JPH0136190B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はヘツド位置決め用のサーボ・セクタを
有する磁気デイスクに関する。

〔従来技術〕

回転するデイスク状媒体にデイジタル若しくは
アナログ情報を記録する技術は周知である。特に
データ処理の分野で用いられている磁気デイスク
装置は良く知られている。情報はデイスクの表面
に隣接して支持されている電磁変換ヘツドによつ
てデイスク上の同心円トラツクに対して書込まれ
たり、逆にそれから読出されたりする。典型的な
磁気デイスク装置は10トラツク／mm程度のトラツ
ク密度を有する。この様な装置は、選択されたト
ラツクの上にヘツドを正確に位置決めして維持す
るヘツド位置決めシステムにおいて用いるための
位置基準情報を持つている必要がある。ヘツドを
或るトラツクの上に維持する動作はトラツク追従
動作として知られている。一方、或るトラツクか
ら別の所望のトラツクの上まで動かす動作はトラ
ツク・アクセス動作と呼ばれている。位置基準情
報はこの様な両方の動作のために用いられる。

或る磁気デイスク装置では、データ記録用のデ
イスク面とは別の専用のデイスク面に位置基準情
報が記録されている。この種のヘツド位置決めシ
ステムを用いる磁気デイスク装置の例はIBM
Journal of Research And Development Vol18
No.６ November1974の第506頁におけるR.K.
Oswaldの論文において説明されている。この種
のシステムは位置基準情報が継続的に得られると
いう長所を有する。しかしながら、トラツク密度
が高くなると、離れている位置基準情報記録部と
データ記録トラツクとの間の厳密な整列状態を確
保することが難しくなるという欠点もある。

この様な欠点を除去するためにデータ記録面の
セクタに位置基準情報を記録する技術も考え出さ
れている。このセクタはサーボ・セクタと呼ばれ
データの記録のためのデータ・セクタと交互に配
置され、デイスクの回転中にサンプリングによつ
て検出されて、データ・トラツクと正確に整列し
た位置基準情報をもたらす。本発明はこの様なセ
クタ・サーボ型磁気デイスク装置に関係してい
る。この型の装置の例は米国特許第3185972号や
英国特許第1314695号に開示されている。

更に最近のセクタ・サーボ型磁気デイスク装置
の例が欧州公開特許出願第13326号に開示されて
いる。その装置の場合、サーボ・セクタはその先
頭を示すために特独の配列で半径方向に整列して
いる一連の磁気的トランジシヨンから成るマー
ク・フイールドを有する。マーク・フイールドの
次には自動利得制御のために用いられる利得フイ
ールドがあり、これも半径方向に整列した一連の
磁気的トランジシヨンから成る。利得フイールド
の次には正規サーボ・フイールド（Ｎフイール
ド）があり、これはチエス盤状磁化パターンとし
て記録された位置基準情報を含む。即ち、トラン
ジシヨンは半径方向において整列しているが、そ
れらの極性はトラツク毎に反転されている。Ｎフ
イールドの複数のトラツクは、それぞれデータ・
トラツクの幅と等しい幅を有し、それらの境界線
がデータ・トラツクの中央線と一致する様に配置
されている。Ｎフイールドの情報はヘツドによつ
て読取られ且つ復調されて位置誤差信号をもたら
す。この信号は、最も近いトラツク中央線、換言
すればオントラツク位置を基準とするヘツドの位
置を表わしている。オントラツク位置にあるヘツ
ドについて得られる位置誤差信号は０であるか
ら、この種のサーボ・パターンは、しばしばナル
（null）パターンと呼ばれる。Ｎフイールドの次
には偏移サーボ・フイールド（Ｑフイールド）が
あり、これはＮフイールドの磁化パターンを半ト
ラツク幅だけ半径方向においてずらしたパターン
から成る。従つて、Ｑフイールドのトラツクはデ
ータ・トラツクと整列している。Ｑフイールドは
位相をシフトした付加的な位置誤差信号をもたら
し、この信号はＮフイールドに基く位置誤差信号
と共にアクセス制御のために用いられる。

専用サーボ・システム及びサンプル・サーボ・
システムは両方とも交互に２種類のサーボ・トラ
ツクを配置し、それらの間の境界線によつてデー
タ・トラツクの中央線を示す点で共通している。
ヘツドによつて検出されるときの２種類のサー
ボ・トラツクに基く信号成分はヘツド自体又は復
調器において互いに減じられ、それらの振幅の差
に基く位置誤差信号をもたらす。位置誤差信号は
トラツクを横切るヘツドの移動につれて周期的に
変化する。理想的状態では、この信号は傾斜が交
互に反転する線形部分から成り、ヘツドがサー
ボ・トラツク間の境界線に対して対称的に位置づ
けられるとき０レベルになる。実際には、この様
にして得られる位置誤差信号は０レベルを中心と
する限られた範囲内でだけ線形であり、範囲外で
は非線形になる。具体的に言えば、データ・トラ
ツクに対するヘツドの最大変位を示す筈の位置誤
差信号のピークが丸くなり、正確なヘツドの変位
を示さなくなる。

位置誤差信号の正確性及び線形性は、トラツク
密度の増加及びアクセス時間の減少につれて増々
必要となつている。その理由の１つは、選択され
たトラツクの上にヘツドを正確に位置づけるため
に可能な限り高いサーボ・ループ利得を用いるこ
とが必要となるためである。位置誤差信号が非線
形となると、利得の補正が過度又は不足になり、
ループが不安定になる可能性がある。

十分な線形性を必要とするもう１つの理由は、
複数のトラツクに基く複数の位置誤差信号の部分
を結合して、これらのトラツクを覆う広い領域に
わたつて線形性を示す合成位置誤差信号を生成す
ることが必要となつているということである。こ
の様な合成位置誤差信号はトラツク密度が高い場
合のアクセス動作の終りの整定時間中に必要とな
る。即ち、この場合には、トラツク密度が低い場
合の様に±1/2トラツク幅の範囲内にヘツドを確
実に位置決めすることが困難になるからである。
合成位置誤差信号は、異なつたデイスク面に関連
していて同一シリンダをアクセスする複数のヘツ
ドが用いられているマルチデイスク装置において
も必要となる。複数のデイスク面相互の不整合の
ため、各目上同一シリンダに関係すべき複数のヘ
ツドを実際に対応するトラツク上に適正に位置決
めすることができないのである。従つて、同一シ
リンダに関係する或るヘツドから別のヘツドへ切
り替える場合、ヘツド相互の１トラツク幅以上の
オフセツトに対処するために前述の様な位置誤差
信号が必要となる。

デイスク面上の全ての位置において位置誤差信
号を線形にすることは欧州公開特許出願第13326
号に示されている様なアクセス制御システムにお
いても重要である。このシステムの場合、アクセ
ス動作中サーボ・セクタから得られる位置誤差信
号は標本化されて、連続的な位置誤差信号と比較
される。標本化された実際の位置誤差信号とモデ
ル位置誤差信号との間の差を示すアクセス位置誤
差信号はアクセス動作の制御のためにフイードバ
ツクされる。標本化された位置誤差信号だけが利
用されるので、この信号は標本化時におけるヘツ
ドの位置に拘りなく線形でなければならない。

従来技術を示すものとして更に２つの文献を引
用する。但し、これらは前述の様な位置誤差信号
を明示するものではない。

英国特許第1566290号にはセクタ・サーボ・シ
ステムが示されている。サーボ・セクタはトラツ
ク方向において互いに一定距離ずつ離隔され且つ
半径方向においてそれぞれの幅だけ順次ずれて配
列された３つのサーボ・マーキングを１つの群と
して半径方向に複数群配列したパターンを含む。
各サーボ・マーキングはトラツク幅の２倍の幅を
有し、従つて各群のサーボ・マーキングは半径方
向においてトラツク幅ずつずれている。又、隣接
する群の対応する２つのサーボ・マーキング間の
間隔もトラツク幅に等しい。トラツクの中央線は
２つのサーボ・マーキングの境界線によつて定め
られる。任意の位置にあるヘツドがサーボ・セク
タに応じて生じる信号は３つのサーボ・マーキン
グに対応し且つヘツドの位置に依存した３つの信
号成分を含む。これらの信号成分は重なり合つて
いず、それぞれの全範囲において線形であると仮
定されている。

IBM Technical Disclosure Bulletin Vol21
No.２ July1978の第804及び805頁は専用サー
ボ・デイスクを用いる型の磁気デイスク装置にお
いて用いられるサーボ・パターンを示している。
サーボ・パターンは２種類の位置誤差信号を生じ
るための一連のサーボ・バーストを含む。サー
ボ・ヘツドの幅はサーボ・バーストの幅に等し
く、且つデータ・トラツクの幅の２倍である。な
お、サーボ・ヘツドの幅はデータ・トラツクの幅
の１乃至３倍の範囲で選定できると述べられてい
る。この文献には、セクタ・サーボ・システムに
関連した記載は全く含まれていない。

最後に再び前述の欧州公開特許出願第13326号
に示されている様な位相のずれた２種類の位置誤
差信号を生成するシステムについて触れると、２
種類の信号の比較的線形な部分を交互に選択して
用いることによつて、ヘツドの任意の位置におい
てほぼ線形な合成位置誤差信号が得られている
が、トラツク密度が非常に高い場合においては
（特にセクタ・サーボ・システムの場合）、十分満
足のできる結果を得ることは難しい。

トラツク密度が20トラツク／mm以上の場合に
は、前述の従来技術はセクタ・サーボ・システム
のための十分な線形性を有する位置誤差信号を生
じるのに不適当であることが分かつている。

〔発明の概要〕

本発明は位置誤差信号の線形性を向上させる磁
気デイスクを提供することを意図している。本発
明による磁気デイスクはデータ・セクタと交互に
配列されるサーボ・セクタを有し、このサーボ・
セクタはデータ・セクタ内のデータ・トラツクに
対するヘツドの変位をそれぞれ示す少なくとも３
つの位相の異なつた位置誤差信号を生成すること
を可能ならしめる位置基準情報として少なくとも
３組の磁化パターンを含む。各組の磁化パターン
は複数の磁化エレメントから成り、各磁化エレメ
ントの半径方向の幅はデータ・トラツクの幅より
も大きい。更に、３組の磁化パターンはデータ・
トラツクの幅よりも小さい距離ずつ半径方向にお
いてずれて配列されている。

本発明のこの様な磁気デイスクを用いる磁気デ
イスク装置用の位置決めシステムは、ヘツドによ
つて検出される信号から、３組の位置基準情報磁
化パターンに基く３相の位置誤差信号を生じ、こ
れらを組合わせて合成位置誤差信号を生じる手段
と、この合成位置誤差信号をヘツド作動機構へフ
イードバツクする手段とを含むことが望ましい。

通常、位置誤差信号のピーク付近を丸くする主
たる原因はヘツドの実効幅を物理的な幅よりも大
きくする様な影響を及ぼすヘツドの両側の縁部磁
界にあると考えられている。縁部磁界の広さはヘ
ツドの物理的な幅とはほとんど関係ない構造上の
特徴に依存している。セクタ・サーボ・システム
においてトラツク密度が高まるにつれて、ヘツド
の物理的な幅は必然的に減少させられるので、結
局、ヘツドの実効幅に対する縁部磁界の影響の度
合いは増大する。

本発明によれば、サーボ・セクタの磁化パター
ンを形成する各エレメントの幅が前述の様にデー
タ・トラツクの幅、ひいてはヘツドの物理的な幅
よりも大きくされているので、半径方向において
隣接するエレメントが縁部磁界の作用によつてヘ
ツドの検出信号に影響を及ぼすことは少なくな
る。従つてエレメント間の境界を中心とする一層
広い範囲におけるヘツドの変位に関して線形性を
示す位置誤差信号が得られる。

但し、ヘツドがエレメント間の境界から外れて
１つのエレメント内に完全に入つてしまう位置ま
で変位すると、対応する位置誤差信号は最高レベ
ルになり、それ以上のヘツドの変位に対しては最
高レベルにとどまることになる。従つて、位置誤
差信号は位置の変化につれて直線的に変化する部
分とその間にある一定部分とから成る。この様な
事情を考慮して、少なくとも３組の位置基準情報
磁化パターンを用いて、オーバーラツプする３相
の位置誤差信号を生じ、更に、これらの信号の線
形部分だけを順次選択して用いることが望まし
い。良好な実施例の場合、３組の磁化パターンは
データ・トラツクの幅の半分に等しいオフセツト
をもつて順次配列され、且つ各エレメントの半径
方向における幅はデータ・トラツクの幅の1.5倍
に等しく定められている。３相の位置誤差信号の
線形部分を選択することを可能ならしめる選択信
号は、これらの位置誤差信号の振幅を相互に比較
することに基いて得られる。結合手段がこの選択
信号に応じて３相の位置誤差信号の最も線形な部
分を順次選択して、１つの合成位置誤差信号を生
じる様になつている。

良好な実施例における各組の磁化パターンはい
わゆるナル・パターンである。即ち、各組の磁化
パターンは或る一方向の磁化を示すエレメントと
それと同じ大きさで逆方向の磁化を示すエレメン
トとをトラツク方向において交互に配列した帯状
パターンを半径方向に複数個配列したものであ
る。但し、隣接する帯状パターンは隣接するエレ
メントの磁化の方向が互いに反対になる様に１エ
レメント分だけずれている。換言すれば、或る帯
状パターンのトランジシヨンと隣接する帯状パタ
ーンのトランジシヨンとは共通の半径線に沿つて
いるが、極性が互いに逆になつている。従つて、
隣接する帯状パターンの境界の真上にヘツドがあ
るときには、正味の磁束変化は０である。セク
タ・サーボ・システムにおいては、この様なパタ
ーンを用いる方が、２つのトラツクに対応する信
号成分を分離するのにタイミング関係を考慮した
復調技術を必要とする様なパターンを用いる場合
よりも、良好な位置決めを行うことができる。

又、後で詳しく説明する実施例においては、３
組の磁化パターンの外にそれらと同等のものが半
径方向において逆の順序で配列されている。サー
ボ・セクタの中心に対してこの様な多相サーボ・
パターンを対称的に配列することにより、サー
ボ・セクタを斜めに横切るヘツドの動きによる影
響を平均化して、位置誤差信号に対する影響をほ
とんどなくすることができる。

更に、３相又は他の任意の奇数相の位置誤差信
号を生成するシステムにおいては、これらの信号
の和は常に０になる筈である。もし０にならなけ
れば、それはシステムやデイスクに欠陥があるこ
とを意味する。従つて、これらの信号の和を求め
て、０近くに設定された所定の閾値と比較するこ
とによつて欠陥の有無を判断することも望まし
い。

〔実施例〕

第１図は磁気デイスク上の２つのデータ・セク
タ１１及び１２の間にあるサーボ・セクタ１０の
フオーマツトを示している。サーボ・セクタ１０
は線１３及び１４で区切られている。サーボ・セ
クタ１０及びサーボ・セクタ１１，１２は便宜上
矩形である様に描かれているが、実際にはデイス
ク上の同心円の円弧に沿つて湾曲している。

各データ・セクタの終りの書込回復フイールド
２０は、ユーザー・データを含んでいないが、磁
気ヘツドによつて読取られる信号を処理するため
の読取回路が当該データ・セクタに対するデータ
の書込みによる影響を受けない様になるまでの時
間的余裕を与える。書込回復フイールド２０の後
にはマーク・フイールド２１がある。マーク・フ
イールド２１はサーボ・セクタ１０の始まりを示
す様にコード化されている。

デイスクの回転につれてヘツドが出会う次の領
域は、後で述べる様にヘツドによつて読取られた
信号を自動利得制御回路が標準化することを可能
ならしめるための基準信号を与える利得基準フイ
ールド２２である。その後には、先行するマー
ク・フイールド２１を確認するためのマーク確認
フイールド２３がある。これに続いてインデツク
ス・ビツト２４がある。インデツクス・ビツトの
所定値はヘツドがデイスクの同心円に沿う方向の
所定位置にあることを示す。

インデツクス・ビツト２４の後には、デイスク
上のデータ・トラツクの半径方向位置を定めるた
めの位置基準情報を含む３つのフイールド２５，
２６，２７がある。これらのフイールドはＣ相
（φA）、Ｂ相（φB）、Ａ相（φA）の位置基準情報
を含む。この様な３相の位置基準情報は別の３つ
のフイールド２８，２９，３０にも逆の順序で含
まれている。２組の位置基準フイールドの間には
サンプル・エラー・フイールド３１がある。

サーボ・セクタ１０の終りにはガード・ビツト
３２及びホーム・ビツト３３がある。ガード・ビ
ツト３２は当該トラツクが通常利用可能なデー
タ・トラツクの領域内にあるか又はデータ・トラ
ツクの周囲のガード領域内にあるかを示す。ホー
ム・ビツト３３は通常ユーザーにとつて利用可能
な複数のデータ・トラツクのうちの１番目のもの
であるホーム・トラツク（トラツク番号０）を示
す様にコード化されている。

サーボ・セクタ１０はホーム・ビツト３３にお
いて終り、この後には次のデータ・セクタ１２が
続いている。データ・セクタ１２は先ず初期設定
及びハウスキーピングのための情報を含んでい
る。

第２図は第１図のデータ・セクタ及びサーボ・
セクタの１部分を幾分詳しく示している。第２図
に整列している第３図はデータ・トラツク０乃至
３を含む狭い帯域における典型的なサーボ・セク
タの部分の磁化状態を示している。第３図には、
典型的なヘツド４０がトラツク１の上にあること
も示されている。第２図及び第３図に対応してい
る第４図は、第３図の磁化パターンがヘツド４０
の下を通過するにつれてヘツド４０によつて検出
される信号の波形を示している。この波形は重要
な特性を強調する様に理想化されている。実際に
は、ピークは丸みを帯びており、中間の部分も図
示されているほど直線的ではない。

第３図において、黒い部分は所定方向（例え
ば、左から右）の磁化を表わし、白い部分は逆方
向の磁化を表わしている。サーボ・セクタ１２の
全てのフイールドがこの２つの方向のいずれかに
おいて飽和状態まで磁化されている。

第２図及び第３図から分かる様に、書込回復フ
イールド２０、マーク・フイールド２１、利得基
準フイールド２２、マーク確認フイールド２３及
びインデツクス・ビツト２４は全て半径方向に延
びる交互に極性の異なつたバーから成つている。
この様なバーはデイスクの利用可能な帯域の内側
から外側まで延びている。これらのフイールドに
応じてヘツドから生じる信号は、一方の極性から
他方の極性へのトランジシヨン４２に対応するピ
ークを有する。これらのピークの位置及び極性
は、全てのサーボ・セクタにおいて一定である。
但し、振幅は変化しうる。一方、サンプル・エラ
ー・フイールド３１はトラツク毎に異なつてコー
ド化されうる一対のビツトから成る。第３図に示
されている状態のサンプル・エラー・フイールド
３１のビツトは位置基準情報が良好であることを
示している。

位置基準フイールド２５，２６，２７は、それ
ぞれ或る極性のバーエレメント４３と逆極性のバ
ーエレメント４９とが交互に現われるサブセツト
から成る。バーエレメント４３及び４９はデー
タ・トラツク幅の1.5倍の長さを有する。これら
のサブセツトはデータ・トラツク幅の半分ずつ順
次ずれている。この様な位置基準情報のパターン
は半径方向においてデイスクの利用可能な帯域を
横切つて繰り返されている。相間のずれを明確に
するために、各相について３行のバーエレメント
だけが図示されている。

バーエレメントの行若しくは帯域間の１つおき
の境界線、例えば４４，４５，４６は、対応する
データ・トラツク（この場合、トラツク１，２，
３）の中央線を定めている。各サブセツトにおい
て、同じ極性のバーエレメント４３は隣接する他
の行におけるものとは１エレメントの幅だけ円周
方向においてずれている。これによつて、トラン
ジシヨン４７，４８の様に隣接する２つの行に属
していて整列しているトランジシヨンが同等で逆
極性となるサーボ・パターンが形成される。

従つて、位置基準フイールド２５，２６，２７
のうちのいずれかに関連してヘツド４０から生じ
る信号が０レベルのときには、ヘツド４０はデー
タ・トラツクの中央線又はデータ・トラツク間の
境界線上に存在する。隣接する３つのデータ・ト
ラツクのうちのどの上にヘツドが存在するかは、
３相の信号のうちのどれが０レベルであるかに依
存している。この例では、トラツク１の中央線に
対応するＢ相パターンの境界線４４がヘツド４０
の下を通過するとき、ヘツド４０から生じる信号
は第４図の部分５１で示されている様に０レベル
になる。Ｃ相及びＡ相パターンがヘツド４０の下
を通過するときには、部分５２及び５３で示され
ている様な波形の信号が発生する。この信号のピ
ーク振幅は、Ｃ相及びＡ相の最も近い行境界線か
ら少なくとも半トラツク幅だけヘツド４０が変位
していることを表わしている。即ち、ヘツド４０
は行境界線に全く乗つていない。ヘツド４０が行
境界線の真上以外の所にある場合、ヘツド４０か
ら生じる信号は部分５２及び５３に類似し、振幅
の異なつた正及び負のピークを含む。

従つて、信号部分５１，５２，５３におけるピ
ーク振幅はトラツク中央線を基準とする位置誤差
を示すものとして利用可能である。後で第６図及
び第７図を参照しながら詳しく説明する様に、一
層信頼性の高い部分復調技術が用いられ、信号部
分５１，５２，５３は、第５図に示されている様
な３相の位置誤差信号を生じるために、別々に整
流、積分及び利得制御の処理をうける。逆相のフ
イールド２８，２９，３０（第１図）に基く信号
も同様に処理される。

第５図はトラツク０乃至３に関連してＡ、Ｂ、
Ｃ相パターンに基く復調された位置誤差信号Ａ，
Ｂ，Ｃの変化を示している。この変化は周期的で
あり、各相の信号は３トラツク毎に繰り返され
る。位置基準情報を表わすバーエレメント４３，
４９等の半径方向の幅はヘツド４０（及びデー
タ・トラツク）の物理的な幅よりも相当大きいの
で、物理的な幅と縁部磁界との組合わせであるヘ
ツド４０の実効幅もバーエレメントの幅よりも十
分に小さい。そのため、ヘツド４０は信号の振幅
や線形度をかなり損なう隣接行からのクロストー
クによる影響をほとんど受けない。従つて、結果
として得られる位置誤差信号Ａ，Ｂ，Ｃは特にト
ラツク中央線から±1/4トラツク幅の範囲におい
て非常に線形であり、この範囲を越えてもほぼ線
形である。

各相の位置誤差信号は、前述の範囲を越えて半
トラツク幅の所まで破線６０で示されている様に
線形を維持するのが理想である。更に、位置誤差
信号は、ヘツドが１つのバーエレメントの行の境
界線間に完全に入つている次の半トラツク幅の範
囲において一定振幅を維持し、次のトラツク中央
線の所から逆の傾斜をもつ線形の変化を開始する
のが理想である。実際には、縁部磁界の影響によ
り信号は部分６１で示されている様に丸くなつて
しまう。マルチヘツド装置における異なつたヘツ
ドはそれらの物理的な幅及び実効幅に応じて異な
つた程度の丸みをもつた信号を生じる。しかしな
がら、前述の様に±1/4トラツク幅の範囲内で十
分に線形である位置誤差信号が得られることが認
められた。但し、異なつたヘツドから得られる信
号は同じ傾斜を有するとは限らない。任意のヘツ
ドに関して、デイスクの半径方向の任意の位置に
おいて３相の位置誤差信号のうちから十分に線形
なものが選択される。

第６図はデイスクの表面に沿つて複数のヘツド
の位置決めを行うシステムを示している。デイス
ク７０は第１図乃至第３図に示されている型のサ
ーボ・セクタ１０内に位置基準情報を含む。デイ
スク７０はヘツド３９及び４０のそばで矢印で示
されている方向に回転する。ヘツド３９及び４０
はそれぞれデイスクの内側領域及び外側領域をカ
バーしており、アーム７１に装着されている。ア
ーム７１はモータ７２によつて所定の軸線を中心
として回転させられる。図示されているヘツド位
置決めシステムの残りの部分は、選択される１つ
のヘツドから得られる信号を処理する信号処理チ
ヤネルである。このチヤネルはサーボ信号とデー
タ信号の両方を処理するものであるが、図示され
ている種々の回路は主としてサーボ信号の処理の
ためのものである。

１つのヘツド、例えばヘツド４０から端子７３
に生じる信号は線７４を介して可変利得増幅器
（VGA）７５に与えられる。VGA７５から生じ
る信号はフイルタ７６においてノイズの除去を受
けた後、再び増幅されてからゼロ交差検出器７８
及び復調器８０へ送られる。後で第８図を参照し
て詳しく述べる復調器の基本的な機能は、入力信
号の位置基準情報部分に基いて、第５図に示され
ている様にヘツドのオフトラツク変位につれて直
線的に変化する位置誤差信号を生じることであ
る。但し、復調器８０を動作させる前に、サー
ボ・セクタの先頭にあるマーク・フイールド２１
を検出することによつて、サーボ・セクタの存在
を確認することが必要である。

再び第３図及び第４図を参照する。他の信号部
分と違うマーク信号部分の特徴は、第４図の波形
における２つの負方向ゼロ交差５４間の時間間隔
が独特なことである。更に、マーク信号部分は２
番目の負方向ゼロ交差５４から正規の時間間隔を
おいて次の負方向ゼロ交差５５を有する。

マークは相次ぐ負方向ゼロ交差が正規の時間間
隔で生じるかどうかを監視するマーク検出器８１
によつて検出される。ゼロ交差はゼロ交差検出器
７８によつて検出される。ゼロ交差検出器７８の
出力は負方向ゼロ交差の発生時にレベルを変え、
予定の正の閾値においてリセツトされる。マーク
検出器８１は位相同期発振器（PLO）８３の出
力に従つて動作する。発振器８３の出力は２位置
スイツチ８４を介してマーク検出器８１に与えら
れる。２位置スイツチ８４は、各セクタの開始の
直前にデコーダ９１から生じるマーク検出実行信
号に応じて発振器８３の出力をマーク検出器８１
へ通過させる。マーク検出器８１はマークを検出
するとマーク検出信号を線８５に生じる。

マーク検出器８１の構成は第７図に示されてい
る。ゼロ交差検出器７８から発生するゼロ交差信
号は線１２０に現われ、発振器８３の出力はスイ
ツチ８４を通つて線１２１に現われる。ゼロ交差
信号はシングルシヨツト１２２及びアンド回路１
２３−２に与えられる。シングルシヨツト１２２
は負方向ゼロ交差によつてトリガーされる。発振
器８３の出力は計数器１２４を働かせる。デコー
ダ１２５は計数器１２４の計数値に応じて一連の
ゲート信号を生じる。これらのゲート信号のうち
の２つは、マーク信号部分の最初の２つの負方向
ゼロ交差５４（第４図）に対応するシングルシヨ
ツト１２２の出力パルスに従つて一対のラツチ１
２６ｂ及び１２６ｃをセツトすることを可能なら
しめる様にアンド回路１２３−３及び１２３−４
を付勢する。別のゲート信号は、マーク信号部分
の２つの負方向ゼロ交差５４間にゼロ交差がない
ことを確認するために、線１２０における高レベ
ルのゼロ交差信号に従つてラツチ１２６ａをセツ
トすることを可能ならしめる様にアンド回路１２
３−２を付勢する。もう１つのアンド回路１２３
−１は、ラツチ１２６ａ乃至１２６ｃが全てセツ
トされうる時間の後で負方向ゼロ交差に応じたシ
ングルシヨツト１２２の出力パルスをアンド回路
１２７へ通過させる様に他のゲート信号によつて
付勢される。アンド回路１２７は４つの入力信号
が全て存在するときマーク検出信号を生じる。残
りのアンド回路１２９，１３０及びオア回路１２
８は、マーク信号部分の負方向ゼロ交差発生パタ
ーンに合致しない負方向ゼロ交差の発生及びマー
クが検出された後の利得基準フイールドに基く信
号の負方向ゼロ交差の発生に応じて計数器１２４
及びラツチ１２６ａ乃至１２６ｃをリセツトする
ために設けられている。

マークが真正なものであれば、それから所定時
間後に２ビツトのマーク確認フイールド２３が現
われることになる。これらのビツトは第３図及び
第４図に示されている様に逆の位相関係を有す
る。復調器８０はマークの検出から所定時間後に
マーク確認フイールド２３に基く２つの制御ビツ
トを生じてシフトレジスタ８７に送り込む。これ
らの制御ビツトが所定の位相反転関係を示すなら
ば、デコーダ８８は線８９にマーク確認信号を生
じる。

発振器８３は通常の態様で位相同期信号に同期
する。発振出力は計数器９０を働かせ、その計数
値はデコーダ９１によつて解読される。デコーダ
９１はシステムの種々の動作のタイミングを制御
するための種々の信号を母線９２に生じる。これ
らの信号のうちの１つは線９４を介してスイツチ
８４へ送られるマーク検出実行信号である。線９
４に生じる信号はマーク確認信号との位相比較の
ために発振器８３にフイードバツクされる。発振
器８３は２つの信号の位相差に応じて周波数を変
える。発振器８３は種々の目的のための安定した
出力を生じなければならないので、位相シフトに
対する応答は比較的遅い。従つて、発振出力は周
波数の点ではマーク確認信号に同期するが、位相
の点では常に同相であるとは限らない。結局、発
振出力は、復調器８０による利得及び位置基準情
報の同期復調のタイミングをとるために用いられ
るほど十分正確に各セクタの信号と同相にならな
いことがある。

そのため、必要に応じて始動及び停止の可能な
別の発振器９５が設けられている。データ・セク
タの読取中、発振器９５は、スイツチ８４を介し
て伝えられる位相同期発振器８３の出力を分周器
９６において分周したものを受けとり、それに同
期する。線９４にマーク検出実行信号が発生する
と、スイツチ８４の操作により、同期化のための
信号は供給されなくなり、発振器９５は動作を停
止する。

マーク検出器８１はマークを検出するとマーク
検出信号を生じ、それによつて発振器９５を当該
サーボ・セクタと厳密に同相な状態で再始動させ
る。その後、発振器９５は前に同期化された周波
数で自走し、復調クロツク信号（第９図）と呼ば
れるパルスの列を生じる。この信号は復調器８０
に与えられ、且つマーク検出信号と共にプログラ
マブル読出専用記憶装置（PROM）９７にも与
えられる。PROM９７は復調器８０の同期復調
動作を制御するための種々の選択信号（第９図）
を生じる。これから復調器８０の回路構成を示す
第８図及び種々の信号の波形を示す第５図、第９
図、第１０図を参照しながら同期復調動作につい
て説明する。

第８図において、乗算器１５２への線１５０に
おける線形入力信号は第６図の増幅器７７の出力
である。発振器９５から生じる復調クロツク信号
も線１５４を介して乗算器１５２に与えられる。
第９図には典型的な復調クロツク信号波形２５０
及び線１５０の入力信号の典型的な部分２６３が
示されている。復調クロツク信号と入力信号部分
２６３との乗算により、後者を整流したものに相
当する波形２６４が得られる。

乗算器１５２の出力は、第６図のPROM９７
の出力線に対応している線１５６乃至１６４に生
じる選択信号の制御の下にマルチプレクサ１５５
の複数の出力線のうちの１つへ送られる。線１５
６乃至１６４の信号は波形２５１乃至２５９とし
て示されている。このうち線１５６乃至１６３の
信号は順次２つずつ対になつており、各対は積分
すべき整流セクタ信号の部分を指示している。

この例の場合、線１５８及び１５９のSA0及び
SA1信号（第９図の波形２５８及び２５９）は、
同じ時間に乗算器１５２に与えられる線形入力信
号２６３がＡ相（φA）の位置基準情報２７に基
くものであることを示している。従つて、マルチ
プレクサ１５５は整流入力２６４をＡ相のための
積分器へ導く。この積分器は相次ぐサイクルにお
いて積分を行い、波形２６５の出力を生じる。第
２のＡ相フイールド２８に基く信号も同様に積分
される。両積分出力の和は当該セクタにおけるＡ
相位置基準情報によつて定められる基準位置から
のヘツドのずれを表わしている。この積分出力の
和は第５図の波形Ａ上の点に対応している。

Ａ相積分出力を生じるための積分器はマルチプ
レクサ１５５の出力段内の電流源によつて充電さ
れるコンデンサ１７０を含む。電圧ホロワ１７１
はコンデンサ１７０の電圧のためのバツフツとし
て働く。積分器はサンプルの間でスイツチ１７３
によつてリセツトされる。スイツチ１７３を作動
する線１７２のリセツト信号は第６図のPROM
９７から発生するものであり、マーク検出信号を
反転したものに相当する。Ｂ相及びＣ相位置基準
情報に基く信号を積分して第５図の波形Ｂ及びＣ
上の点に対応する位置誤差信号を生じるためにコ
ンデンサ１７０に類似したコンデンサ１７４及び
１７５が用いられている。コンデンサ１７４へ整
流入力を導くためのSB0及びSB1信号は第９図に
波形２５６及び２５７として示されており、コン
デンサ１７５へ整流入力を導くためのSC0及び
SC1信号は波形２５４及び２５５として示されて
いる。

線形入力信号は位置基準情報の外にフイールド
２２からの利得基準情報を含む。この利得基準情
報も乗算器１５２において整流される。即ち、入
力信号の対応する部分と復調クロツク信号との乗
算によつて整流処理が行われる。SG0及びSG1信
号は整流された信号をマルチプレクサ１５５の出
力線１０１にHF利得信号として生じさせる。

利得基準情報に対応する信号は第８図の回路で
は積分されない。整流された利得信号であるHF
利得信号は線１０１を介して比較器１０２（第６
図）へ送られて、後で述べる様に積分される。

マーク確認に関する制御情報（フイールド２
３）は予定の時間間隔をもつた一連のトランジシ
ヨンのシーケンスを生じる。該当する信号部分
は、ST信号（第９図の波形２５３）によつて選
択されて、乗算器１５２において復調クロツク信
号と掛け合わされる。トランジシヨン間の時間間
隔は、対応する出力パルスの極性が乗算によつて
変えられない様に定められている。出力パルスは
記録されている制御ビツトの値に応じた正又は負
のパルスである。各出力パルスはコンデンサ１７
９によつて積分される。コンデンサ１７９の電圧
は制御ビツトの値に応じて正又は負になり、比較
器１８０において接地レベルと比較される。比較
器１８０の出力は線１８１を介してシフトレジス
タ８７（第６図）へ送られる。コンデンサ１７９
は線１６４のST信号が負になるときリセツトさ
れる。

３つの位置誤差信号Ａ，Ｂ，Ｃの処理について
説明を続けるにあたつて、これらの信号はそれぞ
れゼロ交差点を中心として±1/4トラツク幅の範
囲内で正確に線形であることが思い起こされる
（第５図）。結局、ヘツドがどの位置にあつても、
３相の信号のうちの１つを線形信号として選択で
きる。第５図において波形６２として示されてい
る合成された線形位置誤差信号、即ち線形PES信
号は、切り替え可能な電圧フオロワ１９０におい
て、３相の位置誤差信号に基いて生成される。

電圧フオロワ１９０の切り替えは、論理回路１
９３の出力線１９１及び１９２に生じるLINA及
びLINB信号（第１０図）によつて制御される。
論理回路１９３は線形PES信号を生成するために
電圧フオロワ（VF）１９０を制御する外に第１
０図に示されている様なPESビツト１、PESビツ
ト２及びPES反転と名付けられた信号も生じる。
PESビツト１及びPESビツト２信号は、任意の位
置において３つのトラツクのどれから線形PES信
号が得られているかを表わすものである。PES反
転信号は線形PES信号の傾斜が正及び負のいずれ
であるかを表わしている。これらの信号は線形
PES信号に関連して３つのトラツクを含む広い範
囲内のヘツドの位置を判定するのに十分な情報を
含んでいる。

但し、通常のトラツク追従動作中は、この様な
広い範囲を対象としてヘツドの位置を定める必要
はなく、線形PES信号は第６図の位相補償器９９
へ直接送られる。位相補償器９９の出力は駆動増
幅器１００に与えられる。駆動増幅器１００は線
形PES信号を０にする向きにヘツド位置決め用の
モータ７２を駆動する。

再び第８図を参照する。論理回路１９３の入力
は４つの比較器１９４乃至１９７から与えられ
る。比較器１９４，１９５，１９６は、それぞれ
３つの位置誤差信号のうちの２つを比較して、Ａ
＞Ｂ、Ｂ＞Ｃ、Ｃ＞Ａの関係があるかどうかを判
断する。この比較結果を示す波形は第１０図に示
されている。もう１つの比較器１９７は線形PES
信号が０レベルより大であるかどうかを判断した
結果を表わす信号を生じる。この信号の波形も第
１０図に示されている。

論理回路１９３はこれらの入力信号に基いて第
１０図に示されている様な出力信号を生じる。即
ち、PES反転、PESビツト１、PESビツト２、
LINA、LINB、Ｘ及びＹと名付けられた信号が
発生する。これらの信号と位置誤差信号との関係
は第１０図から明らかである。Ｘ及びＹ信号は線
１９８及び１９９に現われ、後で述べる様にもう
１つの電圧フオロワ２００を制御する。

位置誤差信号の有効性に関する検査は加算器２
０５及び検出器２０６によつて行われる。理想的
な状態では、位置誤差信号Ａ，Ｂ，Ｃの和はヘツ
ドの位置に拘りなく０になる。加算器２０５は３
つの信号の和を表わす信号を生じる。この信号は
検出器２０６において０ボルトを中心とする電圧
枠と比較される。信号レベルが電圧枠内にあれ
ば、検出器２０６はPES有効信号を生じる。PES
有効信号が発生しないことは、記録媒体における
位置基準情報に欠陥があることを示す。

第６図及び第８図に示されている回路の残りの
部分はHF利得信号及び利得Ｈ／Ｌ信号によつて
可変利得増幅器７５の利得を自動的に制御するこ
とに関するものである。

専問家には直ぐ分かる様に、任意の相の位置基
準フイールドにおける隣接する２行のサーボ・パ
ターンにそれぞれ対応する２つの信号成分ｐとｑ
との間の差ｐ−ｑはサーボ・トラツク境界線を基
準とするヘツドの変位を正確に示しているわけで
はない。その理由の１つは、デイスク上の半径方
向位置によつてヘツドの浮上高度が異なり、それ
がヘツドの検出信号の振幅に影響するということ
である。従来は、この様な問題を解決するため
に、ヘツドの全幅応答を示すｐ＋ｑの信号を求め
て、それを用いて位置誤差信号の振幅を正規化す
る自動利得制御が行われている。その場合、位置
誤差信号の値は（ｐ−ｑ）／（ｐ＋ｑ）に定数を
掛けたものによつて示される。

第６図の回路において、ヘツドの全幅応答ｐ＋
ｑはHF利得信号によつて示される。前述の様
に、この信号は位置基準情報の前にある利得基準
情報（フイールド２２）に基いている。利得基準
情報を示す交互に極性の異なる半径方向バー４１
（第３図）は半径方向において切断されていない
のでヘツドの出力は全幅応答を示す。HF利得信
号としての電流は比較器１０２において線１０３
の基準電流と比較される。そのために、両電流は
スイツチ１０５を介して積分コンデンサ１０４に
与えられる。スイツチ１０５はヘツドによる位置
基準情報の検出に対応する時間に線９８に生じる
利得調節実行信号によつて閉じられる。２つの電
流の差に応じてコンデンサ１０４が充電される。
コンデンサ１０４の電圧はＲ−Ｃフイルタを介し
て可変利得増幅器７５の利得を制御する様に用い
られる。即ち、ヘツド７４から線７４に与えられ
る信号の振幅を正規化する様に制御が行われる。
線１０１及び比較器１０２によつて形成されてい
るフイードバツク・ループは同一セクタ内で達成
すべき自動利得制御のための十分に高い帯域
（2000乃至3000ヘルツ程度）の高周波利得制御ル
ープである。

これから述べる様に、この様な通常の自動利得
制御はヘツド毎のオフトラツク応答の変動を修正
できず、場合によつては更に悪化させる。オフト
ラツク応答は特定のヘツドがトラツクの中心線か
ら外れているときの位置誤差信号の利得若しくは
傾斜である。

第１１図は通常のAGCループを用いる場合の
ヘツドの幅の変化に関連した位置誤差信号の変動
を示している。この図の左半分には、４つのトラ
ツクと３種類のヘツド３００，３０１，３０２が
示されている。これらのトラツクは異なつた位置
基準情報を含む２種類のトラツク（Ｐ及びＱ）を
交互に配置したものである。ヘツド３０１がトラ
ツク幅に等しい実効幅を有するのに対し、ヘツド
３００及び３０２はそれぞれトラツク幅の2/3及
び1/3の実効幅を有すると仮定する。

波形３０４は所定の浮上高度でトラツクを直角
に横切るヘツド３００から生じる信号に基く位置
誤差信号、即ちトラツクＰ及びＱに対応する信号
成分ｐとｑとの差ｐ−ｑの変化を示している。波
形３０５は浮上高度が異なるときのヘツド３００
に関する位置誤差信号を示している。これによつ
て、利得制御回路の必要性が認められる。右側の
波形３２０は前述の関数（ｐ−ｑ）／（ｐ＋ｑ）
に従つて通常のAGCにより波形３０４及び３０
５を正規化した結果を示している。

ヘツド３０１及び３０２に関してｐ−ｑを表わ
す波形３０６及び３０７は破線で示されている部
分が波形３０４と異なつている。但し、ヘツド３
０１及び３０２はヘツド３００と同じ所定の浮上
高度で移動し、且つ同等の特性を有すると仮定さ
れている。関数（ｐ−ｑ）／（ｐ＋ｑ）に従つて
通常のAGCにより波形３０６及び３０７正規化
した結果は波形３２１及び３２２として示されて
いる。これらの波形はオントラツク点及び1/2ト
ラツク（最大）変位点においては適正な値を示し
ているけれど、その間における傾斜は適正でない
ことが明らかである。即ち、幅の異なつたヘツド
に関連して通常のAGCを用いるときには、オフ
トラツク利得は線形の変化を示すが一定の傾斜を
示さないのである。

オフトラツク利得の過度の変動は過度の修正又
は不十分な修正をもたらし、ヘツドを所望のトラ
ツクの上に正確に位置決めしてオフトラツク変位
を減少させるために最も高いトラツク追従ループ
利得を必要とする高密度トラツク追従サーボ・シ
ステムでは安定度が損なわれる。又、オフトラツ
ク利得の変動は、欧州公開特許出願第13326号に
示されている様なトラツク・アクセス・サーボ・
システムにおいても問題を生じる。このサーボ・
システムにおいては、標本化された位置誤差信号
と連続的に得られるモデル位置誤差信号とが比較
される。標本化された位置誤差信号は異なつたデ
イスク面に関連している複数のヘツドのうちのど
れによつて得られた信号に基いているかに拘りな
く線形であり且つほぼ一定のオフトラツク利得を
有することが重要である。

第６図の回路は比較器１０２に与える線１０３
の基準電流を補正することによつてオフトラツク
利得に関する問題を解決している。補正量は復調
器８０において発生するLF利得信号と付加的な
フイードフオワード若しくは予測的入力に依存し
ている。

LF利得信号は第８図に示されている様な回路
構成によつて得られる。本質的にLF利得信号は
トラツク幅変位当りの線形PES信号の変化率若し
くは傾斜、即ちオフトラツク利得の値を表わして
おり、特定のヘツドの幅とはほとんど関係がな
い。位置誤差信号Ａ，Ｂ，Ｃの選択された部分を
組合わせることによつて、任意の位置にあるヘツ
ドに関して、この様な値に近似する信号が得られ
る。個々のヘツドの幅に関する情報を予め記憶し
ておいて、それを用いることによつて、近似の正
確度を一層増すことができる。LE利得信号の波
形は第５図の６３によつて示されている。

LF信号の発生の説明にあたつて、第５図の３
つの位置誤差信号Ａ，Ｂ，Ｃの特性について考察
しておくことにする。これらの信号が破線６０で
示される理想的な波形を有するならば、各信号の
頂上平坦部の振幅はヘツドがトラツク中央から半
トラツク幅だけ変位したときの位置誤差信号のレ
ベルTw／２を表わしている。この場合、任意の
ヘツド位置において３つの信号のうちの１つは常
に最高レベルになる筈であるから、所望の測定は
単に適当な相の一定信号を選択し、必要に応じて
それを反転することによつて達成される。

ところで、実際には第５図において実線で示さ
れている様に信号Ａ，Ｂ，Ｃはピーク付近におい
て丸みを帯びており、非線形である。それにも拘
らず、任意のヘツド位置においてTw／２の値を
得ることができる。それは、３つの信号Ａ，Ｂ，
Ｃのうちから比較的線形のものを２つ選択して加
え合わせることによつて行われる。例えば、第５
図において６４で示されている1/4トラツク幅の
位置においては、信号Ａ及びＢの方が信号Ｃより
も線形である。それぞれTw／４に等しい信号Ａ
及びＢの振幅を加え合わせることによつて波形６
３上の点６５によつて示される適正な値Tw／２
が得られる。1/4トラツク幅の位置以外の位置で
は、２つの信号のうちの一方は線形範囲から逸脱
するので、２つの信号の振幅を加えて得られる値
は、それほど正確ではなくなる。正確度はオント
ラツク位置において最低となる。比較的線形な２
つの信号の和の軌跡は図示されている様に波形６
３の曲線部分６６と破線部分６７を含む。

オントラツク位置はトラツク追従動作中にヘツ
ドが位置決めされる可能性が最も高い位置である
から、この付近における不正確性を排除すること
が重要である。これはトラツク中心線に近い領域
において２つの信号の振幅関数に定数Ｋを加える
ことによつて達成される。

LF利得信号を生じるための一方の成分は電圧
フオロワ２００において生成される。電圧フオロ
ワ２００は線１９８及び１９９におけるＸ及びＹ
信号に応じて1/4トラツク幅毎に信号Ａ，Ｂ，Ｃ
のうちの１つを出力として生じる。選択される信
号は1/4トラツク幅の範囲において比較的線形な
２つの信号のうちの大きい方である。電圧フオロ
ワ２００の出力の波形は第５図の１番下に示され
ている。この出力は整流器２０７に与えられ、負
の部分は破線で示されている様に反転され、結
局、上側のエンベロープ６８で示される波形の信
号となる。この信号は加算器２０８へ送られる。

LF利得信号のもう１つの成分は電圧フオロワ
１９０から生じる線形PES信号（第５図の波形６
２）から得られる。線形PES信号は整流器２０９
によつて整流される。もし整流後の信号を波形６
８で示される整流器２０９からの信号にそのまま
加えるならば、第５図の一番上に示されている破
線の部分６７を含む様な信号が得られる。しかし
ながら、この部分６７を排除するために、整流器
２０９の出力は選択回路２１１において端子２１
０に与えられる補正電圧Ｋと組み合わされる。選
択回路２１１は線形PES信号と電圧Ｋとの大きい
方を選択して出力として生じる。この出力は波形
６９を有し、加算器２０８に与えられる。この様
にして、結合される信号のうちの一方の非線形度
が所定値を越える範囲においてだけ補正信号が与
えられるのである。

波形６８及び６９で示される２つの信号は加算
器２０８において加算されて波形６３で示される
LF利得信号になる。LF利得信号は比較器２１２
において基準電圧Ｒと比較される。比較器２１２
はLF利得信号が基準電圧より高いか低いかを表
わす２進出力（利得Ｈ／Ｌ信号）を生じる。

利得Ｈ／Ｌ信号は、前述の様に全てのヘツドの
オフトラツク応答を正規化することを目的として
第３図における線１０３の基準電流を調節するた
めにフイードバツクされる。このフイードバツ
ク・ループは利得の測定が行われたセクタにおい
て利得を補正するほど十分に高い帯域を持つてい
ないが、その後の複数のセクタにわたつて利得を
補正するのに有効である。

利得Ｈ／Ｌ信号は線１１０を介してデイジタ
ル・フイルタ１１１へ送られる。このフイルタ１
１１は相次ぐ１及び０のパルスに応じて４ビツ
ト・アツプ・ダウン計数器１１２のカウントを増
減させる出力を生じる。計数器１１２のカウント
（４ビツト）は、LF利得を基準電圧源からの基準
電圧に復帰させるのに必要な線１０３の基準電流
についての補正値を表わしている。カウントは線
１１４を介してＤ／Ａ変換器１１５へ送られ、そ
こで線１０３へ送り出される電流成分に変換され
る。又、Ｄ／Ａ変換器１１５は基準電圧源１１３
からの電圧に応じた一定基準電流を線１０３に送
り出す。

Ｄ／Ａ変換器１１５の他の２つの入力も基準電
流の調節に関連している。この２つの入力は外部
から母線１１６を介して記憶回路１１７に与えら
れる情報に基いて得られる。この情報はどのヘツ
ドが選択されているかを示すものである。記憶回
路１１７は例えば読出専用メモリやマイクロプロ
セツサの１部である。デイスクの内側領域と外側
領域では、ヘツドの浮上高度が異なるので、ヘツ
ドが位置づけられている環状帯域毎にオフトラツ
ク応答に差があることが予測される。選択された
ヘツドが位置づけられている環状帯域はアドレス
の下位のビツトによつて示される。記憶回路１１
７はこれらのビツトに応じたデイジタル補正値を
線１１８に生じる。これもＤ／Ａ変換器１１５に
おいて電流の補正のために用いる。この場合、フ
イードバツクは用いられていないので、LF利得
信号に基くフイードバツク制御による補正よりも
迅速な補正が行われる。

ヘツドの幅のばらつきに関しても同様な直接的
補正が行われる。それは、位置誤差信号が丸みを
帯びるのはヘツドの幅に依存しているということ
による。記憶回路１１７はヘツド・アドレス情報
に応じて、選択されたヘツドの幅に関連したデイ
ジタル補正値をＤ／Ａ変換器１１５に通じる線１
１９に生じる。この場合も、フイードバツクは用
いられていないので、迅速な補正が行われる。

ヘツドの幅に関連した補正値は別のＤ／Ａ変換
器１２０にも与えられる。Ｄ／Ａ変換器１２０は
これに応じて３つのアナログ電圧のうちの１つを
電圧Ｋとして第８図の選択回路２１１の端子２１
０に与える。これによつて利得の正確度が一層向
上する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に従つて用いられるデイスク上
のサーボ・セクタ及び隣接するデータ・セクタの
１部のフオーマツトを示す図、第２図は第１図の
フオーマツトを部分的に拡大して示す図、第３図
は第２図のフオーマツトを形成する磁化パターン
を示す図、第４図は第３図の磁化パターンに応じ
てヘツドから生じる信号の波形を示す図、第５図
は第４図の信号から得られる３相の位置誤差信号
と第６図の回路において位置及び利得の制御のた
めに用いられる種々の信号の波形を示す図、第６
図は本発明による磁気デイスク装置のヘツド位置
決めシステムを示す図、第７図はマーク検出器の
構成を示す図、第８図は復調器の構成を示す図、
第９図は第８図の復調器８における種々のタイミ
ング信号及びヘツドからの信号に基く他の信号の
波形を示す図、第１０図は第５図に示されている
のと同等の位置誤差信号及びそれに関連して第８
図の復調器において得られる種々の論理信号の波
形を示す図、第１１図は幅の異なつたヘツドが用
いられる場合に通常の自動利得制御の下で得られ
る位置誤差信号の傾斜の変動を示す図である。 １０……サーボ・セクタ、１１及び１２……デ
ータ・セクタ、２５乃至３０……位置基準フイー
ルド、３９及び４０……ヘツド、７０……デイス
ク、７２……モータ、７５……可変利得増幅器、
８０……復調器、９５……発振器、１０２……比
較器、１１５……Ｄ／Ａ変換器、１５２……乗算
器、１５５……マルチプレクサ、１９３……論理
回路、１９４乃至１９６……比較器、１９０及び
２００……電圧フオロワ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 記録面にデータ・セクタとサーボ・セクタと
   を交互に有する磁気デイスクであつて、サーボ・
   セクタがデータ・セクタ内のデータ・トラツクに
   対するヘツドの変位をそれぞれ示す少なくとも３
   つの位相の異なつた位置誤差信号を生成すること
   を可能ならしめる位置基準情報として少なくとも
   ３組の磁化パターンを含み、各組の磁化パターン
   が複数の磁化エレメントから成り、各磁化エレメ
   ントの半径方向の幅がデータ・トラツクの幅より
   も大きく、且つ３組の磁化パターンがデータ・ト
   ラツクの幅よりも小さい距離ずつ半径方向におい
   て順次ずれて配列されていることを特徴とする磁
   気デイスク。