the molded hole of the resin-sealing mold through the injection hole. The present invention relates to a method for manufacturing a resin-sealed medium conductor device, characterized in that the resin coating is formed by
作用
本発明の制止樹脂の流れを抑制するための突出部は、取
付用切欠部又は孔の形成部分から分離されているので、
取付用切欠部又は孔の形成部分に基づく樹脂の流れの不
均一性の発生又は樹脂の未充填部分の発生を防ぐことが
可能になる。Function: The protruding portion for suppressing the flow of the blocking resin of the present invention is separated from the mounting notch or hole forming portion, so that
It is possible to prevent non-uniformity in the flow of resin or unfilled portions of resin due to the formation of the mounting notch or hole.
実施例
次に、第1図〜第11図を参照して本発明の実施し1]
に係わる樹脂封止型トランジスタ及びその製造方法につ
いて述べる。EXAMPLE Next, with reference to FIGS. 1 to 11, the present invention will be carried out 1]
A resin-sealed transistor and a method for manufacturing the same will be described.
第1図、第2図、及び第3図は完成したトランジスタを
示し、第4図はリードフレームにチップを装着した状態
を示し、第5図は樹脂封止が完成したリードフレームを
示し、第6図は金型を示し、第7図〜第10図は金型を
使用してトランスファー成形法で樹脂被覆体を形成する
工程を示す。1, 2, and 3 show the completed transistor, FIG. 4 shows the chip mounted on the lead frame, FIG. 5 shows the lead frame with resin sealing completed, and FIG. FIG. 6 shows a mold, and FIGS. 7 to 10 show the process of forming a resin coating by transfer molding using the mold.
第1図〜第3図のトランジスタを形成する際には、まず
、第4図に示すリードフレームと呼ばれる半導体装置組
立体を用意する。第4図において、飢はニッケル被覆銅
板から晟る放熱支持板、(22a)(22b) (22
c)は同じ材料から成る外部リードで、(22a)がペ
ースリード、(22b)がコレクタリード、(22c)
がエミッタリードである。123)はシリコンパワート
ランジスタチップで、上面にはペース7嘩及びエミッタ
電極が、下面にはコレクタ1僕がそれぞれ形成されてい
る。このチップ器は下面において放熱支持板f2Dに半
田(図示せず)Kより固着されている。(24a) (
24c)はアルミニウム線から成る内部リードであり、
チップののペース電極とペースリード(22a)との間
、及びチップ(23のエミッタ電極とエミッタリード(
22c)との間に配設されている。(2つはジャンクシ
ョンコーティングレジンと呼ばれるチップ保護用のシリ
コン樹脂から成るKはU字状の切欠部器が形成されてい
る。なお、この切欠部128)の代りに放熱支持、板0
1)K孔を形成することもよく行われている。第4図に
はり一ドフレームの内の1個のパワートランジスタを示
しているが、実際には単一のリードフレームは多数のト
ランジスタを含む。When forming the transistors shown in FIGS. 1 to 3, first, a semiconductor device assembly called a lead frame shown in FIG. 4 is prepared. In Fig. 4, the heat dissipation support plates made of nickel-coated copper plates, (22a) (22b) (22
c) are external leads made of the same material, (22a) is the pace lead, (22b) is the collector lead, (22c)
is the emitter lead. Reference numeral 123) is a silicon power transistor chip, on the upper surface of which a pace electrode and emitter electrode are formed, and on the lower surface a collector electrode 1. This chip device is fixed to the heat dissipation support plate f2D at the lower surface by solder (not shown) K. (24a) (
24c) is an internal lead made of aluminum wire;
between the pace electrode of the chip and the pace lead (22a), and between the emitter electrode of the chip (23) and the emitter lead (
22c). (Two are made of silicone resin for chip protection called junction coating resin. K is formed with a U-shaped notch. In addition, this notch 128) is replaced by a heat dissipation support, plate 0
1) It is also common practice to form K holes. Although FIG. 4 shows one power transistor in a lead frame, a single lead frame actually contains multiple transistors.
本実施例では、第4図に示すリードフレームに、第5図
に示す如く樹脂被覆体3ηを設け、しかる後。In this embodiment, the lead frame shown in FIG. 4 is provided with a resin coating 3η as shown in FIG.
連結部轍@を切り落すことKよって第1図〜第3図の樹
脂封止型トランジスタを完成させる。第1図〜第3図か
ら明らかな如く、支持板CDの一方の主表面(上面)側
には比較的厚い樹脂被覆部(37a)が設けられ、他方
の主表面(下面)側には薄い樹脂撞覆部(37b)が設
けられている。上側の樹脂被覆部(37a)は、チップ
(ハ)、保護層C9、内部IJ−ド(24a)(24り
を覆う最も厚い主被覆部分(41)と、切部分(42と
の間にこれ等よりも薄く形成された薄い被覆部分(43
とを有する。この結果、樹脂被覆体0力の2表面ては薄
い被覆部分(43に対応して溝(3秒が形成されている
。なお、溝O0は、取付孔C3gIとチップ(ハ)とを
結ぶ直線上には設けられていない。The resin-sealed transistor shown in FIGS. 1 to 3 is completed by cutting off the connecting portion rut. As is clear from FIGS. 1 to 3, a relatively thick resin coating (37a) is provided on one main surface (upper surface) of the support plate CD, and a thin resin coating is provided on the other main surface (lower surface). A resin covering portion (37b) is provided. The upper resin coating part (37a) is formed between the thickest main coating part (41) that covers the chip (c), the protective layer C9, and the internal IJ-board (24a), and the cut part (42). A thin covering part (43
and has. As a result, a groove (3 seconds) is formed corresponding to the thin coating part (43) on the 2nd surface of the resin coating with 0 force. Note that the groove O0 is a straight line connecting the mounting hole C3gI and the chip (C). It is not installed on top.
第1図〜第3図及び第5図に示す樹脂被覆体C17]は
、第6図に示す上部金型器と下部金型■とを第7図及び
第8図に示す如く組み合せ、ここK、第9図及び第10
図に示す如く樹脂を注入することにより形成する。第6
図〜第10図において、Oυは、上部金型t2’Oと下
部金WG■が型締めされることによって形成される空所
G2に封止樹脂を圧入するための注入孔である。(29
a)は第1図に示した取付孔(3’)を形成するために
上部金型四力・ら突出した円柱状ビンで、放熱支持板C
υの切欠部C(至)を貫通している。(29b)は上部
金型129から突出した仕切り状の突出部であり、第1
図の溝Oaを形成するものである。なお、仕切り状の突
出部(29b)はその中央に樹脂の流れを許す溝器を有
している。第4図に示すリードフレームを金型2900
1に入れる際には、第6図の矢印の(2)で示すように
、上部金型器と下部金型l30)とを合せて型締めする
。この時、溝(36a)でリード(22a)を溝(36
b)でリード(22b)を溝(36c)でリード(22
c)をそれぞれ挾持する。この結果、第7図及び第8図
に示す如く、金型(29) <30)で形成された空所
■の中に支持板(31)が浮いた状態に配置される。ま
た、第1図〜第3図に示す樹脂被覆体r3力を得るため
に、1部空所(32a)が広くなり、下部空所(32b
)が狭くなるように配置される。しかし、本発明に従っ
てチップ器の上の広℃・空所(32a)の入口近傍に樹
脂の流れの強さを抑制するたら注入した樹脂は狭い下部
空所(32b)にも比較的良好に浸入する。The resin coating body C17 shown in FIGS. 1 to 3 and 5 is made by combining the upper mold device shown in FIG. 6 and the lower mold ■ as shown in FIGS. , Figures 9 and 10
It is formed by injecting resin as shown in the figure. 6th
In the figures to FIG. 10, Oυ is an injection hole for press-fitting the sealing resin into the cavity G2 formed by clamping the upper mold t2'O and the lower mold WG2. (29
a) is a cylindrical bottle that protrudes from the upper mold to form the mounting hole (3') shown in Figure 1, and is attached to the heat dissipation support plate C.
It passes through the notch C (to) of υ. (29b) is a partition-like protrusion protruding from the upper mold 129, and the first
This forms the groove Oa shown in the figure. Note that the partition-like protrusion (29b) has a groove in its center that allows the resin to flow. The lead frame shown in Fig. 4 is placed in a mold 2900.
1, as shown by the arrow (2) in FIG. 6, the upper mold device and the lower mold 130) are brought together and clamped. At this time, the groove (36a) connects the lead (22a) to the groove (36a).
b) and the lead (22b) in the groove (36c).
c) and hold them together. As a result, as shown in FIGS. 7 and 8, the support plate (31) is placed in a floating state in the cavity (2) formed by the mold (29) <30). In addition, in order to obtain the resin coating r3 force shown in FIGS.
) is arranged so that it becomes narrower. However, if the strength of the resin flow is suppressed near the entrance of the wide cavity (32a) above the chip device according to the present invention, the injected resin will relatively easily penetrate into the narrow lower cavity (32b). do.
空所C32に対する樹脂の注入は、公知のトランスファ
ー成型法に基づいて、熱硬化性エポキシ樹脂をポット内
で軟化させ、加圧して金W G9) G(11内に注入
する。これKより、第7図に示す注入孔C31)から液
状の樹脂が注入され、空所621の全部が樹脂で充填さ
れる。金型C’!Ill 030)は樹脂を熱硬化させ
る温度(1500〜200°程度)に加熱されているの
で、充填された樹脂は短時間(数分)の内に熱硬化し、
第9図及び第10図に示す樹脂被覆体Gηとなる。In order to inject the resin into the cavity C32, thermosetting epoxy resin is softened in a pot and injected into the gold W (G9) G (11) based on a known transfer molding method. Liquid resin is injected from the injection hole C31) shown in FIG. 7, and the entire cavity 621 is filled with the resin. Mold C'! Ill 030) is heated to a temperature (approximately 1500 to 200°) that thermosets the resin, so the filled resin thermosets within a short time (several minutes).
The resin coating Gη shown in FIGS. 9 and 10 is obtained.
なお、完全に熱硬化させるために、金型(291■から
リードフレームを取り出した後に、更に長時間の熱処理
を行う。In order to completely heat cure the lead frame, after taking it out from the mold (291), heat treatment is performed for an even longer period of time.
上述の如きトランスファー成形法fよる樹脂被覆体Gη
の形成において、第6図、第7図及び第9図で矢印(4
■で示す方向性を有して液状の樹脂を加圧注入すると、
比較的広い上部空所(32a)に樹脂が容易に充填され
ようとする。しかし、本実施例では、矢印(41で示す
樹脂の注入方向て交差するように突出部(29b)が設
けられているので、樹脂の流れが抑制され、この結果、
支持板f21)の下側の狭い空所(32b)における樹
脂の流れが相対的に強められる。これKより、上部空所
(32a)と下部空所(32b)での封止の流れのバラ
ンスが良くなり、従来あった下部空所(32b)の未充
填状態がほとんど見られなくなった。即ち、下部空所(
32b)に形成される薄い樹脂被覆部(37b)の絶縁
不良という問題を解決できた。Resin coating Gη by transfer molding method f as described above
6, 7 and 9, the arrow (4)
When liquid resin is injected under pressure with the direction shown in ■,
The resin tends to be easily filled into the relatively wide upper space (32a). However, in this embodiment, since the protrusions (29b) are provided so as to intersect with the injection direction of the resin shown by the arrow (41), the flow of the resin is suppressed, and as a result, the flow of the resin is suppressed.
The flow of resin in the narrow space (32b) below the support plate f21) is relatively strengthened. With this K, the balance of the sealing flow in the upper cavity (32a) and the lower cavity (32b) has become better, and the conventional unfilled state of the lower cavity (32b) is almost no longer observed. That is, the lower void (
The problem of poor insulation of the thin resin coating portion (37b) formed on portion 32b) could be solved.
上部金型四の突出部(29b)を、封止樹脂の主たる流
れ方向(矢印(4f)の方向〕に直交する仕切ジ状に配
設することにより、樹脂の流れを効果的に押えているが
、その高さや位置はモールド金型の取り個数やパッケー
ジの大きさ等によりそれぞれ最適値が異なる。The flow of the resin is effectively suppressed by arranging the protrusion (29b) of the upper mold 4 in the shape of a partition orthogonal to the main flow direction of the sealing resin (the direction of the arrow (4f)). However, the optimum height and position differ depending on the number of molds, the size of the package, etc.
なお、注入孔C311から見て封止樹脂の主たる流れ方
向にピン(29a)があるため、ピン(29a)も制止
樹脂の流れを押えるように働く。従って、注入孔Oυと
ピン(29a)を結ぶラインの延長上であり且つピン(
29a)の注入孔C311と反対側の領域におい℃封止
樹脂の未充填が発生することがある。しかし、本実施例
では、第6図から最も明らかな如く、ピン(29a)に
よつ℃分割された封止樹脂の流れが、突出部(29b)
によって再び抑制されるから、上記のピン(29a )
の反対側領域に封圧樹脂が回り込み易(なり、未充填が
確実に防止される。さらに本実施例では、矢印(4(J
とピン(29a)とを結ぶ直線の延長線上に突出部(2
9b)の作用を低減させる溝09が設けられてお夕、こ
の溝09がピン(29a) Kよる封止樹脂の流れの抑
制作用を相殺するように働くので、上記ピン(29a)
の反対側領域の未充填を確実に防止することができる。Note that since the pin (29a) is located in the main flow direction of the sealing resin when viewed from the injection hole C311, the pin (29a) also acts to suppress the flow of the sealing resin. Therefore, it is on the extension of the line connecting the injection hole Oυ and the pin (29a), and the pin (
The region opposite to the injection hole C311 in 29a) may not be filled with the °C sealing resin. However, in this embodiment, as is most obvious from FIG. 6, the flow of the sealing resin divided by degrees by the pin (29a) is
The above pin (29a)
The sealing resin easily wraps around to the area opposite to the arrow (4 (J
The protrusion (2) is on the extension of the straight line connecting the
A groove 09 is provided to reduce the effect of the pin (29a), and this groove 09 works to offset the effect of suppressing the flow of the sealing resin by the pin (29a).
It is possible to reliably prevent the area on the opposite side from not being filled.
また、支持板+11の一端部個領域を被覆している取付
孔近傍被覆部分(421は、主被覆部分(41)よりも
薄く形成されるので、上部金型C印の取付孔近傍被覆部
分(4シを設ける部分と支持板(1)との間隙が狭くな
ジ、ここでも樹脂の流れが抑制される。従って、支持板
(1)の−溝近傍に配置された注入孔ODから注入され
た圏脂は薄い取付孔近傍被覆部分(43を形成するため
の金型部分と突出部(29b)との両方によって抑制さ
れ、一方の主表面側と他方の主表面側との樹脂の流れの
バランスを良好に調整することができる。In addition, since the covering part (421) near the mounting hole that covers the individual area at one end of the support plate +11 is formed thinner than the main covering part (41), the covering part (421) near the mounting hole marked C in the upper mold ( Since the gap between the portion where the four holes are provided and the support plate (1) is narrow, the flow of the resin is also suppressed here.Therefore, the resin is injected from the injection hole OD located near the groove of the support plate (1). The resin is suppressed by both the mold part for forming the thin mounting hole vicinity coating part (43) and the protruding part (29b), and the flow of resin from one main surface side to the other main surface side is suppressed. Balance can be adjusted well.
ところで、第1図〜第3図に示すトランジスタの取付け
は、通常、外部の放熱作用を有する取付板に下部樹脂被
覆部(37b)を轟てるようになし、取付孔c31にネ
ジ又はボルト等の取付部材を貫通させ、これにより取付
板に固定することによって行5゜この様な取付時に、ネ
ジ又はボルト等の頭又はナンドが取付孔0!1の近傍を
強く押圧すると、クランクが生じるので、取付孔OIの
近傍をあまり薄くすることは出来ない。このため、本実
施例では、取付孔0!1の近傍の被覆部分(4Zは取付
に支障がない厚さに形成され、本発明に従う溝(至)に
おける薄い被覆部分(43は、取付孔C3!lの近傍の
被覆部分(42よりも薄く形成されている。By the way, when mounting the transistor shown in FIGS. 1 to 3, the lower resin coating part (37b) is usually mounted on a mounting plate that has an external heat dissipation function, and screws, bolts, etc. are inserted into the mounting hole c31. By penetrating the mounting member and fixing it to the mounting plate, it will cause a crank. It is not possible to make the area near the mounting hole OI very thin. For this reason, in this embodiment, the covering portion (4Z) near the mounting hole 0!1 is formed to a thickness that does not hinder the mounting, and the thin covering portion (43) in the groove (to) according to the present invention is formed in the vicinity of the mounting hole C3. The covering portion near !l (is formed thinner than 42).
変形例
本発明は、上述の実施例に限定されるものでなく、種々
の変形が可能なものである。例えば、第13図に示す如
く、取付孔(39を囲む部分に比較的厚い被覆部分(4
′lIを円筒状に設け、ここを囲むよ5に薄い被覆部分
(43を設けてもよい。この際、主被覆部分(4υは勿
論厚く形成する。また、取付孔01がチップのに接近す
る位置にある場合には、第6図の注入孔Oυとピン(2
9a)との間に突出部(29b)を設けてもよい。また
、取付孔01を切欠部(溝又は凹部)としてもよい。ま
た、ダイオードにも適用可能である。Modifications The present invention is not limited to the above-described embodiments, but can be modified in various ways. For example, as shown in FIG. 13, a relatively thick covering portion (4
'lI is provided in a cylindrical shape, and a thin covering part (43) may be provided at 5 to surround it.In this case, the main covering part (4υ) is of course formed thickly.Also, the mounting hole 01 is close to the chip. position, insert the injection hole Oυ and pin (2) in Figure 6.
A protrusion (29b) may be provided between it and 9a). Further, the attachment hole 01 may be a notch (groove or recess). It is also applicable to diodes.
発明の効果
上述から明らかな如く、本発明によれば支詩板の一方の
主表面側における樹脂の流れを抑制するための只出部が
、取付用切欠部又は孔の形成部分カラ分離されているの
で、取付用切欠部又は孔の形成部分による樹脂の流れの
抑制に基づく樹脂の流れの不均一性の発生又は樹脂の未
充填部分の発生を防ぎ、良好な樹脂被覆体を形成するこ
とができる。Effects of the Invention As is clear from the above, according to the present invention, the protruding part for suppressing the flow of resin on one main surface side of the support plate is separated from the part where the mounting notch or hole is formed. Therefore, it is possible to prevent uneven resin flow or unfilled areas of resin due to suppression of resin flow by the mounting notch or hole formation part, and form a good resin coating. can.
第1図は本発明の実施例に係わるトランジスタを示す斜
視図、第2図は第1図のトランジスタの平面図、第3図
は第2図の■−■線断面図、第4図はi1図のトランジ
スタを形成するためのリードフレームを示すM視図、第
5図は第4図のリードフレームに樹脂被覆体を設けた状
態を示す斜視図、第6図は金型を示す斜視図、第7図は
金型にリードフレームを入れた状態を示す第2図の■−
VII線に相当する部分の断面図、第8図は金型にリー
ドフレームを入れた状態を示す第2図のvn+−面線に
相当する部分の断面図、第9図、及び第10図は第7図
及び第8図の金型に樹脂を充填した状態をそれぞれ示す
断面図、第11図は従来のトランジスタを示す斜視図、
第12図f−i第11図のトランジスタを形成するため
に金型にリードフレームを入れて樹脂を充填した状態を
示す断面図、第13図は本発明の変形例を示す斜視図で
ある。
Qυ・・・放熱支持鈑、(22a)(22b)(22C
)−・・リード、C3・・・トランジスタチップ、(2
4a )(24b片・・内部リード、(29・・・保護
層、(2Q・・・切欠部、Cつ・・・上部金型、(29
a)・・・ピン、(29b片・・突出部、C3(1・・
・下部金型、01)・・・注入孔、曽・・・全所、(3
2a)・・・土部全所、(32b)・・・下部全所、C
37)・・・樹脂被覆体、(37a)・・・一方の樹1
1w被覆部、+37b)・・・他方の樹脂被覆部、(至
)・・・溝、01・・・取付孔、(4υ・・・主被覆部
分、(421・・・取付孔近傍被覆部分、(43・・・
薄い被覆部分。
代 理 人 高 野 則 次第2図
第7図
第8図
第9図
第10図FIG. 1 is a perspective view showing a transistor according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a plan view of the transistor in FIG. 1, FIG. 3 is a sectional view taken along the line ■-■ in FIG. FIG. 5 is a perspective view showing the lead frame shown in FIG. 4 with a resin coating provided thereon, FIG. 6 is a perspective view showing a mold, Figure 7 shows the state in which the lead frame is placed in the mold.
8 is a sectional view of a portion corresponding to the line VII, FIG. 8 is a sectional view of a portion corresponding to the vn+- plane line of FIG. 7 and 8 are cross-sectional views showing the molds filled with resin, respectively; FIG. 11 is a perspective view showing a conventional transistor;
FIG. 12 is a sectional view showing a state in which a lead frame is placed in a mold and filled with resin to form the transistor of FIG. 11, and FIG. 13 is a perspective view showing a modification of the present invention. Qυ... Heat dissipation support plate, (22a) (22b) (22C
)--Lead, C3... Transistor chip, (2
4a) (24b piece...Inner lead, (29...Protective layer, (2Q...Notch, C piece...Upper mold, (29
a)... Pin, (29b piece... protrusion, C3 (1...
・Lower mold, 01)...Injection hole, Zeng...all places, (3
2a)...all the soil parts, (32b)...all the lower parts, C
37)...Resin coating, (37a)...One tree 1
1w covering part, +37b)...other resin covering part, (to)...groove, 01...attachment hole, (4υ...main covering part, (421...covering part near attachment hole, (43...
thin covering part. Agent Nori Takano Figure 2 Figure 7 Figure 8 Figure 9 Figure 10
Claims (1)
欠部又は孔を有している金属製支持板と、前記支持板の
一方の主表面上に装着された半導体チップと、前記チッ
プに電気的に接続されたリードと、前記支持板、前記チ
ップ、及び前記リードの一部を被覆する絶縁性樹脂被覆
体とから成り、且つ前記支持板の一方の主表面側の樹脂
被覆部が他方の主表面側の樹脂被覆部よりも厚くなるよ
うに前記樹脂被覆体が形成され、且つ前記切欠部又は孔
の部分に取付用切欠部又は孔が生じるように前記樹脂被
覆体が形成される樹脂封止型半導体装置の製造方法にお
いて、 前記一方の主表面側の樹脂被覆部の前記チップを被覆す
る部分及び前記取付用切欠部又は孔の近傍を被覆する部
分よりも薄い被覆部分を前記取付用切欠部又は孔から分
離して生じさせるように配置され且つ前記支持板の一端
部近傍側に配置された注入孔から注入された封止樹脂の
進行を抑制するように形成されている突出部を有する樹
脂封止用型を使用し、前記注入孔から前記封止樹脂を前
記樹脂封止用型の成形空間内に注入して前記樹脂被覆体
を形成することを特徴とする樹脂封止型半導体装置の製
造方法。[Scope of Claims] A metal support plate formed to have a heat dissipation function and having a notch or hole near one end, and a semiconductor chip mounted on one main surface of the support plate. , consisting of a lead electrically connected to the chip, and an insulating resin coating covering a part of the support plate, the chip, and the lead, and a resin on one main surface side of the support plate. The resin coating is formed such that the coating portion is thicker than the resin coating portion on the other main surface side, and the resin coating is formed such that a mounting notch or hole is formed in the notch or hole. In the method for manufacturing a resin-sealed semiconductor device, the coating portion is thinner than the portion of the resin coating portion on the one main surface side that covers the chip and the portion that covers the vicinity of the mounting notch or hole. is arranged so as to be generated separately from the mounting notch or hole, and is formed so as to suppress the progress of the sealing resin injected from the injection hole arranged near one end of the support plate. The resin coating is formed by using a resin sealing mold having a protruding part, and injecting the sealing resin into the molding space of the resin sealing mold from the injection hole. A method for manufacturing a sealed semiconductor device.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8942289A JPH01302729A (en) | 1989-04-07 | 1989-04-07 | Manufacture of plastic sealed type semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8942289A JPH01302729A (en) | 1989-04-07 | 1989-04-07 | Manufacture of plastic sealed type semiconductor device |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59114018A Division JPS60257529A (en) | 1984-06-04 | 1984-06-04 | Manufacture of resin sealed type semiconductor device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01302729A true JPH01302729A (en) | 1989-12-06 |
| JPH0578177B2 JPH0578177B2 (en) | 1993-10-28 |
Family
ID=13970223
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8942289A Granted JPH01302729A (en) | 1989-04-07 | 1989-04-07 | Manufacture of plastic sealed type semiconductor device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01302729A (en) |
-
1989
- 1989-04-07 JP JP8942289A patent/JPH01302729A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0578177B2 (en) | 1993-10-28 |
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