JPH0136572B2 - - Google Patents
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- JPH0136572B2 JPH0136572B2 JP56078548A JP7854881A JPH0136572B2 JP H0136572 B2 JPH0136572 B2 JP H0136572B2 JP 56078548 A JP56078548 A JP 56078548A JP 7854881 A JP7854881 A JP 7854881A JP H0136572 B2 JPH0136572 B2 JP H0136572B2
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- Adjustment And Processing Of Grains (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は胴割粒検出装置の改良に関する。
従来は多孔板の透光窓上に米粒を列べ、これに
下方から投光して透光模様を目測計算して亀裂米
の粒数または比率を算出する原始的な手段が用い
られ、煩わしい雑作な検出器であつた。
下方から投光して透光模様を目測計算して亀裂米
の粒数または比率を算出する原始的な手段が用い
られ、煩わしい雑作な検出器であつた。
また、米粒に対して一粒ごとに光線を照射し、
米粒の透過光線を受光素子が受光してその米粒の
胴割面の反射屈折による光量変化により胴割米を
検出するようにし、任意の所定穀粒数の胴割率を
表示するようにした胴割米の検出装置が特開昭56
−14143号公報として提案されている。
米粒の透過光線を受光素子が受光してその米粒の
胴割面の反射屈折による光量変化により胴割米を
検出するようにし、任意の所定穀粒数の胴割率を
表示するようにした胴割米の検出装置が特開昭56
−14143号公報として提案されている。
しかしながら、このものは除算回路が受光素子
の検出信号を連絡する計数回路からの計数値と照
射した米粒数の計数回路からの計数値とを適宜に
除算し、その計算による胴割率を表示器に表示す
るようにしただけのものであつた。
の検出信号を連絡する計数回路からの計数値と照
射した米粒数の計数回路からの計数値とを適宜に
除算し、その計算による胴割率を表示器に表示す
るようにしただけのものであつた。
本発明の目的は、上述する問題点に対処して、
亀裂粒用検出回路が各受光素子の受光量の差の基
準光量限界値を上下する変化状態から籾粒の亀裂
の有無の検出を行い、総粒数用検出回路が籾粒の
総数の検出を行ない、表示器が亀裂粒用検出回路
の胴割粒数と総粒数用検出回路の籾粒総数とを表
示すると同時に、実像影の明暗度から少なくとも
未熟粒、被害粒、砕粒及び脱粒のうちの一つを
必要に応じて検出して表示することにより検出機
能が向上し、品質管理の促進が行なえ、常に良質
の精選穀粒の量産を図ることが可能な胴割粒検出
装置を提供することにある。
亀裂粒用検出回路が各受光素子の受光量の差の基
準光量限界値を上下する変化状態から籾粒の亀裂
の有無の検出を行い、総粒数用検出回路が籾粒の
総数の検出を行ない、表示器が亀裂粒用検出回路
の胴割粒数と総粒数用検出回路の籾粒総数とを表
示すると同時に、実像影の明暗度から少なくとも
未熟粒、被害粒、砕粒及び脱粒のうちの一つを
必要に応じて検出して表示することにより検出機
能が向上し、品質管理の促進が行なえ、常に良質
の精選穀粒の量産を図ることが可能な胴割粒検出
装置を提供することにある。
本発明を実施例図について説明する。第１図お
よび第２図において、符号１は箱形機枠で、該機
枠１内部に縦走状に籾粒を流動する送穀用条溝２
を設けた振動送穀樋３を横架状に設置し、その排
出側に籾粒を流下する流穀用条溝４を長手方向に
沿つて設けた傾斜流穀樋５を連設し、該流穀樋５
の流穀用条溝４の底にスリツト状の胴割粒検出用
透光窓６を設けると共に、傾斜流穀樋５の下方に
胴割粒検出用透光窓６に対応して光源７を配設
し、傾斜流穀樋５の上方に胴割粒検出用透光窓６
に対応して一対の受光素子１７，１８（第４図参
照）を有する受光装置８を配設し、該透光窓６の
上下位置に受光装置８と光源７をほぼ対向状に配
置して前記透光窓６を通過する籾粒の透過光線に
よつて胴割粒を検出するように形成してある。
よび第２図において、符号１は箱形機枠で、該機
枠１内部に縦走状に籾粒を流動する送穀用条溝２
を設けた振動送穀樋３を横架状に設置し、その排
出側に籾粒を流下する流穀用条溝４を長手方向に
沿つて設けた傾斜流穀樋５を連設し、該流穀樋５
の流穀用条溝４の底にスリツト状の胴割粒検出用
透光窓６を設けると共に、傾斜流穀樋５の下方に
胴割粒検出用透光窓６に対応して光源７を配設
し、傾斜流穀樋５の上方に胴割粒検出用透光窓６
に対応して一対の受光素子１７，１８（第４図参
照）を有する受光装置８を配設し、該透光窓６の
上下位置に受光装置８と光源７をほぼ対向状に配
置して前記透光窓６を通過する籾粒の透過光線に
よつて胴割粒を検出するように形成してある。
また、前記振動送穀樋３は、その側部に振動傾
斜送穀樋９を並列して横架状に配設し、該傾斜送
穀樋９はその低位側受入部に供給ホツパー１０を
設けると共に、該樋面に籾粒を誘導する案内壁１
１を立設し、前記送穀用条溝４の初端部に設けた
穀粒流入口１２と、前記傾斜送穀樋９の高位側の
一側に設けた排穀口１３を相互に連結して一体的
に形成してある。
斜送穀樋９を並列して横架状に配設し、該傾斜送
穀樋９はその低位側受入部に供給ホツパー１０を
設けると共に、該樋面に籾粒を誘導する案内壁１
１を立設し、前記送穀用条溝４の初端部に設けた
穀粒流入口１２と、前記傾斜送穀樋９の高位側の
一側に設けた排穀口１３を相互に連結して一体的
に形成してある。
また前記受光装置８は、２条のオプテイカル・
フアイバ１４，１５の一側端を光学レンズ１６を
介して前記透光窓６に臨設すると共に、その他側
端に１対の受光素子１７，１８を設け、また受光
素子１７，１８は導線によつて機枠１上部のデジ
タル表示器１９に連結してある。
フアイバ１４，１５の一側端を光学レンズ１６を
介して前記透光窓６に臨設すると共に、その他側
端に１対の受光素子１７，１８を設け、また受光
素子１７，１８は導線によつて機枠１上部のデジ
タル表示器１９に連結してある。
次に第３図の籾粒の明暗影について説明する。
本図は前記透光窓６上に位置して下方から照射さ
れた籾粒を示し、その各図ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅに
おいて中央の縦状点線（太線）は透光窓６のスリ
ツト、橢円形の閉曲線（点線）は籾粒内の米粒２
０、また米粒２０中に記した縦状点線（細線）は
亀裂面Ｒをそれぞれ表わす。また図ａにおいて、
ＡおよびＢは前記各受光素子１７，１８の各フア
イバ１４，１５が対向するそれぞれの視点位置
で、この視点位置において、前記光源７から籾粒
に投光した透過光線で照射された該籾粒像を光学
レンズ１６を透して結ぶ実像の籾粒両側部２１，
２２の光量をそれぞれ受光した場合、各受光素子
１７，１８の受光量（明暗度）は共に等しく、そ
の光量差が基準光量限界値（電圧）内になるの
で、この米粒は亀裂面のない整粒子として識別さ
れる。図ｂの米粒２０′はその亀裂面Ｒが透光窓
６の左側に位置し、ために透光窓６から射入した
粒子内の透過光線は前記亀裂面Ｒで散乱してその
粒体左側部の光量は低下してその光量差が基準光
量限界値外となるので、この粒子は亀裂粒として
識別される。図ｃの米粒２０″は上記米粒２０′と
反対の明暗影面を生じてその光量差が基準光量限
界値外となるので、この粒子も亀裂粒として識別
される。図ｄの米粒２０は粒子全体が着色され
て半透明化し、受光した実像影の明暗度が胴割粒
以下の光度に低下するので、この粒子は未熟粒と
して識別され、また図ｅの米粒２０′′′′は粒子の
一部分がその被害によつて不透明化し、受光した
実像影の明暗度が前記被害部分において極度に暗
くなるので、この粒子は被害粒として識別され、
また砕粒・脱粒はその実像影が短絡的に、また
連続的に整粒子以上に明るくなるので、その明暗
影の時間的な変化状態によつて砕粒・脱粒をそ
れぞれ識別する。
本図は前記透光窓６上に位置して下方から照射さ
れた籾粒を示し、その各図ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅに
おいて中央の縦状点線（太線）は透光窓６のスリ
ツト、橢円形の閉曲線（点線）は籾粒内の米粒２
０、また米粒２０中に記した縦状点線（細線）は
亀裂面Ｒをそれぞれ表わす。また図ａにおいて、
ＡおよびＢは前記各受光素子１７，１８の各フア
イバ１４，１５が対向するそれぞれの視点位置
で、この視点位置において、前記光源７から籾粒
に投光した透過光線で照射された該籾粒像を光学
レンズ１６を透して結ぶ実像の籾粒両側部２１，
２２の光量をそれぞれ受光した場合、各受光素子
１７，１８の受光量（明暗度）は共に等しく、そ
の光量差が基準光量限界値（電圧）内になるの
で、この米粒は亀裂面のない整粒子として識別さ
れる。図ｂの米粒２０′はその亀裂面Ｒが透光窓
６の左側に位置し、ために透光窓６から射入した
粒子内の透過光線は前記亀裂面Ｒで散乱してその
粒体左側部の光量は低下してその光量差が基準光
量限界値外となるので、この粒子は亀裂粒として
識別される。図ｃの米粒２０″は上記米粒２０′と
反対の明暗影面を生じてその光量差が基準光量限
界値外となるので、この粒子も亀裂粒として識別
される。図ｄの米粒２０は粒子全体が着色され
て半透明化し、受光した実像影の明暗度が胴割粒
以下の光度に低下するので、この粒子は未熟粒と
して識別され、また図ｅの米粒２０′′′′は粒子の
一部分がその被害によつて不透明化し、受光した
実像影の明暗度が前記被害部分において極度に暗
くなるので、この粒子は被害粒として識別され、
また砕粒・脱粒はその実像影が短絡的に、また
連続的に整粒子以上に明るくなるので、その明暗
影の時間的な変化状態によつて砕粒・脱粒をそ
れぞれ識別する。
次に第４図の制御用電気回路について説明す
る。受光装置８の両受光素子１７，１８は各増幅
器２３，２４を介して各受光素子１７，１８の受
光量の差の基準光量限界値を上下する変化状態か
ら米粒亀裂の有無を検出する亀裂粒用検出回路２
５の差動増幅器２６に連結され、その出力側はア
ナログスイツチ２７、積分回路２８、比較器２９
を介して胴割粒用カウンター３０に連結され、３
１は設定器で、整粒子と胴割粒の光量差の基準光
量限界値を設定する。また前記受光素子１７の分
岐路３２は総粒数用検出回路３３の比較器３４、
アナログスイツチ回路３５を介して総粒数用カウ
ンター３６に連結され、該カウンター３６と前記
胴割粒用カウンター３０は共に胴割比率用デジタ
ル表示器３７に連結され、３８は設定器で、通過
する籾粒を確認するための基準光量値を設定す
る。また前記受光素子１８の分岐路３９は実像影
の明暗度により未熟粒を検出する未熟粒用検出回
路４０のアナログスイツチ２７Ａと、実像影の明
暗度により被害粒を検出する被害粒用検出回路４
１のアナログスイツチ２７Ｂと、実像影の明暗度
により砕粒・脱粒を検出する砕粒・脱粒用検
出回路４２のアナログスイツチ２７Ｃとにそれぞ
れ連結され、前記スイツチ２７Ａは積分回路４
３、比較器４４を介して未熟粒用カウンター４５
に連結され、４６は設定器で、半透明の未熟粒の
明暗度を識別するための基準値（電圧）を設定す
る。また前記スイツチ２７Ｂは被害粒用検出回路
４１の比較器４７を介して被害粒用カウンター４
８に連結され、４９は設定器で、不透明な部分の
ある被害粒の明暗度を識別するための基準値（電
圧）を設定する。また前記スイツチ２７Ｃは砕
粒・脱粒用検出回路４２の比較器５０、積分回
路５１、比較器５２を介して砕粒用カウンター５
３と脱粒用カウンター５４にそれぞれ連結さ
れ、５５は設定器で、整粒子以上に明るい砕粒・
脱粒を識別するための高明度の基準値を設定
し、５６は設定器で、連続的（時間）に明るい脱
粒を識別するための所定時間の基準値を設定す
る。なお、前記機枠１上部のデジタル表示器１９
は、胴割比率用デジタル表示器３７と前記各カウ
ンター３０，３６，４５，４８，５３，５４によ
つて構成してある。
る。受光装置８の両受光素子１７，１８は各増幅
器２３，２４を介して各受光素子１７，１８の受
光量の差の基準光量限界値を上下する変化状態か
ら米粒亀裂の有無を検出する亀裂粒用検出回路２
５の差動増幅器２６に連結され、その出力側はア
ナログスイツチ２７、積分回路２８、比較器２９
を介して胴割粒用カウンター３０に連結され、３
１は設定器で、整粒子と胴割粒の光量差の基準光
量限界値を設定する。また前記受光素子１７の分
岐路３２は総粒数用検出回路３３の比較器３４、
アナログスイツチ回路３５を介して総粒数用カウ
ンター３６に連結され、該カウンター３６と前記
胴割粒用カウンター３０は共に胴割比率用デジタ
ル表示器３７に連結され、３８は設定器で、通過
する籾粒を確認するための基準光量値を設定す
る。また前記受光素子１８の分岐路３９は実像影
の明暗度により未熟粒を検出する未熟粒用検出回
路４０のアナログスイツチ２７Ａと、実像影の明
暗度により被害粒を検出する被害粒用検出回路４
１のアナログスイツチ２７Ｂと、実像影の明暗度
により砕粒・脱粒を検出する砕粒・脱粒用検
出回路４２のアナログスイツチ２７Ｃとにそれぞ
れ連結され、前記スイツチ２７Ａは積分回路４
３、比較器４４を介して未熟粒用カウンター４５
に連結され、４６は設定器で、半透明の未熟粒の
明暗度を識別するための基準値（電圧）を設定す
る。また前記スイツチ２７Ｂは被害粒用検出回路
４１の比較器４７を介して被害粒用カウンター４
８に連結され、４９は設定器で、不透明な部分の
ある被害粒の明暗度を識別するための基準値（電
圧）を設定する。また前記スイツチ２７Ｃは砕
粒・脱粒用検出回路４２の比較器５０、積分回
路５１、比較器５２を介して砕粒用カウンター５
３と脱粒用カウンター５４にそれぞれ連結さ
れ、５５は設定器で、整粒子以上に明るい砕粒・
脱粒を識別するための高明度の基準値を設定
し、５６は設定器で、連続的（時間）に明るい脱
粒を識別するための所定時間の基準値を設定す
る。なお、前記機枠１上部のデジタル表示器１９
は、胴割比率用デジタル表示器３７と前記各カウ
ンター３０，３６，４５，４８，５３，５４によ
つて構成してある。
上述の構成であるから、供給ホツパー１０から
振動傾斜送穀樋９に流下した試料籾粒は、該傾斜
送穀樋９の振動作用によつて高位側に上送されて
排穀口１３から振動送穀樋３の条溝２に流入する
と共に、該送穀樋３の振動作用によつて前記条溝
２に縦走状に配列して流動しまた傾斜流穀樋５の
条溝４を急流状に流下走行して透光窓６をそれぞ
れ通過する。該透光窓６に位置する籾粒は、下部
の光源７から籾粒に投光した透過光線で照射され
た該籾粒像が光学レンズ１６を透して結ぶ実像の
籾粒両側部２１，２２の光量を前記各受光素子１
７，１８がそれぞれ受光してその検出信号を前述
の制御用電気回路に送信する。そして亀裂粒用検
出回路２５に流入した各受光素子１７，１８の信
号は、差動増幅器２６によつてその光量差を検出
すると共に、その検出信号はアナログスイツチ２
７に入力される。またその一方、前記総粒数用検
出回路３３では、受光素子１７からの分岐出力を
比較器３４に入力して設定した基準光量値とそれ
ぞれ比較して、その比較信号はアナログスイツチ
回路３５に入力され、該スイツチ回路３５では前
記信号が入力される都度に、スイツチ信号を発し
て前記亀裂粒用検出回路２５のアナログスイツチ
２７および前記各検出回路４０，４１，４２のア
ナログスイツチ２７Ａ，２７Ｂ，２７Ｃをそれぞ
れ閉成し、よつて前記差動増幅器２６の出力信号
は積分回路２８に入力すると共に、該回路におい
て積分されて比較器２９に入力し、該比較器２９
では、設定した基準光量限界値と比較されて胴割
粒を検出すると共に、その検出信号により胴割粒
用カウンター３０において胴割粒数を算定され
る。また、その分岐出力を胴割比率用デジタル表
示器３７に送信し、また前記総粒数用検出回路３
３の比較器３４からの一致信号は総粒数用カウン
ター３６において米粒総数を算定すると共に、そ
の分岐出力を前記デジタル表示器３７に送信し、
該米粒総数と前記胴割粒数を比較してその胴割比
率を演算してデジタル表示器３７に表示する。ま
たその間、受光素子１８から未熟粒用検出回路４
０に入力した信号は積分回路４３で積分されて比
較器４４に送信され、該比較器４４では半透明な
未熟粒の明暗度の基準値と比較しその一致信号を
未熟粒用カウンター４５に入力して未熟粒数を表
示し、また被害粒用検出回路４１に入力した信号
は、比較器４９で不透明な部分のある被害粒の明
暗度の基準値と比較して一致信号を被害粒用カウ
ンター４８に入力して被害粒数を表示する。また
砕粒・脱粒用検出回路４２に入力した信号は、
比較器５０において整粒子以上に明るい砕粒・脱
粒の高明度の基準値と比較されてその出力を積
分回路５１で所定時間積分して比較器５２に入力
し、該比較器５２では設定器５６の前記基準値と
比較されて連続的な信号は脱粒用カウンター５
４に入力されて脱粒数を表示すると共に、短絡
的な信号は砕粒用カウンター５３に入力されて砕
粒数を表示することになる。
振動傾斜送穀樋９に流下した試料籾粒は、該傾斜
送穀樋９の振動作用によつて高位側に上送されて
排穀口１３から振動送穀樋３の条溝２に流入する
と共に、該送穀樋３の振動作用によつて前記条溝
２に縦走状に配列して流動しまた傾斜流穀樋５の
条溝４を急流状に流下走行して透光窓６をそれぞ
れ通過する。該透光窓６に位置する籾粒は、下部
の光源７から籾粒に投光した透過光線で照射され
た該籾粒像が光学レンズ１６を透して結ぶ実像の
籾粒両側部２１，２２の光量を前記各受光素子１
７，１８がそれぞれ受光してその検出信号を前述
の制御用電気回路に送信する。そして亀裂粒用検
出回路２５に流入した各受光素子１７，１８の信
号は、差動増幅器２６によつてその光量差を検出
すると共に、その検出信号はアナログスイツチ２
７に入力される。またその一方、前記総粒数用検
出回路３３では、受光素子１７からの分岐出力を
比較器３４に入力して設定した基準光量値とそれ
ぞれ比較して、その比較信号はアナログスイツチ
回路３５に入力され、該スイツチ回路３５では前
記信号が入力される都度に、スイツチ信号を発し
て前記亀裂粒用検出回路２５のアナログスイツチ
２７および前記各検出回路４０，４１，４２のア
ナログスイツチ２７Ａ，２７Ｂ，２７Ｃをそれぞ
れ閉成し、よつて前記差動増幅器２６の出力信号
は積分回路２８に入力すると共に、該回路におい
て積分されて比較器２９に入力し、該比較器２９
では、設定した基準光量限界値と比較されて胴割
粒を検出すると共に、その検出信号により胴割粒
用カウンター３０において胴割粒数を算定され
る。また、その分岐出力を胴割比率用デジタル表
示器３７に送信し、また前記総粒数用検出回路３
３の比較器３４からの一致信号は総粒数用カウン
ター３６において米粒総数を算定すると共に、そ
の分岐出力を前記デジタル表示器３７に送信し、
該米粒総数と前記胴割粒数を比較してその胴割比
率を演算してデジタル表示器３７に表示する。ま
たその間、受光素子１８から未熟粒用検出回路４
０に入力した信号は積分回路４３で積分されて比
較器４４に送信され、該比較器４４では半透明な
未熟粒の明暗度の基準値と比較しその一致信号を
未熟粒用カウンター４５に入力して未熟粒数を表
示し、また被害粒用検出回路４１に入力した信号
は、比較器４９で不透明な部分のある被害粒の明
暗度の基準値と比較して一致信号を被害粒用カウ
ンター４８に入力して被害粒数を表示する。また
砕粒・脱粒用検出回路４２に入力した信号は、
比較器５０において整粒子以上に明るい砕粒・脱
粒の高明度の基準値と比較されてその出力を積
分回路５１で所定時間積分して比較器５２に入力
し、該比較器５２では設定器５６の前記基準値と
比較されて連続的な信号は脱粒用カウンター５
４に入力されて脱粒数を表示すると共に、短絡
的な信号は砕粒用カウンター５３に入力されて砕
粒数を表示することになる。
以上に述べたように、本発明の胴割粒検出装置
によれば、亀裂粒用検出回路が各受光素子の受光
量の差の基準光量限界値を上下する変化状態から
籾粒の亀裂の有無の検出を行い、総粒数用検出回
路が籾粒の総数の検出を行なうので、表示器が亀
裂粒用検出回路の胴割粒数と総粒数用検出回路の
籾粒総数とを表示でき、従来の胴割米の目測計算
の算出に比べて繁雑な胴割粒の検出作業が自動化
となるので、胴割粒の検出作業の省力化を達成す
ることができ、しかも、実像影の明暗度から少な
くとも未熟粒、被害粒、砕粒及び脱粒のうちの
一つを検出して表示でき、品質管理の促進が行な
え、常に良質の精選穀粒の量産を図ることができ
る。
によれば、亀裂粒用検出回路が各受光素子の受光
量の差の基準光量限界値を上下する変化状態から
籾粒の亀裂の有無の検出を行い、総粒数用検出回
路が籾粒の総数の検出を行なうので、表示器が亀
裂粒用検出回路の胴割粒数と総粒数用検出回路の
籾粒総数とを表示でき、従来の胴割米の目測計算
の算出に比べて繁雑な胴割粒の検出作業が自動化
となるので、胴割粒の検出作業の省力化を達成す
ることができ、しかも、実像影の明暗度から少な
くとも未熟粒、被害粒、砕粒及び脱粒のうちの
一つを検出して表示でき、品質管理の促進が行な
え、常に良質の精選穀粒の量産を図ることができ
る。
図面は本発明の実施例図である。第１図は本装
置の側断面図、第２図はその条溝の平面図、第３
図は籾粒の明暗影の説明図、第４図はその制御用
電気回路図である。 １……箱形機枠、２……送穀用条溝、３……振
動送穀樋、４……流穀用条溝、５……傾斜流穀
樋、６……胴割粒検出用透光窓、７……光源、８
……受光装置、９……振動傾斜送穀樋、１０……
供給ホツパー、１１……案内壁、１２……穀粒流
入口、１３……排穀口、１４……オプテイカル・
フアイバ、１５……オプテイカル・フアイバ、１
６……光学レンズ、１７……受光素子、１８……
受光素子、１９……デジタル表示器、２０，２
０′，２０″，２０，２０′′′′……米粒、２１…
…側部、２２……側部、２３……増幅器、２４…
…増幅器、２５……検出回路、２６……差動増幅
器、２７，２７Ａ，２７Ｂ，２７Ｃ……アナロ
グ・スイツチ、２８……積分回路、２９……比較
器、３０……胴割粒用カウンター、３１……設定
器、３２……分岐路、３３……検出回路、３４…
…比較器、３５……アナログ・スイツチ回路、３
６……総粒数用カウンター、３７……デジタル表
示器、３８……設定器、３９……分岐路、４０…
…検出回路、４１……検出回路、４２……検出回
路、４３……積分回路、４４……比較器、４５…
…未熟粒用カウンター、４６……設定器、４７…
…比較器、４８……被害粒用カウンター、４９…
…設定器、５０……比較器、５１……積分回路、
５２……比較器、５３……砕粒用カウンター、５
４……脱粒用カウンター、５５……設定器、５
６……設定器、Ａ，Ｂ……視点位置、Ｒ……亀裂
面。
置の側断面図、第２図はその条溝の平面図、第３
図は籾粒の明暗影の説明図、第４図はその制御用
電気回路図である。 １……箱形機枠、２……送穀用条溝、３……振
動送穀樋、４……流穀用条溝、５……傾斜流穀
樋、６……胴割粒検出用透光窓、７……光源、８
……受光装置、９……振動傾斜送穀樋、１０……
供給ホツパー、１１……案内壁、１２……穀粒流
入口、１３……排穀口、１４……オプテイカル・
フアイバ、１５……オプテイカル・フアイバ、１
６……光学レンズ、１７……受光素子、１８……
受光素子、１９……デジタル表示器、２０，２
０′，２０″，２０，２０′′′′……米粒、２１…
…側部、２２……側部、２３……増幅器、２４…
…増幅器、２５……検出回路、２６……差動増幅
器、２７，２７Ａ，２７Ｂ，２７Ｃ……アナロ
グ・スイツチ、２８……積分回路、２９……比較
器、３０……胴割粒用カウンター、３１……設定
器、３２……分岐路、３３……検出回路、３４…
…比較器、３５……アナログ・スイツチ回路、３
６……総粒数用カウンター、３７……デジタル表
示器、３８……設定器、３９……分岐路、４０…
…検出回路、４１……検出回路、４２……検出回
路、４３……積分回路、４４……比較器、４５…
…未熟粒用カウンター、４６……設定器、４７…
…比較器、４８……被害粒用カウンター、４９…
…設定器、５０……比較器、５１……積分回路、
５２……比較器、５３……砕粒用カウンター、５
４……脱粒用カウンター、５５……設定器、５
６……設定器、Ａ，Ｂ……視点位置、Ｒ……亀裂
面。
Claims (1)
- １ 傾斜流穀樋に長手方向に沿つて流穀用条溝を
設けると共に、前記流穀用条溝の底に胴割粒検出
用透光窓を設け、前記傾斜流穀樋の下方に前記胴
割粒検出用透光窓に対応して光源を配設し、前記
傾斜流穀樋の上方に前記胴割粒検出用透光窓に対
応して一対の受光素子を有する受光装置を配設し
た胴割粒検出装置において、前記一対の受光素子
を各受光素子の受光量の差の基準光量限界値を上
下する変化状態から米粒亀裂の有無を検出する亀
裂粒用検出回路に連絡し、また、一つの受光素子
を総粒数用検出回路に連絡すると共に、実像影の
明暗度により少なくとも未熟粒、被害粒、砕粒及
び脱粒のうちの一つを検出する検出回路に連絡
し、前記各検出回路をそれぞれ表示器に連絡した
ことを特徴とする胴割粒検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7854881A JPS57192866A (en) | 1981-05-22 | 1981-05-22 | Cracked grain detector |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7854881A JPS57192866A (en) | 1981-05-22 | 1981-05-22 | Cracked grain detector |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57192866A JPS57192866A (en) | 1982-11-27 |
| JPH0136572B2 true JPH0136572B2 (ja) | 1989-08-01 |
Family
ID=13664964
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7854881A Granted JPS57192866A (en) | 1981-05-22 | 1981-05-22 | Cracked grain detector |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57192866A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59145951A (ja) * | 1983-02-08 | 1984-08-21 | Satake Eng Co Ltd | 穀粒の被害粒測定装置 |
| EP4035777A4 (en) * | 2019-09-27 | 2025-04-23 | Satake Corporation | Destemming device and destemming control system |
| JP7537119B2 (ja) * | 2019-09-27 | 2024-08-21 | 株式会社サタケ | 籾摺装置及び籾摺制御システム |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5614143A (en) * | 1979-07-14 | 1981-02-10 | Satake Eng Co Ltd | Detector for fissured rice |
-
1981
- 1981-05-22 JP JP7854881A patent/JPS57192866A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57192866A (en) | 1982-11-27 |
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