JPH0141023B2 - - Google Patents
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- JPH0141023B2 JPH0141023B2 JP57093032A JP9303282A JPH0141023B2 JP H0141023 B2 JPH0141023 B2 JP H0141023B2 JP 57093032 A JP57093032 A JP 57093032A JP 9303282 A JP9303282 A JP 9303282A JP H0141023 B2 JPH0141023 B2 JP H0141023B2
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ICペレツトとリードの間などにワ
イヤを懸け渡すボンデイング方法及びその装置に
関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a bonding method and apparatus for suspending a wire between an IC pellet and a lead.
ICチツプのパツドとリードとの間のボンデイ
ングを行なうには、ボンデイング装置のボンデイ
ングアームの先端に設けられたボンデイングツー
ル(例えば金線用のボールボンデイング用のキヤ
ビラリー、或いはアルミニウム線用のステツチボ
ンデイング用のウエツジ)にてワイヤを保持して
対象物であるパツド又はリードの表面に接触せし
めかつボンデイングツールにてワイヤの一部を押
しつぶして、熱圧縮により圧着するか超音波の作
用で溶着せしめる。 To bond between the pads and leads of an IC chip, use a bonding tool (for example, a cavity for ball bonding for gold wire, or a stitch bonding tool for aluminum wire) installed at the tip of the bonding arm of the bonding device. The wire is held with a wedge) and brought into contact with the surface of the target pad or lead, a part of the wire is crushed with a bonding tool, and the wire is crimped by thermal compression or welded by the action of ultrasonic waves.
例えば第1図に示す如くキヤビラリー1を用
い、ワイヤ2の先端に形成したボール3をICペ
レツト4のパツド5にボンデイングする場合につ
き説明する。6はパツド5と接続すべきリードで
ある。 For example, a case will be described in which a ball 3 formed at the tip of a wire 2 is bonded to a pad 5 of an IC pellet 4 using a cavity 1 as shown in FIG. 6 is a lead to be connected to pad 5.
先ず、同図aの如くパツド5の直上の或る高さ
にキヤビラリー1を位置せしめる。このときワイ
ヤ2の先端にはボール3が形成されている。t0は
キヤビラリー1の下端7から突出した部分のボー
ル3の高さである。次にキヤビラリー1を下降せ
しめて同図bの如くボール3をパツド5に接触せ
しめ、さらにキヤビラリー1を押し上げてボール
3をつぶし、同図cの如く扁平部8を形成する。
t1は押しつぶし量、t2は扁平部8の厚さである。
この押しつぶし動作によりワイヤ2をパツド5に
固着せしめるに必要な押付力を与え、また、扁平
部8が形成されて電気的接触に十分な接触面積が
確保される。その後キヤビラリー1を上昇及び水
平方向にも移動せしめ、同図dの如く、ボンドす
べきリード6の上方に位置せしめ、二点鎖線の如
くキヤビラリー1を下降せしめて下端7によりワ
イヤ2の一部を押しつぶし、扁平部9を形成して
リード6に固定せしめ、ワイヤ2を引いて扁平部
9の端から切断し、その後キヤビラリー1を上昇
せしめて一回のボンデイングを終了する。その後
ワイヤ2の先端にトーチによりボール3を形成
し、第1図の状態に戻り、次のボンデイングを行
なう。t′0はワイヤ2の直径、t′1は押しつぶし量、
t′2は扁平部9の厚さである。 First, the cavity 1 is positioned at a certain height directly above the pad 5 as shown in FIG. At this time, a ball 3 is formed at the tip of the wire 2. t 0 is the height of the ball 3 at the portion protruding from the lower end 7 of the cavity 1 . Next, the cavity 1 is lowered to bring the ball 3 into contact with the pad 5 as shown in FIG.
t 1 is the amount of crushing, and t 2 is the thickness of the flat portion 8.
This squeezing action provides a pressing force necessary to fix the wire 2 to the pad 5, and also forms a flat portion 8 to ensure a sufficient contact area for electrical contact. Thereafter, the cavity 1 is moved upward and horizontally to position it above the lead 6 to be bonded, as shown in FIG. The wire 2 is crushed to form a flat part 9 and fixed to the lead 6, the wire 2 is pulled and cut from the end of the flat part 9, and then the cavity 1 is raised to complete one bonding process. Thereafter, a ball 3 is formed at the tip of the wire 2 using a torch, and the state shown in FIG. 1 is returned to for the next bonding. t′ 0 is the diameter of wire 2, t′ 1 is the amount of compression,
t′ 2 is the thickness of the flat portion 9.
以上の如きキヤビラリーボンデイングの他の、
例えばウエツジボンデイング(Al線に用いられ
る)の場合でも、押付力及び接触面積を得るため
にワイヤ2の一部の押しつぶしを行なう。 In addition to the above-mentioned cavity bonding,
For example, even in the case of wedge bonding (used for Al wire), a portion of the wire 2 is crushed in order to obtain pressing force and contact area.
何れの場合においても、押付力及び扁平部8の
厚さt2、t′2には適当な好ましい範囲がある。例え
ば押付力が小さ過ぎれば固着に必要な圧力が出
ず、また接触面積が不十分となり、押付力が大き
過ぎるとパツド5、ペレツト4の破損を招くもの
であつた。 In either case, there is a suitable and preferable range for the pressing force and the thicknesses t 2 and t' 2 of the flat portion 8. For example, if the pressing force is too small, the pressure necessary for fixation will not be produced and the contact area will be insufficient, while if the pressing force is too large, the pads 5 and pellets 4 will be damaged.
この種のボンデイング装置の従来の例を第2図
に示す。10は超音波の振動子であり、フレーム
11上にピン12により揺動可能に支えられてい
る。13はホーンであり、先端にキヤビラリー1
が設けられボンデイングアームの作用も有してい
る。振動子10の他端にはレバー14が設けら
れ、その端部に設けられたローラ15がカム16
と接触するようにバネ17により反時計方向のモ
ーメントを受けている。18はワイヤ2のリール
であり、19はワイヤ2を握持してカツトするた
めのクランプ、20はボールを引き上げてキヤビ
ラリー1の下端7に接触せしめるためのハーフク
ランプ、21はボール3(第1図)を作るための
トーチであり、垂直軸22のまわりに回動し得る
ようになつている。23は位置検出装置であり、
ペレツト4及び各パツド5(第1図)の標準位置
からのズレを検出する。このズレの検出値に応じ
てフレーム11又はペレツト4を水平面にX又は
Y方向に移動せしめてキヤビラリー1とペレツト
4のパツド5との間の相対位置を調整し整合を行
なう。 A conventional example of this type of bonding apparatus is shown in FIG. Reference numeral 10 denotes an ultrasonic transducer, which is swingably supported on a frame 11 by pins 12. 13 is a horn, with a cavity 1 at the tip.
is provided and also functions as a bonding arm. A lever 14 is provided at the other end of the vibrator 10, and a roller 15 provided at the end is connected to a cam 16.
A counterclockwise moment is applied by the spring 17 so as to make contact with. 18 is a reel for the wire 2; 19 is a clamp for gripping and cutting the wire 2; 20 is a half clamp for pulling up the ball and bringing it into contact with the lower end 7 of the cavity 1; 21 is a ball 3 (first It is a torch for making a torch (see Figure), and is rotatable around a vertical axis 22. 23 is a position detection device;
The deviation of the pellet 4 and each pad 5 (FIG. 1) from the standard position is detected. Depending on the detected value of this deviation, the frame 11 or the pellet 4 is moved horizontally in the X or Y direction to adjust the relative position between the cavity 1 and the pad 5 of the pellet 4 for alignment.
このような従来のものにおいては、キヤビラリ
ー1の昇降運動はカム16の形状によつて決めら
れ、異なる種類のペレツト4に対応する異なる昇
降パターンに対してそれぞれカムを用意して交換
せねばならず、また、ペレツト4の厚さ、ボール
3の直径、ワイヤ2の直径などの寸法に誤差があ
つてもそれに応じられず、適正な押付力及び接触
面積が得られない欠点があつた。 In such a conventional device, the vertical movement of the cavity 1 is determined by the shape of the cam 16, and cams must be prepared and replaced for different vertical patterns corresponding to different types of pellets 4. Furthermore, there is a drawback that it is not possible to accommodate errors in dimensions such as the thickness of the pellet 4, the diameter of the ball 3, and the diameter of the wire 2, so that appropriate pressing force and contact area cannot be obtained.
また、カム16を用いる代りに、エンコーダを
設けたモータにより駆動されるネジ軸を用いてボ
ンデイングアームを昇降せしめるものもあるが、
キヤビラリー1がパツド5に接触した後の昇降フ
レームのオーバーラン下降量を規制するだけで、
その後ボンデイングアームを付勢するバネ(例え
ばバネ17の如き)により押しつぶされる量につ
いては何も規制されていないので押付力の過不
足、接触面積の過不足を生ずるおそれのあるもの
であつた。 Also, instead of using the cam 16, there is a system that uses a screw shaft driven by a motor equipped with an encoder to move the bonding arm up and down.
By simply regulating the amount of overrun descent of the elevating frame after the cavity 1 contacts the pad 5,
Since there is no restriction on the amount by which the bonding arm is pressed by a spring (for example, spring 17) that biases it, there is a risk that the pressing force may be too large or too small, or that the contact area may be too large or too small.
また、ボール3の大きさが過小である場合に適
切なボンデイングができないが、この異常が発見
されず、不良ボンデイングを行なう欠点があつ
た。 Further, if the size of the ball 3 is too small, proper bonding cannot be performed, but this abnormality is not discovered, resulting in defective bonding.
発明者らは、これらの欠点を改良するために研
究を重ね、押付力、接触面積などが、押しつぶし
量に関係することに着目し、本発明をなすに至つ
たものである。 The inventors have conducted repeated research to improve these drawbacks, and have focused on the fact that pressing force, contact area, etc. are related to the amount of crushing, and have come up with the present invention.
本発明は、ワイヤ直径、ボール直径などの寸法
誤差による影響も少なく、ペレツトの種類、ワイ
ヤの種類が異なつても調整が容易であり、確実
に、信頼性の高いボンデイングを行なうことがで
きるボンデイング方法及びその装置を提供するこ
とを目的とするものである。 The present invention is a bonding method that is less affected by dimensional errors such as wire diameter and ball diameter, is easy to adjust even when pellet types and wire types are different, and can reliably perform highly reliable bonding. The purpose of this invention is to provide a device for the same.
さらに本発明は、この押しつぶし量検出を利用
して、ボール又はワイヤ径の過小を発見して不良
ボンデイングを防止することができるボンデイン
グ方法及びその装置を提供することを第2の目的
とするものである。 A second object of the present invention is to provide a bonding method and apparatus that can prevent defective bonding by detecting an undersized ball or wire diameter by utilizing this squeezing amount detection. be.
本発明は、昇降可能な昇降フレームに、水平軸
のまわりに回動可能に支えられたボンデイングア
ームの先端に設けたボンデイングツールの下端に
て、ワイヤの一部を押しつぶしてワイヤを対象物
にボンドするボンデイング方法において;前記ボ
ンデイングツールに対し下方に向かう押圧力を与
えておき;前記昇降フレームを下降せしめ、前記
ワイヤの一部が対象物に接触した後、なお前記押
圧力に逆らいながら下降を続け、前記接触時点か
ら所定距離を経た後に下降を停止し、前記押圧力
により前記ワイヤの一部を押しつぶしながらその
押しつぶし量を検出し、所定押しつぶし量に達し
たときに押しつぶし動作を停止せしめることを特
徴とするボンデイング方法及びその装置である。 In the present invention, a wire is bonded to an object by crushing a part of the wire at the lower end of a bonding tool provided at the tip of a bonding arm that is rotatably supported around a horizontal axis on a lift frame that can be raised and lowered. In the bonding method, a downward pressing force is applied to the bonding tool; after the elevating frame is lowered and a part of the wire comes into contact with the object, it continues to descend against the pressing force; , stopping the lowering after a predetermined distance from the point of contact, detecting the amount of crushing while crushing a part of the wire with the pressing force, and stopping the crushing operation when the predetermined amount of crushing is reached. A bonding method and apparatus for the same.
本発明の実施例を図面を用いて説明する。 Embodiments of the present invention will be described using the drawings.
第3図において、昇降フレーム24は、フレー
ム11の昇降ガイド25に沿つて昇降可能に保持
されており、昇降フレーム24に一体に形成され
ているメネジ部26がネジ軸27に螺合してお
り、パルスモータ28又はエンコーダを用いたモ
ータにより昇降駆動されるようになつている。昇
降フレーム24には水平軸であるピン29により
回動可能に支えられた揺動フレーム30に超音波
の振動子10が固定され、ボンデイングアームの
作用をするホーン13の先端にボンデイングツー
ルであるキヤピラリー1が設けられている。31
は昇降フレーム24に固定された板バネであり、
偏心ピン32を介して、揺動フレーム30に常に
反時計方向のモーメントを与え、押圧力付加機構
としてキヤピラリー1に下方向きの押圧力を与え
ている。偏心ピン32の偏心を調節することによ
り板バネ31の力を調節することができる。33
は電磁石にて構成されたストツパーであり、昇降
フレーム24に相対的なキヤピラリー1の最低位
置を定める。 In FIG. 3, the elevating frame 24 is held movable up and down along the elevating guide 25 of the frame 11, and a female threaded portion 26 formed integrally with the elevating frame 24 is screwed into a threaded shaft 27. , and is driven up and down by a pulse motor 28 or a motor using an encoder. An ultrasonic transducer 10 is fixed to a swinging frame 30 which is rotatably supported by a pin 29 which is a horizontal axis in the lifting frame 24, and a capillary which is a bonding tool is attached to the tip of a horn 13 which acts as a bonding arm. 1 is provided. 31
is a leaf spring fixed to the lifting frame 24,
A counterclockwise moment is constantly applied to the swing frame 30 via the eccentric pin 32, and a downward pressing force is applied to the capillary 1 as a pressing force applying mechanism. By adjusting the eccentricity of the eccentric pin 32, the force of the leaf spring 31 can be adjusted. 33
is a stopper made of an electromagnet, which determines the lowest position of the capillary 1 relative to the lifting frame 24.
34はマグネセンサであり、揺動フレーム30
に取り付けられたレバー35に設けられた永久磁
石のチツプ36との相対距離に、即ち、マグネセ
ンサ34の中心に対するチツプ36の中心のズレ
量lに応じた出力信号を制御機構37に送るよう
になつている。即ち、キヤピラリー1の昇降方向
の変位に応じた出力信号が制御機構37に送ら
れ、昇降フレーム24に相対的なキヤピラリー1
の上下方向変位を検出する変位検出機構として作
用する。 34 is a magnet sensor, and the swing frame 30
An output signal is sent to the control mechanism 37 in accordance with the relative distance between the permanent magnet and the chip 36 provided on the lever 35 attached to the lever 35, that is, the amount of deviation l of the center of the chip 36 with respect to the center of the magnet sensor 34. It's summery. That is, an output signal corresponding to the displacement of the capillary 1 in the vertical direction is sent to the control mechanism 37, and the capillary 1 relative to the vertical frame 24 is
It acts as a displacement detection mechanism that detects the vertical displacement of.
しかして、揺動フレーム30がストツパー33
に当接している位置、即ちキヤピラリー1が昇降
フレーム24に対して最低位置にあるときにズレ
量lはゼロではなく或る正の値l0にしておく。即
ち、その位置にて正の出力信号が出力されている
ようにしておく。 Therefore, the swing frame 30 is moved to the stopper 33.
When the capillary 1 is in contact with the lifting frame 24, that is, when the capillary 1 is at the lowest position with respect to the elevating frame 24, the amount of deviation l is not zero but a certain positive value l0 . That is, a positive output signal is output at that position.
38,39はそれぞれクランプ19、ハーフク
ランプを操作するカムであり、それぞれパルスモ
ータで駆動される。 Cams 38 and 39 operate the clamp 19 and the half clamp, respectively, and are driven by pulse motors.
作用につき第4図、第5図を併せ参照して説明
する。 The operation will be explained with reference to FIGS. 4 and 5.
第4図は模型的な説明図であり、ボール3の大
きさが誇張されて示されている。先ず、当初の状
態として第4図aの如くキヤピラリー1がペレツ
ト4上の、ボンデイング対象のパツド5の直上の
hの高さにあるとする。第5図においてAは時間
軸であり、上記の第4図aの時点はT1にて示さ
れる。Bは、昇降フレーム24の昇降ガイド25
に対する昇降変位を示し、T1にては0である。
点線B′は、昇降ガイド25に対するキヤピラリ
ー1の昇降変位を示す。Cはマグネセンサ34に
対するチツプ36の相対的なズレを示し、T1に
てはl0である。Dはキヤピラリー1の下端7から
突出している部分のボール3の高さtであり、押
しつぶされる前はt0、押しつぶされた後(押しつ
ぶし量=t2)は扁平部8の厚さt2を示す。その間
は、押しつぶし量をeとするとt=t0−eなる量
を示す。T1にてはt0であり、押しつぶし量はe=
0である。Eは板バネ31の撓みであるがS0なる
イニシヤルセツトが与えられている。T1にては
イニシヤルセツトのままS0である。Fはキヤピラ
リー1の水平方向移動のための通電を示し、T1
にてはOFFである。Gは、電磁石であるストツ
パー33の励磁を示し、T1に至るまではOFFで
ある。 FIG. 4 is a schematic explanatory diagram, and the size of the ball 3 is shown exaggerated. First, assume that the capillary 1 is initially located at a height h above the pellet 4 directly above the pad 5 to be bonded, as shown in FIG. 4a. In FIG. 5, A is the time axis, and the time point in FIG. 4a above is indicated by T1 . B is a lifting guide 25 of the lifting frame 24;
The vertical displacement is 0 at T1 .
A dotted line B' indicates the vertical displacement of the capillary 1 with respect to the vertical guide 25. C indicates the relative deviation of the chip 36 with respect to the magnetic sensor 34, and is l 0 at T 1 . D is the height t of the portion of the ball 3 protruding from the lower end 7 of the capillary 1, which is t 0 before being crushed and the thickness t 2 of the flat part 8 after being crushed (squeezed amount = t 2 ). show. During that time, when the amount of squeezing is e, the amount is t=t 0 −e. At T 1 , t 0 and the amount of crushing is e=
It is 0. E is the deflection of the leaf spring 31, and an initial set of S 0 is given. At T1 , the initial set remains S0 . F indicates energization for horizontal movement of capillary 1, T 1
It is OFF. G indicates the excitation of the stopper 33, which is an electromagnet, and is OFF until reaching T1 .
次にパルスモータ28を駆動して昇降フレーム
24を下降せしめる。当初は高速下降を行ない、
ボール3の下端がパツド5上に近接したとき(例
えば0.2mm程度)低速に切替える。この切換時点
をT2とし、この時の下降変位Zを、下方に向け
て測つてZ=Z1と有する。最高不降を行なつてい
る間、ホーン13が揺動してキヤピラリー1が徒
らに振動しないよう第5図Gに示す如く、ストツ
パー33を励磁して吸着して振張を防ぐ。 Next, the pulse motor 28 is driven to lower the elevating frame 24. At first, we made a high-speed descent,
When the lower end of the ball 3 approaches the top of the pad 5 (for example, about 0.2 mm), the speed is changed to low. This switching point is defined as T2 , and the downward displacement Z at this time is measured downward and has Z= Z1 . During the maximum descent, the horn 13 swings to prevent the capillary 1 from unnecessarily vibrating, as shown in FIG. 5G, by exciting the stopper 33 and attracting it to prevent vibration.
次いで下降速度を低速としてさらに下降してボ
ール3の下端が第4図bの如くパツド5に接触し
た時点をT3とする。このときの下降変位をZ=
Z0とすればZ0=h−t0である。この接触時点か
ら、スクラブ式熱圧着方式においてはスクラブを
開始し、超音波方式においては超音波付加を関始
する。 Then, the lowering speed is set to a low speed, and the ball 3 descends further, and the time point at which the lower end of the ball 3 contacts the pad 5 as shown in FIG. 4b is defined as T3 . The downward displacement at this time is Z=
If Z 0 , then Z 0 = h−t 0 . From this point of contact, scrubbing is started in the scrub-type thermocompression bonding method, and application of ultrasonic waves is started in the ultrasonic bonding method.
さらに下降を続ければ、ボール3は既にパツド
5接触しているので、キヤピラリー1は下降せず
点線B′の如く同じ高さに止まるが、昇降フレー
ム24は実線Bの如く下降を続ける。そしてチツ
プ36のズレlは次第に増大し、それに応じて出
力信号も増大する。この増大開始時点にて接触時
点T3を検出し、パルスモータ28のパルス数の
カウントを開始し、カウント数により時点T3以
降の下降変位量を知る。 If the ball 3 continues to descend further, the ball 3 has already contacted the pad 5, so the capillary 1 does not descend and remains at the same height as indicated by the dotted line B', but the elevating frame 24 continues to descend as indicated by the solid line B. Then, the deviation l of the chip 36 gradually increases, and the output signal also increases accordingly. A contact time T 3 is detected at the start of this increase, and counting of the number of pulses of the pulse motor 28 is started, and the amount of downward displacement after time T 3 is determined from the counted number.
次に、接触時点T3から所定の下降距離ZLだけ
下がつた変位量Z3(即ちZ3=Z0+ZL)に達したこ
とを、これに対応する設定パルス数をカウントす
ることにより検出し昇降フレーム24の下降を停
止する。 Next, by counting the corresponding set number of pulses, it is determined that the displacement amount Z 3 ( that is, Z 3 = Z 0 + Z L ) has been reached, which is a predetermined downward distance Z L from the contact point T 3 . It is detected and the lowering of the elevating frame 24 is stopped.
即ち、カウント起算時点を検出する変位検出機
構と、パルスカウンタ及び停止パルス数設定機構
制御機構37などにより停止距離設定機構が形成
される。 That is, a stop distance setting mechanism is formed by a displacement detection mechanism that detects the counting start time, a pulse counter, a stop pulse number setting mechanism control mechanism 37, and the like.
この停止時点をT5とする。このとき板バネ3
1は最大撓みS2となる。見かけの撓みはS2−S0で
ある。接触時点T3以降の降下量ZLは、これに対
応するカウンターの設定パルス数により決められ
るが、ワイヤ2の材質、ボール3の大きさ、押し
つぶし量eの設定量、押付力の好ましい値などを
考慮して選択される。ズレ量はl=l2となる。 This stopping point is defined as T5 . At this time, leaf spring 3
1 is the maximum deflection S2 . The apparent deflection is S 2 −S 0 . The amount of descent Z L after the contact point T3 is determined by the set number of pulses of the corresponding counter, but it also depends on the material of the wire 2, the size of the ball 3, the set amount of the crushing amount e, the preferred value of the pressing force, etc. are selected taking into consideration. The amount of deviation is l=l 2 .
ここで、昇降フレーム24は停止するが、板バ
ネ31の復元力によりボール3が押しつぶされ
る。第5図Dにて押しつぶされ量eはt=t0の水
平線と実線Dとの距離にて示される。また、ボー
ル3が押しつぶされるに従つてズレ量lは再び減
少するが、ズレ量の最大値l2からの減少値である
戻りズレ量Lは第5図Cにてl=l2の水平線と実
線Cとの距離にて示される。しかして、この戻り
ズレ量Lは、押しつぶし量eと比例するので、戻
りズレ量Lを出力信号に基づいて検出すれば押し
つぶし量eを知ることができる。板バネ31の撓
みSは再び減少する。 At this point, the elevating frame 24 stops, but the ball 3 is crushed by the restoring force of the leaf spring 31. In FIG. 5D, the amount of crushing e is indicated by the distance between the horizontal line at t=t 0 and the solid line D. In addition, as the ball 3 is crushed, the amount of deviation l decreases again, but the return deviation amount L, which is the decrease value from the maximum value l 2 of the amount of deviation, is the horizontal line of l = l 2 in Fig. 5C. It is indicated by the distance from solid line C. Since the return displacement amount L is proportional to the squeezing amount e, the squeezing amount e can be determined by detecting the return displacement amount L based on the output signal. The deflection S of the leaf spring 31 decreases again.
しかして第4図dの如く押しつぶし量eが所定
の押しつぶし量t1(第1図参照)に達したことを
戻りズレ量Lの設定値L1にて検出し、押しつぶ
し動作を停止するために、スクラブの停止、又は
超音波付加の停止或いは昇降フレーム24の高速
上昇を行なう。戻りズレ量Lが設定値L0に達し
た時点をT6とする。この時のズレ量はl=l1(即
ちl1=l3−L1)、板バネ31の撓み量はS=S1とす
る。 As shown in Fig. 4 d, in order to detect that the squeezing amount e has reached the predetermined squeezing amount t 1 (see Fig. 1) using the set value L 1 of the return displacement amount L, and to stop the squeezing operation. , stop scrubbing, stop applying ultrasonic waves, or raise the lifting frame 24 at high speed. The time point when the return deviation amount L reaches the set value L0 is defined as T6 . At this time, the amount of deviation is l=l 1 (that is, l 1 =l 3 -L 1 ), and the amount of deflection of the leaf spring 31 is S=S 1 .
時点T6にて押しつぶし量は所定の設定値t1に達
し、適切な押付力及び接触面積によりボンデイン
グが完了する。 At time T6 , the amount of pressing reaches a predetermined set value t1 , and bonding is completed with appropriate pressing force and contact area.
このように変位検出機構及び戻りズレ量設定機
構、制御機構37などにより押しつぶし量設定機
構が形成される。 In this way, the displacement detection mechanism, return deviation amount setting mechanism, control mechanism 37, and the like form a crushing amount setting mechanism.
この好ましい押しつぶし量eの設定値t1は、ワ
イヤ2の材質、ボール3の大きさ、押付力の好ま
しい値、接触面積の好ましい値、などに応じて選
定される。 This preferable set value t 1 of the amount of squeezing e is selected depending on the material of the wire 2, the size of the ball 3, the preferable value of the pressing force, the preferable value of the contact area, etc.
高速上昇開始と共にストツパー33を励磁し
て、キヤピラリー1の振動を防ぐ。上昇途中で時
点T7でキヤピラリー1の下端7がボール3(扁
平部8)の上端を離れ、ズレ量lはl0に戻り板バ
ネ31の撓み量SはS0に戻る。なおも高速上昇を
続け、適当な時点で水平移動を開始し、第4図e
の状態となる。この時点をT8とする。 The stopper 33 is energized at the start of high-speed ascent to prevent vibration of the capillary 1. During the ascent, the lower end 7 of the capillary 1 leaves the upper end of the ball 3 (flat portion 8) at time T7, and the amount of deviation l returns to l0 , and the amount of deflection S of the leaf spring 31 returns to S0 . It continued to climb at high speed, and at an appropriate point, it started moving horizontally, and reached the position shown in Figure 4 e.
The state will be as follows. This point is designated as T8 .
その後水平移動を続けながら昇降フレーム24
を再び下降せしめ、リード6のボンデイングすべ
き位置の直上付近に達したT9時点付近で低速下
降に切替え、その後は以上述べたボール3の押し
つぶし過程と同様な過程でリード6の一部を押し
つぶしながらボンデイングを行なう。この場合の
好ましい押しつぶし量t′1(第1図参照)はワイヤ
2の直径、必要な押付力、必要な接触面積などよ
り決められる。 After that, while continuing to move horizontally, the elevating frame 24
is lowered again, and when the lead 6 reaches the position directly above the bonding position T 9 , the lowering speed is switched to low speed, and after that, a part of the lead 6 is crushed in the same process as the crushing process of the ball 3 described above. Perform bonding while doing so. In this case, the preferred amount of compression t' 1 (see FIG. 1) is determined by the diameter of the wire 2, the required pressing force, the required contact area, etc.
ボンデイング終了後、クランプ19の上方移動
によりワイヤ2をボンデイング点の端から切断
し、キヤピラリー1を上昇せしめ、クランプ19
の動作によりキヤピラリー1の下端7よりワイヤ
2を所定長突出せしめた状態でキヤピラリー1を
次のパツドの直上に位置せしめトーチ21にてボ
ール3を形成せしめる。ボール3はパツドの直上
に至る前に形成してもよい。 After bonding is completed, the wire 2 is cut from the end of the bonding point by moving the clamp 19 upward, the capillary 1 is raised, and the clamp 19
With the wire 2 protruding a predetermined length from the lower end 7 of the capillary 1, the capillary 1 is positioned directly above the next pad, and the torch 21 is used to form the ball 3. The ball 3 may be formed before reaching directly above the pad.
キヤピラリー1を所定のパツドの直上及び所定
のリードの直上に移動せしめるのに、フレーム1
1或いはペレツト4の何れか一方をXYテーブル
に載せて水平面内のX又はY方向の相対的運動を
行なわしめればよい。 Frame 1 is used to move capillary 1 directly above a predetermined pad and a predetermined lead.
1 or pellets 4 may be placed on an XY table and relative movement in the X or Y direction within a horizontal plane may be performed.
制御機構37には次の如き異常検出機構が含ま
れている。即ち、昇降フレーム24が下降してボ
ール3の下端がパツド5に接触した時点でスター
トするタイマーを備え、正常な状態のボール3及
び昇降フレーム24のストロークに対し、適正な
押しつぶし量を与えるに十分な押しつぶし時間を
設定し、この所定の押しつぶし時間が経過しても
マグネセンサ34による変位検出機構によつて検
出されたワイヤ押しつぶし量が所定の押しつぶし
量に達していない時に異常信号を発するようにし
て、この異常信号によりボンデイング動作を停止
するようにする。 The control mechanism 37 includes the following abnormality detection mechanism. That is, a timer is provided that starts when the lower end of the ball 3 contacts the pad 5 when the lifting frame 24 is lowered, and is sufficient to provide an appropriate amount of compression for the stroke of the ball 3 and the lifting frame 24 in a normal state. A certain amount of squeezing time is set, and an abnormal signal is generated when the amount of wire squeezing detected by the displacement detection mechanism using the magnetic sensor 34 does not reach the predetermined amount of squeezing even after this predetermined squeezing time has elapsed. , the bonding operation is stopped by this abnormal signal.
本実施例は以上の如く構成され作用するので、
ボール3又はワイヤ2の一部の押しつぶし量e
を、押しつぶし量設定機構により規制することが
できるので、ワイヤ径、ボール径などの誤差に影
響されずに最適の押しつぶし量を得ることがで
き、押付力及び接触面積を好ましい範囲として、
良好な、信頼性のあるボンデイングを行なうこと
ができる。また、ペレツト4、リード6、ワイヤ
2が変つて作業条件が変つても、それに応じて最
適の押しつぶし量t1を設定することが容易に行な
え、作業性のよいボンデイングを行なうことがで
きる。 Since this embodiment is configured and operates as described above,
Squeezing amount e of a part of the ball 3 or wire 2
can be regulated by the crushing amount setting mechanism, so the optimal crushing amount can be obtained without being affected by errors in wire diameter, ball diameter, etc., and the pressing force and contact area can be set in a preferable range.
Good and reliable bonding can be performed. Furthermore, even if the pellet 4, lead 6, and wire 2 are changed and the working conditions change, the optimal crushing amount t1 can be easily set accordingly, and bonding can be performed with good workability.
偏心ピン32の偏心を調節することにより、最
適の板バネ31の力を選択することができる。 By adjusting the eccentricity of the eccentric pin 32, the optimal force of the leaf spring 31 can be selected.
さらに、前述の如き異常検出機構が備えられて
いるので、ボール3の寸法が過小であつた場合
に、所定の押しつぶし量に達する前に押しつぶし
作業が停止してしまうので、タイマーが所定の設
定時点に達しても、押しつぶし量検出値が所定の
押しつぶし量に達しない。この場合異常検出機構
が異常信号によりボンデイング動作を停止する。
これによりボール3が過小寸法であることを検知
し、ボール3の接触面積の不足による導通不良
や、はくりを未然に防止することができる。 Furthermore, since the above-mentioned abnormality detection mechanism is provided, if the dimensions of the ball 3 are too small, the crushing operation will stop before reaching the predetermined amount of crushing, so the timer will stop at the predetermined setting point. Even if , the squeezing amount detection value does not reach the predetermined squeezing amount. In this case, the abnormality detection mechanism stops the bonding operation based on the abnormality signal.
Thereby, it is possible to detect that the ball 3 is too small in size, and to prevent conduction failure or peeling off due to insufficient contact area of the ball 3.
接触時点T3から最低位置Z=Z2までに達する
時間が押しつぶしの変形速度に比べて極めて短い
場合は、以上の説明の如く時点T5から押しつぶ
しが開始されると見なされるが、T3とT4の間の
時点、例えばT4から押しつぶしが開始される場
合には、キヤピラリー1は、第5図Bの点線
B′の代りに二点鎖線B″の如く変位する。そのと
きチツプ36の動きは第5図Cの二点鎖線C′の如
くなる。そして戻りズレ量に相当するL′は、T4
とT5との間では実線Cと二点鎖線C′との間の距
離、T5とT6との間ではl=l2の水平線と二点鎖
線C′との間の距離となる。押しつぶし量eに相当
するe′は第5図Dにおいてt=t0の水平線と二点
鎖線D′との間の距離となる。板バネ31の撓み
は第5図Eの実線Eの代りに二点鎖線E′となる。 If the time from contact point T 3 to the lowest position Z = Z 2 is extremely short compared to the deformation speed of crushing, crushing is considered to start from time T 5 as explained above, but if T 3 and If the crushing is started between T 4 , e.g. T 4 , the capillary 1 will be
Instead of B', the tip 36 is displaced as shown by the two-dot chain line B''. At that time, the movement of the tip 36 becomes as shown by the two-dot chain line C' in FIG.
and T 5 is the distance between the solid line C and the two-dot chain line C', and between T 5 and T 6 it is the distance between the horizontal line of l=l 2 and the two-dot chain line C'. e', which corresponds to the amount of squeezing e, is the distance between the horizontal line at t= t0 and the two-dot chain line D' in FIG. 5D. The deflection of the leaf spring 31 is indicated by a two-dot chain line E' instead of the solid line E in FIG. 5E.
押しつぶし量e′に相当する戻しズレ量L′は、ズ
レ量lが最大のl2まで達しないので実測の検出値
のみからでは求めることはできない。従つて停止
距離設定値ZLから幾何学的な演算によりl2を求
め、l2から二点鎖線C′の検出値を差引いて求めれ
ばよく、そのL′が戻しズレ量設定値L′に達したと
きに押しつぶし量e′が押しつぶし量設定値t1に達
したことを知るようにすればよい。 The return displacement amount L' corresponding to the squeezing amount e' cannot be determined only from the actually measured detected value because the displacement amount l does not reach the maximum l2 . Therefore, it is sufficient to calculate l 2 from the stopping distance set value Z L by geometric calculation, and then subtract the detected value of the two-dot chain line C' from l 2 , and that L' becomes the return deviation amount set value L'. It is only necessary to know that the squeezing amount e′ has reached the squeezing amount set value t 1 when the squeezing amount e′ has reached the squeezing amount set value t 1 .
以上はキヤピラリーボンデイングの例を示した
が、ウエツジボンデイングにおいても同様であ
る。 The above is an example of capillary bonding, but the same applies to wedge bonding.
押圧力付加機構としては、板バネ31に限ら
ず、変位に応じて押圧力が変化する機構ならよ
い。例えばムービングコイルを用いて変位に応じ
た押圧力を与えるようにしてもよい。この場合は
印加電圧を変えることにより押圧力を変化せしめ
ることができる。例えば昇降フレーム24の急速
下降時に印加電圧を強めればストツパー33に強
力に押付けられるので、ホーン13などのボンデ
イングアームの振動を防ぐことができる。従つて
ストツパー33を電磁石とする必要はなく、単な
る固体片でよく、構造が簡単となる。 The pressing force applying mechanism is not limited to the leaf spring 31, and any mechanism that changes the pressing force depending on displacement may be used. For example, a moving coil may be used to apply a pressing force depending on the displacement. In this case, the pressing force can be changed by changing the applied voltage. For example, if the applied voltage is strengthened when the lifting frame 24 is rapidly lowered, it will be pressed strongly against the stopper 33, so that vibration of the bonding arm such as the horn 13 can be prevented. Therefore, there is no need for the stopper 33 to be an electromagnet, and it may be a simple solid piece, resulting in a simple structure.
本発明により、ワイヤ径、ボール径の誤差、ワ
イヤの材質の変動に影響を受けることなく、常に
適正な押付力、接触面積により確実な、信頼性の
高いボンデイングが行なえ、ペレツト、リードの
寸法の種類、ワイヤの材質、寸法、ボールの寸法
などの種類に応じて最適条件を容易に設定するこ
とができるボンデイング方法及びボンデイング装
置を提供することができ実用上極めて大なる効果
を奏することができる。 According to the present invention, reliable and reliable bonding can always be performed with appropriate pressing force and contact area without being affected by errors in wire diameter, ball diameter, or variations in wire material. It is possible to provide a bonding method and a bonding apparatus that can easily set optimum conditions depending on the type, wire material, size, ball size, etc., and can achieve extremely great practical effects.
第1図a,b,c,dは、ボンデイングの工程
説明図、第2図は従来のボンデイング装置の正面
図、第3図は本発明の実施例のボンデイング装置
の一部断面正面図、第4図a,b,c,d,eは
その作用工程を示す説明図、第5図はその工程中
の各部の作動を示すダイヤグラムである。
1……キヤピラリー、2……ワイヤ、3……ボ
ール、4……ペレツト、5……パツド、6……リ
ード、7……下端、8……扁平部、9……扁平
部、10……振動子、11……フレーム、12…
…ピン、13……ホーン、14……レバー、15
……ローラ、16……カム、17……バネ、18
……リール、19……クランプ、20……ハーフ
クランプ、21……トーチ、22……垂直軸、2
3……位置検出装置、24……昇降フレーム、2
5……昇降ガイド、26……メネジ部、27……
ネジ軸、28……パルスモータ、29……ピン、
30……揺動フレーム、31……板バネ、32…
…偏心ピン、33……ストツパー、34……マグ
ネセンサ、35……レバー、36……チツプ、3
7……制御機構。
Figures 1a, b, c, and d are explanatory diagrams of bonding processes, Figure 2 is a front view of a conventional bonding device, and Figure 3 is a partially sectional front view of a bonding device according to an embodiment of the present invention. Figures 4a, b, c, d, and e are explanatory diagrams showing the operating steps, and Figure 5 is a diagram showing the operation of each part during the process. 1... Capillary, 2... Wire, 3... Ball, 4... Pellet, 5... Pad, 6... Lead, 7... Lower end, 8... Flat part, 9... Flat part, 10... Vibrator, 11...Frame, 12...
...Pin, 13...Horn, 14...Lever, 15
...Roller, 16...Cam, 17...Spring, 18
... Reel, 19 ... Clamp, 20 ... Half clamp, 21 ... Torch, 22 ... Vertical axis, 2
3...Position detection device, 24...Elevating frame, 2
5...Lifting guide, 26...Female thread part, 27...
Screw shaft, 28...Pulse motor, 29...Pin,
30... Swing frame, 31... Leaf spring, 32...
...Eccentric pin, 33...Stopper, 34...Magnetic sensor, 35...Lever, 36...Tip, 3
7...Control mechanism.
Claims (1)
に回動可能に支えられたボンデイングアームの先
端に設けたボンデイングツールの下端にて、ワイ
ヤの一部を押しつぶしてワイヤを対象物にボンド
するボンデイング方法において;前記ボンデイン
グツールに対し下方に向かう押圧力を与えてお
き;前記昇降フレームを下降せしめ、前記ワイヤ
の一部が対象物に接触した後、なお前記押圧力に
逆らいながら下降を続け、前記接触時点から所定
距離を経た後に下降を停止し、前記押圧力により
前記ワイヤの一部を押しつぶしながらその押しつ
ぶし量を検出し、所定の押しつぶし量に達したと
きに押しつぶし動作を停止せしめることを特徴と
するボンデイング方法。 2 昇降可能な昇降フレームに、水平軸のまわり
に回動可能に支えられたボンデイングアームの先
端に設けたボンデイングツールの下端にて、ワイ
ヤの一部を押しつぶしてワイヤを対象物にボンド
するボンデイング方法において;前記ボンデイン
グツールに対し下方に向かう押圧力を与えてお
き;前記昇降フレームを下降せしめ、前記ワイヤ
の一部が対象物に接触した後、なお前記押圧力に
逆らいながら下降を続け、前記接触時点から所定
距離を経た後に下降を停止し、前記押圧力により
前記ワイヤの一部を押しつぶしながらその押しつ
ぶし量を検出し;前記接触時点から所定の時間が
経過しても前記検出押しつぶし量が、所定の押し
つぶし量に達しないときに、異常と判断してボン
デイング動作を停止せしめることを特徴とするボ
ンデイング方法。 3 昇降可能な昇降フレームに、水平軸のまわり
に回動可能に支えられたボンデイングアームの先
端に設けたボンデイングツールの下端にて、ワイ
ヤの一部を押しつぶしてワイヤを対象物にボンデ
イングするボンデイング装置において;前記ボン
デイングツールに下方に向く押圧力を与える押圧
力付加機構と、前記ボンデイングツールの、前記
昇降フレームに対する相対的上下方向変位を検出
する変位検出機構と;前記昇降フレームを下降せ
しめた際に、ワイヤが対象物に接触する時点を検
出し、その後所定距離を下降した時に前記昇降フ
レームの下降運動を停止せしめる停止距離設定機
構と;前記接触時点より後に、前記押圧力付加機
構からの力により押しつぶすワイヤの押しつぶし
量を、変記変位検出機構にて検出して、所定の押
しつぶし量になつた時に押しつぶし運動を停止せ
しめる押しつぶし量設定機構とを備えたことを特
徴とするボンデイング装置。 4 昇降可能な昇降フレームに、水平軸のまわり
に回動可能に支えられたボンデイングアームの先
端に設けたボンデイングツールの下端にて、ワイ
ヤの一部を押しつぶしてワイヤを対象物にボンデ
イングするボンデイング装置において;前記ボン
デイングツールに下方に向く押圧力を与える押圧
力付加機構と、前記ボンデイングツールの、前記
昇降フレームに対する相対的上下方向変位を検出
する変位検出機構と;前記昇降フレームを下降せ
しめた際に、ワイヤが対象物に接触する時点を検
出し、その後所定距離を下降した時に前記昇降フ
レームの下降運動を停止せしめる停止距離設定機
構と;前記接触時点より後に、前記押圧力付加機
構からの力により押しつぶすワイヤの押しつぶし
量を、前記変位検出機構にて検出して、前記接触
時点から所定の時間が経過しても前記検出押しつ
ぶし量が所定の押しつぶし量に達しないときにボ
ンデイング動作を停止せしめる異常検出機構とを
備えたことを特徴とするボンデイング装置。[Claims] 1. Targeting the wire by crushing a part of the wire at the lower end of a bonding tool provided at the tip of a bonding arm that is rotatably supported around a horizontal axis on a lift frame that can be raised and lowered. In a bonding method for bonding to an object; a downward pressing force is applied to the bonding tool; after the elevating frame is lowered and a part of the wire comes into contact with the object, while still resisting the pressing force; Continues to descend, stops descending after a predetermined distance from the point of contact, detects the amount of crushing while crushing a part of the wire with the pressing force, and stops the crushing operation when the predetermined amount of crushing is reached. A bonding method characterized by forcing. 2. A bonding method in which a part of the wire is crushed and bonded to the target object using the lower end of a bonding tool installed at the tip of a bonding arm that is rotatably supported around a horizontal axis on a lift frame that can be raised and lowered. A downward pressing force is applied to the bonding tool; After the elevating frame is lowered and a part of the wire comes into contact with the object, it continues to descend against the pressing force and the contact is made. The descent is stopped after a predetermined distance from the point of contact, and the amount of crushing is detected while crushing a part of the wire by the pressing force; A bonding method characterized by determining that an abnormality has occurred and stopping the bonding operation when the amount of compression is not reached. 3 A bonding device that crushes a portion of the wire at the lower end of the bonding tool provided at the tip of the bonding arm that is rotatably supported around a horizontal axis on a lift frame that can be raised and lowered to bond the wire to the target object. a pressing force applying mechanism that applies a downward pressing force to the bonding tool; and a displacement detection mechanism that detects vertical displacement of the bonding tool relative to the lifting frame; when the lifting frame is lowered; a stopping distance setting mechanism that detects the point in time when the wire contacts the object and then stops the descending movement of the lifting frame when the wire descends a predetermined distance; after the point of contact, a force from the pressing force applying mechanism is applied; A bonding device comprising a crushing amount setting mechanism that detects the crushing amount of a wire to be crushed by a variable displacement detection mechanism and stops the crushing movement when a predetermined crushing amount is reached. 4 A bonding device that crushes a portion of the wire and bonds the wire to the target object using the lower end of a bonding tool installed at the tip of a bonding arm that is rotatably supported around a horizontal axis on a lift frame that can be raised and lowered. a pressing force applying mechanism that applies a downward pressing force to the bonding tool; and a displacement detection mechanism that detects vertical displacement of the bonding tool relative to the lifting frame; when the lifting frame is lowered; a stopping distance setting mechanism that detects the point in time when the wire contacts the object and then stops the descending movement of the lifting frame when the wire descends a predetermined distance; after the point of contact, a force from the pressing force applying mechanism is applied; Abnormality detection in which the amount of crushing of the wire to be crushed is detected by the displacement detection mechanism and the bonding operation is stopped when the detected amount of crushing does not reach a predetermined amount of crushing even after a predetermined time has elapsed from the point of contact. A bonding device characterized by comprising a mechanism.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57093032A JPS58210629A (en) | 1982-06-02 | 1982-06-02 | Bonding and apparatus thereof |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57093032A JPS58210629A (en) | 1982-06-02 | 1982-06-02 | Bonding and apparatus thereof |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2211552A Division JPH03114239A (en) | 1990-08-13 | 1990-08-13 | Bonding surface contact detecting equipment |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58210629A JPS58210629A (en) | 1983-12-07 |
| JPH0141023B2 true JPH0141023B2 (en) | 1989-09-01 |
Family
ID=14071151
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57093032A Granted JPS58210629A (en) | 1982-06-02 | 1982-06-02 | Bonding and apparatus thereof |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58210629A (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000183101A (en) * | 1998-12-18 | 2000-06-30 | Kaijo Corp | Bonding equipment |
| WO2018110417A1 (en) * | 2016-12-14 | 2018-06-21 | 株式会社新川 | Wire bonding device and wire bonding method |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5310423B2 (en) * | 1974-09-06 | 1978-04-13 | ||
| JPS5473562A (en) * | 1977-11-24 | 1979-06-12 | Hitachi Ltd | Wire bonding device |
| JPS5524403A (en) * | 1978-08-09 | 1980-02-21 | Shinkawa Ltd | Detecting device of bonding face height |
-
1982
- 1982-06-02 JP JP57093032A patent/JPS58210629A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58210629A (en) | 1983-12-07 |
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