JPH0175804U - - Google Patents

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JPH0175804U
JPH0175804U JP1987171060U JP17106087U JPH0175804U JP H0175804 U JPH0175804 U JP H0175804U JP 1987171060 U JP1987171060 U JP 1987171060U JP 17106087 U JP17106087 U JP 17106087U JP H0175804 U JPH0175804 U JP H0175804U
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light
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type region
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  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案に係る半導体光位置検出装置の
第1の実施例を示す平面図、第2,3図は本考案
の第2の実施例を示すものであつて、第2図はそ
の平面図、第3図は第2図のA―A線断面図、第
4,5図は従来の半導体光位置検出装置を示すも
のであつて、第4図はその平面図および第5図は
従来の半導体光位置検出装置の素子構成を示す断
面図である。 1……エピタキシヤル基板、2……P形シリコ
ン基板、3……n形エピタキシヤル層、4……P
分離拡散領域、5……n埋め込み層、6,6
a,7,7a……P形ベース拡散領域、8……n
エミツタ領域、9,9a……P形抵抗層(反対
導電形領域)、10,10a,11,11a……
出力用金属電極、12……バイアス用金属電極、
13……SiO膜、14……コンタクトホール
、15……遮光膜、PSDa〜a……検出用
検出素子、PSDb〜b……ダミー用検出素
子。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 一導電形半導体領域に光が照射される反対導電
    形領域と光が遮光される反対導電形領域とを形成
    し、上記光が照射される反対導電形領域の出力信
    号から光が遮光される反対導電形領域の出力信号
    を減算しリーク電流を補償して光位置を検出する
    半導体光位置検出装置において、 前記光が照射される反対導電形領域と遮光され
    る反対導電形領域を交互に複数配置するとともに
    、それぞれの領域を並列接続したことを特徴とす
    る半導体光位置検出装置。
JP17106087U 1987-11-09 1987-11-09 Expired - Lifetime JPH0543365Y2 (ja)

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JP17106087U JPH0543365Y2 (ja) 1987-11-09 1987-11-09

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JPH0175804U true JPH0175804U (ja) 1989-05-23
JPH0543365Y2 JPH0543365Y2 (ja) 1993-11-01

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JP (1) JPH0543365Y2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001044403A (ja) * 1999-07-30 2001-02-16 Fujitsu Ltd 半導体撮像装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001044403A (ja) * 1999-07-30 2001-02-16 Fujitsu Ltd 半導体撮像装置

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JPH0543365Y2 (ja) 1993-11-01

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