JPH01306132A - ワイヤカット放電加工装置のワイヤ電極垂直出し方法 - Google Patents
ワイヤカット放電加工装置のワイヤ電極垂直出し方法Info
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- JPH01306132A JPH01306132A JP63131661A JP13166188A JPH01306132A JP H01306132 A JPH01306132 A JP H01306132A JP 63131661 A JP63131661 A JP 63131661A JP 13166188 A JP13166188 A JP 13166188A JP H01306132 A JPH01306132 A JP H01306132A
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- B23H—WORKING OF METAL BY THE ACTION OF A HIGH CONCENTRATION OF ELECTRIC CURRENT ON A WORKPIECE USING AN ELECTRODE WHICH TAKES THE PLACE OF A TOOL; SUCH WORKING COMBINED WITH OTHER FORMS OF WORKING OF METAL
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
［産業上の利用分野］
本発明は、ワイヤカット放電加工装置におけるワイヤ電
極垂直出し方法およびその方法を実施するための装置に
関するものである。 ［従来の技術］ 第４図は従来のワイヤカット放電加工装置のワイヤ電極
垂直出し方法を説明するための概念図であり、図におい
て、１はワイヤ電極、２はワイヤ電極１の送出しリール
、３はワイヤ電極１の巻取リリール、４は下部ガイドロ
ーラ、５は上部ガイドローラ、６は下部ワイヤガイド、
７ ｉｔ上部ワイヤガイドである。ワイヤ電極１は送出
しリール２より下部ガイドローラ４、下部ワイヤガイド
６、上部ワイヤガイド７、上部ガイドローラ５を順に経
て一定速度で送給され巻取りリール３に巻き取られるよ
うになっている。この場合、ワイヤ電極１には例えば０
．２ｍｍφの黄銅ワイヤの場合、通常８００〜１５００
ｇの張力を付与している。 また、８は上部ワイヤガイド７を水平面のＵ。 Ｖ軸方向に二次元の移動を可能にするワイヤガイド駆動
装置で、図示しない被加工物に所望のテーパ加工を施す
場合に使用される。 被加工物は同様に水平面のＸ、Ｙ軸方向に二次元の移動
が可能な加工テーブル１０上に適当なりランプ装置（図
示せず）により固定されている。 この加工テーブル１０上にはまた、ワイヤ電極垂直度計
装置１２が設けられている。ワイヤ電極垂直度計装置１
２は加工テーブル１０上に固定された本体１４にワイヤ
電極１と電気的に接触導通を行うように上下平行に配設
された上部接触部材１５と下部接触部材１６から構成さ
れており、上部、下部接触部材１５．１６の各先端に固
着された上部接点１５１と下部接点１６１間を結ぶ線は
加工テーブル１０に対し垂直となるように取り付けられ
ている。 そして、ワイヤ電極１に対する上部接点１５１および下
部接点１６１の接触信号は数値制御装置１８にそれぞれ
上部接触信号２０、下部接触信号２１として入力される
。また、数値制御装置１８は加工テーブル１０のＸ軸駆
動モータおよびＹ軸駆動モータ（いずれも図示せず）に
対しそれぞれＸ軸駆動信号２２およびＸ軸駆動信号２３
を出力するとともに、ワイヤガイド駆動装置８のＵ軸駆
動モータおよびＶ軸駆動モータ（いずれも図示せず）に
対しそれぞれＵ軸駆動信号２４およびＶ軸駆動信号２５
を出力する。 次に、上記ワイヤカット放電加工装置におけるワイヤ電
極の垂直出し方法について第５図を用いて説明する。 第５図は一例としてＸ軸方向の垂直出し手順を示す図で
あり、Ｙ軸方向についても以下の説明で全く同様に行い
得るものである。 まず、上部ワイヤガイド７が第４図に示すようにＵ軸の
右方向に変位している場合、ワイヤ電極１は垂直になっ
ていないので、第５図の（ａ）で示すような状態となっ
ており、ワイヤ電極１はＵ軸方向に傾き、上部接点１５
１および下部接点１６１は共にワイヤ電極１から離れて
いる。 そこで次に、加工テーブル１０をＸ軸方向に前進させ、
下部接点１６１をワイヤ電極１に接触させる。このとき
下部接触信号２１は数値制御装置１８に入力されるので
、下部接触の発生と同時に加工テーブル１０は移動を停
止するが、さらに、この下部接触が解除されるまで下部
接点１６１を少し戻し、第５図（ｂ）の状態にする。 次に、この状態から第５図（Ｃ）に示すように上部ワイ
ヤガイド７をＵ軸の左方向に、例えば１μｍ動かしてワ
イヤ電極１を起こす。 再び加工テーブル１０をＸ軸方向に前進させ、上部接点
１５１および下部接点１６１が同時にワイヤ電極１と接
触するかどうかを、数値制御装置１８に入力される上部
接触信号２０および下部接触信号２１が同時に発生する
かどうかによって判定する。同時接触でないときは第５
図（ｂ）の状態に戻し、同図（Ｃ）の間で上記動作を繰
り返す。 同時接触となったときは第５図（ｄ）の状態であるが、
確認のため一旦加工テーブル１０をＸ軸方向にある一定
距離後退させ、再度前進させて同時接触となるかどうか
を判定する。そして、同時接触でなければ第５図（ｂ）
の状態に戻し、１μｍ起こす動作を行い、同時接触とな
るまで上記動作を繰り返す。同時接触ならば第５図（ｅ
）の状態となり、ここにワイヤ電極１の垂直出しは完了
となる。 なお、ワイヤ電極１がＵ軸の左方向に傾いている場合に
ついても最初にワイヤ電極１と接触するのは上部接点１
５１であるだけで、上記と同様の方法で垂直出しを行う
ことができる。
極垂直出し方法およびその方法を実施するための装置に
関するものである。 ［従来の技術］ 第４図は従来のワイヤカット放電加工装置のワイヤ電極
垂直出し方法を説明するための概念図であり、図におい
て、１はワイヤ電極、２はワイヤ電極１の送出しリール
、３はワイヤ電極１の巻取リリール、４は下部ガイドロ
ーラ、５は上部ガイドローラ、６は下部ワイヤガイド、
７ ｉｔ上部ワイヤガイドである。ワイヤ電極１は送出
しリール２より下部ガイドローラ４、下部ワイヤガイド
６、上部ワイヤガイド７、上部ガイドローラ５を順に経
て一定速度で送給され巻取りリール３に巻き取られるよ
うになっている。この場合、ワイヤ電極１には例えば０
．２ｍｍφの黄銅ワイヤの場合、通常８００〜１５００
ｇの張力を付与している。 また、８は上部ワイヤガイド７を水平面のＵ。 Ｖ軸方向に二次元の移動を可能にするワイヤガイド駆動
装置で、図示しない被加工物に所望のテーパ加工を施す
場合に使用される。 被加工物は同様に水平面のＸ、Ｙ軸方向に二次元の移動
が可能な加工テーブル１０上に適当なりランプ装置（図
示せず）により固定されている。 この加工テーブル１０上にはまた、ワイヤ電極垂直度計
装置１２が設けられている。ワイヤ電極垂直度計装置１
２は加工テーブル１０上に固定された本体１４にワイヤ
電極１と電気的に接触導通を行うように上下平行に配設
された上部接触部材１５と下部接触部材１６から構成さ
れており、上部、下部接触部材１５．１６の各先端に固
着された上部接点１５１と下部接点１６１間を結ぶ線は
加工テーブル１０に対し垂直となるように取り付けられ
ている。 そして、ワイヤ電極１に対する上部接点１５１および下
部接点１６１の接触信号は数値制御装置１８にそれぞれ
上部接触信号２０、下部接触信号２１として入力される
。また、数値制御装置１８は加工テーブル１０のＸ軸駆
動モータおよびＹ軸駆動モータ（いずれも図示せず）に
対しそれぞれＸ軸駆動信号２２およびＸ軸駆動信号２３
を出力するとともに、ワイヤガイド駆動装置８のＵ軸駆
動モータおよびＶ軸駆動モータ（いずれも図示せず）に
対しそれぞれＵ軸駆動信号２４およびＶ軸駆動信号２５
を出力する。 次に、上記ワイヤカット放電加工装置におけるワイヤ電
極の垂直出し方法について第５図を用いて説明する。 第５図は一例としてＸ軸方向の垂直出し手順を示す図で
あり、Ｙ軸方向についても以下の説明で全く同様に行い
得るものである。 まず、上部ワイヤガイド７が第４図に示すようにＵ軸の
右方向に変位している場合、ワイヤ電極１は垂直になっ
ていないので、第５図の（ａ）で示すような状態となっ
ており、ワイヤ電極１はＵ軸方向に傾き、上部接点１５
１および下部接点１６１は共にワイヤ電極１から離れて
いる。 そこで次に、加工テーブル１０をＸ軸方向に前進させ、
下部接点１６１をワイヤ電極１に接触させる。このとき
下部接触信号２１は数値制御装置１８に入力されるので
、下部接触の発生と同時に加工テーブル１０は移動を停
止するが、さらに、この下部接触が解除されるまで下部
接点１６１を少し戻し、第５図（ｂ）の状態にする。 次に、この状態から第５図（Ｃ）に示すように上部ワイ
ヤガイド７をＵ軸の左方向に、例えば１μｍ動かしてワ
イヤ電極１を起こす。 再び加工テーブル１０をＸ軸方向に前進させ、上部接点
１５１および下部接点１６１が同時にワイヤ電極１と接
触するかどうかを、数値制御装置１８に入力される上部
接触信号２０および下部接触信号２１が同時に発生する
かどうかによって判定する。同時接触でないときは第５
図（ｂ）の状態に戻し、同図（Ｃ）の間で上記動作を繰
り返す。 同時接触となったときは第５図（ｄ）の状態であるが、
確認のため一旦加工テーブル１０をＸ軸方向にある一定
距離後退させ、再度前進させて同時接触となるかどうか
を判定する。そして、同時接触でなければ第５図（ｂ）
の状態に戻し、１μｍ起こす動作を行い、同時接触とな
るまで上記動作を繰り返す。同時接触ならば第５図（ｅ
）の状態となり、ここにワイヤ電極１の垂直出しは完了
となる。 なお、ワイヤ電極１がＵ軸の左方向に傾いている場合に
ついても最初にワイヤ電極１と接触するのは上部接点１
５１であるだけで、上記と同様の方法で垂直出しを行う
ことができる。
【発明が解決しようとする課題］
従来のワイヤカット放電加工装置におけるワイヤ電極の
垂直出し方法は、上述のようにかなり煩雑で面倒なもの
であった。特に上部、下部接点１５１．１６１の上下同
時接触の判定を行ううえで、その確認動作が不可欠のた
め、２回連続して同時接触が発生しなければワイヤ電極
１が垂直と判定されないため、ワイヤ電極１が何らかの
原因で振動した場合等においては（ワイヤ電極はしばし
ば振動を生じる）、上下同時接触が２回連続で発生しな
い事態が起きる。そうなると、自動的にワイヤ起こし動
作に戻り、余分なワイヤ起こしを行ったりして垂直出し
に時間がかかる。また、ワイヤ電極が振動していると、
垂直出し途中において上下同時接触が２回連続して発生
する場合もあり、垂直度の精度が十分でないというおそ
れがあった。 そこで、このような煩雑で手数のかかる問題を解決する
ため、例えば特開昭５７−６１４２０号公報に示すよう
に、上部、下部接点をマイクロメータ等のスピンドルで
移動可能に構成し、ワイヤ電極と接触するまでの移動距
離をそれぞれ測定することによってそれらの測定値の上
部ワイヤガイド補正量を計算し、その補正量に基づいて
上部ワイヤガイドを移動させワイヤ電極の垂直度を出す
方法が知られている。しかしながら、この従来技術の場
合、ワイヤ電極が振動していないことを前提としており
、また手動操作であるため放電加工装置の連続的運転、
無人化運転等には向かないという問題がある。 本発明は、上記のような問題点を解決するためになされ
たもので、ワイヤ電極に対する上下２つの接点の接触が
ワイヤ電極の振動により発生する場合においても、ワイ
ヤ電極の垂直度の判定に統計的手法を活用することによ
り自動的に高精度にその垂直度を出すことができるワイ
ヤ電極垂直出し方法およびその方法に用いる装置を得る
ことを目的とする。 ［課題を解決するための手段］ 本発明に係るワイヤカット放電加工装置のワイヤ電極垂
直出し方法は、まず上下２つの接点がワイヤ電極に対し
同時に接触したことを検出した後、その状態でワイヤ電
極の振動により生じるワイヤ電極と上下各接点との振動
による離隔接触回数を一定時間サンプリングする。この
一定時間内の総サンプリング回数Ｎは、サンプリングタ
イム（例えば、１サンプリングタイムを３５．５Ｉｌｓ
ｅｃとする）を一定時間にわたってカウントすることに
より求められ、上下各接点がいずれもワイヤ電極より離
れており接触していない回数をＮ 、下部接■ 点のみの接触回数をＮ 、上部接点のみの接触口数をＮ
、上下各接点の同時接触回数をＮ４とすると、 Ｎ−Ｎ ｔ ＋ Ｎ ２ ＋ Ｎ ３＋Ｎ ４
（’ ）で表される。 そして、（１）式中のＮ ＋Ｎ とＮ ／Ｎ２に着
目し、Ｎ ＋Ｎ ＞Ｋｌ （ただし、Ｋ１＜Ｎ）
で、かつ、ｋ ＜Ｎ ／Ｎ２＜ｋｌ（ただし、ｋ
ｌ 、 ｋ ２は定数）のとき、上下各接点はワイヤ
電極に対しほぼ均等に接触していると判定するものであ
る。つまり、ある一定時間における上部接触信号と下部
接触信号の数をカウントし、両者がほぼ同数となったこ
とを確認することにより、ワイヤ電極の垂直出しが完了
したと判定するものである。 次に、本発明に係る上記方法に用いるワイヤ電極垂直出
し装置は、総サンプリング回数Ｎを抽出する手段と、上
記Ｎ ＋Ｎ３＞Ｋ、を判断する手段と、上記Ｎ３／Ｎ
２＜ｋ１を判断する手段と、上記Ｎ ／Ｎ ＞Ｋ２を判
断する手段と、上記Ｎ２十Ｎ３〉Ｋ１の判断で“Ｎｏ”
のときに、上下各接点の送り込みすぎかどうかを判断す
るためのＮ ＞Ｎ４を判断する手段とを備えてなるし
のである。 ［作 用］ 本発明においては、上下各接点のワイヤ電極に対する同
時接触が１回発生した後、その状態で一定時間内におけ
る総サンプリング回数Ｎを求め、Ｎ ２ ＋ Ｎ ｓ
＞ Ｋ １であるかどうかを判断することにより、上下
台接点の当該位置におけるワイヤ電極の振動の影響を判
断することができる。すなわち、Ｎ 十Ｎ３＞Ｋ、で
あれば、ワイヤ電極の振動によって接触が発生している
から、さらに、上部接触と下部接触がほぼ均等に発生し
ているかどうかをＮ ｓ ／ Ｎ ２の比で判断すれば
良い。逆に、Ｎ２＋Ｎ３〉Ｋ１でないときは、上下台接
点の当該位置がワイヤ電極よりも離れすぎているか、ま
たは上下台接点を送り込みすぎているかのいずれかであ
るから、上下台接点の位置およびワイヤガイドの位置を
修正後、再度総サンプリング回数Ｎを求める動作に戻し
判定を繰り返す。 また、Ｎ ＋Ｎ ＞Ｋ であって、Ｎ３／Ｎ２＞
ｋ２ のときは上部接触のみが発生しており、逆にＮ
／Ｎ ＜Ｋ２のときは下部接触のみが発生している
ことになるから、ワイヤガイドの位置を修正後、再度総
サンプリング回数Ｎを求める動作に戻し判定を繰り返す
。そして、ｋ く Ｎ３／Ｎ２＜ｋ１であるときに始め
て、当該位置において上下同時接触がほぼ均等に発生し
ていると判断されるから、ワイヤ電極の垂直出しが完了
となる。 ［実施例］ 以下、本発明の一実施例を図により説明する。 第１図は本発明のワイヤ電極垂直出し方法を実施する装
置の制御回路のフローチャートであり、上下同時接触が
１回発生した後におけるワイヤ電極の垂直出し動作が完
了するまでの流れを示している。なお、第１図はＵ軸、
Ｘ軸についてのワイヤ電極垂直出し方法を例示するもの
であるが、Ｙ軸、Ｙ軸についても同様の制御回路が設け
られている。図において、１０１は第１回の上下同時接
触の発生後一定時間内における総サンプリング回数Ｎの
抽出手段であり、この抽出手段１０１において、前記（
１）式で示されるＮ、Ｎ、Ｎ３゜Ｎ４の各回数をカウン
トする。つまり、総サンプリング回数Ｎは、上下台接点
がいずれもワイヤ電極より離れており接触していない回
数Ｎ１と、下部接点のみの接触回数Ｎ２と、上部接点の
みの接触回数Ｎ と、上下台接点の同時接触回数Ｎ４の
合計であるから、このうちＮ、Ｎ３の回数が特に重要な
判定要素となる。１サンプリングタイムを例えば３５．
５ｍ５ｅｃとし、このサンプリングタイムを一定時間カ
ウントすることにより総サンプリング回数Ｎを求める。 一定時間としては、できるだけ短い時間が望ましいが、
例えば１秒間位が適当である。また、同数Ｎは放電加工
装置の機械精度にもよるが、ある程度の回数がないと本
発明の統計的効果が得られないので、この実施例ではＮ
−３０としている。 １０２はＮ２２＋Ｎ３＞Ｋ１の判断手段である。 すなわち、総サンプリング回数Ｎの中から下部接触回数
Ｎ と上部接触回数Ｎ３の和を求める。 Ｋ は、この実施例ではに１−２５としている。 しかしながら、Ｎ２＋Ｎ３の判断のみでは上部、下部接
点１５１，１６１の接触回数が均等であるか否かが判断
できないので、次にそれらの比Ｎ３／Ｎ２が所定の数値
内にあるか否かを判断する。 そこでまず、判断手段１０３において、Ｎ３／Ｎ ＜
ｋ であるかどうかを判断する。ｋｌは、この実施例
ではに、−３，０としている。この数値は標準正規分布
の９９．８７％に相当する値である。 次に、その判断が“ＹＥＳ“であれば、Ｎ３／Ｎ ＞Ｋ
２の判断手段１０４へ移行する。Ｋ２は、この実施例で
はに２−０．３としている。この数値は標準正規分布の
６１．７９％に相当する値である。そして、この判断が
“ＹＥＳ”であれば、Ｎ３／Ｎ２が所定の数値内にある
ことになるので、ここにワイヤ電極１の垂直出しは完了
となる。 また、上記Ｎ２＋Ｎ３〉Ｋ１の判断手段１０２において
、“ＮＯ″のときは、上部、下部接点１５１．１６１は
共にワイヤ電極１と接触せず離れているか、または上部
、下部接点１５１，１６１の送り込みすぎのため両方共
接触しているかのいずれかであるから、ＮｔとＮ４を比
較するためＮ１〉Ｎ４の判断手段１０５へ移行する。こ
の判断が“ＹＥＳ”であれば、Ｘ軸、Ｕ軸の１μｍ前選
手段１０６により加工テーブル１０および上部ワイヤガ
イド７をそれぞれＸ軸、Ｕ軸方向へ１μｍ前進させた後
、総サンプリング回数Ｎの抽出手段１０１へ戻し、再度
以上の動作を繰り返す。 逆に、Ｎ ＞Ｎ４の判断が“ＮＯ”であれば、Ｘ軸、
Ｕ軸の１μｍ後退手段１０７により加工テーブル１０お
よび上部ワイヤガイド７をそれぞれＸ軸、Ｕ軸方向へ１
μｍ後退させた後、総サンプリング回数Ｎの抽出手段１
０１へ戻し、再度以上の動作を繰り返す。 次に、Ｎ ／Ｎ２＜ｋ１の判断手段１０３において、“
ＮＯ”であれば、上部接触のみが発生しているからＵ軸
のみ１μｍ後退手段１０８により上部ワイヤガイド７を
Ｕ軸方向へ１μｍ後退させた後、総サンプリング回数Ｎ
の抽出手段１０１へ戻し、再度以上の動作を繰り返す。 また、Ｎ ／Ｎ ＞Ｋ２の判断手段１０４において、′
ＮＯ“であれば、下部接触のみが発生しているからＵ軸
のみ１μｍ前進手段１０９により上部ワイヤガイド７を
Ｘ軸方向に１μｍ前進させた後、総サンプリング回数Ｎ
の抽出手段１０１へ戻し、再度以上の動作を繰り返す。 以上の動作を第５図と対応させて示すと第２図のように
なる。すなわち、第２図の（ａ）〜（ｄ）までは第５図
の（ａ）〜（ｄ）と同様である。ただ、第２図の（ｄ）
において、上下各接点の同時接触が１回発生した後、こ
の状態で１秒間上記垂直出しの判定動作を行う点で第５
図の場合と異なる。 以上をまとめると、 ■Ｎ２２＋Ｎ３＞Ｋ１のとき Ｎ３／Ｎ２＞ｋ２ｌならば、上部のみ接触に２２＜Ｎ３
／Ｎ２＜ｋ１ならば、上下同時接触Ｎ３／Ｎ２＜ｋ２な
らば、下部のみ接触■Ｎ２＋Ｎ３≦に１のとき Ｎ ＞Ｎ４ならば、上下同時接触 】 Ｎ ＜Ｎ４ならば、上下共接触 ■ となる。 さらに、第３図（ａ）〜（ｄ）を用いてＮに対するに、
に１．に２の関係を明らかにする。 ■ 第３図（ａ）に示すように、全くあるいは極小数回しか
接触しない場合は、Ｎ−Ｎ、Ｎ、！＝ｉＮ。 Ｎ −０，Ｎ３’＝；０．Ｎ４’＝ｉ０であるから、
Ｎ ＋Ｎ ′ＩＯ１かつ、Ｎ１〉Ｎ４よって、上下
共離れている。また、Ｎ３／Ｎ２は不安定であるから、
Ｎ ＋Ｎａが一定数に１以上になっていることが上下同
時接触判定の１つの条件となる。 次に、第３図（ｂ）に示すように、送り込みすぎの場合
は上下各接点１５１，１６１が両方共接触となり、Ｎ璽
Ｎ、Ｎ ’＝ｉ０．Ｎ２：Ｏ，Ｎ３’；Ｏ，Ｎ４’＝
、Ｎとなる。 よって、Ｎ ＋Ｎ ＃０、かつ、Ｎ ２＜Ｎ４であ
るから、上下共接触である。また、Ｎ３／Ｎ２は不安定
となる。 次に、第３図（ｃ）に示すように、上部接点１５１また
は下部接点１６１のみが接触している場合、上部接点１
５１のみ接触のときは、Ｎ−Ｎ。 Ｎ 亀０．Ｎ ：０．Ｎ ’＝＝；Ｎ、Ｎ４ζ０と
なり、下部接点１６１のみ接触のときは、Ｎ−Ｎ、Ｎ１
’＝、０．Ｎ ’＝；Ｎ、Ｎ３−０．Ｎ４’＝、Ｏと
なるから、Ｎ ＋Ｎ５＝Ｎ、Ｎ３／Ｎ２！＝ｉ０ （
下部接触のみ）またはｏａ（上部接触のみ） これから、下部接触のみまたは同時接触を判定する基準
としてｋ １上部接触のみまたは同時接触を判定する基
準としてに１なる定数なる定数を設定している。 最後に、第３図（ｄ）に示すように、上部接点１５１お
よび下部接点１６１がほぼ均等に接触している場合、Ｎ
−Ｎ、Ｎ −０，Ｎ２＃Ｎ／２゜■ Ｎ ’＝ｉＮ／２．Ｎ４：Ｏとなるから、Ｎ ＋Ｎ
ａ ２ ３’＝；Ｎ
、Ｎ３／Ｎ２−１である。 なお、上記実施例では、まずＮ２＋Ｎ３〉Ｋ１を判断し
ているが、この判断の代りにＮ４＞Ｋ１またはＮ ＞
Ｋ１を用いて上下接触または上下弁■ 接触を判断し、その後上下各接点の接触回数の比率Ｎ
／Ｎ２からワイヤ電極の垂直度を判定しても良いもので
ある。 ［発明の効果］ 以上のように本発明によれば、ワイヤ電極の垂角度の判
定において統計的手法を用いたものであるから、ワイヤ
電極に対する上下２つの接点の接触がワイヤ電極の振動
により発生する場合においても、上下同時接触が最初に
発生した後、一定時間内における総サンプリング回数か
ら上下各接点のそれぞれの接触回数を判定要素とするこ
とによりワイヤ電極の垂直度の判定を高い確率でもって
正確に行うことができるので、ワイヤ電極の垂直出しを
自動的に高精度かつ高速度に行うことができるという効
果がある。
垂直出し方法は、上述のようにかなり煩雑で面倒なもの
であった。特に上部、下部接点１５１．１６１の上下同
時接触の判定を行ううえで、その確認動作が不可欠のた
め、２回連続して同時接触が発生しなければワイヤ電極
１が垂直と判定されないため、ワイヤ電極１が何らかの
原因で振動した場合等においては（ワイヤ電極はしばし
ば振動を生じる）、上下同時接触が２回連続で発生しな
い事態が起きる。そうなると、自動的にワイヤ起こし動
作に戻り、余分なワイヤ起こしを行ったりして垂直出し
に時間がかかる。また、ワイヤ電極が振動していると、
垂直出し途中において上下同時接触が２回連続して発生
する場合もあり、垂直度の精度が十分でないというおそ
れがあった。 そこで、このような煩雑で手数のかかる問題を解決する
ため、例えば特開昭５７−６１４２０号公報に示すよう
に、上部、下部接点をマイクロメータ等のスピンドルで
移動可能に構成し、ワイヤ電極と接触するまでの移動距
離をそれぞれ測定することによってそれらの測定値の上
部ワイヤガイド補正量を計算し、その補正量に基づいて
上部ワイヤガイドを移動させワイヤ電極の垂直度を出す
方法が知られている。しかしながら、この従来技術の場
合、ワイヤ電極が振動していないことを前提としており
、また手動操作であるため放電加工装置の連続的運転、
無人化運転等には向かないという問題がある。 本発明は、上記のような問題点を解決するためになされ
たもので、ワイヤ電極に対する上下２つの接点の接触が
ワイヤ電極の振動により発生する場合においても、ワイ
ヤ電極の垂直度の判定に統計的手法を活用することによ
り自動的に高精度にその垂直度を出すことができるワイ
ヤ電極垂直出し方法およびその方法に用いる装置を得る
ことを目的とする。 ［課題を解決するための手段］ 本発明に係るワイヤカット放電加工装置のワイヤ電極垂
直出し方法は、まず上下２つの接点がワイヤ電極に対し
同時に接触したことを検出した後、その状態でワイヤ電
極の振動により生じるワイヤ電極と上下各接点との振動
による離隔接触回数を一定時間サンプリングする。この
一定時間内の総サンプリング回数Ｎは、サンプリングタ
イム（例えば、１サンプリングタイムを３５．５Ｉｌｓ
ｅｃとする）を一定時間にわたってカウントすることに
より求められ、上下各接点がいずれもワイヤ電極より離
れており接触していない回数をＮ 、下部接■ 点のみの接触回数をＮ 、上部接点のみの接触口数をＮ
、上下各接点の同時接触回数をＮ４とすると、 Ｎ−Ｎ ｔ ＋ Ｎ ２ ＋ Ｎ ３＋Ｎ ４
（’ ）で表される。 そして、（１）式中のＮ ＋Ｎ とＮ ／Ｎ２に着
目し、Ｎ ＋Ｎ ＞Ｋｌ （ただし、Ｋ１＜Ｎ）
で、かつ、ｋ ＜Ｎ ／Ｎ２＜ｋｌ（ただし、ｋ
ｌ 、 ｋ ２は定数）のとき、上下各接点はワイヤ
電極に対しほぼ均等に接触していると判定するものであ
る。つまり、ある一定時間における上部接触信号と下部
接触信号の数をカウントし、両者がほぼ同数となったこ
とを確認することにより、ワイヤ電極の垂直出しが完了
したと判定するものである。 次に、本発明に係る上記方法に用いるワイヤ電極垂直出
し装置は、総サンプリング回数Ｎを抽出する手段と、上
記Ｎ ＋Ｎ３＞Ｋ、を判断する手段と、上記Ｎ３／Ｎ
２＜ｋ１を判断する手段と、上記Ｎ ／Ｎ ＞Ｋ２を判
断する手段と、上記Ｎ２十Ｎ３〉Ｋ１の判断で“Ｎｏ”
のときに、上下各接点の送り込みすぎかどうかを判断す
るためのＮ ＞Ｎ４を判断する手段とを備えてなるし
のである。 ［作 用］ 本発明においては、上下各接点のワイヤ電極に対する同
時接触が１回発生した後、その状態で一定時間内におけ
る総サンプリング回数Ｎを求め、Ｎ ２ ＋ Ｎ ｓ
＞ Ｋ １であるかどうかを判断することにより、上下
台接点の当該位置におけるワイヤ電極の振動の影響を判
断することができる。すなわち、Ｎ 十Ｎ３＞Ｋ、で
あれば、ワイヤ電極の振動によって接触が発生している
から、さらに、上部接触と下部接触がほぼ均等に発生し
ているかどうかをＮ ｓ ／ Ｎ ２の比で判断すれば
良い。逆に、Ｎ２＋Ｎ３〉Ｋ１でないときは、上下台接
点の当該位置がワイヤ電極よりも離れすぎているか、ま
たは上下台接点を送り込みすぎているかのいずれかであ
るから、上下台接点の位置およびワイヤガイドの位置を
修正後、再度総サンプリング回数Ｎを求める動作に戻し
判定を繰り返す。 また、Ｎ ＋Ｎ ＞Ｋ であって、Ｎ３／Ｎ２＞
ｋ２ のときは上部接触のみが発生しており、逆にＮ
／Ｎ ＜Ｋ２のときは下部接触のみが発生している
ことになるから、ワイヤガイドの位置を修正後、再度総
サンプリング回数Ｎを求める動作に戻し判定を繰り返す
。そして、ｋ く Ｎ３／Ｎ２＜ｋ１であるときに始め
て、当該位置において上下同時接触がほぼ均等に発生し
ていると判断されるから、ワイヤ電極の垂直出しが完了
となる。 ［実施例］ 以下、本発明の一実施例を図により説明する。 第１図は本発明のワイヤ電極垂直出し方法を実施する装
置の制御回路のフローチャートであり、上下同時接触が
１回発生した後におけるワイヤ電極の垂直出し動作が完
了するまでの流れを示している。なお、第１図はＵ軸、
Ｘ軸についてのワイヤ電極垂直出し方法を例示するもの
であるが、Ｙ軸、Ｙ軸についても同様の制御回路が設け
られている。図において、１０１は第１回の上下同時接
触の発生後一定時間内における総サンプリング回数Ｎの
抽出手段であり、この抽出手段１０１において、前記（
１）式で示されるＮ、Ｎ、Ｎ３゜Ｎ４の各回数をカウン
トする。つまり、総サンプリング回数Ｎは、上下台接点
がいずれもワイヤ電極より離れており接触していない回
数Ｎ１と、下部接点のみの接触回数Ｎ２と、上部接点の
みの接触回数Ｎ と、上下台接点の同時接触回数Ｎ４の
合計であるから、このうちＮ、Ｎ３の回数が特に重要な
判定要素となる。１サンプリングタイムを例えば３５．
５ｍ５ｅｃとし、このサンプリングタイムを一定時間カ
ウントすることにより総サンプリング回数Ｎを求める。 一定時間としては、できるだけ短い時間が望ましいが、
例えば１秒間位が適当である。また、同数Ｎは放電加工
装置の機械精度にもよるが、ある程度の回数がないと本
発明の統計的効果が得られないので、この実施例ではＮ
−３０としている。 １０２はＮ２２＋Ｎ３＞Ｋ１の判断手段である。 すなわち、総サンプリング回数Ｎの中から下部接触回数
Ｎ と上部接触回数Ｎ３の和を求める。 Ｋ は、この実施例ではに１−２５としている。 しかしながら、Ｎ２＋Ｎ３の判断のみでは上部、下部接
点１５１，１６１の接触回数が均等であるか否かが判断
できないので、次にそれらの比Ｎ３／Ｎ２が所定の数値
内にあるか否かを判断する。 そこでまず、判断手段１０３において、Ｎ３／Ｎ ＜
ｋ であるかどうかを判断する。ｋｌは、この実施例
ではに、−３，０としている。この数値は標準正規分布
の９９．８７％に相当する値である。 次に、その判断が“ＹＥＳ“であれば、Ｎ３／Ｎ ＞Ｋ
２の判断手段１０４へ移行する。Ｋ２は、この実施例で
はに２−０．３としている。この数値は標準正規分布の
６１．７９％に相当する値である。そして、この判断が
“ＹＥＳ”であれば、Ｎ３／Ｎ２が所定の数値内にある
ことになるので、ここにワイヤ電極１の垂直出しは完了
となる。 また、上記Ｎ２＋Ｎ３〉Ｋ１の判断手段１０２において
、“ＮＯ″のときは、上部、下部接点１５１．１６１は
共にワイヤ電極１と接触せず離れているか、または上部
、下部接点１５１，１６１の送り込みすぎのため両方共
接触しているかのいずれかであるから、ＮｔとＮ４を比
較するためＮ１〉Ｎ４の判断手段１０５へ移行する。こ
の判断が“ＹＥＳ”であれば、Ｘ軸、Ｕ軸の１μｍ前選
手段１０６により加工テーブル１０および上部ワイヤガ
イド７をそれぞれＸ軸、Ｕ軸方向へ１μｍ前進させた後
、総サンプリング回数Ｎの抽出手段１０１へ戻し、再度
以上の動作を繰り返す。 逆に、Ｎ ＞Ｎ４の判断が“ＮＯ”であれば、Ｘ軸、
Ｕ軸の１μｍ後退手段１０７により加工テーブル１０お
よび上部ワイヤガイド７をそれぞれＸ軸、Ｕ軸方向へ１
μｍ後退させた後、総サンプリング回数Ｎの抽出手段１
０１へ戻し、再度以上の動作を繰り返す。 次に、Ｎ ／Ｎ２＜ｋ１の判断手段１０３において、“
ＮＯ”であれば、上部接触のみが発生しているからＵ軸
のみ１μｍ後退手段１０８により上部ワイヤガイド７を
Ｕ軸方向へ１μｍ後退させた後、総サンプリング回数Ｎ
の抽出手段１０１へ戻し、再度以上の動作を繰り返す。 また、Ｎ ／Ｎ ＞Ｋ２の判断手段１０４において、′
ＮＯ“であれば、下部接触のみが発生しているからＵ軸
のみ１μｍ前進手段１０９により上部ワイヤガイド７を
Ｘ軸方向に１μｍ前進させた後、総サンプリング回数Ｎ
の抽出手段１０１へ戻し、再度以上の動作を繰り返す。 以上の動作を第５図と対応させて示すと第２図のように
なる。すなわち、第２図の（ａ）〜（ｄ）までは第５図
の（ａ）〜（ｄ）と同様である。ただ、第２図の（ｄ）
において、上下各接点の同時接触が１回発生した後、こ
の状態で１秒間上記垂直出しの判定動作を行う点で第５
図の場合と異なる。 以上をまとめると、 ■Ｎ２２＋Ｎ３＞Ｋ１のとき Ｎ３／Ｎ２＞ｋ２ｌならば、上部のみ接触に２２＜Ｎ３
／Ｎ２＜ｋ１ならば、上下同時接触Ｎ３／Ｎ２＜ｋ２な
らば、下部のみ接触■Ｎ２＋Ｎ３≦に１のとき Ｎ ＞Ｎ４ならば、上下同時接触 】 Ｎ ＜Ｎ４ならば、上下共接触 ■ となる。 さらに、第３図（ａ）〜（ｄ）を用いてＮに対するに、
に１．に２の関係を明らかにする。 ■ 第３図（ａ）に示すように、全くあるいは極小数回しか
接触しない場合は、Ｎ−Ｎ、Ｎ、！＝ｉＮ。 Ｎ −０，Ｎ３’＝；０．Ｎ４’＝ｉ０であるから、
Ｎ ＋Ｎ ′ＩＯ１かつ、Ｎ１〉Ｎ４よって、上下
共離れている。また、Ｎ３／Ｎ２は不安定であるから、
Ｎ ＋Ｎａが一定数に１以上になっていることが上下同
時接触判定の１つの条件となる。 次に、第３図（ｂ）に示すように、送り込みすぎの場合
は上下各接点１５１，１６１が両方共接触となり、Ｎ璽
Ｎ、Ｎ ’＝ｉ０．Ｎ２：Ｏ，Ｎ３’；Ｏ，Ｎ４’＝
、Ｎとなる。 よって、Ｎ ＋Ｎ ＃０、かつ、Ｎ ２＜Ｎ４であ
るから、上下共接触である。また、Ｎ３／Ｎ２は不安定
となる。 次に、第３図（ｃ）に示すように、上部接点１５１また
は下部接点１６１のみが接触している場合、上部接点１
５１のみ接触のときは、Ｎ−Ｎ。 Ｎ 亀０．Ｎ ：０．Ｎ ’＝＝；Ｎ、Ｎ４ζ０と
なり、下部接点１６１のみ接触のときは、Ｎ−Ｎ、Ｎ１
’＝、０．Ｎ ’＝；Ｎ、Ｎ３−０．Ｎ４’＝、Ｏと
なるから、Ｎ ＋Ｎ５＝Ｎ、Ｎ３／Ｎ２！＝ｉ０ （
下部接触のみ）またはｏａ（上部接触のみ） これから、下部接触のみまたは同時接触を判定する基準
としてｋ １上部接触のみまたは同時接触を判定する基
準としてに１なる定数なる定数を設定している。 最後に、第３図（ｄ）に示すように、上部接点１５１お
よび下部接点１６１がほぼ均等に接触している場合、Ｎ
−Ｎ、Ｎ −０，Ｎ２＃Ｎ／２゜■ Ｎ ’＝ｉＮ／２．Ｎ４：Ｏとなるから、Ｎ ＋Ｎ
ａ ２ ３’＝；Ｎ
、Ｎ３／Ｎ２−１である。 なお、上記実施例では、まずＮ２＋Ｎ３〉Ｋ１を判断し
ているが、この判断の代りにＮ４＞Ｋ１またはＮ ＞
Ｋ１を用いて上下接触または上下弁■ 接触を判断し、その後上下各接点の接触回数の比率Ｎ
／Ｎ２からワイヤ電極の垂直度を判定しても良いもので
ある。 ［発明の効果］ 以上のように本発明によれば、ワイヤ電極の垂角度の判
定において統計的手法を用いたものであるから、ワイヤ
電極に対する上下２つの接点の接触がワイヤ電極の振動
により発生する場合においても、上下同時接触が最初に
発生した後、一定時間内における総サンプリング回数か
ら上下各接点のそれぞれの接触回数を判定要素とするこ
とによりワイヤ電極の垂直度の判定を高い確率でもって
正確に行うことができるので、ワイヤ電極の垂直出しを
自動的に高精度かつ高速度に行うことができるという効
果がある。
第１図は本発明によるワイヤ電極垂直出し方法を実施す
る装置の制御回路のフローチャート、第２図（ａ）〜（
ｅ）は本発明によるワイヤ電極垂直出し方法の手順を示
す説明図、第３図は本発明において用いられる各定数に
、ｋｌ、に２と総■ サンプリング回数Ｎとの関係を示す説明図、第４図は従
来のワイヤ電極垂直出し装置の概念図、第５図は（ａ）
〜（ｅ）は第４図の装置によるワイヤ電極垂直出し方法
の手順を示す説明図である。 １・・・ワイヤ電極 ６・・・下部ワイヤガイド ７・・・上部ワイヤガイド ８・・・ワイヤガイド駆動装置 １０・・・加工テーブル １２・・・ワイヤ電極垂直度計装置 １０１・・・総サンプリング回数Ｎの判断手段１０２・
・・Ｎ２＋Ｎ３〉Ｋｌの判断手段１０３・・・Ｎ３／Ｎ
２＜ｋ１の判断手段１０４・・・Ｎ３／Ｎ２＞ｋ２２の
判断手段１０５・・・Ｎ ＞Ｎ４の判断手段 １５１・・・上部接点 １６１・・・下部接点 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人 弁理士 佐々木 宗 治
る装置の制御回路のフローチャート、第２図（ａ）〜（
ｅ）は本発明によるワイヤ電極垂直出し方法の手順を示
す説明図、第３図は本発明において用いられる各定数に
、ｋｌ、に２と総■ サンプリング回数Ｎとの関係を示す説明図、第４図は従
来のワイヤ電極垂直出し装置の概念図、第５図は（ａ）
〜（ｅ）は第４図の装置によるワイヤ電極垂直出し方法
の手順を示す説明図である。 １・・・ワイヤ電極 ６・・・下部ワイヤガイド ７・・・上部ワイヤガイド ８・・・ワイヤガイド駆動装置 １０・・・加工テーブル １２・・・ワイヤ電極垂直度計装置 １０１・・・総サンプリング回数Ｎの判断手段１０２・
・・Ｎ２＋Ｎ３〉Ｋｌの判断手段１０３・・・Ｎ３／Ｎ
２＜ｋ１の判断手段１０４・・・Ｎ３／Ｎ２＞ｋ２２の
判断手段１０５・・・Ｎ ＞Ｎ４の判断手段 １５１・・・上部接点 １６１・・・下部接点 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人 弁理士 佐々木 宗 治
Claims (2)
- （１）ワイヤ電極のワイヤガイドの二次元移動により該
ワイヤ電極を起していき、また加工テーブルの二次元移
動により該加工テーブル上に設けられたワイヤ電極垂直
度計装置を進退させ、該ワイヤ電極垂直度計装置の上下
２つの接点が前記ワイヤ電極に対し同時に接触したこと
を検出した後、この状態で前記ワイヤ電極が振動してい
る場合に生じる前記ワイヤ電極と各接点との振動による
離隔接触回数を一定時間サンプリングし、該一定時間内
の総サンプリング回数Ｎから下部接点のみの接触回数を
Ｎ＿２、上部接点のみの接触回数をＮ＿３とするとき、 Ｎ＿２＋Ｎ＿３＞Ｋ＿１（ただし、Ｋ＿１＜Ｎ）で、か
つ、ｋ＿２＜Ｎ＿３／Ｎ＿２＜ｋ＿１（ただし、ｋ＿１
、ｋ＿２はいずれも定数）であるとき、ワイヤ電極の垂
直出しが完了したと判定することを特徴とするワイヤカ
ット放電加工装置のワイヤ電極垂直出し方法。 - （２）請求項１に記載のワイヤ電極垂直出し方法を実施
するためのワイヤ電極垂直出し装置が、前記Ｎ＿２＋Ｎ
＿３＞Ｋ＿１の判断手段と、前記Ｎ＿３／Ｎ＿２＞ｋ＿
２の判断手段と、Ｎ＿３／Ｎ＿２＜ｋ＿１の判断手段と
、さらに前記Ｎ＿２＋Ｎ＿３＞Ｋ＿１の判断が“ＮＯ”
であるとき、前記上下接点の送り込みすぎかどうかを判
断するＮ＿４＜Ｎ＿１の判断手段（ただし、Ｎ＿１は上
下各接点がいずれもワイヤ電極より離れ接触していない
回数、Ｎ＿４は上下各接点のワイヤ電極との同時接触回
数）とを備えたことを特徴とするワイヤカット放電加工
装置のワイヤ電極垂直出し装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63131661A JPH01306132A (ja) | 1988-05-31 | 1988-05-31 | ワイヤカット放電加工装置のワイヤ電極垂直出し方法 |
| KR1019890006717A KR930002471B1 (ko) | 1988-05-31 | 1989-05-19 | 와이어커트방전 가공장치의 와이어전극을 수직으로 하는 방법 및 그 장치 |
| US07/358,051 US4931614A (en) | 1988-05-31 | 1989-05-30 | Wire electrode vertically setting method and device for wire cut electric discharge machine |
| DE3917785A DE3917785C2 (de) | 1988-05-31 | 1989-05-31 | Verfahren und Vorrichtung zur Ausrichtung einer Drahtelektrode einer Drahtschnitt-Funkenerosionsmaschine senkrecht zu einer Bezugsfläche eines Bearbeitungstisches |
| CH2043/89A CH678407A5 (ja) | 1988-05-31 | 1989-05-31 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63131661A JPH01306132A (ja) | 1988-05-31 | 1988-05-31 | ワイヤカット放電加工装置のワイヤ電極垂直出し方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01306132A true JPH01306132A (ja) | 1989-12-11 |
Family
ID=15063270
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63131661A Pending JPH01306132A (ja) | 1988-05-31 | 1988-05-31 | ワイヤカット放電加工装置のワイヤ電極垂直出し方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4931614A (ja) |
| JP (1) | JPH01306132A (ja) |
| KR (1) | KR930002471B1 (ja) |
| CH (1) | CH678407A5 (ja) |
| DE (1) | DE3917785C2 (ja) |
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| US5610753A (en) | 1991-12-12 | 1997-03-11 | Eastman Kodak Company | Optical design of laser scanner to reduce thermal sensitivity |
| US5514378A (en) * | 1993-02-01 | 1996-05-07 | Massachusetts Institute Of Technology | Biocompatible polymer membranes and methods of preparation of three dimensional membrane structures |
| US6689608B1 (en) | 1993-02-01 | 2004-02-10 | Massachusetts Institute Of Technology | Porous biodegradable polymeric materials for cell transplantation |
| USD411889S (en) * | 1998-02-09 | 1999-07-06 | Angelo Risi | Illuminated paving stone |
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| US6836741B2 (en) * | 2003-01-30 | 2004-12-28 | Industrial Technology Reseach Institute | Vertical calibration method for a wire cut electric discharge machine |
| ATE530283T1 (de) * | 2005-03-30 | 2011-11-15 | Agie Charmilles Sa | Verfahren zur vermessung und justierung einer elektrode für eine konusbearbeitung mittels eine schneiddrahtfunkenerosionsmachine |
| JP4919334B2 (ja) * | 2006-07-27 | 2012-04-18 | 株式会社ソディック | ワイヤ電極の設定傾斜角度の測定方法及び測定冶具 |
| JP5088975B2 (ja) * | 2010-10-19 | 2012-12-05 | 株式会社ソディック | ワイヤ放電加工装置 |
| JP4938137B1 (ja) * | 2011-03-03 | 2012-05-23 | ファナック株式会社 | 被加工物の上面検出機能を有するワイヤカット放電加工機 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JPS5761420A (en) * | 1980-09-29 | 1982-04-13 | Hitachi Seiko Ltd | Vertical feeder of wire electrode for wire cut discharge work machine |
| JPS5894930A (ja) * | 1981-12-02 | 1983-06-06 | Mitsubishi Electric Corp | ワイヤカツト放電加工機のワイヤ垂直度測定器 |
| JPS58126025A (ja) * | 1982-01-22 | 1983-07-27 | Fanuc Ltd | ワイヤ電極垂直出し方法 |
| DE3470474D1 (en) * | 1983-11-15 | 1988-05-26 | Buechler B Set Ag | Straightening device for the wire electrode of an electroerosion machine |
-
1988
- 1988-05-31 JP JP63131661A patent/JPH01306132A/ja active Pending
-
1989
- 1989-05-19 KR KR1019890006717A patent/KR930002471B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 1989-05-30 US US07/358,051 patent/US4931614A/en not_active Expired - Fee Related
- 1989-05-31 CH CH2043/89A patent/CH678407A5/de not_active IP Right Cessation
- 1989-05-31 DE DE3917785A patent/DE3917785C2/de not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5744775A (en) * | 1995-03-06 | 1998-04-28 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Wire electrode discharge machine and method |
| WO1997018052A1 (en) * | 1995-11-11 | 1997-05-22 | Sodick Co., Ltd. | Method and instrument for determining position where wire electrode is in contact with workpiece |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR930002471B1 (ko) | 1993-04-02 |
| DE3917785C2 (de) | 1995-03-16 |
| KR890018013A (ko) | 1989-12-18 |
| CH678407A5 (ja) | 1991-09-13 |
| US4931614A (en) | 1990-06-05 |
| DE3917785A1 (de) | 1989-12-07 |
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