JPH01309936A - 電気・電子部品材料 - Google Patents

電気・電子部品材料

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JPH01309936A
JPH01309936A JP13914688A JP13914688A JPH01309936A JP H01309936 A JPH01309936 A JP H01309936A JP 13914688 A JP13914688 A JP 13914688A JP 13914688 A JP13914688 A JP 13914688A JP H01309936 A JPH01309936 A JP H01309936A
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JP
Japan
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test
electronic component
electrical
migration resistance
content
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Pending
Application number
JP13914688A
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English (en)
Inventor
Motohisa Miyato
宮藤 元久
Akitoshi Saito
斎藤 明敏
Yasuhiro Nakajima
安啓 中島
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Kobe Steel Ltd
Original Assignee
Kobe Steel Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、高強度、高ばね性を有すると共に、特に耐マ
イグレーション性に優れた電気・電子部品材料に関する
[従来の技術] 近年、家庭電化製品のクーラー、TV、VTRおよび自
動車に搭載される電子・電気部品は、極めて速い勢いで
小型化、高密度実装化が進んでおり、かかる現状に伴な
い、電気・電子部品材料の薄板化が要求されている。こ
の薄板化を進めるには、薄板化に耐え得る高強度、高ば
ね性を有する電気・電子部品材料が必要であり、さらに
は高密度実装化に伴なう配線回路の電極間距離も小さく
なっており、電気・電子部品材料の電気化学的な耐マイ
グレーション性も要求されている。
従来上記の電気・電子部品材料としては、ベリリウム銅
が主として使用されて来た。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、従来のベリリウム銅による電気・電子部
品材料は、極めて高価であると共に、耐マイグレーショ
ン性に劣っているという問題点を有していた。
本発明は上記従来の電気・電子部品材料の問題点を解決
して、高強度、高ばね性を有すると共に、耐マイグレー
ション性に優れた電気・電子部品材料を、安価に提供す
るものである。
[課題を解決するための手段] 本発明はN i : 15〜25wt%、Mn:15〜
2 5 w t%、  Zn  :  1.  0〜7
. 0wt%。
Sn : 0.2〜2.0wt%を含有し、さらにMg
、Cr、Ti、Zrのうち1 F1以上を0.001〜
0.02wt%含有し、残部が実質的にCuかうなり、
耐マイグレーション性に優れた電気・電子部品材料であ
る。
[作 用] 以下に本発明に係る電気・電子部品材料の含有成分の作
用および限定理由について詳細に説明する。
Ni:15〜25wt%とする。
Niは、Mnと共に含有されることによって、高強度、
高ばね性が得られる元素であり、Ni含有量が15wt
%未満では、Mnが15〜25wt%含有されても高強
度、高ばね性は得られず、一方Niが25wt%を越え
て含有されると、冷間加工性が悪くなり、冷間加工時の
歩留りの低下を引き起こす。また、Niは高価な元素で
あるからコスト高となってしまう。よって、Ni含有量
を15〜25wt%とする。
Mn:15〜25wt%とする。
Mnは、含有量が15wt%未満では、Niが15〜2
5wt%含有されても高強度、高ばね性は得られず、一
方Mnが25wt%を越えて含有されると、過剰の未固
溶Mnが存在1ノ、電気・電子部品材料の耐食性が低下
する。よって、Mnの含有量を15〜25wt%とする
Zn : 1.0〜7.0wt%とする。
Znは、電圧が印加された電気・電子部品材料に水分が
付着した場合、イオン化することによってCuイオンの
溶出を抑制し、Cuのマイグレーションを抑えるための
必要元素であり、Zn含有量が1.0wt%未満ではC
uのマイグレーション抑制効果がなく、一方7.Owt
%を越えて含有されると、マイグレーションの進行を抑
え、漏洩電流を抑制する効果はあるものの、応力腐食割
れを生じ易くなる。よってZnの含有量を1.0〜7.
0wt%とする。
Sn:0.2〜2.0wt%とする。
Snは、強度、ばね性の向上に寄与する元素であり、S
nの含有量が0.2wt%未満ではこの効果がなく、一
方Snの含有量が2.owt%を越えると熱間加工性が
悪くなる。よって、Sn含有量を0.2〜2.0wt%
とする。
Mg、Cr、Ti、Zrのうち1種以上をo、oot〜
0.02wt%とする。
Mg、Cr、Ti、Zrは、いずれの元素も熱間加工性
を向上させる元素であり、これらの含有量がO,001
wt%未満ではその効果は少なく、一方含有量が0.0
2wt%を越えると、鋳造時の渦流れが悪くなる。よっ
て、Mg、Cr。
Ti、Zrの含有量は、これらのうちの1種以上をo、
oot〜0.02wt%とする。
なお、本発明の電気・電子部品材料は、表面に1μm以
上、7μm以下のCu層を形成すると、導電率が向上す
る。
[実施例] 以下に実施例を挙げて本発明を具体的に説明する。
第1表に示す含有成分および成分割合による銅合金をク
リブトル炉において大気中で溶解し、その後傾注式の鋳
鉄製のブックモールドに鋳込み、厚さ50mm、幅80
mm、長さ200mmの鋳塊を製作した後、表裏両面を
それぞれ2.5mm面削し、800℃の温度で熱間圧延
を行ない、厚さ10mmの板厚とし、800℃の温度に
再加熱後水中急冷した。これらの熱間圧延材の表面酸化
スケールを除去後、厚さ3.Omrnまで冷間圧延を行
ない、その後680℃の温度で120分間の焼鈍を行な
い、1℃/分の速度で150℃まで冷却した。これら合
金を冷間圧延により厚さ1.0mmとし、塩浴炉にて6
50℃の温度で30秒の焼鈍後、水中急冷を行ない、ざ
らに冷間圧延にて厚さ0.15mmとした。そして、塩
浴炉にて600℃の温度で20秒の焼鈍後、水中急冷し
、400℃の温度で120分間の焼鈍を行ない供試材と
した。なお、No、1〜No、11の供試材の中で、N
o、10、No、11は、板厚0.15mmの市販品の
ベリリウム1.9wt%含有の銅合金および70/30
黄銅を使用した。
上記の各供試材に、■引張試験、■ばね限界値試験、■
導電率試験および■耐マイグレーション性試験を行なっ
た。各試験は下記の通りである。
■引張試験:圧延方向に平行に切り出したJIS13号
B試験片を用い試験を行なった。
■ばね限界値試験:圧延方向に平行に切り出した試験片
を用い、モーメント試験機によりばね限界値を測定した
■導電率試験:ダブルブリッヂを用い導電率の測定を行
なった。
■耐マイグレーション性試験:第1図(a)。
(b)に示すように、厚さ0.15mm、幅3.0mm
、長さ80mmの試験片1.!を2枚1組とし、この試
験片間にABS樹脂2を挿入すると共に、試験片1.1
の両端部を上下から押え板3.3で挟持し、これら押え
板をクリップ4で押圧している。試験片1,1にはそれ
ぞれ電線5の両端が接続されており、この電線にはバラ
チリ−6および電流計7が接続されている。なお、AB
S樹脂2には10mmφの放電穴8が穿設されている。
上記の構成で試験片1.1に14Vの直流電圧を印加し
つつ、水道水に試験片を5分間浸漬し、その後5分間乾
燥するという乾湿試験を行ない、50サイクルに至るま
での最大漏洩電流値を測定し、耐マイグレーション性の
判断基準とした。
上記各試験の試験結果を第2表に示す。
第2表において、N091乃至No、5は本発明実施例
である。本発明実施例では、引張強さが121.3〜1
28.0kgf/mm”、ばね限界値が107.7〜1
18.3 kg f/mm’、導電率が2.4〜3.1
%IACS、最大漏洩電流が0.32〜0.36Aとい
ずれも良好な値を示している。
No、6乃至No、11は比較例である。
N016はSnを含有していないために、引張強さが1
08.0kgf/mm2、耐力が89.0kgf/mm
’と本実施例に比較して劣っている。No7は、Mgあ
るいはCrが含有していないために、試料作製段階で熱
間割れが発生した。
No、8はSn含有量が2.swt%と高く、N097
と同様に熱間割れが発生した。N0110は従来の電気
・電子部品材料のベリリウム銅であるが、引張強さがi
+)6.8kgf/mrr?、ばね限界値が95.7k
gf/mm2と本実施例より小さく、特に最大漏洩電流
が1.IOAと本実施例に比較して多く:耐マイグレー
ション性に劣フていた。No、11は70/30黄銅で
あり、引張強さが62.7kg f/mm2、ばね限界
値が30.1kgf/mm”と本実施例に比較して極端
に低い値となった。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明に係る電気・電子部品材料
は、高強度、高ばね性を有すると共に、特に耐マイグレ
ーション性に優れており、部品の小型化、薄板化に十分
対応できる電気・電子部品材料である。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)、(b)は耐マイグレーション性を試験す
るための装置を示す平面図および側断面図である。 1・・・試験片、2・・・ABS樹脂、3・・・押え板
、4・・・クリップ、5・・・電線、6・・・バッテリ
ー、7・・・電流計、8・・・放電穴。 第1図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. Ni:15〜25wt%,Mn:15〜25wt%,Z
    n:1.0〜7.0wt%,Sn:0.2〜2.0wt
    %を含有し、さらにMg,Cr,Ti,Zrのうち1種
    以上を0.001〜0.02wt%含有し、残部が実質
    的にCuからなり、耐マイグレーション性に優れること
    を特徴とする電気・電子部品材料。
JP13914688A 1988-06-06 1988-06-06 電気・電子部品材料 Pending JPH01309936A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019007301A1 (zh) * 2017-07-03 2019-01-10 比亚迪股份有限公司 Cu基微晶合金及其制备方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2019007301A1 (zh) * 2017-07-03 2019-01-10 比亚迪股份有限公司 Cu基微晶合金及其制备方法
US11174533B2 (en) 2017-07-03 2021-11-16 Byd Company Limited Cu-based microcrystal alloy and preparation method thereof

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