JPH0138484Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0138484Y2 JPH0138484Y2 JP5145782U JP5145782U JPH0138484Y2 JP H0138484 Y2 JPH0138484 Y2 JP H0138484Y2 JP 5145782 U JP5145782 U JP 5145782U JP 5145782 U JP5145782 U JP 5145782U JP H0138484 Y2 JPH0138484 Y2 JP H0138484Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measured
- axis
- shape
- rods
- coordinate measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 12
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Landscapes
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は三次元座標測定機を用いて被測定物
の同一円周上における形状を容易に連続して測定
する装置に係るものである。
の同一円周上における形状を容易に連続して測定
する装置に係るものである。
例えば第1図に示すような被測定物1の円筒部
2の中心Oから一定距離Rの円周上の形状を三次
元座標測定機を用いて測定する場合を例に説明す
る。
2の中心Oから一定距離Rの円周上の形状を三次
元座標測定機を用いて測定する場合を例に説明す
る。
従来かゝる同一円周上の形状を測定する場合に
は、三次元座標測定機のテーブル上に回転角度読
み用スケールを備えたロータリテーブルを設置
し、このロータリテーブルの回転中心にその中心
が一致するように被測定物を載置し、三次元座標
測定機のZ軸先端のプローブを測定すべき円周上
の一点に当接させてX軸およびY軸をクランプ、
Z軸のみフリーとし、次いでロータリテーブルを
回転させて所定角度毎におけるZ軸の変位量から
その形状を測定するという方法が考えられてい
る。
は、三次元座標測定機のテーブル上に回転角度読
み用スケールを備えたロータリテーブルを設置
し、このロータリテーブルの回転中心にその中心
が一致するように被測定物を載置し、三次元座標
測定機のZ軸先端のプローブを測定すべき円周上
の一点に当接させてX軸およびY軸をクランプ、
Z軸のみフリーとし、次いでロータリテーブルを
回転させて所定角度毎におけるZ軸の変位量から
その形状を測定するという方法が考えられてい
る。
しかし、この従来方法においてはロータリテー
ブルが高価であること、ロータリテーブルの回転
中心に被測定物の中心を一致させる作業が煩雑で
時間を要すること、被測定物をロータリテーブル
に載置するため被測定物の大きさには自ら制限が
あること等の欠点があつた。
ブルが高価であること、ロータリテーブルの回転
中心に被測定物の中心を一致させる作業が煩雑で
時間を要すること、被測定物をロータリテーブル
に載置するため被測定物の大きさには自ら制限が
あること等の欠点があつた。
また他の方法としてX・Y・Z各軸をフリーに
しておき、X・Yの表示値が予め求められた同一
円周上の各測定点のX・Y値と一致するようにプ
ローブを移動させ、各測定点におけるZ値から形
状を測定するという方法も考えられないではない
が、この方法は作業者がX・Yの表示値を見なが
ら各測定点にプローブを移動させて一致させなけ
ればならず、この作業が煩雑で測定に時間を要す
るという欠点があり、ましてや連続測定を行うこ
とは不可能であつた。
しておき、X・Yの表示値が予め求められた同一
円周上の各測定点のX・Y値と一致するようにプ
ローブを移動させ、各測定点におけるZ値から形
状を測定するという方法も考えられないではない
が、この方法は作業者がX・Yの表示値を見なが
ら各測定点にプローブを移動させて一致させなけ
ればならず、この作業が煩雑で測定に時間を要す
るという欠点があり、ましてや連続測定を行うこ
とは不可能であつた。
この考案はこれらの従来装置の欠点を解決して
三次元座標測定機によつて被測定物の同一円周上
の形状を容易に連続して測定する装置を提供する
ものである。
三次元座標測定機によつて被測定物の同一円周上
の形状を容易に連続して測定する装置を提供する
ものである。
以下第2図ないし第4図により本考案の一実施
例を説明する。
例を説明する。
図において3は座標測定機のZ軸で、その下端
にはZ軸3の中心線を中心に回転可能なロータリ
プローブ4が保持されている。ロータリプローブ
4の先端には被測定物1の測定点に接触する球5
がその中心を前記Z軸の中心線と一致して保持さ
れている。なお図示の例においてはロータリプロ
ーブ4はコ字形状をなしているが、特にその形状
は限定されず、勿論ストレート形状でもよい。
にはZ軸3の中心線を中心に回転可能なロータリ
プローブ4が保持されている。ロータリプローブ
4の先端には被測定物1の測定点に接触する球5
がその中心を前記Z軸の中心線と一致して保持さ
れている。なお図示の例においてはロータリプロ
ーブ4はコ字形状をなしているが、特にその形状
は限定されず、勿論ストレート形状でもよい。
ロータリプローブ4の中間位置には水平アーム
6が固定されており、この水平アーム6にはロー
タリプローブ4を挟んで2本のロツド7および8
が調整可能に保持されている。
6が固定されており、この水平アーム6にはロー
タリプローブ4を挟んで2本のロツド7および8
が調整可能に保持されている。
すなわちロツド7および8は水平アーム6にそ
れぞれユニバーサルジヨイント9および10によ
つて保持されており、従つてロツド7および8の
突出量および角度・方向等を適宜に調整して固定
することができるようになつている。
れぞれユニバーサルジヨイント9および10によ
つて保持されており、従つてロツド7および8の
突出量および角度・方向等を適宜に調整して固定
することができるようになつている。
このような構成を有する本考案によつて被測定
物の同一円周上における形状を測定する作用につ
いて説明する。先ず三次元座標測定機のテーブル
上に被測定物1をセツトし、次いでロツド7およ
び8の突出量・角度・方向等を調整し、円筒部2
の中心OからZ軸3の軸心つまり接触球5の中心
までの寸法が測定すべき円周までの所望寸法Rと
なつたところで両ロツドを固定する。この場合両
ロツドの突出量・角度・方向等は同一である必要
はなく、例えば基準となる円筒部2が大径部およ
び小径部とを有するような被測定物の場合、一方
のロツドは大径部に、他方のロツドは小径部に接
触させて所望の寸法Rとなるように調整し固定し
てもよい。
物の同一円周上における形状を測定する作用につ
いて説明する。先ず三次元座標測定機のテーブル
上に被測定物1をセツトし、次いでロツド7およ
び8の突出量・角度・方向等を調整し、円筒部2
の中心OからZ軸3の軸心つまり接触球5の中心
までの寸法が測定すべき円周までの所望寸法Rと
なつたところで両ロツドを固定する。この場合両
ロツドの突出量・角度・方向等は同一である必要
はなく、例えば基準となる円筒部2が大径部およ
び小径部とを有するような被測定物の場合、一方
のロツドは大径部に、他方のロツドは小径部に接
触させて所望の寸法Rとなるように調整し固定し
てもよい。
このようにしてからロツド7および8の先端が
円筒部2に常に接触した状態でZ軸3を回動させ
ると、Z軸3は円筒部2の中心Oを中心に半径R
の円周上で回動したことになるからそのときの形
状に倣つて上下動するZ軸3の変位量を逐次読取
ることによつて同一円周上の形状を簡単に測定す
ることができる。
円筒部2に常に接触した状態でZ軸3を回動させ
ると、Z軸3は円筒部2の中心Oを中心に半径R
の円周上で回動したことになるからそのときの形
状に倣つて上下動するZ軸3の変位量を逐次読取
ることによつて同一円周上の形状を簡単に測定す
ることができる。
最近ではほとんどすべての三次元座標測定機に
コンピユータによるデーク処理システムが採用さ
れており、Z軸3を上記方法によつて同一円周上
に沿つて移動させたときのXY値から所定角度毎
のZ値を求めることによつて接触球5を各測定点
で停止させることなく連続して被測定物1の形状
を測定することができる。
コンピユータによるデーク処理システムが採用さ
れており、Z軸3を上記方法によつて同一円周上
に沿つて移動させたときのXY値から所定角度毎
のZ値を求めることによつて接触球5を各測定点
で停止させることなく連続して被測定物1の形状
を測定することができる。
上記実施例においては被測定物1に円筒部2が
ある場合に、その円筒部2にロツド7および8の
先端を接触させるようにしたが、被測定物によつ
ては円筒部2が突出していないもの、あるいは円
筒部がないもの等がある。この場合は第4図に示
すように適当な円筒治具11を被測定物上にセツ
トすることによつて上記実施例の場合と同様の測
定を行うことが可能である。
ある場合に、その円筒部2にロツド7および8の
先端を接触させるようにしたが、被測定物によつ
ては円筒部2が突出していないもの、あるいは円
筒部がないもの等がある。この場合は第4図に示
すように適当な円筒治具11を被測定物上にセツ
トすることによつて上記実施例の場合と同様の測
定を行うことが可能である。
また上記実施例においては測定するべき円周は
ロツドの先端が接触する円筒部より外側に位置し
ているが、勿論測定するべき円周が円筒部より内
側に位置しているような被測定物の場合において
も両ロツドを適宜調整することによつて容易にそ
の形状を測定することができる。
ロツドの先端が接触する円筒部より外側に位置し
ているが、勿論測定するべき円周が円筒部より内
側に位置しているような被測定物の場合において
も両ロツドを適宜調整することによつて容易にそ
の形状を測定することができる。
以上詳述したように本願考案によれば被測定物
の中心より同一円周上の形状を容易に確実に、し
かも連続して測定することが可能となり測定能率
を著しく向上させることができ実用的効果は大で
ある。
の中心より同一円周上の形状を容易に確実に、し
かも連続して測定することが可能となり測定能率
を著しく向上させることができ実用的効果は大で
ある。
第1図は被測定物の一例を示す平面図、第2図
は本考案の一実施例を示す斜視図、第3図は本考
案の一実施例平面図、第4図は補助円筒部を設け
た場合の説明図。 1…被測定物、2…円筒部、3…Z軸、4…ロ
ータリプローブ、7,8…ロツド、9,10…ユ
ニバーサルジヨイント。
は本考案の一実施例を示す斜視図、第3図は本考
案の一実施例平面図、第4図は補助円筒部を設け
た場合の説明図。 1…被測定物、2…円筒部、3…Z軸、4…ロ
ータリプローブ、7,8…ロツド、9,10…ユ
ニバーサルジヨイント。
Claims (1)
- 座標測定機のZ軸下端に前記Z軸の軸心を中心
に回転可能に保持したロータリプローブと、前記
ロータリプローブの先端に前記Z軸の軸心と同心
に固定された接触球と、その先端位置が基準円筒
部に接触するように前記ロータリプローブに調整
可能に保持された2本のロツドとからなることを
特徴とする座標測定機による形状測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5145782U JPS58154412U (ja) | 1982-04-09 | 1982-04-09 | 座標測定機による形状測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5145782U JPS58154412U (ja) | 1982-04-09 | 1982-04-09 | 座標測定機による形状測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58154412U JPS58154412U (ja) | 1983-10-15 |
| JPH0138484Y2 true JPH0138484Y2 (ja) | 1989-11-17 |
Family
ID=30062171
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5145782U Granted JPS58154412U (ja) | 1982-04-09 | 1982-04-09 | 座標測定機による形状測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58154412U (ja) |
-
1982
- 1982-04-09 JP JP5145782U patent/JPS58154412U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58154412U (ja) | 1983-10-15 |
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