JPS5880557A - 米粒の胴割検出装置 - Google Patents
米粒の胴割検出装置Info
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- JPS5880557A JPS5880557A JP18010581A JP18010581A JPS5880557A JP S5880557 A JPS5880557 A JP S5880557A JP 18010581 A JP18010581 A JP 18010581A JP 18010581 A JP18010581 A JP 18010581A JP S5880557 A JPS5880557 A JP S5880557A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は米粒の側割検出装置の改良に関する。
従来、流穀樋を流動する白米・玄米または林木などの米
粒を流動樋に設けた透光窓を通して下方から投光し、米
粒のほぼ中央を横断する胴割向の前恢両1kll mに
ついて、米粒を透過し九透光蓋tそれぞれ検出する複数
個の受光センサーを設は九検出装置では、米粒の移動に
よって両側部の光量が連続的に変化して両側部の電位差
が不安定化(5、丸めに胴割粒の確認に正確度を欠ぐ欠
陥がめった。
粒を流動樋に設けた透光窓を通して下方から投光し、米
粒のほぼ中央を横断する胴割向の前恢両1kll mに
ついて、米粒を透過し九透光蓋tそれぞれ検出する複数
個の受光センサーを設は九検出装置では、米粒の移動に
よって両側部の光量が連続的に変化して両側部の電位差
が不安定化(5、丸めに胴割粒の確認に正確度を欠ぐ欠
陥がめった。
本発明の米粒の側割検出装置は、米粒両側部の電位差を
最も明確に検出できる所定位置に流動する米粒が到達し
た瞬間だけを捕えて、その両側部の瞬間電位差、すなわ
ち鮮明な透光量の差によって胴割粒を正確に検出するこ
とによ転電位差のない無胴割完全粒と電位差のある胴割
粒との慝別を量率、かつ確実に行うことを目的とする。
最も明確に検出できる所定位置に流動する米粒が到達し
た瞬間だけを捕えて、その両側部の瞬間電位差、すなわ
ち鮮明な透光量の差によって胴割粒を正確に検出するこ
とによ転電位差のない無胴割完全粒と電位差のある胴割
粒との慝別を量率、かつ確実に行うことを目的とする。
米粒の胴割血は、通常はぼ中央部付近に横断して発生す
るものであるから、前記胴割面に対しである角度から投
光すると、その透過光線は反射または偏向して胴割面の
ある米粒両側部に鮮明な光謳差を生ずることになる。し
苑がりて、米粒両一部の明af現破を捕えることにより
米粒の胴側の存在を知ることができると共に、明暗形の
生じない本の゛は無胴側冗全粒として簡単に識別するこ
とができる。
るものであるから、前記胴割面に対しである角度から投
光すると、その透過光線は反射または偏向して胴割面の
ある米粒両側部に鮮明な光謳差を生ずることになる。し
苑がりて、米粒両一部の明af現破を捕えることにより
米粒の胴側の存在を知ることができると共に、明暗形の
生じない本の゛は無胴側冗全粒として簡単に識別するこ
とができる。
ところで、従来の側割検出装置のように、…1記米粒が
透光窓面上を移動していると、その両側部の明暗形が連
続的に変化しその識別が極めて困難化すると共に、側割
検出に大きな誤差金主ずることになる。
透光窓面上を移動していると、その両側部の明暗形が連
続的に変化しその識別が極めて困難化すると共に、側割
検出に大きな誤差金主ずることになる。
本発明の米粒の側割検出装置は米粒両餓部のそれぞれの
透過光線を受光する1対の受光センサーと米粒位置の検
出用センサーとt−流穀樋の透光窓付近に設けて関連的
に、かつ電気的に連結することKより、その電位差を最
も明確に検出できる所定位置に、米粒が流動して到達し
た瞬間における米粒両側部のそれぞれの透光量を検出す
るようにし、以って米粒両側部の瞬間電位差によつてそ
の明暗形を極めて明確イビし、富に高精度の胴割粒の検
出を実施する鳥性能な装置を開発して提供せんとするも
のである。
透過光線を受光する1対の受光センサーと米粒位置の検
出用センサーとt−流穀樋の透光窓付近に設けて関連的
に、かつ電気的に連結することKより、その電位差を最
も明確に検出できる所定位置に、米粒が流動して到達し
た瞬間における米粒両側部のそれぞれの透光量を検出す
るようにし、以って米粒両側部の瞬間電位差によつてそ
の明暗形を極めて明確イビし、富に高精度の胴割粒の検
出を実施する鳥性能な装置を開発して提供せんとするも
のである。
本発明を実施例図について説明する。第1図ふ・よひ第
2図において、符号(1)は箱形機枠で、級機枠(1)
内部に縦走状に籾粒を流動する送穀用条111(2)を
設けた振動送穀樋(8)を横架状に設置し、その排出−
に籾粒を訛下する流穀用条溝(4)を設は九#l胴流穀
樋(5)を連設し、該流穀樋(5)の流穀用条隣(4)
にスリット状の胴割粒検出用透光窓(6)會設けると共
に、該透光窓(6)の上下位置に光源(7)と受光装置
(8)′4tはぼ対向状に配置すると共に、その近誘に
木粒が所定位#(ア)に到達したことを検出する米粒位
置の検出用光電装置(9)を配設し曲起透光窓(6)を
通過する米粒の所定位置(P)における瞬間の透過光線
によりて胴割粒を検出するように形成しである。
2図において、符号(1)は箱形機枠で、級機枠(1)
内部に縦走状に籾粒を流動する送穀用条111(2)を
設けた振動送穀樋(8)を横架状に設置し、その排出−
に籾粒を訛下する流穀用条溝(4)を設は九#l胴流穀
樋(5)を連設し、該流穀樋(5)の流穀用条隣(4)
にスリット状の胴割粒検出用透光窓(6)會設けると共
に、該透光窓(6)の上下位置に光源(7)と受光装置
(8)′4tはぼ対向状に配置すると共に、その近誘に
木粒が所定位#(ア)に到達したことを検出する米粒位
置の検出用光電装置(9)を配設し曲起透光窓(6)を
通過する米粒の所定位置(P)における瞬間の透過光線
によりて胴割粒を検出するように形成しである。
また、前記振動送穀樋(3)は、その側部に振動#l斜
送載樋(lO)を並列して横架状に配設し、該#4斜込
殺樋(10)はその低位側受入部に供給ホッパー(11
)倉設けると共に、該@面に籾粒を誘導する案内壁(1
2)を立設し、前記送穀用条溝(4)の初端部に設けf
C穀S*入口(13)と、前記傾斜送穀樋(tu)の高
位側の一側に設けた排穀口(14)を相互に連結して一
体的に形成しである。
送載樋(lO)を並列して横架状に配設し、該#4斜込
殺樋(10)はその低位側受入部に供給ホッパー(11
)倉設けると共に、該@面に籾粒を誘導する案内壁(1
2)を立設し、前記送穀用条溝(4)の初端部に設けf
C穀S*入口(13)と、前記傾斜送穀樋(tu)の高
位側の一側に設けた排穀口(14)を相互に連結して一
体的に形成しである。
また前記受光装置(8)は、2条のオプティカル・7ア
イハ(15) (16)の−側端をそれぞれ光学レンズ
(17) (1?)を介して前記透光窓(6)に臨設す
ると共に、その他側端に1対の受光用センサー(18)
(19)を設け、また各センサー(18) (19)
は導線によって制御回路(20)を介して機枠(1)上
部のデジタル表示器(21)に連結し、ま丸木粒位置の
検出用光電装置(9)は、前記透光窓(6)の近傍の所
定位置(P)において対向状に光源(22)と検出用セ
ンサー(都)ヲそれぞれ配設し、該センサー(28)は
導線によりて前記制御回路(加)に関連的に連結しであ
る。
イハ(15) (16)の−側端をそれぞれ光学レンズ
(17) (1?)を介して前記透光窓(6)に臨設す
ると共に、その他側端に1対の受光用センサー(18)
(19)を設け、また各センサー(18) (19)
は導線によって制御回路(20)を介して機枠(1)上
部のデジタル表示器(21)に連結し、ま丸木粒位置の
検出用光電装置(9)は、前記透光窓(6)の近傍の所
定位置(P)において対向状に光源(22)と検出用セ
ンサー(都)ヲそれぞれ配設し、該センサー(28)は
導線によりて前記制御回路(加)に関連的に連結しであ
る。
次に第4図の籾粒の明暗形について説明する。
本図は前記透光窓(6)上に位置して下方から照射され
た籾粒を示し、その各図(a) (b) (c)に)−
におい2−て中央の綾状点線(太1)は透光窓(6)の
スリット、橢円形の閉曲線(点線)は籾粒内の米粒(め
λまた米粒(24)中に記し九縦状点1s(細線)は亀
裂面(旬をそれぞれ表わす。また図(a)において、(
A)および(B)は前記各センサー(lδ) (19)
の各7アイバ(15) (16)が対向するそれぞれの
視点位置で、この視点位置において、前記光源(7)か
ら籾粒に投光した透過光−で照射され九該材粒像を光学
レンズ(17) (17>を透して結ぶ実像の籾粒両側
部(25)(26)の光電をそれぞれ受光した場合、各
センサー (18)(19)の受光量(明暗度)は共に
等しく、その光量差が基準光量限界値(電圧)内になる
ので、この米粒は亀裂面のない整粒子として識別される
。図(b)の米粒(24つはその亀裂面(菊が透光窓(
6)の左−に位置し、ために透光窓(6)から射入した
粒子Vo透過光線は前記亀裂面(R)で散乱してその粒
子左側部の光量は低下してその光量差が基準光量限界値
外となるので、この粒子は亀裂粒として識別される。図
(C)の米粒(24“)は上記米粒(24’)と反対の
明暗獣面を生じてその光量差が基準光量限界値外となる
ので、この粒子も亀裂粒子として識別される。
た籾粒を示し、その各図(a) (b) (c)に)−
におい2−て中央の綾状点線(太1)は透光窓(6)の
スリット、橢円形の閉曲線(点線)は籾粒内の米粒(め
λまた米粒(24)中に記し九縦状点1s(細線)は亀
裂面(旬をそれぞれ表わす。また図(a)において、(
A)および(B)は前記各センサー(lδ) (19)
の各7アイバ(15) (16)が対向するそれぞれの
視点位置で、この視点位置において、前記光源(7)か
ら籾粒に投光した透過光−で照射され九該材粒像を光学
レンズ(17) (17>を透して結ぶ実像の籾粒両側
部(25)(26)の光電をそれぞれ受光した場合、各
センサー (18)(19)の受光量(明暗度)は共に
等しく、その光量差が基準光量限界値(電圧)内になる
ので、この米粒は亀裂面のない整粒子として識別される
。図(b)の米粒(24つはその亀裂面(菊が透光窓(
6)の左−に位置し、ために透光窓(6)から射入した
粒子Vo透過光線は前記亀裂面(R)で散乱してその粒
子左側部の光量は低下してその光量差が基準光量限界値
外となるので、この粒子は亀裂粒として識別される。図
(C)の米粒(24“)は上記米粒(24’)と反対の
明暗獣面を生じてその光量差が基準光量限界値外となる
ので、この粒子も亀裂粒子として識別される。
次に、第5図の制御回路(20)について説明する。米
粒両側部のそれぞれの透過光線を受光する受光量* (
8)の1対の受光用センサー(18) (19)は、各
増幅器(27) (28)を介して亀装粒用検出回路(
2J)の差動増幅器(80)に連結され、その出力側は
アナログスイッチ(81) 、比較器(82)を介して
胴割粒用カウンター(88)に連結され、(84)は設
定器で、整粒子と胴割粒の光量差の基準光量限界値を設
定する。1+米粒位置の検出用充電装置(9)は、その
検出用センサー(28)が増幅器(オ)を介して総粒数
用検出回路(86)の比較器(87) 、アナログスイ
ッチ回路(8B)を介して総粒数用カウンター(89)
K連結され、なお、前記検出用センサー(2B)は、
流動する米粒が前記透光窓(6)を通過する際、前記米
粒の先端部が所定位置(P)に達すると、その中心部が
透光窓(6)の中心に一致するように形成しである。ま
た前記胴割粒用カウンター(88)と総粒数用カウンタ
ー(加)とは共に側割比率を表示するデジタル表示器(
2すに連結され、(40)は設定器で、所定位置(P)
に米粒の先端部が到達したことを確認するための基準光
量値を設定する。
粒両側部のそれぞれの透過光線を受光する受光量* (
8)の1対の受光用センサー(18) (19)は、各
増幅器(27) (28)を介して亀装粒用検出回路(
2J)の差動増幅器(80)に連結され、その出力側は
アナログスイッチ(81) 、比較器(82)を介して
胴割粒用カウンター(88)に連結され、(84)は設
定器で、整粒子と胴割粒の光量差の基準光量限界値を設
定する。1+米粒位置の検出用充電装置(9)は、その
検出用センサー(28)が増幅器(オ)を介して総粒数
用検出回路(86)の比較器(87) 、アナログスイ
ッチ回路(8B)を介して総粒数用カウンター(89)
K連結され、なお、前記検出用センサー(2B)は、
流動する米粒が前記透光窓(6)を通過する際、前記米
粒の先端部が所定位置(P)に達すると、その中心部が
透光窓(6)の中心に一致するように形成しである。ま
た前記胴割粒用カウンター(88)と総粒数用カウンタ
ー(加)とは共に側割比率を表示するデジタル表示器(
2すに連結され、(40)は設定器で、所定位置(P)
に米粒の先端部が到達したことを確認するための基準光
量値を設定する。
上述の構成であるから、供給ホッパー(11+から振動
傾斜送穀樋(1(+)に流下した試料米粒は、該111
1斜送穀橘(10)の振動作用によって高位側に上部さ
れて排穀口(14)から振動送穀樋(8)の条溝(2)
に流入すると共に、該送穀樋(8)の振動作用によって
前記条溝(2)に縦走状に配列して流動しまた#@流穀
情(5)の条溝(4)を急流状に流下走行して透光窓(
6)をそれぞれ通過するが、その際、任意の米粒の先端
部が所定位f (P)に到達すると、米粒位置の検出用
センサー(2B)がその透過光線を受光してその受光信
号を増幅器(ア)を介して比較器(所)に入力し、該比
較器(87)において設定した基準光量値と比較すると
共に、その比較信号をアナログスイッチ回路(88)に
入力し、該スイッチ回路(38)では、前記信号が入力
される都度スイッチ信号を発して′F!’ll Naア
ナログスイッ □チ(Jl) k閉成すると共
に、その信号を総粒数用カウンター(89) k介して
デジタル表示器(21)に−人力する。また一方、前記
透光窓(6)上部に設けた受光装置(8)の1対の受光
用センサー(18) (19)が受光した米粒両側部の
それぞれの受光信号を入力し九亀裂用検出回路(29)
の差動増幅器(8+J)は、その出力を前記アナログス
イッチ(81)が閉成し九瞬間に比較器(82Jに入力
し、該比較器(F!2)では、設定した基準光量限界値
と比較されて胴割粒を検出すると共に、その検出信号に
より胴割粒用カウンター(88)において胴割粒数を算
定してデジタル表示器(21)に入力し、該表示器(2
1)では、検出した米粒総数と胴割粒数を比較してその
側割比率を算定して表示することになる。
傾斜送穀樋(1(+)に流下した試料米粒は、該111
1斜送穀橘(10)の振動作用によって高位側に上部さ
れて排穀口(14)から振動送穀樋(8)の条溝(2)
に流入すると共に、該送穀樋(8)の振動作用によって
前記条溝(2)に縦走状に配列して流動しまた#@流穀
情(5)の条溝(4)を急流状に流下走行して透光窓(
6)をそれぞれ通過するが、その際、任意の米粒の先端
部が所定位f (P)に到達すると、米粒位置の検出用
センサー(2B)がその透過光線を受光してその受光信
号を増幅器(ア)を介して比較器(所)に入力し、該比
較器(87)において設定した基準光量値と比較すると
共に、その比較信号をアナログスイッチ回路(88)に
入力し、該スイッチ回路(38)では、前記信号が入力
される都度スイッチ信号を発して′F!’ll Naア
ナログスイッ □チ(Jl) k閉成すると共
に、その信号を総粒数用カウンター(89) k介して
デジタル表示器(21)に−人力する。また一方、前記
透光窓(6)上部に設けた受光装置(8)の1対の受光
用センサー(18) (19)が受光した米粒両側部の
それぞれの受光信号を入力し九亀裂用検出回路(29)
の差動増幅器(8+J)は、その出力を前記アナログス
イッチ(81)が閉成し九瞬間に比較器(82Jに入力
し、該比較器(F!2)では、設定した基準光量限界値
と比較されて胴割粒を検出すると共に、その検出信号に
より胴割粒用カウンター(88)において胴割粒数を算
定してデジタル表示器(21)に入力し、該表示器(2
1)では、検出した米粒総数と胴割粒数を比較してその
側割比率を算定して表示することになる。
このように本発明の米粒の側割検出装置は、流穀樋を流
動する米粒が該樋内に設けた透光窓近傍の所定位置に到
達し六瞬間における米粒内側部のそれぞれの透光量を検
出するように形成したので、前記米粒の中心部と透光窓
の中心が児全に一致し、しかも米粒両側部の瞬間電位差
、すなわち鮮明な透光量の差によって米粒両側部の明暗
形は極めて明確化し、常に高yn1度の胴割粒検出を実
施できると共に、正確な側割比率の算定によりて米粒の
品質管理を促進できる等の顕著な効果を奏するものであ
る。
動する米粒が該樋内に設けた透光窓近傍の所定位置に到
達し六瞬間における米粒内側部のそれぞれの透光量を検
出するように形成したので、前記米粒の中心部と透光窓
の中心が児全に一致し、しかも米粒両側部の瞬間電位差
、すなわち鮮明な透光量の差によって米粒両側部の明暗
形は極めて明確化し、常に高yn1度の胴割粒検出を実
施できると共に、正確な側割比率の算定によりて米粒の
品質管理を促進できる等の顕著な効果を奏するものであ
る。
図面は本発明の実施例図である。第1図は本鋏筐の側断
面図、第2図はfi穀樋の平面図、第8図はML牧樋資
部の拡大断N図、第4図は米粒の明暗形の説明図、第6
図はその制御回路図である。 l・・・箱形機枠 2・・・送穀用条溝3・・
・振動送穀樋 4・・・流穀用条溝5・・・傾斜
流穀樋 6・・・胴割粒検出用透光窓7・・・光
源 8・・・受光装置9・・・位置検出用
光電装置10・・・振動傾斜送穀樋11・・・ホッパー
12・・・案内壁 18・・・載粒流人口 14・・・排穀口15.
16・・・オフ−ティカル・ファイバ 17・・・光学
レンズ18.19・・・受光用センサー 2o・・・制
御回路21・・表示器 22・・・光 源28
・・・検出用センサー 24.24424”・・・米
粒25.26・・・籾粒両側部 27.28・・・
増幅器29・・・龜裂粒用検出回路 8o・・・差動増
幅器81・・・アナログスイッチ 82・・・比較器8
8・・・胴割粒用カウンター 84・・・設定器86・
・・増幅器 86・・・総粒数用検出回路8
7・・・比較器 88・・・アナログスイ
ッチ回路89・・・総粒数用カウンター 40・・・設
定器A、B・・・視点位置 P・・・所定位置R
・・・亀裂面 特許出願人 第1図 第2図 14図 第58 (28>
面図、第2図はfi穀樋の平面図、第8図はML牧樋資
部の拡大断N図、第4図は米粒の明暗形の説明図、第6
図はその制御回路図である。 l・・・箱形機枠 2・・・送穀用条溝3・・
・振動送穀樋 4・・・流穀用条溝5・・・傾斜
流穀樋 6・・・胴割粒検出用透光窓7・・・光
源 8・・・受光装置9・・・位置検出用
光電装置10・・・振動傾斜送穀樋11・・・ホッパー
12・・・案内壁 18・・・載粒流人口 14・・・排穀口15.
16・・・オフ−ティカル・ファイバ 17・・・光学
レンズ18.19・・・受光用センサー 2o・・・制
御回路21・・表示器 22・・・光 源28
・・・検出用センサー 24.24424”・・・米
粒25.26・・・籾粒両側部 27.28・・・
増幅器29・・・龜裂粒用検出回路 8o・・・差動増
幅器81・・・アナログスイッチ 82・・・比較器8
8・・・胴割粒用カウンター 84・・・設定器86・
・・増幅器 86・・・総粒数用検出回路8
7・・・比較器 88・・・アナログスイ
ッチ回路89・・・総粒数用カウンター 40・・・設
定器A、B・・・視点位置 P・・・所定位置R
・・・亀裂面 特許出願人 第1図 第2図 14図 第58 (28>
Claims (1)
- 流穀樋に米粒を流動して樋内に設けた透光窓を通過する
ようにし、該透光窓を介して前記米粒の透過光線を受光
してその受光量の変化によりて胴割粒を検出する装置に
おいて、前記透光窓の近傍に設けた所定位置に前記米粒
が到達したことを検出する米粒位置の検出用センサーの
回路を設けると共に、前記米粒の前後両側部のそれぞれ
の透光量を検出する複数個の受光用センサーの回路を設
け、前記米粒が所定位置に到達した瞬間における米粒両
側部のそれぞれの透光量を検出するようにした仁とを特
徴とする米粒の側割検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18010581A JPS5880557A (ja) | 1981-11-09 | 1981-11-09 | 米粒の胴割検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18010581A JPS5880557A (ja) | 1981-11-09 | 1981-11-09 | 米粒の胴割検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5880557A true JPS5880557A (ja) | 1983-05-14 |
Family
ID=16077507
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18010581A Pending JPS5880557A (ja) | 1981-11-09 | 1981-11-09 | 米粒の胴割検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5880557A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58109850A (ja) * | 1981-12-24 | 1983-06-30 | Satake Eng Co Ltd | 米粒の胴割粒検出装置 |
-
1981
- 1981-11-09 JP JP18010581A patent/JPS5880557A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58109850A (ja) * | 1981-12-24 | 1983-06-30 | Satake Eng Co Ltd | 米粒の胴割粒検出装置 |
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