JPH0228814B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0228814B2 JPH0228814B2 JP56024546A JP2454681A JPH0228814B2 JP H0228814 B2 JPH0228814 B2 JP H0228814B2 JP 56024546 A JP56024546 A JP 56024546A JP 2454681 A JP2454681 A JP 2454681A JP H0228814 B2 JPH0228814 B2 JP H0228814B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- crack
- rice
- grains
- counter circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/02—Food
- G01N33/10—Starch-containing substances, e.g. dough
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、胴割れ粒検出装置の改良に関する。
従来の技術
近時の稲作作業の機械化に伴い、収獲後の籾乾
燥にも能率的で天候に左右されない乾燥機が用い
られる。熱風による機械乾燥は一定条件でしかも
能率良く作業できるが、籾の温度・乾減率が高く
なるとしばしば胴割粒（亀裂粒子）を生じ、また
前記胴割粒は急激な吸湿作用によつても発生す
る。
燥にも能率的で天候に左右されない乾燥機が用い
られる。熱風による機械乾燥は一定条件でしかも
能率良く作業できるが、籾の温度・乾減率が高く
なるとしばしば胴割粒（亀裂粒子）を生じ、また
前記胴割粒は急激な吸湿作用によつても発生す
る。
また、欠陥を検出すべき錠剤を検査位置を経て
搬送する機構と、検査位置にある錠剤の像を形成
する光学系と、この錠剤の像を撮像し、これを錠
剤の移動方向に対して直角な方向に走査する
CCDリニアアレイとを見えた錠剤欠陥の自動検
出装置が特開昭55−129731号として提案されてい
る。
搬送する機構と、検査位置にある錠剤の像を形成
する光学系と、この錠剤の像を撮像し、これを錠
剤の移動方向に対して直角な方向に走査する
CCDリニアアレイとを見えた錠剤欠陥の自動検
出装置が特開昭55−129731号として提案されてい
る。
さらに、被検査球状体に必要な回転を与え、そ
の被検査球状面に投光部より光線を照射し、その
反射光を固体撮像アレー素子により電気信号に変
換し、この電気信号を判別処理回路に入力して被
検査球状体表面の欠陥を検査する球状体の外観検
査装置が特開昭55−149830号として提案されてい
る。
の被検査球状面に投光部より光線を照射し、その
反射光を固体撮像アレー素子により電気信号に変
換し、この電気信号を判別処理回路に入力して被
検査球状体表面の欠陥を検査する球状体の外観検
査装置が特開昭55−149830号として提案されてい
る。
発明が解決すべき課題
本発明は、特開昭55−129731号または特開昭55
−149830号に示された錠剤または球状体表面から
の反射光線によることなく、光源からスリツト状
透光窓を介して照射されて米粒内を透過する光線
が、胴割面において屈析散乱して該胴割面を境界
にしてその前後部分の光量が大幅に変化すること
を利用し、各米粒の透過光線の明暗影状態を精密
に検出して胴割粒数を計数すると共に、一部の受
光素子の出力信号によつて米粒総数を計数するよ
うにし、もつて胴割粒数及び米粒総数を確実に、
かつ自動的に計数し、さらに米粒総数に対する胴
割れ粒数の割合を表示する胴割れ粒検出装置を提
供せんとするものである。
−149830号に示された錠剤または球状体表面から
の反射光線によることなく、光源からスリツト状
透光窓を介して照射されて米粒内を透過する光線
が、胴割面において屈析散乱して該胴割面を境界
にしてその前後部分の光量が大幅に変化すること
を利用し、各米粒の透過光線の明暗影状態を精密
に検出して胴割粒数を計数すると共に、一部の受
光素子の出力信号によつて米粒総数を計数するよ
うにし、もつて胴割粒数及び米粒総数を確実に、
かつ自動的に計数し、さらに米粒総数に対する胴
割れ粒数の割合を表示する胴割れ粒検出装置を提
供せんとするものである。
課題を解決するための手段
本発明の胴割れ粒検出装置は、樋底部にスリツ
ト状透光窓を設けた送米樋を横または緩傾斜状に
装架し、前記透光窓の上下位置に光源と受光装置
をほぼ対向状に配置して前記透光窓を通過する米
粒の透過光線によつて亀裂粒子を検出する装置に
おいて、前記受光装置に複数個の受光素子を集束
状に配設すると共に、該受光装置と前記透光窓の
間に前記米粒の透過光線を拡大して各受光素子に
射入する光学レンズを設け、前記各受光素子を亀
裂粒子用カウンタ回路に連絡すると共に、一部の
受光素子を粒数用カウンタ回路に連結し、前記亀
裂粒子用カウンタ回路と粒数用カウンタ回路とを
胴割れ粒数を粒数で除算して表示する胴割率用表
示器に連絡したことを特徴とする構成を有する。
ト状透光窓を設けた送米樋を横または緩傾斜状に
装架し、前記透光窓の上下位置に光源と受光装置
をほぼ対向状に配置して前記透光窓を通過する米
粒の透過光線によつて亀裂粒子を検出する装置に
おいて、前記受光装置に複数個の受光素子を集束
状に配設すると共に、該受光装置と前記透光窓の
間に前記米粒の透過光線を拡大して各受光素子に
射入する光学レンズを設け、前記各受光素子を亀
裂粒子用カウンタ回路に連絡すると共に、一部の
受光素子を粒数用カウンタ回路に連結し、前記亀
裂粒子用カウンタ回路と粒数用カウンタ回路とを
胴割れ粒数を粒数で除算して表示する胴割率用表
示器に連絡したことを特徴とする構成を有する。
実施例
本発明を実施例図について説明する。図中、符
号１は箱形機枠で、該機枠１内に振動装置２を備
えた送米樋３を横または緩傾斜状に装架し、その
樋内の受入部４の上部に供給ホツパー５を装架す
ると共に、排出側の樋端を機枠側壁の開口部６か
ら外部に突出し、送米樋３の樋底部に設けたスリ
ツト状透光窓７の上下位置に光量検出装置の白熱
電球などからなる光源８と、フオトダイオードな
どの受光素子Ｓからなる受光装置９をほぼ対向状
に配置すると共に、受光装置９を機枠１上部の亀
裂粒子検出器１０に関連的に、かつ、電気的に連
結し、前記透光窓７のスリツトを通過する穀粒の
透過光線によつて亀裂粒子を検出するように形成
してある。そして、前記受光装置９には複数個の
受光素子Ｓを集束して配設すると共に、該受光装
置９と前記透光窓７との間に前記米粒の透過光線
を拡大て各受光素子Ｓ…に射入する一枚の光学レ
ンズ１１を設ける。
号１は箱形機枠で、該機枠１内に振動装置２を備
えた送米樋３を横または緩傾斜状に装架し、その
樋内の受入部４の上部に供給ホツパー５を装架す
ると共に、排出側の樋端を機枠側壁の開口部６か
ら外部に突出し、送米樋３の樋底部に設けたスリ
ツト状透光窓７の上下位置に光量検出装置の白熱
電球などからなる光源８と、フオトダイオードな
どの受光素子Ｓからなる受光装置９をほぼ対向状
に配置すると共に、受光装置９を機枠１上部の亀
裂粒子検出器１０に関連的に、かつ、電気的に連
結し、前記透光窓７のスリツトを通過する穀粒の
透過光線によつて亀裂粒子を検出するように形成
してある。そして、前記受光装置９には複数個の
受光素子Ｓを集束して配設すると共に、該受光装
置９と前記透光窓７との間に前記米粒の透過光線
を拡大て各受光素子Ｓ…に射入する一枚の光学レ
ンズ１１を設ける。
図中では、受光素子Ｓの５個を横一条列に配す
ると共に、該条列に縦３段に重ねて集束し、矩形
状にかつ一体的に形成してある。前記受光装置９
の受光素子Ｓの前面にはスクリーン１２を設け
る。
ると共に、該条列に縦３段に重ねて集束し、矩形
状にかつ一体的に形成してある。前記受光装置９
の受光素子Ｓの前面にはスクリーン１２を設け
る。
前記亀裂粒子検出器１０は亀裂粒子用カウンタ
回路１３と粒数用カウンタ回路１４と胴割れ専用
デジタル表示器２４からなり、その構成を第２図
の電気回路について説明する。亀裂粒子用カウン
タ回路１３は受光装置９に設けた集束状の各受光
素子S1，S2，S3…Soの出力側をそれぞれ増幅器１
６…を介して各比較器１７ａ，１７ｂ，１７ｃ…
１７ｎの入力側一端子に連結すると共に、入力側
の別端子を設定器１５に夫々連結し、また、前記
各比較器１７ａ，１７ｂ，１７ｃ…１７ｎの出力
側をCPU回路１８に連結する。該CPU回路１８
にはパターンゼネレータ１９を連結すると共に、
その出力側を出力制御回路２０、ワンシヨツト回
路２１、カウンター回路２２、亀裂粒用表示器２
３を介して胴割率用デジタル表示器２４に連結さ
れる。
回路１３と粒数用カウンタ回路１４と胴割れ専用
デジタル表示器２４からなり、その構成を第２図
の電気回路について説明する。亀裂粒子用カウン
タ回路１３は受光装置９に設けた集束状の各受光
素子S1，S2，S3…Soの出力側をそれぞれ増幅器１
６…を介して各比較器１７ａ，１７ｂ，１７ｃ…
１７ｎの入力側一端子に連結すると共に、入力側
の別端子を設定器１５に夫々連結し、また、前記
各比較器１７ａ，１７ｂ，１７ｃ…１７ｎの出力
側をCPU回路１８に連結する。該CPU回路１８
にはパターンゼネレータ１９を連結すると共に、
その出力側を出力制御回路２０、ワンシヨツト回
路２１、カウンター回路２２、亀裂粒用表示器２
３を介して胴割率用デジタル表示器２４に連結さ
れる。
次に、粒数用カウンタ回路１４は前記受光素子
S2に接続した増幅器１６の出力側の分岐回路２５
を比較器２６、ワンシヨツト回路２８に連結する
と共に、前記比較器２６には設定器２７を連結
し、また、前記ワンシヨツト回路２８の出力側を
分岐してその一方を前記出力制御回路２０に連結
すると共に、その他方をカウンタ２９、粒数用表
示器３０を介して前記デジタル表示器２４に連結
してある。
S2に接続した増幅器１６の出力側の分岐回路２５
を比較器２６、ワンシヨツト回路２８に連結する
と共に、前記比較器２６には設定器２７を連結
し、また、前記ワンシヨツト回路２８の出力側を
分岐してその一方を前記出力制御回路２０に連結
すると共に、その他方をカウンタ２９、粒数用表
示器３０を介して前記デジタル表示器２４に連結
してある。
上記の構成において、亀裂粒子用カウンタ回路
１３の各比較器１７ａ，１７ｂ，１７ｃ…１７ｎ
に設けたそれぞれの設定器１５…に試料穀粒（例
えば籾米）の中央透明部分の基準明暗度を設定
し、また、粒数用カウンタ回路１４側に設けた比
較器２６の設定器２７に受光面のバツクランドＥ
と粒子を識別する明暗度の所定電圧を設定する。
そして、供給ホツパー５に籾米を投入して該装置
を起動すると、供給ホツパー５から流下した籾米
は、振動装置２の振動作用によつて送米樋３内に
縦列状に配列してその樋底部に設けた透光窓７の
スリツト面をそれぞれ通過し、該透光窓７に位置
する籾米は、下部の光源８から前記スリツトを介
して斜上方向に照射されると共に、その粒子の透
過光線は光学レンズ１１によつて拡大されて上部
の受光装置９の受光面に射影される。この受光作
用を第３図について説明する。その例図ａにおい
て、籾米Ｐはその粒子の前端部Ｆを前方に矢印方
向に流動し、また、粒子中央部の縦状点線Ｑは樋
底部の前記透光窓７を示す。例図ｂにおいて、受
光装置９は15個の受光素子S1，S2，S3…S15を横
３列の矩形状に配置して一体的に形成され、また
前記籾米Ｐの整粒子の透過光線の影像はその向き
を左右反対に映写されると共に、図中、点線の閉
曲線Ｒのように光学レンズ１１によつて受光面一
杯に拡大される。そして、前記籾米Ｐはその前端
部Ｆが受光装置９の右側端中央の受光素子S2によ
つて検出されたとき、流動籾米は光量測定の定位
置に達するので、その検出信号を出力制御回路２
０に送つて制御信号（出力をON）を発すると共
に、粒数用カウンタ回路にも送つてその粒数が計
算される。また、例図ｃは籾米の整粒子を表示
し、図ｄはその透過光線の影像の明暗度（Ｈまた
はＬ）の分布図、また、例図ｅ，ｇは共に胴割粒
を表示し、図ｆ，ｈはその影像の明暗度（Ｈまた
はＬ）の分布図である。
１３の各比較器１７ａ，１７ｂ，１７ｃ…１７ｎ
に設けたそれぞれの設定器１５…に試料穀粒（例
えば籾米）の中央透明部分の基準明暗度を設定
し、また、粒数用カウンタ回路１４側に設けた比
較器２６の設定器２７に受光面のバツクランドＥ
と粒子を識別する明暗度の所定電圧を設定する。
そして、供給ホツパー５に籾米を投入して該装置
を起動すると、供給ホツパー５から流下した籾米
は、振動装置２の振動作用によつて送米樋３内に
縦列状に配列してその樋底部に設けた透光窓７の
スリツト面をそれぞれ通過し、該透光窓７に位置
する籾米は、下部の光源８から前記スリツトを介
して斜上方向に照射されると共に、その粒子の透
過光線は光学レンズ１１によつて拡大されて上部
の受光装置９の受光面に射影される。この受光作
用を第３図について説明する。その例図ａにおい
て、籾米Ｐはその粒子の前端部Ｆを前方に矢印方
向に流動し、また、粒子中央部の縦状点線Ｑは樋
底部の前記透光窓７を示す。例図ｂにおいて、受
光装置９は15個の受光素子S1，S2，S3…S15を横
３列の矩形状に配置して一体的に形成され、また
前記籾米Ｐの整粒子の透過光線の影像はその向き
を左右反対に映写されると共に、図中、点線の閉
曲線Ｒのように光学レンズ１１によつて受光面一
杯に拡大される。そして、前記籾米Ｐはその前端
部Ｆが受光装置９の右側端中央の受光素子S2によ
つて検出されたとき、流動籾米は光量測定の定位
置に達するので、その検出信号を出力制御回路２
０に送つて制御信号（出力をON）を発すると共
に、粒数用カウンタ回路にも送つてその粒数が計
算される。また、例図ｃは籾米の整粒子を表示
し、図ｄはその透過光線の影像の明暗度（Ｈまた
はＬ）の分布図、また、例図ｅ，ｇは共に胴割粒
を表示し、図ｆ，ｈはその影像の明暗度（Ｈまた
はＬ）の分布図である。
そして、前記胴割粒ｅ，ｇに対する入射光は、
前記透光窓７のスリツトから斜上方向に粒子内に
射入すると共に、その透過光線は前記胴割面Ａに
屈析または散乱して光線の透過を遮断し、粒子の
胴割面Ａの前後両部において、前記透過光線の光
量は大幅にそれぞれ変化し、その光量を受光する
受光装置９の各受光素子Ｓ…の受光面ではその明
度Ｈの部分だけが鮮明に受光されるから、その影
像形態によつて胴割粒をそれぞれ選定することが
できる。そこで、前記籾米の整粒子の影像パター
ンｄと各胴割粒の各影像パターンｆ、ｈを亀裂粒
子用カウンタ回路１３のパターンゼネレーター１
９にそれぞれ記憶させると共に、該ゼネレーター
１９が接続するCPU回路１８において、前記各
受光素子からの検出信号と前記ゼネレーター１９
の各影像パターンｄ，ｆ，ｈの信号とを対比して
選定すると共に、前記胴割粒の影像パターンｆ，
ｈに一致する一致信号は出力制御回路２０の制御
信号（ON・OFF）を介してワンシヨツト回路２
１、カウンタ回路２２にそれぞれ送信されてその
粒数が計算されると共に、亀裂粒子用表示器２３
によつてその胴割粒数が表示される。また、粒数
用カウンタ回路１４では、特定位置に設けた前記
受光素子S2が流動する粒子の前端部Ｆを検出（明
暗度により）すると前述したようにその粒子は光
量測定の定位置に在るので、その検出信号は出力
制御回路２０の出力を制御して胴割粒の信号を流
してその粒数を算定すると共に、粒数用カウンタ
回路１４にも送信して穀粒総数を算出して粒数用
表示器３０に表示される。この穀粒総数と前記胴
割粒数は胴割率用デジタル表示器２４で胴割粒数
を穀粒総数で除してその胴割率がデジタル表示さ
れることになる。
前記透光窓７のスリツトから斜上方向に粒子内に
射入すると共に、その透過光線は前記胴割面Ａに
屈析または散乱して光線の透過を遮断し、粒子の
胴割面Ａの前後両部において、前記透過光線の光
量は大幅にそれぞれ変化し、その光量を受光する
受光装置９の各受光素子Ｓ…の受光面ではその明
度Ｈの部分だけが鮮明に受光されるから、その影
像形態によつて胴割粒をそれぞれ選定することが
できる。そこで、前記籾米の整粒子の影像パター
ンｄと各胴割粒の各影像パターンｆ、ｈを亀裂粒
子用カウンタ回路１３のパターンゼネレーター１
９にそれぞれ記憶させると共に、該ゼネレーター
１９が接続するCPU回路１８において、前記各
受光素子からの検出信号と前記ゼネレーター１９
の各影像パターンｄ，ｆ，ｈの信号とを対比して
選定すると共に、前記胴割粒の影像パターンｆ，
ｈに一致する一致信号は出力制御回路２０の制御
信号（ON・OFF）を介してワンシヨツト回路２
１、カウンタ回路２２にそれぞれ送信されてその
粒数が計算されると共に、亀裂粒子用表示器２３
によつてその胴割粒数が表示される。また、粒数
用カウンタ回路１４では、特定位置に設けた前記
受光素子S2が流動する粒子の前端部Ｆを検出（明
暗度により）すると前述したようにその粒子は光
量測定の定位置に在るので、その検出信号は出力
制御回路２０の出力を制御して胴割粒の信号を流
してその粒数を算定すると共に、粒数用カウンタ
回路１４にも送信して穀粒総数を算出して粒数用
表示器３０に表示される。この穀粒総数と前記胴
割粒数は胴割率用デジタル表示器２４で胴割粒数
を穀粒総数で除してその胴割率がデジタル表示さ
れることになる。
発明の効果
本発明の胴割れ粒検出装置は、送米樋のスリツ
ト状透光窓を通過する穀粒を光源で照射し、その
粒子内を透過する光線の粒子の胴割面の前後部分
で各部の光量がそれぞれ変化する光量変化に基づ
く明暗度の影像を光学レンズで拡大して複数個の
受光素子を集束した受光面で受光し、その影像パ
ターンの変化を利用することによつて胴割粒数を
計数し、併せて一部の受光素子の粒子検出信号に
よつて穀粒総数を計数するから、米粒内部に生じ
た亀裂も明確に検出することが可能で、胴割粒
（亀裂粒子）数と穀粒総数との計数作業の自動化
を完成すると共に、その作業の能率化を充分に達
成でき、さらに、胴割粒数と穀粒総数とから胴割
率を正確に、かつ迅速に算定して表示でき、ま
た、その検出機能を活用することにより、常に良
質の精選穀粒の量産を達成できる等の効果を奏す
るものである。
ト状透光窓を通過する穀粒を光源で照射し、その
粒子内を透過する光線の粒子の胴割面の前後部分
で各部の光量がそれぞれ変化する光量変化に基づ
く明暗度の影像を光学レンズで拡大して複数個の
受光素子を集束した受光面で受光し、その影像パ
ターンの変化を利用することによつて胴割粒数を
計数し、併せて一部の受光素子の粒子検出信号に
よつて穀粒総数を計数するから、米粒内部に生じ
た亀裂も明確に検出することが可能で、胴割粒
（亀裂粒子）数と穀粒総数との計数作業の自動化
を完成すると共に、その作業の能率化を充分に達
成でき、さらに、胴割粒数と穀粒総数とから胴割
率を正確に、かつ迅速に算定して表示でき、ま
た、その検出機能を活用することにより、常に良
質の精選穀粒の量産を達成できる等の効果を奏す
るものである。
図面は本発明の実施例図である。第１図は本装
置の側断面図、第２図はその亀裂粒子検出器の電
気回路、第３図は粒子と受光装置及び各影像パタ
ーンの説明図である。 １……機枠、２……振動装置、３……送米樋、
４……受入部、５……供給ホツパー、６……開口
部、７……透光窓、８……光源、９……受光装
置、１０……亀裂粒子検出器、１１……光学レン
ズ、１２……スクリーン、１３……亀裂粒子用カ
ウンタ回路、１４……粒数用カウンタ回路、１５
……設定器、１６……増幅器、１７……比較器、
１８……CPU回路、１９……パターンゼネレー
ター、２０……出力制御回路、２１……ワンシヨ
ツト回路、２２……カウンター回路、２３……亀
裂粒用表示器、２４……胴割率用デジタル表示
器、２５……分岐回路、２６……比較器、２７…
…設定器、２８……ワンシヨツト回路、２９……
カウンタ、３０……粒数用表示器、Ｓ……受光素
子。
置の側断面図、第２図はその亀裂粒子検出器の電
気回路、第３図は粒子と受光装置及び各影像パタ
ーンの説明図である。 １……機枠、２……振動装置、３……送米樋、
４……受入部、５……供給ホツパー、６……開口
部、７……透光窓、８……光源、９……受光装
置、１０……亀裂粒子検出器、１１……光学レン
ズ、１２……スクリーン、１３……亀裂粒子用カ
ウンタ回路、１４……粒数用カウンタ回路、１５
……設定器、１６……増幅器、１７……比較器、
１８……CPU回路、１９……パターンゼネレー
ター、２０……出力制御回路、２１……ワンシヨ
ツト回路、２２……カウンター回路、２３……亀
裂粒用表示器、２４……胴割率用デジタル表示
器、２５……分岐回路、２６……比較器、２７…
…設定器、２８……ワンシヨツト回路、２９……
カウンタ、３０……粒数用表示器、Ｓ……受光素
子。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 樋底部にスリツト状透光窓を設けた送米樋を
横または緩傾斜状に装架し、前記透光窓の上下位
置に光源と受光装置をほぼ対向状に配置して前記
透光窓を通過する米粒の透過光線によつて亀裂粒
子を検出する装置において、前記受光装置に複数
個の受光素子を集束状に配設すると共に、該受光
装置と前記透光窓の間に前記米粒の透過光線を拡
大して各受光素子に射入する光学レンズを設け、
前記各受光素子を亀裂粒子用カウンタ回路に連絡
すると共に、一部の受光素子を粒数用カウンタ回
路に連結し、前記亀裂粒子用カウンタ回路と粒数
用カウンタ回路とを胴割れ粒数を粒数で除算して
表示する胴割率用表示器に連絡したことを特徴と
する胴割れ粒検出装置。 ２ 前記受光装置が、その受光素子の前面にスク
リーンを設けたものである特許請求の範囲第１項
記載の胴割れ粒検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2454681A JPS57137857A (en) | 1981-02-20 | 1981-02-20 | Cracked grain detecting device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2454681A JPS57137857A (en) | 1981-02-20 | 1981-02-20 | Cracked grain detecting device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57137857A JPS57137857A (en) | 1982-08-25 |
| JPH0228814B2 true JPH0228814B2 (ja) | 1990-06-26 |
Family
ID=12141145
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2454681A Granted JPS57137857A (en) | 1981-02-20 | 1981-02-20 | Cracked grain detecting device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57137857A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS595940A (ja) * | 1982-07-01 | 1984-01-12 | Ketsuto Kagaku Kenkyusho:Kk | 粒状物の不良粒検出方法およびその装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55129731A (en) * | 1979-03-29 | 1980-10-07 | Kan Oteru | Automatic detector for deficient tablet |
| JPS55149830A (en) * | 1979-05-11 | 1980-11-21 | Nippon Seiko Kk | Inspection apparatus for appearance of spherical body |
-
1981
- 1981-02-20 JP JP2454681A patent/JPS57137857A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57137857A (en) | 1982-08-25 |
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