JPH01409A - フレーム形状測定装置 - Google Patents
フレーム形状測定装置Info
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- JPH01409A JPH01409A JP63-123593A JP12359388A JPH01409A JP H01409 A JPH01409 A JP H01409A JP 12359388 A JP12359388 A JP 12359388A JP H01409 A JPH01409 A JP H01409A
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- JP
- Japan
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- frame
- lens frame
- sensor
- feeler
- holding
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はメガネフレームのレンズ枠、またはレンズ枠形
状から倣い加工された型板の形状をデジタル測定する装
置、特に、未加工眼鏡レンズをレンズ枠または型板の形
状に係る情報によって研削加工する玉摺機と併用するに
適した装置に関する。
状から倣い加工された型板の形状をデジタル測定する装
置、特に、未加工眼鏡レンズをレンズ枠または型板の形
状に係る情報によって研削加工する玉摺機と併用するに
適した装置に関する。
従来、メガネフレームのレンズ枠または型板を固定し、
この形状を測定する装置は知られていない。本発明者は
、玉摺機の開発と並行して、これに適したレンズ枠また
は型板の測定装置の開発を行い、本発明をなすに至った
。
この形状を測定する装置は知られていない。本発明者は
、玉摺機の開発と並行して、これに適したレンズ枠また
は型板の測定装置の開発を行い、本発明をなすに至った
。
本発明は被測定レンズ枠を有するメガネフレームを保持
するフレーム保持手段と、前記レンズ枠のヤゲン溝に当
接するフィーラーと、前記フィーラーの三次元的の移動
量を検出する検出手段とから構成されたことを特徴とす
るフレーム形状測定装置。
するフレーム保持手段と、前記レンズ枠のヤゲン溝に当
接するフィーラーと、前記フィーラーの三次元的の移動
量を検出する検出手段とから構成されたことを特徴とす
るフレーム形状測定装置。
以下本発明の実施例を図をもとに説明する。第1図は本
発明に係るレンズ枠形状測定装置を示す斜視図である。
発明に係るレンズ枠形状測定装置を示す斜視図である。
本装置は、大きく3つのお分、すなわち、フレームを保
持するフレーム保持装置部100と、このフレーム保持
、置部100を支持するとともに、この保持装置部の測
定面内への移送及びその測定面内での移動を司る支持装
置部200と、メガネフレームのレンズ枠または型板の
形状をデジタル計測する計測部300とかみ構成されて
いる。
持するフレーム保持装置部100と、このフレーム保持
、置部100を支持するとともに、この保持装置部の測
定面内への移送及びその測定面内での移動を司る支持装
置部200と、メガネフレームのレンズ枠または型板の
形状をデジタル計測する計測部300とかみ構成されて
いる。
支持装置部200は筐体201上に縦方向(測定座標系
のX軸方向)に平行に設置されたガイドレール202a
、202bを有し、このガイドレール上に移動ステージ
203が摺動自在に載置されている。移動ステージ20
3の下面には雌ネジ部204が形成されており、この雌
ネジ部204にはX軸用送りネジ205が螺合されてい
る。このX軸送りネジ205はパルスモータからなるX
軸モータ206により回動される。
のX軸方向)に平行に設置されたガイドレール202a
、202bを有し、このガイドレール上に移動ステージ
203が摺動自在に載置されている。移動ステージ20
3の下面には雌ネジ部204が形成されており、この雌
ネジ部204にはX軸用送りネジ205が螺合されてい
る。このX軸送りネジ205はパルスモータからなるX
軸モータ206により回動される。
移動ステージ203の両側フランジ20 ? a。
207b間には測定種糸のY軸方向と平行にガイド軸2
08が渡されており、このガイド軸208はフランジ2
07aに取付けられたガイド軸モータ209により回転
できるよう構成されている。
08が渡されており、このガイド軸208はフランジ2
07aに取付けられたガイド軸モータ209により回転
できるよう構成されている。
ガイド軸208は、その軸と平行に外面に一条のガイド
溝210が形成されている。
溝210が形成されている。
ガイド軸208にはハンド211.212が摺動可能に
支持されている。このハンド211゜212の軸穴21
3.214にはそれぞれ突起部213a、214aが形
成されており、この突起部213a、214aが前述の
ガイド軸208のガイド溝210内に係合へれ、ハンド
211゜212のガイド軸208の回りの回転を阻止し
ている。
支持されている。このハンド211゜212の軸穴21
3.214にはそれぞれ突起部213a、214aが形
成されており、この突起部213a、214aが前述の
ガイド軸208のガイド溝210内に係合へれ、ハンド
211゜212のガイド軸208の回りの回転を阻止し
ている。
ハンド211は互いに交わる二つの斜面215゜216
を持ち、他方ハンド212も同様に互に交わる二つの斜
面217,218を有している。/’%ンド212の側
斜面217,218が作る稜線220はハンド211の
斜面215.216の作る稜線219と平行でかつ同一
平面内に位置するように、また、斜面217.218の
なす角度と斜面215,216のなす角度は相等しいよ
うに構成されている。そして両ハンド211,212の
間には第5図(B)に示すようにバネ230が掛は渡さ
れている。
を持ち、他方ハンド212も同様に互に交わる二つの斜
面217,218を有している。/’%ンド212の側
斜面217,218が作る稜線220はハンド211の
斜面215.216の作る稜線219と平行でかつ同一
平面内に位置するように、また、斜面217.218の
なす角度と斜面215,216のなす角度は相等しいよ
うに構成されている。そして両ハンド211,212の
間には第5図(B)に示すようにバネ230が掛は渡さ
れている。
移動ステージ203の後側フランジ221の一端にはブ
ーIJ −222が回動自在に軸支され、後側フランジ
221の他端にはブーIJ −223を有するY軸上−
ター224が取付けられている。プーリー223,22
4にはスプリング225を介在させたミニチアベルト2
26が掛は渡されており、ミニチアベルト226の両端
はハンド211の上面に植設されたピン227に固着さ
れている。
ーIJ −222が回動自在に軸支され、後側フランジ
221の他端にはブーIJ −223を有するY軸上−
ター224が取付けられている。プーリー223,22
4にはスプリング225を介在させたミニチアベルト2
26が掛は渡されており、ミニチアベルト226の両端
はハンド211の上面に植設されたピン227に固着さ
れている。
他方、ハンド212の上面には、鍔228が形成されて
おり、この鍔228はハンド212の移動により移動ス
テージ203の後側フランジ221に植設されたピン2
29の側面に当接するように構成されている。
おり、この鍔228はハンド212の移動により移動ス
テージ203の後側フランジ221に植設されたピン2
29の側面に当接するように構成されている。
計測部300は、筐体201の下面に取付けられたセン
サーアーム回転モータ301と筐体201の上面に回動
自在に軸支されたセンサーアーム部302から成る。モ
ータ301の回転軸に取付けられたブーIJ −303
とセンサーアーム部の回転軸304との間にはベルト3
05が掛は渡されており、これによりモータ301の回
転がセンサーアームに伝達される。
サーアーム回転モータ301と筐体201の上面に回動
自在に軸支されたセンサーアーム部302から成る。モ
ータ301の回転軸に取付けられたブーIJ −303
とセンサーアーム部の回転軸304との間にはベルト3
05が掛は渡されており、これによりモータ301の回
転がセンサーアームに伝達される。
センサーアーム部302はそのベース310117)上
方に渡された2本のレール311,311を有し、この
レール311,311上にセンサーヘッド部312が摺
動可能に取付けられている。センサーヘッド部312の
一側面には磁気スケール読み取りへラド313が取付け
られ、これによりベース310にレール311と平行に
取付けられた磁気スケール314を読み取り、センサー
ヘッド部312の移動量を検出するように構成されてい
る。また、センサーヘッド部312の他側には、このヘ
ッド部312を常時アーム端側面へ引っばるバネ装置3
15のぜんまいバネ316の一端が固着されている。
方に渡された2本のレール311,311を有し、この
レール311,311上にセンサーヘッド部312が摺
動可能に取付けられている。センサーヘッド部312の
一側面には磁気スケール読み取りへラド313が取付け
られ、これによりベース310にレール311と平行に
取付けられた磁気スケール314を読み取り、センサー
ヘッド部312の移動量を検出するように構成されてい
る。また、センサーヘッド部312の他側には、このヘ
ッド部312を常時アーム端側面へ引っばるバネ装置3
15のぜんまいバネ316の一端が固着されている。
第4図は、このバネ装置315の構成を示している。セ
ンサーアーム部302のベース310に取り付けられた
ケーシング317内には電磁マグネット318が設けら
れ、スライド軸319がマグネット318の軸穴内にそ
の軸線方向に摺動可能に嵌挿されている。このスライド
軸319は、鍔320,321を有し、鍔320とケー
シング317の壁間にはバネ323が介在し、バネ32
3によりスライド軸319は常時は第4図の左方に移動
させられている。
ンサーアーム部302のベース310に取り付けられた
ケーシング317内には電磁マグネット318が設けら
れ、スライド軸319がマグネット318の軸穴内にそ
の軸線方向に摺動可能に嵌挿されている。このスライド
軸319は、鍔320,321を有し、鍔320とケー
シング317の壁間にはバネ323が介在し、バネ32
3によりスライド軸319は常時は第4図の左方に移動
させられている。
スライド軸319の壁部には、クラッチ板324.32
5が回動可能に軸支され、一方のクラッチ板324には
ぜんまいバネ316の一端が固着されている。また両ク
ラッチ板324.325間にはスライド軸319を嵌挿
されたバネ326が介在し、常時これらクラッチ板32
4,325の間隔を広げ、ぜんまいバネ316とクラッ
チ板325との接触を妨げている。さらに、スライド軸
319の端部にはワッシャー327が取付けられている
。
5が回動可能に軸支され、一方のクラッチ板324には
ぜんまいバネ316の一端が固着されている。また両ク
ラッチ板324.325間にはスライド軸319を嵌挿
されたバネ326が介在し、常時これらクラッチ板32
4,325の間隔を広げ、ぜんまいバネ316とクラッ
チ板325との接触を妨げている。さらに、スライド軸
319の端部にはワッシャー327が取付けられている
。
第6図はセンサーヘッド部312の構成を示し、レール
311に支持されたスライダー350には鉛直方向に軸
穴351が形成されており、この軸穴351にセンサー
軸352が挿入されている。
311に支持されたスライダー350には鉛直方向に軸
穴351が形成されており、この軸穴351にセンサー
軸352が挿入されている。
センサー軸352と軸穴351との間にはセンサー軸3
52に保持されたボールベアリング353が介在し、こ
れによりセンサー軸352の鉛直軸線回りの回動及び鉛
直軸線方向の移動をスムーズにしている。
52に保持されたボールベアリング353が介在し、こ
れによりセンサー軸352の鉛直軸線回りの回動及び鉛
直軸線方向の移動をスムーズにしている。
センサー軸352の上部には断面が半月状の切欠きを有
し、この切欠き面354は眼鏡フレームのレンズ枠形状
から倣い加工された型板の形状を計測するときにその型
板側面と当接する型板フイーラー構成する。また、セン
サー軸352の中央にはアーム355が取付けられてお
り、このアーム355の上部にはレンズ枠のヤゲン溝と
当接されるソロパン玉形状のヤゲンフイーラ−356が
回動可能に軸支されている。そして上記切欠き面すなわ
ち型板当接面354およびヤゲンフイーラ−356の円
周点の両方は鉛直なセンサー軸352の中心線上に位置
するように構成される。
し、この切欠き面354は眼鏡フレームのレンズ枠形状
から倣い加工された型板の形状を計測するときにその型
板側面と当接する型板フイーラー構成する。また、セン
サー軸352の中央にはアーム355が取付けられてお
り、このアーム355の上部にはレンズ枠のヤゲン溝と
当接されるソロパン玉形状のヤゲンフイーラ−356が
回動可能に軸支されている。そして上記切欠き面すなわ
ち型板当接面354およびヤゲンフイーラ−356の円
周点の両方は鉛直なセンサー軸352の中心線上に位置
するように構成される。
スライダー350の下方には、センサー軸の鉛直軸方向
移動量すなわちZ軸方向の移動量を計測するための例え
ばマグネスケールからなるセンサー358の読み取りヘ
ッド359が取付けられている。一方センサー軸352
の下端にはセンサー358の磁気スケール360が取付
けられている。
移動量すなわちZ軸方向の移動量を計測するための例え
ばマグネスケールからなるセンサー358の読み取りヘ
ッド359が取付けられている。一方センサー軸352
の下端にはセンサー358の磁気スケール360が取付
けられている。
次にフレーム保持装置部100の構成を第2図(^)及
び第3図をもとに説明する。固定ベース150の辺15
1a、151aを有する両側フランジ151.151の
中央にはフレーム保持棒152.152がネジ止めされ
ている。この固定ベース150の底板150aとフラン
ジ151の間には辺153a、153aを有する可動ベ
ース153が挿入されており、可動ベース153は固定
ベース150の底板150aに取付けられた2枚の板バ
ネ154.154によって支持されている。
び第3図をもとに説明する。固定ベース150の辺15
1a、151aを有する両側フランジ151.151の
中央にはフレーム保持棒152.152がネジ止めされ
ている。この固定ベース150の底板150aとフラン
ジ151の間には辺153a、153aを有する可動ベ
ース153が挿入されており、可動ベース153は固定
ベース150の底板150aに取付けられた2枚の板バ
ネ154.154によって支持されている。
可動ベース153には2本の平行なガイド溝155.1
55が形成され、このガイド溝155゜155にスライ
ダー156.156の突脚156a、156aが係合さ
れて、スライダー156.156−が可動ベース153
上に摺動可能に載置されている。
55が形成され、このガイド溝155゜155にスライ
ダー156.156の突脚156a、156aが係合さ
れて、スライダー156.156−が可動ベース153
上に摺動可能に載置されている。
一方、可動ベース153の中央には円形開口157が形
成され、その内周にはリング158が回動自在に嵌込ま
れている。このリング158の上面には2本のピン15
9,159が植設され、このピン159,159のそれ
ぞれはスライダー156.156の段付部156b、1
56bに形成されたスロッ)156cに挿入されている
。
成され、その内周にはリング158が回動自在に嵌込ま
れている。このリング158の上面には2本のピン15
9,159が植設され、このピン159,159のそれ
ぞれはスライダー156.156の段付部156b、1
56bに形成されたスロッ)156cに挿入されている
。
さらに、スライダー156,156の中央には綾状の切
欠部156d、156d形成されており、切欠部156
d、156d内に前述のフレーム保持棒152,152
がそれぞれ挿入可能となっている。また、スライダー1
56.1−56の上面には、スライダー操作時に操作者
が指を挿入して操作しやすくするための穴部156e、
156eが形成されている。
欠部156d、156d形成されており、切欠部156
d、156d内に前述のフレーム保持棒152,152
がそれぞれ挿入可能となっている。また、スライダー1
56.1−56の上面には、スライダー操作時に操作者
が指を挿入して操作しやすくするための穴部156e、
156eが形成されている。
次に、第2図(B)、(C)及び第5図(A)、(B)
をもとに上述のフレーム形状計測装置の作用を説明する
。まず、第2図(B)に示すように、スライダー156
.156の穴部156c、156cに指を挿入しスライ
ダー156.i56の互いの間隔を十分開き、かつ下方
に押圧し、可動ベース153と一緒に、板バネ154.
154の弾発力に抗して保持棒152とスライダー15
6,156の段付部156b、156bとの間隔を十分
開ける。
をもとに上述のフレーム形状計測装置の作用を説明する
。まず、第2図(B)に示すように、スライダー156
.156の穴部156c、156cに指を挿入しスライ
ダー156.i56の互いの間隔を十分開き、かつ下方
に押圧し、可動ベース153と一緒に、板バネ154.
154の弾発力に抗して保持棒152とスライダー15
6,156の段付部156b、156bとの間隔を十分
開ける。
その後、この間隔内にメガネフレーム500の測定した
い方のレンズ枠501を挿入し、レンズ枠501の上側
リムと下側リムがスライダー156.156の内壁に当
接するようにスライダー156,156の間隔を狭める
。本実施例においては、スライダー156,156は上
述したようにリング158による連結構造を有している
ため、スライダー156,156の一方の移動量がその
まま他方のスライダーに等しい移動量を与える。
い方のレンズ枠501を挿入し、レンズ枠501の上側
リムと下側リムがスライダー156.156の内壁に当
接するようにスライダー156,156の間隔を狭める
。本実施例においては、スライダー156,156は上
述したようにリング158による連結構造を有している
ため、スライダー156,156の一方の移動量がその
まま他方のスライダーに等しい移動量を与える。
次に、レンズ枠501の上側リムの略中央が保持棒15
2の下方にくるようにフレームを滑り込ませた後、スラ
イダー156.156から操作者が手を離せば、可動ベ
ース153は板バネ154゜1540弾発力により上昇
し、レンズ枠501は役付部156b、156bと保持
棒152.152とにより挟持され、かつフレーム50
0がレンズ枠501の幾何学的略中心点とフレーム保持
袋置1000円形量口157の中心点157aとをほぼ
一致させるように保持される。
2の下方にくるようにフレームを滑り込ませた後、スラ
イダー156.156から操作者が手を離せば、可動ベ
ース153は板バネ154゜1540弾発力により上昇
し、レンズ枠501は役付部156b、156bと保持
棒152.152とにより挟持され、かつフレーム50
0がレンズ枠501の幾何学的略中心点とフレーム保持
袋置1000円形量口157の中心点157aとをほぼ
一致させるように保持される。
またこのときレンズ枠501のヤゲン溝の頂点501a
から固定ベース150のフランジ151の辺151aま
での距離dと可動ベース153の辺153aまでの距離
dは等しい値をとるように構成されている。
から固定ベース150のフランジ151の辺151aま
での距離dと可動ベース153の辺153aまでの距離
dは等しい値をとるように構成されている。
次に、このようにしてフレーム500を保持したフレー
ム保持装置部100を支持装置200の予め所定の間隔
に設定したハンド211,212間に挿入した後、Y軸
モータ224を所定角度回転させる。Y軸モータ224
の回転によりミニチアベルト226が駆動され、ハンド
211が左方に一定量だけ移動され、フレーム保持装置
部100及びハンド212も左方移動を誘起され、鍔2
28がピン229より外れる。
ム保持装置部100を支持装置200の予め所定の間隔
に設定したハンド211,212間に挿入した後、Y軸
モータ224を所定角度回転させる。Y軸モータ224
の回転によりミニチアベルト226が駆動され、ハンド
211が左方に一定量だけ移動され、フレーム保持装置
部100及びハンド212も左方移動を誘起され、鍔2
28がピン229より外れる。
同時に、フレーム保持装置部100は引張りバネ230
により両ハンド211,212で挟持される。このとき
、フレーム保持装置部100の固定ベース150のフラ
ンジ151の辺151a。
により両ハンド211,212で挟持される。このとき
、フレーム保持装置部100の固定ベース150のフラ
ンジ151の辺151a。
152aはそれぞれハンド211の斜面215とハンド
212の斜面217に当接され、また可動ベース153
の両辺153a、153aはそれぞれハンド211の斜
面216とハンド212の斜面218に当接される。
212の斜面217に当接され、また可動ベース153
の両辺153a、153aはそれぞれハンド211の斜
面216とハンド212の斜面218に当接される。
本実施例においては、上述したようにメガネ枠501の
ヤゲン溝の頂点501aから辺151aと辺153aそ
れぞれへの距離dは互いに等しいタメ、フレーム保持装
置100はハンド211゜212に挟持されると、レン
ズ枠501のヤゲン溝頂点501aが両ハンドの稜線2
19,220が作る基準面S上に自動的に位置される。
ヤゲン溝の頂点501aから辺151aと辺153aそ
れぞれへの距離dは互いに等しいタメ、フレーム保持装
置100はハンド211゜212に挟持されると、レン
ズ枠501のヤゲン溝頂点501aが両ハンドの稜線2
19,220が作る基準面S上に自動的に位置される。
次に、ガイド軸回転モータ209の所定角度の回転によ
りフレーム保持装置部100が第5図(A)の二点鎖線
で示す位置へ旋回し、この基準面Sは計測部300のヤ
ゲンフイーラ−356の初期位置と同一平面で停止する
。
りフレーム保持装置部100が第5図(A)の二点鎖線
で示す位置へ旋回し、この基準面Sは計測部300のヤ
ゲンフイーラ−356の初期位置と同一平面で停止する
。
次に、Y軸モータ224をさらに回転させフレーム保持
装置部100を保持したハンド211゜212をY軸方
向に一定量移動させ、フレーム保持装置部100の円形
開口中心点159aと計測部300の回転軸304中心
とを概略一致させる。
装置部100を保持したハンド211゜212をY軸方
向に一定量移動させ、フレーム保持装置部100の円形
開口中心点159aと計測部300の回転軸304中心
とを概略一致させる。
この時、移動の途中でヤゲンフイーラ−356はレンズ
枠501のヤゲン溝に当接する。
枠501のヤゲン溝に当接する。
ヤゲンフイーラ−356の初期位置は、第5図(A>、
(B)に図示するように、センサー軸352の下端に植
設されたピン352aがセンサーアーム部のベース31
0に取付けられたハンガー310aに当接することによ
り、その方向が規制されている。これにより、Y軸モー
タ224の回転によってメガネフレーム500が移動す
ると、常にツイータ−356はヤゲン溝に人いることが
できる。
(B)に図示するように、センサー軸352の下端に植
設されたピン352aがセンサーアーム部のベース31
0に取付けられたハンガー310aに当接することによ
り、その方向が規制されている。これにより、Y軸モー
タ224の回転によってメガネフレーム500が移動す
ると、常にツイータ−356はヤゲン溝に人いることが
できる。
続いて、モータ301を予め定めた単位回転パルス数毎
に回転させる。このときセンサーヘッド部312はメガ
ネフレーム500の形状、すなわちレンズ枠501の動
径にしたがってレール311.311上を移動し、その
移動量は磁気スケール314と読み取りヘッド313に
より読み取られる。
に回転させる。このときセンサーヘッド部312はメガ
ネフレーム500の形状、すなわちレンズ枠501の動
径にしたがってレール311.311上を移動し、その
移動量は磁気スケール314と読み取りヘッド313に
より読み取られる。
モータ301の回転角θと読み取りヘッド313からの
読み取り量ρとからレンズ枠形状は(ρn。
読み取り量ρとからレンズ枠形状は(ρn。
θn) (n=1. 2. 3−N)として計測さレル
。
。
ここで、この第1回目の計測は前述した様に、第7図に
示すように、回転軸304の中心○はレンズ枠501の
幾何学中心と概略一致させて測定したものである。
示すように、回転軸304の中心○はレンズ枠501の
幾何学中心と概略一致させて測定したものである。
第2回目の計測は、第1回目の計測データ(ρn。
θn)を極座標−直交座標変換した後のデー、夕(xn
。
。
Yn)からX軸方向の最大値をも被計測点B (Xb、
yb)、X軸方向で最小値をもつ被計測点D(Xd、
yd) 、Y軸方向で最大値をもつ被測定点A (Xa
、 ya )及びY軸方向で最小値をもつ被計測点C(
Xc、 yc )を選び、レンズ枠の幾何学中心Ooを (1〕 として求めた後、このXO,yo値にもとづいてX軸モ
ータ206とY軸モータ224を駆動させ、ハンド21
1,212で挟持されたフレーム保持装置部100を移
動し、これによりレンズ枠501の幾何学中心00をセ
ンサーアーム302の回転中心Oと一致させ、再度レン
ズ枠形状を計測し、幾何学中心Ooにおける計測値(O
ρn、 oθn)(n=1:2:3 ・ N)を求め
る。
yb)、X軸方向で最小値をもつ被計測点D(Xd、
yd) 、Y軸方向で最大値をもつ被測定点A (Xa
、 ya )及びY軸方向で最小値をもつ被計測点C(
Xc、 yc )を選び、レンズ枠の幾何学中心Ooを (1〕 として求めた後、このXO,yo値にもとづいてX軸モ
ータ206とY軸モータ224を駆動させ、ハンド21
1,212で挟持されたフレーム保持装置部100を移
動し、これによりレンズ枠501の幾何学中心00をセ
ンサーアーム302の回転中心Oと一致させ、再度レン
ズ枠形状を計測し、幾何学中心Ooにおける計測値(O
ρn、 oθn)(n=1:2:3 ・ N)を求め
る。
上述の幾何学中心00に基づくレンズ枠形状の計測時に
は、センサー358によりZ軸方向のセンサーヘッド3
12の移動量も同時に計測される。
は、センサー358によりZ軸方向のセンサーヘッド3
12の移動量も同時に計測される。
これにより結局レンズ枠形状は(0ρ0.○θn、Zn
)(n=1.2.3−−N)の三次元情報が得られるこ
ととなる。
)(n=1.2.3−−N)の三次元情報が得られるこ
ととなる。
以上述べたレンズ枠501の動径計測において、ヤゲン
フイーラ−356がレンズ枠501から計測途中ではず
れるようなことがあると、第7図にeで示すように、そ
の動径計測データが直前の計測データから大きくはずれ
るため、予め動径変化範囲aを定めておき、その範囲か
らずれたときはセンサーアーム部302の回転は停止し
、同時に第4図に示したバネ装置315の電磁マグネッ
ト318を励磁し、鍔321を引着する。
フイーラ−356がレンズ枠501から計測途中ではず
れるようなことがあると、第7図にeで示すように、そ
の動径計測データが直前の計測データから大きくはずれ
るため、予め動径変化範囲aを定めておき、その範囲か
らずれたときはセンサーアーム部302の回転は停止し
、同時に第4図に示したバネ装置315の電磁マグネッ
ト318を励磁し、鍔321を引着する。
これによりクラッチ板324,325がぜんまいバネ3
16を挟持し、その巻取り作用を阻止するため、センサ
ーヘッド部312のアーム355がレンズ枠に引っ掛か
り、メガネフレーム500をきずつけることを防止でき
る。このようなツイータ−356のはずれがあった後は
、再度メガネフレーム500を初期計測位置に復帰させ
、計測をしなおす。
16を挟持し、その巻取り作用を阻止するため、センサ
ーヘッド部312のアーム355がレンズ枠に引っ掛か
り、メガネフレーム500をきずつけることを防止でき
る。このようなツイータ−356のはずれがあった後は
、再度メガネフレーム500を初期計測位置に復帰させ
、計測をしなおす。
第8図はメガネフレーム500のレンズ枠501から倣
い加工により型取りされた型板510の形状を計測する
ための型板保持部材100の構成を示している。型板保
持部材110は、腕部111とこの両端部に取付けられ
た円柱状の支柱112゜113及び腕部111の中央に
取付けられた保持支柱120とから構成される。保持支
柱120の先端端面には中央に太いピン116がその両
横に細いピン114,115が植設され、これらピン1
14〜116により型板510が保持支柱120に装着
される。
い加工により型取りされた型板510の形状を計測する
ための型板保持部材100の構成を示している。型板保
持部材110は、腕部111とこの両端部に取付けられ
た円柱状の支柱112゜113及び腕部111の中央に
取付けられた保持支柱120とから構成される。保持支
柱120の先端端面には中央に太いピン116がその両
横に細いピン114,115が植設され、これらピン1
14〜116により型板510が保持支柱120に装着
される。
型板保持部材110は、その支柱112.113がハン
ド211.212により挟持される。そしてハンド21
1.212が計測位置へ下降したとき、型板510はセ
ンサ一部312の型板当接面354と同一平面内に位置
され、ハンド211゜212の移動により型板当接面3
54が型板510の側面に当接し、センサーアーム30
2の回転によりその動径(tρnetθn)が測定され
る。
ド211.212により挟持される。そしてハンド21
1.212が計測位置へ下降したとき、型板510はセ
ンサ一部312の型板当接面354と同一平面内に位置
され、ハンド211゜212の移動により型板当接面3
54が型板510の側面に当接し、センサーアーム30
2の回転によりその動径(tρnetθn)が測定され
る。
第9図は本願のフレーム形状測定装置の演算・制御回路
を示すブロック図である。ドライバ回路601ないし6
04はそれぞれX軸モータ206、Y軸モータ224、
センサーアーム回転モータ301、及びガイド軸回転モ
ータ209に接続される。ドライバ601ないし604
はシーケンス制御回路610の制御のもとにパルス発生
器609から供給されるパルス数に応じて上記各パルス
モータの回転駆動を制御する。
を示すブロック図である。ドライバ回路601ないし6
04はそれぞれX軸モータ206、Y軸モータ224、
センサーアーム回転モータ301、及びガイド軸回転モ
ータ209に接続される。ドライバ601ないし604
はシーケンス制御回路610の制御のもとにパルス発生
器609から供給されるパルス数に応じて上記各パルス
モータの回転駆動を制御する。
読み取りヘッド313の読み取り出力はカウンタ605
で計数され、比較回路606に入力される。比較回路6
06は基準値発生回路607からの動径変化範囲aに相
当する信号とカウンタ605からの計数値の変化量とを
比較し、計数値が範囲a内にあるときは、カウンタ60
5の計数値ρn及びパルス発生器609からのパルス数
をセンサーアーム355の回転角に変換し、その値θn
とを組として(ρn、θn)をデータメモリ611へ入
力し、これを記憶させる。
で計数され、比較回路606に入力される。比較回路6
06は基準値発生回路607からの動径変化範囲aに相
当する信号とカウンタ605からの計数値の変化量とを
比較し、計数値が範囲a内にあるときは、カウンタ60
5の計数値ρn及びパルス発生器609からのパルス数
をセンサーアーム355の回転角に変換し、その値θn
とを組として(ρn、θn)をデータメモリ611へ入
力し、これを記憶させる。
次に、シーケンス制御回路610はゲート回路612を
演算回路613側へ切換え、データメモリ611に記憶
されている第1回目の動径情報(ρn、θn)に基いて
レンズ枠501の幾何学中心00を演算させ、そのデー
タをシーケンス制御回路610へ入力させる。シーケン
ス制御回路610は演算回路613からのデータに基い
て前述の(1)式からxO2YOを求め、Y5イハ60
1. 603に必要なパルス数を入力してモータ206
,224を駆動し、レンズ枠500の中心をセンサーア
ーム302の回転中心に一致させる。
演算回路613側へ切換え、データメモリ611に記憶
されている第1回目の動径情報(ρn、θn)に基いて
レンズ枠501の幾何学中心00を演算させ、そのデー
タをシーケンス制御回路610へ入力させる。シーケン
ス制御回路610は演算回路613からのデータに基い
て前述の(1)式からxO2YOを求め、Y5イハ60
1. 603に必要なパルス数を入力してモータ206
,224を駆動し、レンズ枠500の中心をセンサーア
ーム302の回転中心に一致させる。
これと同時にシーケンス制御回路610はカウンタ回路
615を指令し、Z軸センサー358からのデータを計
数するよう指令する。そして再度Z軸方向データを含む
レンズ枠形状情報(0ρn。
615を指令し、Z軸センサー358からのデータを計
数するよう指令する。そして再度Z軸方向データを含む
レンズ枠形状情報(0ρn。
0θn、Zn)を計測し、このデータをデータメモリ6
11に記憶させる。ここで、もしカウンタ605からの
計数値ρnまたはOρnが基準値発生回路607からの
出力される動径変化範囲aより大きいときは、比較回路
606はその旨をシーケンス制御回路610に出力し、
この出力を受けた回路610はドライバ608を作動さ
せてバネ装置315の電磁マグネット318を励磁させ
、フイーラ−356の移動を阻止するとともに、ドライ
バ604へのパルスの供給を停止し、モータ301の回
転を防止する。
11に記憶させる。ここで、もしカウンタ605からの
計数値ρnまたはOρnが基準値発生回路607からの
出力される動径変化範囲aより大きいときは、比較回路
606はその旨をシーケンス制御回路610に出力し、
この出力を受けた回路610はドライバ608を作動さ
せてバネ装置315の電磁マグネット318を励磁させ
、フイーラ−356の移動を阻止するとともに、ドライ
バ604へのパルスの供給を停止し、モータ301の回
転を防止する。
データメモリ611に記憶されたレンズ枠形状情報(0
ρn、 oθn、 Zn) は必要に応じゲート回路6
12の切換えにより、例えば本出願人がさきに出願した
特願昭58−225197号で開示したデジタル玉摺機
や型取機あるいはフレームの型状が設計値通りに加工さ
れているか否かを判定する判定装置等へ供給される。
ρn、 oθn、 Zn) は必要に応じゲート回路6
12の切換えにより、例えば本出願人がさきに出願した
特願昭58−225197号で開示したデジタル玉摺機
や型取機あるいはフレームの型状が設計値通りに加工さ
れているか否かを判定する判定装置等へ供給される。
データメモ!7611に記憶されたレンズ枠形状情報(
Oρn、oθn、 Zn)のZn情報からレンズ枠のカ
ーブ値Cを必要に応じ演算回路613で求めることがで
きる。
Oρn、oθn、 Zn)のZn情報からレンズ枠のカ
ーブ値Cを必要に応じ演算回路613で求めることがで
きる。
その演算は第10図(A)及び(B)に示すようにレン
ズ枠上の少なくとも2点a、bにおける動径ρ、、ρ、
と、この2点の2軸方向のセンサーヘッド移動値ZA、
Zsから、レンズ枠501のヤゲン軌跡を含む球体SP
の曲率半径Rを R2=ρA2+ (20ZA) 2 R2=ρB”+(20−2!l)’ ・ (
2)から求め、ヤゲンのカーブ値Cは求められたRから C=−xlooo (3
)(ただしnは定数でn=1.523) として実行される。
ズ枠上の少なくとも2点a、bにおける動径ρ、、ρ、
と、この2点の2軸方向のセンサーヘッド移動値ZA、
Zsから、レンズ枠501のヤゲン軌跡を含む球体SP
の曲率半径Rを R2=ρA2+ (20ZA) 2 R2=ρB”+(20−2!l)’ ・ (
2)から求め、ヤゲンのカーブ値Cは求められたRから C=−xlooo (3
)(ただしnは定数でn=1.523) として実行される。
なお、シーケンス制御回路はプログラムメモリ614に
内蔵のプログラムによって上述の計測ステップを実行す
る。
内蔵のプログラムによって上述の計測ステップを実行す
る。
メガネフレームのレンズ枠形状やレンズ枠に倣い加工さ
れた型板の形状を高精度でデジタル計測できる。特に、
計測用のセンサーアームが鉛直軸回りに回転して形状計
測をするため計測時にセンサーヘッドに重力の影響が加
わらずより正確な計測ができる。
れた型板の形状を高精度でデジタル計測できる。特に、
計測用のセンサーアームが鉛直軸回りに回転して形状計
測をするため計測時にセンサーヘッドに重力の影響が加
わらずより正確な計測ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係るフレーム形状装置を示す斜視図、
第2図(A)は、そのフレーム保持装置を示す斜視図、
第2図(8)、(C)はその保持装置の作動を示す縦断
面図、第3図は第2図(A)の線A−Aに沿った断面図
、第4図はバネ部材の構造を示す縦正中断面図、第5図
(A)は支持装置部とセンサ一部の関係を示す模式図で
あり、第5図(B)はその断面図、第6図はセンサ一部
を示す一部切欠断面で示した正面図、第7図はレンズ枠
の計測値からその幾何学中心を求める関係を示す模式図
、第8図は型板保持部材を示す斜視図、第9図は本発明
の実施例の演算・制御回路のブロック図、第10図(^
)及び(B)はレンズ枠のカーブ値Cの計算原理の説明
図である。 100−・・ −フレーム保持装置 152・ ・−保持枠 156・・ スライダー 200 支持装置部 211、 212−−・・ハンド 300・・−計測部 302・ センサーアーム部 第6図 第10図 (A) (B) ↑
第2図(A)は、そのフレーム保持装置を示す斜視図、
第2図(8)、(C)はその保持装置の作動を示す縦断
面図、第3図は第2図(A)の線A−Aに沿った断面図
、第4図はバネ部材の構造を示す縦正中断面図、第5図
(A)は支持装置部とセンサ一部の関係を示す模式図で
あり、第5図(B)はその断面図、第6図はセンサ一部
を示す一部切欠断面で示した正面図、第7図はレンズ枠
の計測値からその幾何学中心を求める関係を示す模式図
、第8図は型板保持部材を示す斜視図、第9図は本発明
の実施例の演算・制御回路のブロック図、第10図(^
)及び(B)はレンズ枠のカーブ値Cの計算原理の説明
図である。 100−・・ −フレーム保持装置 152・ ・−保持枠 156・・ スライダー 200 支持装置部 211、 212−−・・ハンド 300・・−計測部 302・ センサーアーム部 第6図 第10図 (A) (B) ↑
Claims (2)
- (1)被測定レンズ枠を有するメガネフレームを保持す
るフレーム保持手段と、 前記レンズ枠のヤゲン溝に当接するフィーラーと、 前記フィーラーの三次元的の移動量を検出する検出手段
と から構成されたことを特徴とするフレーム形状測定装置
。 - (2)被測定レンズ枠を有するメガネフレームを保持す
るフレーム保持手段と、 所定平面と交差し、かつ前記レンズ枠内に軸線が位置す
る鉛直軸回わりに回転するセンサーアームと、 該センサーアームに沿って移動するセンサーヘッドと、 該センサーヘッドに前記鉛直軸と略平行な軸線にそって
自由移動可能に取り付けられ、前記レンズ枠のヤゲン溝
に当接するフィーラーと前記センサーアームの回転角と
前記センサーヘッドの前記センサーアームに沿った方向
の移動量及び前記フィーラーの前記軸線方向での移動量
を電気的に検出するための検出器と から構成された計測手段とを有し; 前記センサーアームの回転角及び前記センサーヘッド並
びにフィーラーの移動量から前記レンズ枠の三次元形状
情報(ρn,θn,Zn)Cn=1,2,3,・・・,
N)を計測することを特徴とするフレーム形状測定装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63123593A JP2588423B2 (ja) | 1988-05-20 | 1988-05-20 | フレーム形状測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63123593A JP2588423B2 (ja) | 1988-05-20 | 1988-05-20 | フレーム形状測定装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60287491A Division JPH0629725B2 (ja) | 1984-12-25 | 1985-12-20 | フレ−ム形状測定装置 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01409A true JPH01409A (ja) | 1989-01-05 |
| JPS64409A JPS64409A (en) | 1989-01-05 |
| JP2588423B2 JP2588423B2 (ja) | 1997-03-05 |
Family
ID=14864447
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63123593A Expired - Fee Related JP2588423B2 (ja) | 1988-05-20 | 1988-05-20 | フレーム形状測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2588423B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06241772A (ja) * | 1992-07-31 | 1994-09-02 | Topcon Corp | フレーム形状測定装置 |
| JP2578354Y2 (ja) * | 1993-01-08 | 1998-08-13 | ホーヤ株式会社 | 眼鏡レンズ枠形状測定装置 |
| JPH0799329B2 (ja) * | 1993-06-24 | 1995-10-25 | 株式会社トプコン | 眼鏡レンズ枠又は型板形状測定装置 |
| JP4566372B2 (ja) * | 2000-07-19 | 2010-10-20 | 株式会社トプコン | レンズ枠形状測定装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2297115A1 (fr) * | 1975-01-10 | 1976-08-06 | Essilor Int | Palpeur pour appareil de lecture de contour, appareil de lecture de contour equipe d'un tel palpeur et applications |
| JPH0611467B2 (ja) * | 1983-02-25 | 1994-02-16 | 株式会社ニコン | レンズ周縁加工機 |
| JPH0659612B2 (ja) * | 1983-11-29 | 1994-08-10 | 株式会社トプコン | レンズ研削装置 |
-
1988
- 1988-05-20 JP JP63123593A patent/JP2588423B2/ja not_active Expired - Fee Related
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