JPH0161187B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0161187B2 JPH0161187B2 JP56098518A JP9851881A JPH0161187B2 JP H0161187 B2 JPH0161187 B2 JP H0161187B2 JP 56098518 A JP56098518 A JP 56098518A JP 9851881 A JP9851881 A JP 9851881A JP H0161187 B2 JPH0161187 B2 JP H0161187B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- strobe
- circuit
- signal
- integrated circuit
- data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 7
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 2
- 240000007320 Pinus strobus Species 0.000 description 11
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は集積回路検査装置に係り、特に集積回
路の良否判定を行なう回路に関する。
路の良否判定を行なう回路に関する。
集積回路の検査項目の一つにスピードに関し
て、その能力毎にグレード分類を行なう検査があ
る。従来はこうしたグレード分類の際、スピード
規格毎に複数回テストパタンを走らせ、該集積回
路のスペード能力がどのグレードに属するかを判
断する検査方式に依つていた。しかし乍ら、集積
回路内部の回路構成が複雑、多様化するにつれ、
テスト・パタンが長くなつて来た為、検査コスト
低減の点から検査時間の短縮が望まれていた。
て、その能力毎にグレード分類を行なう検査があ
る。従来はこうしたグレード分類の際、スピード
規格毎に複数回テストパタンを走らせ、該集積回
路のスペード能力がどのグレードに属するかを判
断する検査方式に依つていた。しかし乍ら、集積
回路内部の回路構成が複雑、多様化するにつれ、
テスト・パタンが長くなつて来た為、検査コスト
低減の点から検査時間の短縮が望まれていた。
本発明は、この上記せる従来の欠点を解決し
た、新規な判定回路を有する集積回路検査装置の
提供を目的とする。
た、新規な判定回路を有する集積回路検査装置の
提供を目的とする。
本発明の特徴は、集積回路検査装置の比較判定
回路において、複数のストローブ信号とそれ等の
各々と対応した不良検出回路を備えて、各々異な
るストローブ・タイミングで期待データと比較良
否判定し、その結果をストローブ毎に独立して認
識し得ることを特徴とした比較判定方式を有する
集積回路検査装置にある。例えば、動作波形を期
待波形と比較検査する際、１クロツクサイクル内
において時系列的に良否判定を行なうことを目的
として、複数のストローブの各々に独立に対応し
て該良否判定結果を認識し得る回路を具備した、
比較判定方式に関わるものである。
回路において、複数のストローブ信号とそれ等の
各々と対応した不良検出回路を備えて、各々異な
るストローブ・タイミングで期待データと比較良
否判定し、その結果をストローブ毎に独立して認
識し得ることを特徴とした比較判定方式を有する
集積回路検査装置にある。例えば、動作波形を期
待波形と比較検査する際、１クロツクサイクル内
において時系列的に良否判定を行なうことを目的
として、複数のストローブの各々に独立に対応し
て該良否判定結果を認識し得る回路を具備した、
比較判定方式に関わるものである。
本発明に依れば、スピード検査に関するテスト
回数の削減が期待できる。
回数の削減が期待できる。
以下に本発明の実施例を従来方式と対比しなが
ら、図を参照して説明する。
ら、図を参照して説明する。
第１図は従来方式による１チヤネル分の比較判
定回路の１列を示す原理図で、以下がその動作例
である。
定回路の１列を示す原理図で、以下がその動作例
である。
図中、レベル比較回路１はデバイス出力データ
Ｄを高レベル規格Ｃと低レベル規格Ｅとで比較
し、レベル比較結果信号Ｇを発生するもので、該
レベル比較結果信号は不良検出回路２で不良検出
イネーブル信号Ａによつて、期待データＢとスト
ローブ信号Ｆ発生時点のパタンの一致を検出し、
チヤネル毎に不良信号Ｈを発生する。該チヤネル
毎不良信号は、不良集結回路３で、１つの不良信
号に集結され、集結不良信号を発生する。
Ｄを高レベル規格Ｃと低レベル規格Ｅとで比較
し、レベル比較結果信号Ｇを発生するもので、該
レベル比較結果信号は不良検出回路２で不良検出
イネーブル信号Ａによつて、期待データＢとスト
ローブ信号Ｆ発生時点のパタンの一致を検出し、
チヤネル毎に不良信号Ｈを発生する。該チヤネル
毎不良信号は、不良集結回路３で、１つの不良信
号に集結され、集結不良信号を発生する。
ところで、スピード検査の一例にアクセスの項
目があるが、これを従来方式を用いてスピード分
類する際は、ストローブ、タイミングを各グレー
ド毎に設定し直して、同一のテストパタンを複数
回繰り返して、その良否判定結果を参照する必要
があり、テスト時間が長くなる欠点があつた。
目があるが、これを従来方式を用いてスピード分
類する際は、ストローブ、タイミングを各グレー
ド毎に設定し直して、同一のテストパタンを複数
回繰り返して、その良否判定結果を参照する必要
があり、テスト時間が長くなる欠点があつた。
第２図は本発明による比較判定方式の一例を示
す原理図で、Fa，Fbは各々異なるタイミング値
に設定されたストローブ信号である。レベル比較
結果信号Ｇはレベル比較回路１の出力で、ストロ
ーブ毎に独立した２系統の不良検出回路と不良集
結回路に分割して取り込まれている。さて、ここ
で本発明実施例を用いて先に引用した該アクセス
項目のスピード分類を行なうと、各々のストロー
ブのタイミング設定値を各グレード毎に設定し
て、テスト・パタンを走らせ、該集結不良信号の
各々の結果を参照することで、該集積回路がどの
グレードに属するかを１回のテスト・パタンで走
行で行なうことができる利点がある。
す原理図で、Fa，Fbは各々異なるタイミング値
に設定されたストローブ信号である。レベル比較
結果信号Ｇはレベル比較回路１の出力で、ストロ
ーブ毎に独立した２系統の不良検出回路と不良集
結回路に分割して取り込まれている。さて、ここ
で本発明実施例を用いて先に引用した該アクセス
項目のスピード分類を行なうと、各々のストロー
ブのタイミング設定値を各グレード毎に設定し
て、テスト・パタンを走らせ、該集結不良信号の
各々の結果を参照することで、該集積回路がどの
グレードに属するかを１回のテスト・パタンで走
行で行なうことができる利点がある。
このことから、本発明に依れば検査時間の短縮
が計れることは明らかである。
が計れることは明らかである。
第１図は従来の集積回路検査装置の比較判定回
路の一例を示し、第２図は本発明による比較判定
回路の１例を示す原理図である。 なお、図において、１……レベル比較回路、２
……不良検出回路、３……不良集結回路、Ａ……
不良検出イネーブル信号、Ｂ……期待データ、Ｃ
……高レベル規格、Ｄ……デバイス出力データ、
Ｅ……低レベル規格、Ｆ……ストローブ信号、Ｇ
……レベル比較結果信号、Ｈ……チヤネル毎不良
信号、Ｉ……集結不良信号、である。
路の一例を示し、第２図は本発明による比較判定
回路の１例を示す原理図である。 なお、図において、１……レベル比較回路、２
……不良検出回路、３……不良集結回路、Ａ……
不良検出イネーブル信号、Ｂ……期待データ、Ｃ
……高レベル規格、Ｄ……デバイス出力データ、
Ｅ……低レベル規格、Ｆ……ストローブ信号、Ｇ
……レベル比較結果信号、Ｈ……チヤネル毎不良
信号、Ｉ……集結不良信号、である。
Claims (1)
- １ 集積回路検査装置の比較判定回路において、
複数のストローブ信号と、該信号の各々と対応し
た不良検出回路とを備えて、各々異なるストロー
ブタイミングで期待データと測定データとの比較
良否判定し、該判定結果を前記ストローブ信号毎
に独立して認識し得る機能を含むことを特徴とす
る集積回路検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56098518A JPS58773A (ja) | 1981-06-25 | 1981-06-25 | 集積回路検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56098518A JPS58773A (ja) | 1981-06-25 | 1981-06-25 | 集積回路検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58773A JPS58773A (ja) | 1983-01-05 |
| JPH0161187B2 true JPH0161187B2 (ja) | 1989-12-27 |
Family
ID=14221865
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56098518A Granted JPS58773A (ja) | 1981-06-25 | 1981-06-25 | 集積回路検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58773A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2604606B2 (ja) * | 1987-11-24 | 1997-04-30 | 株式会社アドバンテスト | 回路試験装置 |
| DE19601524A1 (de) * | 1996-01-17 | 1997-07-24 | Hell Ag Linotype | Einen gesteuerten Asynchronmotorantrieb für einen Trommelscanner, dessen Rotor als Hohlwelle zur Anordnung der Innenbeleuchtungseinrichtung ausgerichtet ist |
-
1981
- 1981-06-25 JP JP56098518A patent/JPS58773A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58773A (ja) | 1983-01-05 |
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