JPH0131750B2 - - Google Patents
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- JPH0131750B2 JPH0131750B2 JP56028459A JP2845981A JPH0131750B2 JP H0131750 B2 JPH0131750 B2 JP H0131750B2 JP 56028459 A JP56028459 A JP 56028459A JP 2845981 A JP2845981 A JP 2845981A JP H0131750 B2 JPH0131750 B2 JP H0131750B2
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- sensors
- dimensional
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
- H04N1/04—Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa
- H04N1/19—Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa using multi-element arrays
- H04N1/195—Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa using multi-element arrays the array comprising a two-dimensional [2D] array
- H04N1/19505—Scanning picture elements spaced apart from one another in at least one direction
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Character Input (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、シート上の文字や図形等の情報を入
力する情報入力制御方法に関する。
力する情報入力制御方法に関する。
光学的文字読取装置（OCR）が文字画像を入
力したり、フアクシミリ装置が伝装すべき原稿画
像を入力する場合、対象となるシートのサイズが
大きくなるに従つて、これらの装置に通常用いら
れている１次元半導体センサ（以下、単に「セン
サ」という。）１個では画素数が不足し、複数の
センサを組合せて用いる必要が生じる。これは、
半導体センサ自体の集積度が製造上限界を持つて
いることが主要な原因であるが、複数のセンサ
を、組合せて用いる場合、次のような問題が生じ
る。
力したり、フアクシミリ装置が伝装すべき原稿画
像を入力する場合、対象となるシートのサイズが
大きくなるに従つて、これらの装置に通常用いら
れている１次元半導体センサ（以下、単に「セン
サ」という。）１個では画素数が不足し、複数の
センサを組合せて用いる必要が生じる。これは、
半導体センサ自体の集積度が製造上限界を持つて
いることが主要な原因であるが、複数のセンサ
を、組合せて用いる場合、次のような問題が生じ
る。
複数のセンサを組合せて画像を入力する場合、
それぞれのセンサが入力する画像の連続性が問題
となる。図を用いて説明すると、例えば第１図に
示す如き２個のセンサを用いる場合、シート１上
に直線ACなる画像があり、これをセンサ(1)２、
センサ(2)３により入力するものとすると、シート
１が置かれる基準板（図示してない）に対して上
記各センサの受光素子が正しく位置付けされてい
ないと、上記センサの出力は第２図に示す如く、
連続性を欠いたものとなる。第２図は上記センサ
(1)２、センサ(2)３から得られたビデオ信号を２値
化し、１走査ごとにメモリに書き込んだ状態を説
明するための図で、メモリ(1)４がセンサ(1)２の出
力内容を示し、メモリ(2)５がセンサ(2)３の出力内
容を示している。なお、第１図における直線AC
上の点Ｂが、センサ(1)２、センサ(2)３によりサン
プリングされて、それぞれ対応するメモリ上で
B1およびB2の隣接２画素に分解され、画素B1が
センサ(1)２の端、また画素B2がセンサ(2)３の端
に対応すべきものとする。従つて、第２図は現実
にはセンサの取付位置には誤差が存するため、こ
の図の如く例えば画素B1が水平方向にn1画素分、
B2がn2画素分ずれており、また垂直方向には相
対的ｌ走査線分ずれることを示している。
それぞれのセンサが入力する画像の連続性が問題
となる。図を用いて説明すると、例えば第１図に
示す如き２個のセンサを用いる場合、シート１上
に直線ACなる画像があり、これをセンサ(1)２、
センサ(2)３により入力するものとすると、シート
１が置かれる基準板（図示してない）に対して上
記各センサの受光素子が正しく位置付けされてい
ないと、上記センサの出力は第２図に示す如く、
連続性を欠いたものとなる。第２図は上記センサ
(1)２、センサ(2)３から得られたビデオ信号を２値
化し、１走査ごとにメモリに書き込んだ状態を説
明するための図で、メモリ(1)４がセンサ(1)２の出
力内容を示し、メモリ(2)５がセンサ(2)３の出力内
容を示している。なお、第１図における直線AC
上の点Ｂが、センサ(1)２、センサ(2)３によりサン
プリングされて、それぞれ対応するメモリ上で
B1およびB2の隣接２画素に分解され、画素B1が
センサ(1)２の端、また画素B2がセンサ(2)３の端
に対応すべきものとする。従つて、第２図は現実
にはセンサの取付位置には誤差が存するため、こ
の図の如く例えば画素B1が水平方向にn1画素分、
B2がn2画素分ずれており、また垂直方向には相
対的ｌ走査線分ずれることを示している。
従来、上述の如き画像のずれを解消するには、
センサの取付部に少くとも２次元的に微調整可能
な調整機構を設けて、センサの出力信号を観測し
ながら位置調整を行ない、調整完了後センサを固
定するという方法が採用されていた。しかし、こ
の方法には、第１に調整が困難で時間が長くかか
り、しかも精度に限界があるという欠点があり、
第２にはこのようにしてセンサの位置を調整し固
定しても、経年変化によりセンサを支承する基材
が変形する等の理由で、センサ位置に変化が生じ
複数のセンサ間の画像情報の連続性が失われてし
まうという欠点があつた。
センサの取付部に少くとも２次元的に微調整可能
な調整機構を設けて、センサの出力信号を観測し
ながら位置調整を行ない、調整完了後センサを固
定するという方法が採用されていた。しかし、こ
の方法には、第１に調整が困難で時間が長くかか
り、しかも精度に限界があるという欠点があり、
第２にはこのようにしてセンサの位置を調整し固
定しても、経年変化によりセンサを支承する基材
が変形する等の理由で、センサ位置に変化が生じ
複数のセンサ間の画像情報の連続性が失われてし
まうという欠点があつた。
本発明の目的は、従来の画像情報入力装置の上
述の如き欠点を除去し、複数のセンサ間の画像情
報の連続性を高精度に維持し、経年変化等にも容
易に対応しうる画像情報入力装置を実現するため
の情報入力制御方法を提供することにある。
述の如き欠点を除去し、複数のセンサ間の画像情
報の連続性を高精度に維持し、経年変化等にも容
易に対応しうる画像情報入力装置を実現するため
の情報入力制御方法を提供することにある。
本発明の上記目的は、走査領域が部分的に重な
るように複数の一次元センサを配置し、一次元セ
ンサによりシート上の画像情報を走査して出力す
る画像情報入力方法において、一次元センサによ
つて重複して走査される重複部分に含まれるよう
に配置された所定のテストパターンを走査するこ
とによつて、一次元センサの走査線方向における
各一次元センサ間の重複して走査されるずれ幅、
及び、前記走査線方向と垂直な方向における前記
各一次元センサ間の走査線のずれ量をあらかじめ
算出して記憶する学習モードと、複数の一次元セ
ンサによつてシートを走査し、重複部分における
複数の一次元センサの出力から前記学習モードで
求めたずれ幅に応じて何れか１つの出力を選択
し、さらに、前記学習モードで求めたずれ量だけ
一次元センサの出力を遅延させることによつて一
次元センサの出力を補正する補正モードを設ける
ことによつて達成される。
るように複数の一次元センサを配置し、一次元セ
ンサによりシート上の画像情報を走査して出力す
る画像情報入力方法において、一次元センサによ
つて重複して走査される重複部分に含まれるよう
に配置された所定のテストパターンを走査するこ
とによつて、一次元センサの走査線方向における
各一次元センサ間の重複して走査されるずれ幅、
及び、前記走査線方向と垂直な方向における前記
各一次元センサ間の走査線のずれ量をあらかじめ
算出して記憶する学習モードと、複数の一次元セ
ンサによつてシートを走査し、重複部分における
複数の一次元センサの出力から前記学習モードで
求めたずれ幅に応じて何れか１つの出力を選択
し、さらに、前記学習モードで求めたずれ量だけ
一次元センサの出力を遅延させることによつて一
次元センサの出力を補正する補正モードを設ける
ことによつて達成される。
以下、本発明の実施例を図面を用いて詳細に説
明する。
明する。
本発明の実施例は、画像情報入力装置における
光電変換部を２個のセンサで構成したものとして
示される。すなわち第１図に示した如く、２個の
センサ、センサ(1)２、センサ(2)３の出力をそれぞ
れアンプ(1)６、アンプ(2)７により増幅し、２値化
回路８，９で基本的には白黒の２値に量子化し、
補正回路１０によるセンサ間のずれの補正を行な
うものである。
光電変換部を２個のセンサで構成したものとして
示される。すなわち第１図に示した如く、２個の
センサ、センサ(1)２、センサ(2)３の出力をそれぞ
れアンプ(1)６、アンプ(2)７により増幅し、２値化
回路８，９で基本的には白黒の２値に量子化し、
補正回路１０によるセンサ間のずれの補正を行な
うものである。
まず、前記学習モードにおけるセンサ位置誤差
の検出を行なう手順を示す。学習用のテストパタ
ーンとして、テストシート１２上の黒い直線状の
テストパターン１１を、その端部が前記センサ(1)
２、センサ(2)３の重複部分に位置するようにセツ
トする。センサ(1)２により得られる画像は第４図
ａに示す如くなり直線状パターン１１の右上端部
Ｐの画素位置X1，Y1、すなわち第Y1走査目の第
X1画素を検出する。同様にして、センサ(2)３の
画素出力は第４図ｂに示す如く、直線状パターン
１１の右上端部P′（前記第４図ａの点Ｐに対応す
る。）の画素位置X2，Y2を検出する。
の検出を行なう手順を示す。学習用のテストパタ
ーンとして、テストシート１２上の黒い直線状の
テストパターン１１を、その端部が前記センサ(1)
２、センサ(2)３の重複部分に位置するようにセツ
トする。センサ(1)２により得られる画像は第４図
ａに示す如くなり直線状パターン１１の右上端部
Ｐの画素位置X1，Y1、すなわち第Y1走査目の第
X1画素を検出する。同様にして、センサ(2)３の
画素出力は第４図ｂに示す如く、直線状パターン
１１の右上端部P′（前記第４図ａの点Ｐに対応す
る。）の画素位置X2，Y2を検出する。
この結果から、例えば、
Y1−Y2＝ｌ０
ならばセンサ(2)３側にｌ走査分遅延させるバツフ
アを持ち、更にセンサ(1)２の第１〜第X1画素を
有効画素として処理した後、前記ｌ走査分遅延さ
れたセンサ(2)３の第X2＋１画素以降を有効画素
として連結すれば、完全になめらかに連続した走
査画像が得られる。
アを持ち、更にセンサ(1)２の第１〜第X1画素を
有効画素として処理した後、前記ｌ走査分遅延さ
れたセンサ(2)３の第X2＋１画素以降を有効画素
として連結すれば、完全になめらかに連続した走
査画像が得られる。
次に、センサの出力画像から前記直線状パター
ンの右上端部を検出する手順について、更に具体
的に説明する。センサの出力を拡大して示すと、
センサまたはテストシートの傾きにより、前記直
線上パターンは右下がり（第５図ａ参照）または
右上がり（第５図ｂ参照）となる。右上端部を検
出するには、何れの場合にも、各走査において黒
検出後、黒→白の変化点を検出し、その最右位置
を求めればよい。例えば第５図ａではＡ，Ｂ，
Ｃ，Ｄと順次検出されるので、Ｄが右上端部と認
識され、また第５図ｂではＡ，Ｂ，…と順次検出
されＡが右上端部と認識される。他のセンサにつ
いても全く同様の手順により直線状パターンの右
上端部位置を求めることができる。
ンの右上端部を検出する手順について、更に具体
的に説明する。センサの出力を拡大して示すと、
センサまたはテストシートの傾きにより、前記直
線上パターンは右下がり（第５図ａ参照）または
右上がり（第５図ｂ参照）となる。右上端部を検
出するには、何れの場合にも、各走査において黒
検出後、黒→白の変化点を検出し、その最右位置
を求めればよい。例えば第５図ａではＡ，Ｂ，
Ｃ，Ｄと順次検出されるので、Ｄが右上端部と認
識され、また第５図ｂではＡ，Ｂ，…と順次検出
されＡが右上端部と認識される。他のセンサにつ
いても全く同様の手順により直線状パターンの右
上端部位置を求めることができる。
第６図に上述の手順を実行する装置の具体例を
示す。センサ(1)２から得られる２値化信号(1)２１
はフリツプフロツプ２２のセツト側に入力し、走
査内に黒の画素が存在すると該フリツプフロツプ
２２をセツトする。このフリツプフロツプ２２
は、走査の先頭パルス２３によつて各走査ごとに
リセツトされるものである。２値化信号(1)２１
は、更に、インバータ２４を通つてアンドゲート
２５に入力し、前記フリツプフロツプ２２がセツ
トされた状態（黒画素が出現した状態）で、白画
素が検出されるとフリツプフロツプ２６をセツト
する。このセツト状態は、アンドゲート２７を開
き、走査内に画素ごとに発生するＸクロツク(1)２
８がカウンタ２９をカウントアツプし、その出力
は各走査の終了時点で第４図ａの1（X1の残り
の画素数）を示す。前記カウンタ２９の出力は、
レジスタ３０に記憶され、また比較回路３１によ
り、今迄得られた最小の1と比較され、今回の
Ｘ1の方が小さい場合には、上記比較回路３１の
出力パルスがオアゲート３２を通つてカウンタ２
９の出力、すなわち今回の1データをレジスタ
３０に記憶する。こうして得られた最右点位置情
報1データ３３が後の補正処理においてパラメ
ータの１つとして使用される。
示す。センサ(1)２から得られる２値化信号(1)２１
はフリツプフロツプ２２のセツト側に入力し、走
査内に黒の画素が存在すると該フリツプフロツプ
２２をセツトする。このフリツプフロツプ２２
は、走査の先頭パルス２３によつて各走査ごとに
リセツトされるものである。２値化信号(1)２１
は、更に、インバータ２４を通つてアンドゲート
２５に入力し、前記フリツプフロツプ２２がセツ
トされた状態（黒画素が出現した状態）で、白画
素が検出されるとフリツプフロツプ２６をセツト
する。このセツト状態は、アンドゲート２７を開
き、走査内に画素ごとに発生するＸクロツク(1)２
８がカウンタ２９をカウントアツプし、その出力
は各走査の終了時点で第４図ａの1（X1の残り
の画素数）を示す。前記カウンタ２９の出力は、
レジスタ３０に記憶され、また比較回路３１によ
り、今迄得られた最小の1と比較され、今回の
Ｘ1の方が小さい場合には、上記比較回路３１の
出力パルスがオアゲート３２を通つてカウンタ２
９の出力、すなわち今回の1データをレジスタ
３０に記憶する。こうして得られた最右点位置情
報1データ３３が後の補正処理においてパラメ
ータの１つとして使用される。
次に、第４図ａのY1を求める手順につき説明
する。
する。
各走査ごとに発生するＹクロツク(1)３４（前述
の走査の先頭パルス２３と同一でもよい。）がカ
ウンタ３５をカウントアツプする。一方、比較回
路３１で1の新たな最小値が検出される度に、
比較回路３１において発生する出力パルスはカウ
ンタ３５をクリアし、Ｙクロツク(1)３４によるカ
ウントをイニシヤライズさせることにより、第４
図ａに示す1データがカウンタ３５の出力とし
て残り、後の処理のため、減算回路３６に入力さ
れる。
の走査の先頭パルス２３と同一でもよい。）がカ
ウンタ３５をカウントアツプする。一方、比較回
路３１で1の新たな最小値が検出される度に、
比較回路３１において発生する出力パルスはカウ
ンタ３５をクリアし、Ｙクロツク(1)３４によるカ
ウントをイニシヤライズさせることにより、第４
図ａに示す1データがカウンタ３５の出力とし
て残り、後の処理のため、減算回路３６に入力さ
れる。
上に述べた手順と全く同様にして、センサ(2)３
からの２値化信号(2)３７についても処理が行なわ
れ、レジスタ４６の出力として、第４図ｂに示す
Ｘ2データが得られる。またカウンタ５１の出力
として、2データが減算回路３６に入力される。
こうして、減算回力３６には、1，2データが
入力されるので、その出力５２として符号つき
で、 2−1＝ｌ を出力することができる。
からの２値化信号(2)３７についても処理が行なわ
れ、レジスタ４６の出力として、第４図ｂに示す
Ｘ2データが得られる。またカウンタ５１の出力
として、2データが減算回路３６に入力される。
こうして、減算回力３６には、1，2データが
入力されるので、その出力５２として符号つき
で、 2−1＝ｌ を出力することができる。
次に上で求めた1，2からX1，X2＋１を演
算し、これとｌ（符号を含む）データより、セン
サ(1)２、センサ(2)３の出力である２値化信号を連
結する手順につき、第７図に基いて説明する。
算し、これとｌ（符号を含む）データより、セン
サ(1)２、センサ(2)３の出力である２値化信号を連
結する手順につき、第７図に基いて説明する。
前述の如くして求められたｌデータ５２は、デ
コーダ５３によりデコードされ、センサ(1)２側、
センサ(2)３側に１つずつのデコード出力信号を発
生する。例えばｌ＝＋１であれば、Y1の方がY2
より１走査多いのでセンサ(2)３側を１走査遅らせ
るように、アンドゲート６２の一方に前記デコー
ド出力を入力し、同時にセンサ(1)２側は遅延なし
を選択するようアンドゲート５４の一方の入力と
して前記デコード出力を入力する。
コーダ５３によりデコードされ、センサ(1)２側、
センサ(2)３側に１つずつのデコード出力信号を発
生する。例えばｌ＝＋１であれば、Y1の方がY2
より１走査多いのでセンサ(2)３側を１走査遅らせ
るように、アンドゲート６２の一方に前記デコー
ド出力を入力し、同時にセンサ(1)２側は遅延なし
を選択するようアンドゲート５４の一方の入力と
して前記デコード出力を入力する。
センサ(1)２側の走査内の画素ごとに発生する前
記Ｘクロツク(1)２８によりカウントアツプされる
カウンタ５５の出力は、比較回路５７により前記
X1データ５６と比較され、前者が後者より大き
くない間、出力“１”が維持されるので、その間
アンドゲート５８，５９が開きＸクロツク(1)２８
がオアゲート６０の、前記２値化信号(1)２１がオ
アゲート６８のそれぞれ一方の入力となり、Ｘク
ロツク６１、２値化信号６９の前半を構成する。
記Ｘクロツク(1)２８によりカウントアツプされる
カウンタ５５の出力は、比較回路５７により前記
X1データ５６と比較され、前者が後者より大き
くない間、出力“１”が維持されるので、その間
アンドゲート５８，５９が開きＸクロツク(1)２８
がオアゲート６０の、前記２値化信号(1)２１がオ
アゲート６８のそれぞれ一方の入力となり、Ｘク
ロツク６１、２値化信号６９の前半を構成する。
同様にして、センサ(2)３側では、前記Ｘクロツ
ク(2)４４によりカウントアツプされるカウンタ６
４の出力と、前記X2データ６４とが比較回路６
５により比較され、前者が後者より大きい間出力
“１”が維持される。これにより、アンドゲート
６６，６７が開きＸクロツク(2)４４がオアゲート
６０の、前記２値化信号２がオアゲート６８のそ
れぞれ一方に入力し、Ｘクロツク６１、２値化信
号６９の後半を構成する。
ク(2)４４によりカウントアツプされるカウンタ６
４の出力と、前記X2データ６４とが比較回路６
５により比較され、前者が後者より大きい間出力
“１”が維持される。これにより、アンドゲート
６６，６７が開きＸクロツク(2)４４がオアゲート
６０の、前記２値化信号２がオアゲート６８のそ
れぞれ一方に入力し、Ｘクロツク６１、２値化信
号６９の後半を構成する。
上述の如くして、学習モードにおいてセンサの
縦（Ｙ）方向のずれの量ｌ、センサの重複量のパ
ラメータX1，X2を検出し、次に補正処理におい
てこれらパラメータを用いて、２個のセンサの出
力をなめらかに連結することが可能となる。
縦（Ｙ）方向のずれの量ｌ、センサの重複量のパ
ラメータX1，X2を検出し、次に補正処理におい
てこれらパラメータを用いて、２個のセンサの出
力をなめらかに連結することが可能となる。
上記実施例においては、学習モードにおけるパ
ラメータ検出を１回のパターン読取りで行なつて
いるが、これは複数回行なうことにより精度を上
げることができるのは明らかである。また、上記
実施例ではテストパターンとして直線状のものを
用いたが、他の形状のものを用いること、あるい
は特徴点の検出に他の検出論理を用いることが可
能なことも言うまでもない。
ラメータ検出を１回のパターン読取りで行なつて
いるが、これは複数回行なうことにより精度を上
げることができるのは明らかである。また、上記
実施例ではテストパターンとして直線状のものを
用いたが、他の形状のものを用いること、あるい
は特徴点の検出に他の検出論理を用いることが可
能なことも言うまでもない。
更に、本実施例においては、センサ２個の連続
処理を例に挙げて説明したが、本発明は３個以上
のセンサの連続処理に適用できることも明らかで
ある。また、センサ出力の量子化も２値化に限ら
ず、更に多値レベルに量子化しても差支えないこ
とも申し添えておく。
処理を例に挙げて説明したが、本発明は３個以上
のセンサの連続処理に適用できることも明らかで
ある。また、センサ出力の量子化も２値化に限ら
ず、更に多値レベルに量子化しても差支えないこ
とも申し添えておく。
以上述べた如く、本発明によれば、シート上の
文字、図形等の画像情報を入力する際に、１次元
の走査を複数の１次元センサによつて行なうよう
に構成された画像情報入力装置における情報入力
制御方法において、所定のテストパターンをその
特徴部が隣接するセンサの重複部分に含まれるよ
うに配置して、前記センサの画像情報出力の走査
線方向およびこれと垂直な方向におけるずれの量
を検出記憶する学習モードと、前記センサの画像
情報出力を所定走査数遅延させるバツフアと前記
センサの重複部分に対応する画像情報出力を除去
する手段とを用いて隣接する前記センサの画像情
報出力を補正する補正モードとから成る情報入力
制御方法により、前記複数のセンサ間の画像情報
の連続性を高精度に維持することができ、しかも
この機能は装置構成部材の経年変化にも容易に対
応しうるという顕著な効果を奏するものである。
文字、図形等の画像情報を入力する際に、１次元
の走査を複数の１次元センサによつて行なうよう
に構成された画像情報入力装置における情報入力
制御方法において、所定のテストパターンをその
特徴部が隣接するセンサの重複部分に含まれるよ
うに配置して、前記センサの画像情報出力の走査
線方向およびこれと垂直な方向におけるずれの量
を検出記憶する学習モードと、前記センサの画像
情報出力を所定走査数遅延させるバツフアと前記
センサの重複部分に対応する画像情報出力を除去
する手段とを用いて隣接する前記センサの画像情
報出力を補正する補正モードとから成る情報入力
制御方法により、前記複数のセンサ間の画像情報
の連続性を高精度に維持することができ、しかも
この機能は装置構成部材の経年変化にも容易に対
応しうるという顕著な効果を奏するものである。
第１図は画像情報入力装置の基本的構成を示す
ブロツク図、第２図はその出力の１列を示す図、
第３図は本発明の一実施例の学習モードの説明
図、第４図ａ，ｂはその出力の詳細を示す図、第
５図ａ，ｂはテストパターンの右上端部を求める
手順を示す説明図、第６図、第７図はその具体的
装置を示すブロツク図である。 ２，３：センサ、６，７：アンプ、８，９：２
値化回路、１０：補正回路、１１：テストパタ−
ン、２１，３７：２値化信号、２２，３８：フリ
ツプフロツプ、２５，４１：アンドゲート、２
６，４２：フリツプフロツプ、２７，４３：アン
ドゲート、２９，４５：カウンタ、３０，４６：
レジスタ、３１，４７：比較回路、３５，５１：
カウンタ、３６：減算回路、５３：デコーダ、５
４，６２：アンドゲート、５５，６３：カウン
タ、５７，６５：比較回路、５８，５９，６６，
６７：アンドゲート、６０，６８：オアゲート。
ブロツク図、第２図はその出力の１列を示す図、
第３図は本発明の一実施例の学習モードの説明
図、第４図ａ，ｂはその出力の詳細を示す図、第
５図ａ，ｂはテストパターンの右上端部を求める
手順を示す説明図、第６図、第７図はその具体的
装置を示すブロツク図である。 ２，３：センサ、６，７：アンプ、８，９：２
値化回路、１０：補正回路、１１：テストパタ−
ン、２１，３７：２値化信号、２２，３８：フリ
ツプフロツプ、２５，４１：アンドゲート、２
６，４２：フリツプフロツプ、２７，４３：アン
ドゲート、２９，４５：カウンタ、３０，４６：
レジスタ、３１，４７：比較回路、３５，５１：
カウンタ、３６：減算回路、５３：デコーダ、５
４，６２：アンドゲート、５５，６３：カウン
タ、５７，６５：比較回路、５８，５９，６６，
６７：アンドゲート、６０，６８：オアゲート。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 走査領域が部分的に重なるように複数の一次
元センサを配置し、該一次元センサによりシート
上の画像情報を走査して出力する画像情報入力方
法において、 前記一次元センサによつて重複して走査される
重複部分に含まれるように配置された所定のテス
トパターンを走査することによつて、前記一次元
センサの走査線方向における前記各一次元センサ
間の重複して走査されるずれ幅、及び、前記走査
線方向と垂直な方向における前記各一次元センサ
間の走査線のずれ量をあらかじめ算出するステツ
プと、 前記複数の一次元センサによつてシートを走査
し、前記重複部分における前記複数の一次元セン
サの出力から前記ずれ幅に応じて何れか１つの出
力を選択し、前記ずれ量だけ前記一次元センサの
出力を遅延させることによつて前記一次元センサ
の出力を補正するステツプと、を有することを特
徴とする情報入力制御方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56028459A JPS57143979A (en) | 1981-03-02 | 1981-03-02 | Information input control system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56028459A JPS57143979A (en) | 1981-03-02 | 1981-03-02 | Information input control system |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57143979A JPS57143979A (en) | 1982-09-06 |
| JPH0131750B2 true JPH0131750B2 (ja) | 1989-06-27 |
Family
ID=12249244
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56028459A Granted JPS57143979A (en) | 1981-03-02 | 1981-03-02 | Information input control system |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57143979A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6051980A (ja) * | 1983-08-31 | 1985-03-23 | Toshiba Corp | オンラインパタ−ン認識装置 |
| JPS60190068A (ja) * | 1984-03-09 | 1985-09-27 | Mitsubishi Electric Corp | 原稿読取装置 |
-
1981
- 1981-03-02 JP JP56028459A patent/JPS57143979A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57143979A (en) | 1982-09-06 |
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