JPH0141215B2 - - Google Patents
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- JPH0141215B2 JPH0141215B2 JP57118770A JP11877082A JPH0141215B2 JP H0141215 B2 JPH0141215 B2 JP H0141215B2 JP 57118770 A JP57118770 A JP 57118770A JP 11877082 A JP11877082 A JP 11877082A JP H0141215 B2 JPH0141215 B2 JP H0141215B2
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- grains
- grain
- light
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/02—Food
- G01N33/10—Starch-containing substances, e.g. dough
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Biochemistry (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Adjustment And Processing Of Grains (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、穀粒中に混入する各種粒子の粒数お
よび整粒歩合などを測定する穀粒の被害粒測定装
置の改良に関する。
よび整粒歩合などを測定する穀粒の被害粒測定装
置の改良に関する。
農産物検査法に基づく検査項目には、穀粒の含
水率、色ツヤなどをみる形質、１立当りの重量を
調べる容積重の３種類と、コメの整つた割合をみ
る整粒歩合（％）および穀粒中に混入する被害粒
（病害粒、虫害粒、胴割粒など）、死米、着色粒、
異種穀粒、異物の最高限度（％）をそれぞれ規定
し、これらによつて品位の等級を決定している
が、前記含水率を科学的に測定する以外は目視に
頼つて測定するのが現状である。
水率、色ツヤなどをみる形質、１立当りの重量を
調べる容積重の３種類と、コメの整つた割合をみ
る整粒歩合（％）および穀粒中に混入する被害粒
（病害粒、虫害粒、胴割粒など）、死米、着色粒、
異種穀粒、異物の最高限度（％）をそれぞれ規定
し、これらによつて品位の等級を決定している
が、前記含水率を科学的に測定する以外は目視に
頼つて測定するのが現状である。
本発明は上記の諸点に鑑み、複数個の受光素子
を設け、通過する米粒に投光したスポツトライト
の投光量を米粒の前半と後半の両側部で別々に受
光し、両光量の差が任意の設定基準限界値に対し
て増減する値を検出する第１検出回路と、両光量
の和が任意の設定領域の光量に対して増減する値
を検出する第２検出回路とに連結することによ
り、各種粒子の識別およびその粒数の測定を電子
光学的に自動化して整粒歩合と、被害粒、死米、
異種穀粒、異物等の各粒数を短時間に、かつ高精
度にそれぞれ測定する高性能な装置を開発して提
供せんとするものである。
を設け、通過する米粒に投光したスポツトライト
の投光量を米粒の前半と後半の両側部で別々に受
光し、両光量の差が任意の設定基準限界値に対し
て増減する値を検出する第１検出回路と、両光量
の和が任意の設定領域の光量に対して増減する値
を検出する第２検出回路とに連結することによ
り、各種粒子の識別およびその粒数の測定を電子
光学的に自動化して整粒歩合と、被害粒、死米、
異種穀粒、異物等の各粒数を短時間に、かつ高精
度にそれぞれ測定する高性能な装置を開発して提
供せんとするものである。
本発明を実施例図について説明する。第１図お
よび第２図においては、符号１は箱形機枠で、該
機枠１内部に縦走状に籾粒を流動する送穀用条溝
２を設けた振動送穀樋３を横架状に設置し、その
排出側に籾粒を流下する流穀用条溝４を設けた傾
斜流穀樋５を連設し、該送穀樋５の流穀用条溝４
の板体５Ａにスリツト状の検出用透光窓６を設け
ると共に、該透光窓６の上下位置に光源７と受光
装置８をほぼ対向状に配置して前記透光窓６を通
過する籾粒の透過光線によつて各種粒子を検出す
るように形成してある。
よび第２図においては、符号１は箱形機枠で、該
機枠１内部に縦走状に籾粒を流動する送穀用条溝
２を設けた振動送穀樋３を横架状に設置し、その
排出側に籾粒を流下する流穀用条溝４を設けた傾
斜流穀樋５を連設し、該送穀樋５の流穀用条溝４
の板体５Ａにスリツト状の検出用透光窓６を設け
ると共に、該透光窓６の上下位置に光源７と受光
装置８をほぼ対向状に配置して前記透光窓６を通
過する籾粒の透過光線によつて各種粒子を検出す
るように形成してある。
また、前記振動送穀樋３は、その側部に振動傾
斜送穀樋９を並列して横架状に配設し、該傾斜送
穀樋９はその低位側受入部に供給ホツパー１０を
設けると共に、該樋面に籾粒を誘導する案内壁１
１を立設し、前記送穀用条溝４の初端部に設けた
穀粒流入口１２と、前記傾斜送穀樋９の高位側の
一側に設けた排穀口１３を相互に連結して一体的
に形成してある。
斜送穀樋９を並列して横架状に配設し、該傾斜送
穀樋９はその低位側受入部に供給ホツパー１０を
設けると共に、該樋面に籾粒を誘導する案内壁１
１を立設し、前記送穀用条溝４の初端部に設けた
穀粒流入口１２と、前記傾斜送穀樋９の高位側の
一側に設けた排穀口１３を相互に連結して一体的
に形成してある。
また前記受光装置８は、２条のオブテイカル・
フアイバ１４，１５の一側端を光学レンズ１６を
介して前記透光窓６に臨設すると共に、その他側
端に一対の受光素子１７，１８を設け、また受光
素子１７，１８は導線によつて機枠１上部のデジ
タル表示器１９に連結してある。
フアイバ１４，１５の一側端を光学レンズ１６を
介して前記透光窓６に臨設すると共に、その他側
端に一対の受光素子１７，１８を設け、また受光
素子１７，１８は導線によつて機枠１上部のデジ
タル表示器１９に連結してある。
次に第４図により米粒の明暗影について説明す
る。本図は前記透光窓６上に位置して下方から照
射された籾粒を示し、その各図ａ，ｂ，ｃ，ｄ，
ｅ，ｆ，ｇにおいて中央の縦状実線（太線）は透
光窓６のスリツト、楕円形の閉曲線（点線）は籾
粒内の米粒２０、また米粒２０中に記した縦状点
線（細線）は亀裂面Ｒをそれぞれ表わす。また図
ａにおいて、ＡおよびＢは前記各受光素子１７，
１８の各フアイバ１４，１５が対向するそれぞれ
の視点位置で、この視点位置において、前記光源
から籾粒に透光した透過光線を光学レンズ１６を
透して籾粒両側部２１，２２の光量をそれぞれ受
光した場合、各受光素子１７，１８の受光量（明
暗度）は共に等しく、その光量差が基準光量限界
値（電圧）以下になるので、この米粒は亀裂面の
ない整粒子として識別される。図ｂの米粒２０′
はその亀裂面Ｒが図上において透光窓６の左側に
あり、ために透光窓６から粒子内に入射した透過
光線は前記亀裂面Ｒで散乱して粒体左側部の光量
は低下し、その光量差が基準光量限界値以上とな
るので、この粒子は胴割粒として識別される。図
ｃの米粒２０″は上記米粒２０′と反対の明暗影面
を生ずるので、その光量差が基準光量限界値以上
となつて、この粒子も胴割粒として識別される。
次に図ｄ，ｅ，ｆ，ｇの異種異物の識別について
説明する。この場合は粒子全体の光量を受光して
識別するので、前記受光素子１７，１８の光量の
和を異種異物用検出回路に入力すると共に、該検
出回路に設けた比較器の設定値に着色粒、被害
粒、異種粒、異物に応じた各領域の識別用設定値
（実験的に求めた数値を用いる）をそれぞれ設定
する。図ｄの米粒２０…は粒子全体が着色されて
半透明化し、受光した全体光量が前記識別用設定
値と一致するので、この粒子は着色粒として識別
され、また図ｅは被害粒、図ｆは異種粒、図ｇは
異物を例示したものである。
る。本図は前記透光窓６上に位置して下方から照
射された籾粒を示し、その各図ａ，ｂ，ｃ，ｄ，
ｅ，ｆ，ｇにおいて中央の縦状実線（太線）は透
光窓６のスリツト、楕円形の閉曲線（点線）は籾
粒内の米粒２０、また米粒２０中に記した縦状点
線（細線）は亀裂面Ｒをそれぞれ表わす。また図
ａにおいて、ＡおよびＢは前記各受光素子１７，
１８の各フアイバ１４，１５が対向するそれぞれ
の視点位置で、この視点位置において、前記光源
から籾粒に透光した透過光線を光学レンズ１６を
透して籾粒両側部２１，２２の光量をそれぞれ受
光した場合、各受光素子１７，１８の受光量（明
暗度）は共に等しく、その光量差が基準光量限界
値（電圧）以下になるので、この米粒は亀裂面の
ない整粒子として識別される。図ｂの米粒２０′
はその亀裂面Ｒが図上において透光窓６の左側に
あり、ために透光窓６から粒子内に入射した透過
光線は前記亀裂面Ｒで散乱して粒体左側部の光量
は低下し、その光量差が基準光量限界値以上とな
るので、この粒子は胴割粒として識別される。図
ｃの米粒２０″は上記米粒２０′と反対の明暗影面
を生ずるので、その光量差が基準光量限界値以上
となつて、この粒子も胴割粒として識別される。
次に図ｄ，ｅ，ｆ，ｇの異種異物の識別について
説明する。この場合は粒子全体の光量を受光して
識別するので、前記受光素子１７，１８の光量の
和を異種異物用検出回路に入力すると共に、該検
出回路に設けた比較器の設定値に着色粒、被害
粒、異種粒、異物に応じた各領域の識別用設定値
（実験的に求めた数値を用いる）をそれぞれ設定
する。図ｄの米粒２０…は粒子全体が着色されて
半透明化し、受光した全体光量が前記識別用設定
値と一致するので、この粒子は着色粒として識別
され、また図ｅは被害粒、図ｆは異種粒、図ｇは
異物を例示したものである。
なお、前記光量の和は、粒子全体の光量を意味
するので、粒子全体の光量を受光する別の受光素
子を設ける場合も含まれる。また受光素子には、
フオトダイオード、フオトトランジスタ、光導電
セル、光電管、イメージセンサ等が使用される。
するので、粒子全体の光量を受光する別の受光素
子を設ける場合も含まれる。また受光素子には、
フオトダイオード、フオトトランジスタ、光導電
セル、光電管、イメージセンサ等が使用される。
次に第３図の制御用電気回路について説明す
る。受光装置８の両受光素子１８または１７は各
増幅器２３または２４を介して胴割粒用検出回路
２５の差動増幅器２６に連結され、その出力側は
比較器２７を介して記憶回路２８に連結されると
共に、前記増幅器２４の出力側の分岐路は粒子検
出回路２９を介して記憶回路２８に連結され、該
記憶回路２８の出力側一側端子は整粒用カウンタ
ー３０を介して整粒用デジタル表示器３１に、ま
たその他側端子は胴割粒用カウンター３２を介し
て胴割粒用デジタル表示器３３にそれぞれ連結さ
れ、３４は比較器２７に光量差の基準限界値を設
定する設定器である。
る。受光装置８の両受光素子１８または１７は各
増幅器２３または２４を介して胴割粒用検出回路
２５の差動増幅器２６に連結され、その出力側は
比較器２７を介して記憶回路２８に連結されると
共に、前記増幅器２４の出力側の分岐路は粒子検
出回路２９を介して記憶回路２８に連結され、該
記憶回路２８の出力側一側端子は整粒用カウンタ
ー３０を介して整粒用デジタル表示器３１に、ま
たその他側端子は胴割粒用カウンター３２を介し
て胴割粒用デジタル表示器３３にそれぞれ連結さ
れ、３４は比較器２７に光量差の基準限界値を設
定する設定器である。
また前記両受光素子１８または１９の各出力側
の分岐路は増幅器３５を介して異種異物用検出回
路３６に設けた比較器３７，３８，３９，４０に
それぞれ連結されると共に、その出力側は着色流
用カウンター４１、被害粒用カウンター４２、異
種穀粒用カウンター４３、異物用カウンター４４
をそれぞれ介して各デジタル表示器４５，４６，
４７，４８にそれぞれ連結され、４９は比較器３
７に接続した着色粒用設定器、５０は比較器３８
に接続した被害粒用設定器、５１は比較器３９に
接続した異物穀粒用設定器、５２は比較器４０に
接続した異物用設定器である。また前記各比較器
３７，３８，３９，４０の各出力側の分岐路は総
粒数検出回路に設けたOR回路５３の入力側に接
続されると共に、その出力側は総粒数用カウンタ
ー５４を介してデジタル表示器５５に連結してあ
る。
の分岐路は増幅器３５を介して異種異物用検出回
路３６に設けた比較器３７，３８，３９，４０に
それぞれ連結されると共に、その出力側は着色流
用カウンター４１、被害粒用カウンター４２、異
種穀粒用カウンター４３、異物用カウンター４４
をそれぞれ介して各デジタル表示器４５，４６，
４７，４８にそれぞれ連結され、４９は比較器３
７に接続した着色粒用設定器、５０は比較器３８
に接続した被害粒用設定器、５１は比較器３９に
接続した異物穀粒用設定器、５２は比較器４０に
接続した異物用設定器である。また前記各比較器
３７，３８，３９，４０の各出力側の分岐路は総
粒数検出回路に設けたOR回路５３の入力側に接
続されると共に、その出力側は総粒数用カウンタ
ー５４を介してデジタル表示器５５に連結してあ
る。
上述の構成であるから、供給ホツパー１０から
振動傾斜送穀樋９に流下した資料籾粒は、該傾斜
送穀樋９の振動作用によつて高位側に上送されて
排穀口１３から振動送穀樋３の条溝２に流入する
と共に、該送穀樋３の振動作用によつて前記条溝
２に縦走状に配列して流動し、また傾斜流穀樋５
の条溝４を急流状に流下走行して透光窓６をそれ
ぞれ通過する。該透光窓６に位置する籾粒は、下
部の光源７から籾粒に投光した透過光線が光学レ
ンズ１６、を透して籾粒両側部２１，２２の光量
を前記各受光素子１７，１８がそれぞれ受光して
その検出信号を制御用電気回路に送信する。そし
て胴割粒用検出回路２５に流入した各受光素子１
７，１８の信号は、差動増幅器２６によつて光量
差を検出すると共に、その検出信号は比較器２７
で設定器３４に設定した光量差の基準限界値と比
較してその一致信号を記憶回路２８に入力し、記
憶回路２８では粒子検出回路２９からの粒子通過
時間の信号と比較して限界値を超える信号数を検
出して記憶すると共に、所定の信号数以下の検出
信号を整粒用カウンター３０に入力してその粒数
が計算されると共に、デジタル表示器３１に入力
して整粒数を表示し、また所定の信号数以上の粒
子の検出信号を胴割粒用カウンター３２に入力し
てその粒数が計算されると共に、デジタル表示器
３３に入力して胴割粒数を表示する。また前記受
光素子１７または１８の分岐出力は増幅器３５に
よつて増幅して異種異物用検出回路３６に設けた
比較器３７，３８，３９，４０にそれぞれ入力さ
れ、比較器３７では、その入力信号を着色粒の識
別用数値を設定した設定器４９からの信号と比較
し、その一致信号を着色流用カウンター４１に入
力してその粒数を計算すると共に、カウンター信
号をデジタル表示器４５に入力して着色粒数を表
示し、比較器３８では、その入力信号を被害粒の
識別用数値を設定した設定器５０からの信号と比
較し、比較器３９では、その入力信号を異種粒の
識別用数値を設定した設定器５１からの信号と比
較し、比較器４０では、その入力信号を異物の識
別用数値を設定した設定器５２からの信号と比較
し、前記各比較器３８，３９，４０の各一致信号
を被害粒用カウンター４２、異種粒用カウンター
４３、異物用カウンター４４に入力してそれぞれ
の粒数を計算すると共に、各カウンター信号をデ
ジタル表示器４６，４７，４８にそれぞれ入力し
て被害粒数、異種粒数、異物数をそれぞれ表示す
る。また前記比較器３７，３８，３９，４０の各
分岐出力はOR回路５３に入力されると共に、そ
のOR信号を総粒数用カウンター５４に入力して
検出した粒数を計算し、そのカウンター信号をデ
ジタル表示器５５に入力して総粒数を表示する。
また前記総粒数用カウンター５４の分岐出力と前
記整粒用カウンター３０の分岐出力とを比率測定
器（図示しない）に入力して整粒歩合（％）を表
示する。
振動傾斜送穀樋９に流下した資料籾粒は、該傾斜
送穀樋９の振動作用によつて高位側に上送されて
排穀口１３から振動送穀樋３の条溝２に流入する
と共に、該送穀樋３の振動作用によつて前記条溝
２に縦走状に配列して流動し、また傾斜流穀樋５
の条溝４を急流状に流下走行して透光窓６をそれ
ぞれ通過する。該透光窓６に位置する籾粒は、下
部の光源７から籾粒に投光した透過光線が光学レ
ンズ１６、を透して籾粒両側部２１，２２の光量
を前記各受光素子１７，１８がそれぞれ受光して
その検出信号を制御用電気回路に送信する。そし
て胴割粒用検出回路２５に流入した各受光素子１
７，１８の信号は、差動増幅器２６によつて光量
差を検出すると共に、その検出信号は比較器２７
で設定器３４に設定した光量差の基準限界値と比
較してその一致信号を記憶回路２８に入力し、記
憶回路２８では粒子検出回路２９からの粒子通過
時間の信号と比較して限界値を超える信号数を検
出して記憶すると共に、所定の信号数以下の検出
信号を整粒用カウンター３０に入力してその粒数
が計算されると共に、デジタル表示器３１に入力
して整粒数を表示し、また所定の信号数以上の粒
子の検出信号を胴割粒用カウンター３２に入力し
てその粒数が計算されると共に、デジタル表示器
３３に入力して胴割粒数を表示する。また前記受
光素子１７または１８の分岐出力は増幅器３５に
よつて増幅して異種異物用検出回路３６に設けた
比較器３７，３８，３９，４０にそれぞれ入力さ
れ、比較器３７では、その入力信号を着色粒の識
別用数値を設定した設定器４９からの信号と比較
し、その一致信号を着色流用カウンター４１に入
力してその粒数を計算すると共に、カウンター信
号をデジタル表示器４５に入力して着色粒数を表
示し、比較器３８では、その入力信号を被害粒の
識別用数値を設定した設定器５０からの信号と比
較し、比較器３９では、その入力信号を異種粒の
識別用数値を設定した設定器５１からの信号と比
較し、比較器４０では、その入力信号を異物の識
別用数値を設定した設定器５２からの信号と比較
し、前記各比較器３８，３９，４０の各一致信号
を被害粒用カウンター４２、異種粒用カウンター
４３、異物用カウンター４４に入力してそれぞれ
の粒数を計算すると共に、各カウンター信号をデ
ジタル表示器４６，４７，４８にそれぞれ入力し
て被害粒数、異種粒数、異物数をそれぞれ表示す
る。また前記比較器３７，３８，３９，４０の各
分岐出力はOR回路５３に入力されると共に、そ
のOR信号を総粒数用カウンター５４に入力して
検出した粒数を計算し、そのカウンター信号をデ
ジタル表示器５５に入力して総粒数を表示する。
また前記総粒数用カウンター５４の分岐出力と前
記整粒用カウンター３０の分岐出力とを比率測定
器（図示しない）に入力して整粒歩合（％）を表
示する。
このように本発明の穀粒の被害粒測定装置は、
穀粒中に混入する各種粒子等の識別およびその各
粒数の測定を電子光学的に自動化して整粒歩合
と、被害粒、着色粒、異種粒、異物等を短時間に
かつ高精度に測定するので、その検査能率を大幅
に向上できると共に、その作業の省力化を充分に
達成でき、また検出作業を円滑化すると共に、穀
粒検査の信頼性を確保できる等の効果を奏するも
のである。
穀粒中に混入する各種粒子等の識別およびその各
粒数の測定を電子光学的に自動化して整粒歩合
と、被害粒、着色粒、異種粒、異物等を短時間に
かつ高精度に測定するので、その検査能率を大幅
に向上できると共に、その作業の省力化を充分に
達成でき、また検出作業を円滑化すると共に、穀
粒検査の信頼性を確保できる等の効果を奏するも
のである。
図面は本発明の実施例図である。第１図は本装
置の断面図、第２図はその要部の平面図、第３図
はその制御用電気回路図、第４図は籾粒の明暗影
の説明図である。 １…箱形機枠、２…送穀用条溝、３…振動送穀
樋、４…流穀用条溝、５…傾斜流穀樋、５Ａ…板
体、６…検出用透光窓、７…光源、８…受光装
置、９…振動傾斜送穀樋、１０…供給ホツパー、
１１…案内壁、１２…穀粒流入口、１３…排穀
口、１４，１５…オプテイカルフアイバ、１６…
光学レンズ、１７，１８…受光素子、１９…デジ
タル表示器、２０，２０′，２０″…米粒、２１，
２２…両側部、２３…増幅器、２４…増幅器、２
５…胴割粒用検出回路、２６…差動増幅器、２７
…比較器、２８…記憶回路、２９…粒子検出回
路、３０…整粒用カウンター、３１…整粒用デジ
タル表示器、３２…胴割粒用カウンター、３３…
胴割粒用デジタル表示器、３４…設定器、３５…
増幅器、３６…異種異物用検出回路、３７，３
８，３９，４０…比較器、４１…着色流用カウン
ター、４２…被害粒用カウンター、４３…異種穀
粒用カウンター、４４…異物用カウンター、４
５，４６，４７，４８…デジタル表示器、４９…
着色流用設定器、５０…被害粒用設定器、５１…
異種穀粒用設定器、５２…異物用設定器、５３…
OR回路、５４…総粒数用カウンター、５５…デ
ジタル表示器。
置の断面図、第２図はその要部の平面図、第３図
はその制御用電気回路図、第４図は籾粒の明暗影
の説明図である。 １…箱形機枠、２…送穀用条溝、３…振動送穀
樋、４…流穀用条溝、５…傾斜流穀樋、５Ａ…板
体、６…検出用透光窓、７…光源、８…受光装
置、９…振動傾斜送穀樋、１０…供給ホツパー、
１１…案内壁、１２…穀粒流入口、１３…排穀
口、１４，１５…オプテイカルフアイバ、１６…
光学レンズ、１７，１８…受光素子、１９…デジ
タル表示器、２０，２０′，２０″…米粒、２１，
２２…両側部、２３…増幅器、２４…増幅器、２
５…胴割粒用検出回路、２６…差動増幅器、２７
…比較器、２８…記憶回路、２９…粒子検出回
路、３０…整粒用カウンター、３１…整粒用デジ
タル表示器、３２…胴割粒用カウンター、３３…
胴割粒用デジタル表示器、３４…設定器、３５…
増幅器、３６…異種異物用検出回路、３７，３
８，３９，４０…比較器、４１…着色流用カウン
ター、４２…被害粒用カウンター、４３…異種穀
粒用カウンター、４４…異物用カウンター、４
５，４６，４７，４８…デジタル表示器、４９…
着色流用設定器、５０…被害粒用設定器、５１…
異種穀粒用設定器、５２…異物用設定器、５３…
OR回路、５４…総粒数用カウンター、５５…デ
ジタル表示器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 通過する米粒に投光したスポツトライトの透
光量を前半と後半の両側部で検出する複数個の受
光素子を設け、これら受光素子を、両側部の光量
の差が任意の設定基準限界値に対し増減する値を
検出する第１検出回路と、両側部の光量の和が任
意の設定領域の光量に対して増減する値を検出す
る第２検出回路とに連結したことを特徴とする穀
粒の被害粒測定装置。 ２ 前記の第１検出回路が、胴割粒と整粒とを識
別するための基準限界値を設定したものであるこ
とを特徴とした特許請求の範囲第１項記載の穀粒
の被害粒測定装置。 ３ 前記の第２検出回路が、着色粒、被害粒、異
種粒、異物をそれぞれ識別するための各領域の光
量値を設定したものであることを特徴とした特許
請求の範囲第１項または同第２項に記載の被害粒
測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11877082A JPS599557A (ja) | 1982-07-07 | 1982-07-07 | 穀粒の被害粒測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11877082A JPS599557A (ja) | 1982-07-07 | 1982-07-07 | 穀粒の被害粒測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS599557A JPS599557A (ja) | 1984-01-18 |
| JPH0141215B2 true JPH0141215B2 (ja) | 1989-09-04 |
Family
ID=14744633
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11877082A Granted JPS599557A (ja) | 1982-07-07 | 1982-07-07 | 穀粒の被害粒測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS599557A (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5539001A (en) * | 1978-09-13 | 1980-03-18 | Hayashi Yakuhin Kikai Kk | Defective capsule detector |
| JPS57151804A (en) * | 1981-03-13 | 1982-09-20 | Satake Eng Co Ltd | Detecting device for cracked grain of rice |
-
1982
- 1982-07-07 JP JP11877082A patent/JPS599557A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS599557A (ja) | 1984-01-18 |
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