JPH01780A - Connection body device and its manufacturing method - Google Patents

Connection body device and its manufacturing method

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JPH01780A
JPH01780A JP62-155823A JP15582387A JPH01780A JP H01780 A JPH01780 A JP H01780A JP 15582387 A JP15582387 A JP 15582387A JP H01780 A JPH01780 A JP H01780A
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JP
Japan
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thin film
ribbon
groove
wiring
superconducting
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JP62-155823A
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亀山 周一
隆 上原
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH01780A publication Critical patent/JPH01780A/en
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、超伝導体く以下、超電導と記す。)等を用い
た接続体装置に関するもので、特に化合物等の超電導体
薄膜を組入れた接続体装置の構造ならびにその製造方法
に係るものである。
[Detailed Description of the Invention] Industrial Application Field The present invention relates to a superconductor, hereinafter referred to as superconductor. ) etc., and particularly relates to the structure of a connector device incorporating a superconductor thin film such as a compound and its manufacturing method.

従来の技術 ゛ 従来、比較的高温の臨界転移温度を有する超電導体
として、窒化ニオブ(NbN)やゲルマニウムニオブ(
N b s G e )などが知られていたが。
Conventional technology In the past, niobium nitride (NbN) and germanium niobium (
N b s G e ), etc. were known.

これらの素材の超電導転移温度はたかだか24゛にであ
った。さらに高い転移温度が期待されるものとして、ペ
ロブスカイト系3元化合物のBa−La−Cu−0系、
などが提案されていた。しかしながら、最近の研究によ
れば、Y−Ba−Cu−〇系の材料が液体窒素温度を越
える可能性が示唆され(M、に、Wu  等、フィジカ
ル レビューレターズ(Pysical  Revie
w  Letters)vof、 58、N009、P
P、 908910(1987)) 、現実に、90°
に以上の転移温度を有する超電導化合物が報告されてき
ている。
The superconducting transition temperature of these materials was at most 24°. Among those expected to have an even higher transition temperature are the Ba-La-Cu-0 perovskite ternary compounds;
etc. were proposed. However, recent research suggests that Y-Ba-Cu-○-based materials may exceed liquid nitrogen temperatures (M., Wu et al., Physical Review Letters).
w Letters) vof, 58, N009, P
P, 908910 (1987)), in reality, 90°
Superconducting compounds with transition temperatures above .

発明が解決しようとする問題点 単結晶性の超電導薄膜は、多結晶性の超電導薄膜に比べ
て、その配線等の臨界電流密度が太き(取れること、さ
らに、配線等の受動素子ではな(能動素子の活性領域と
しても使用され、その実用化が急がれていた。Y−Ba
−Cu−0系の化合物の薄膜は、焼結法あるいはスパッ
タリング法で形成しても、超電導性を示すセラミックの
粉体、塊状体などが比較的得られやすいが、臨界電流の
大きい結晶軸のそろった単結晶性の強い薄膜が得られに
くかった。しかしながら、本発明人等の知りえたところ
では、スパッタリング法においても、結晶を堆積させる
基体として、高温に加熱されたサファイア(α−A12
03>、酸化マグネシウム、スピネル、シリコン、ガリ
ウムひ素等の単結晶を用いることが、単結晶性の良い超
電導薄膜を形成するために、非常に有効であることを見
いだした。さらに、このように形成された薄膜は基体の
平面に対して、その結晶のC軸が垂直に立ちやす(、し
かも、この平面方向(C軸に垂直な方向)に流れる超電
導電流のキャリア密度が、C軸に沿った方向(C軸に平
行な方向)に流れる超電導電流のキャリア密度よりも数
倍大きいことが見いだされた。すなわち、C軸に垂直な
方向に超電導電流を流しやすく、C軸に平行な方向には
、超電導電流を取り出しにくかった。さらには、超電導
のコヒーレンス長もC軸に垂直な方向には、数十ナノ・
メータ、C軸に平行な方向には、数ナノ・メータ程度で
、同じく、数倍の差があることが知られた。このように
、Y−Ba−Cu−0系等の化合物の薄膜超電導体を、
例えば、集積回路接続体装置の配線等の用途に用いたと
き、基体の水平面方向に流れやすい超電導電流の異方性
がみられやすく、平面に垂直な方向に電流を取り出しに
くいという問題が有った。
Problems to be Solved by the Invention Single-crystalline superconducting thin films have higher critical current densities in interconnects, etc. than polycrystalline superconducting thin films; It was also used as the active region of active elements, and its practical application was urgently sought.
Even if a thin film of -Cu-0-based compounds is formed by sintering or sputtering, it is relatively easy to obtain ceramic powders or lumps that exhibit superconductivity. It was difficult to obtain a uniform thin film with strong single crystallinity. However, as far as the inventors have known, even in the sputtering method, sapphire (α-A12
03>, we have found that using single crystals such as magnesium oxide, spinel, silicon, gallium arsenide, etc. is very effective for forming superconducting thin films with good single crystallinity. Furthermore, in the thin film formed in this way, the C axis of the crystal tends to be perpendicular to the plane of the substrate (and, moreover, the carrier density of the superconducting current flowing in the direction of this plane (perpendicular to the C axis) is It was found that the carrier density of the superconducting current flowing in the direction along the C-axis (parallel to the C-axis) is several times larger than that of the carrier density.In other words, it is easier to flow the superconducting current in the direction perpendicular to the C-axis, It was difficult to extract the superconducting current in the direction parallel to the C axis.Furthermore, the coherence length of the superconductor was several tens of nanometers in the direction perpendicular to the C axis.
It is known that in the direction parallel to the C axis, there is a difference of several nanometers, which is also several times larger. In this way, thin film superconductors made of compounds such as Y-Ba-Cu-0,
For example, when used in applications such as wiring for integrated circuit interconnection devices, there is a problem in that the anisotropy of superconducting current that tends to flow in the horizontal plane of the substrate makes it difficult to extract current in the direction perpendicular to the plane. Ta.

問題点を解決するための手段 この問題点を解決するために本発明は、基体上に形成さ
れ、基体に平行な平面方向に流れやすい導電性の異方性
がみられる第1のリボン状薄膜と、前記第1のリボン状
薄膜の表面から形成された溝部と、前記溝部に接続して
形成された、導電性の異方性がみられない等方性の第2
のリボン状薄膜とから構成され、第1のリボン状薄膜の
溝部の側面から第2のリボン状薄膜へ電流を取り出すこ
とを特徴とする接続体装置と、基体上に、基体に対して
平行な平面方向に流れやすい導電性の異方性がみられる
第1のリボン状薄膜を形成する工程と、前記第1のリボ
ン状薄膜の表面から溝部を形成する工程と、前記溝部に
接続した、導電性の異方性がみられない等方性の第2の
リボン状薄膜を形成する工程とからなり、第1のリボン
状薄膜の溝部の側面から第2のリボン状薄膜へ電流を取
り出すことを特徴とする接続体装置の製造方法を提供す
る。
Means for Solving the Problem In order to solve this problem, the present invention provides a first ribbon-shaped thin film formed on a substrate and exhibiting conductive anisotropy that tends to flow in a plane parallel to the substrate. , a groove formed from the surface of the first ribbon-shaped thin film, and an isotropic second groove formed in connection with the groove and having no conductive anisotropy.
a ribbon-shaped thin film; and a connecting body device characterized in that the current is taken out from the side surface of the groove of the first ribbon-shaped thin film to the second ribbon-shaped thin film; a step of forming a first ribbon-shaped thin film exhibiting conductive anisotropy that easily flows in the plane direction; a step of forming a groove from the surface of the first ribbon-shaped thin film; and a step of forming a conductive thin film connected to the groove. The process consists of a step of forming an isotropic second ribbon-like thin film with no visible anisotropy, and extracting current from the side surface of the groove of the first ribbon-like thin film to the second ribbon-like thin film. A method for manufacturing a connecting body device having characteristics is provided.

作用 本発明の方法により、例えば、基体に平行な平面方向に
流れやすい導電性の異方性がみられるY−Ba−Cu−
0系の材料のリボン状薄膜において、この異方性のリボ
ン状薄膜の表面から溝部を形成することにより、この溝
部の側面から、基体に平行な平面方向に流れる電流を取
り出すことが容易になる。したがって、この溝部の側面
に接して異方性のないリボン状薄膜の導電膜を形成すれ
ば良いことになる。この時、これら2つのリボン状3膜
が超電導性を示せば、電気抵抗のない多層配線が実現で
きる。さらには、溝部が深い場合、異方性のないリボン
状薄膜を溝部に均質に埋め込むことが困難となるので、
溝部の側面を、少し、先細りのテーパー状にしておくこ
とが好ましい。
Function: By the method of the present invention, for example, Y-Ba-Cu-
By forming a groove from the surface of the anisotropic ribbon-like thin film of a zero-based material, it becomes easy to extract current flowing in a plane parallel to the substrate from the side surface of the groove. . Therefore, it is sufficient to form a conductive film in the form of a ribbon-like thin film without anisotropy in contact with the side surfaces of this groove. At this time, if these two ribbon-shaped three films exhibit superconductivity, a multilayer wiring without electrical resistance can be realized. Furthermore, if the groove is deep, it is difficult to uniformly fill the groove with a ribbon-like thin film without anisotropy.
It is preferable that the side surfaces of the groove are slightly tapered.

また、溝部の側面から最大限に電流を取り出すためには
、異方性のリボン状薄膜の底面まで溝部をエツチングし
て側面の面積を最大にしておくことが好ましい。一方、
異方性の薄膜の平面に対して垂直な方向の薄膜のコヒー
レンス長が、薄膜の厚みに対して比較的大きい場合、必
ずしも、薄膜の底面に達するまで溝部をエツチングする
必要はない。すなわち、溝部の下に、コヒーレンス長程
度あるいはそれ以下の薄膜が残っていても溝部の底部か
ら超電導電流を取り出すことが可能なためである。さら
には、溝部をテーパー状に形成した場合、薄膜の縦方向
のコヒーレンス長と、溝部の側面をテーパー状にしてお
くことによる溝部の増大した実効側面積との積から決ま
る電流引出し領域の体積を大きく取ることができるので
、これにより、電流引出しの効率の改善が達成される。
In order to extract the maximum amount of current from the side surfaces of the groove, it is preferable to etch the groove to the bottom of the anisotropic ribbon-like thin film to maximize the area of the side surfaces. on the other hand,
If the coherence length of the thin film in the direction perpendicular to the plane of the anisotropic thin film is relatively large relative to the thickness of the thin film, it is not necessarily necessary to etch the grooves all the way to the bottom of the thin film. In other words, even if a thin film with a thickness equal to or less than the coherence length remains under the groove, it is possible to extract the superconducting current from the bottom of the groove. Furthermore, when the groove is formed into a tapered shape, the volume of the current extraction region is determined by the product of the longitudinal coherence length of the thin film and the increased effective lateral area of the groove due to the tapered side surfaces of the groove. This achieves an improvement in the efficiency of current extraction, since it can be made larger.

この点から考えても、溝部をテーパー状に形成すること
が好ましい。
Considering this point as well, it is preferable to form the groove portion in a tapered shape.

実施例 以下、本発明の方式による超電導配線を用いた接続体装
置の構造を、第1の実施例として、第1図を参照して詳
細に説明する。
EXAMPLE Hereinafter, the structure of a connecting body device using superconducting wiring according to the method of the present invention will be described in detail as a first example with reference to FIG.

結晶性のサファイア(α−A 1203)の基体100
上に、700−1000″Cの基体温度で形成されたC
軸がほぼ基体の平面に垂直な方向に配列されたY−Ba
−Cu−0系結晶の厚さ約1000ナノ・メータのリボ
ン状の超電導性の薄膜配線110と、この薄膜の表面を
被覆するシリコン酸化膜120の表面から開口された溝
部140A、140Bと、この溝部140に接続された
多結晶状(基体温度200−500“Cで形成)のY−
Ba−Cu−0系結晶の厚さ約1500ナノ・メータ超
電導薄膜配線160A、160Bが形成されている。こ
こに、超電導配線160Cは、超電導配線110上を通
過する配線である。本発明の構造によれば、等方的に電
流を流せる配線160Aから流れ込んだ電流は、配線1
10に形成された溝部140Aの側面150Aから一様
に流れ込み、溝部140Bの側面150Bから配線16
0Bに、良好に、取り出された。もし、この様な配置に
おいて配線160Cの下の酸化膜120に開口を設け、
配線110に溝部を形成せずに、配線110と配線16
0Cとを接続したとしても、配線160Aから流れ込ん
だ電流は、配線160Cには流れ込まずに、大部分の電
流が溝部140Bの側面150Bから配線160Bに取
り出される。
Substrate 100 of crystalline sapphire (α-A 1203)
On top, C formed at a substrate temperature of 700-1000″C
Y-Ba whose axis is arranged in a direction substantially perpendicular to the plane of the substrate
-A ribbon-shaped superconducting thin film wiring 110 of approximately 1000 nanometers thick made of Cu-0 based crystal, grooves 140A and 140B opened from the surface of a silicon oxide film 120 covering the surface of this thin film, and Polycrystalline Y- (formed at a substrate temperature of 200-500"C) connected to the groove 140
Superconducting thin film wirings 160A and 160B made of Ba-Cu-0 based crystal and having a thickness of about 1500 nanometers are formed. Here, the superconducting wiring 160C is a wiring that passes over the superconducting wiring 110. According to the structure of the present invention, the current flowing from the wiring 160A through which the current can flow isotropically is
The wiring 16 flows uniformly from the side surface 150A of the groove 140A formed in the groove 10, and the wiring 16 flows from the side surface 150B of the groove 140B.
It was successfully taken out at 0B. If an opening is provided in the oxide film 120 under the wiring 160C in this arrangement,
The wiring 110 and the wiring 16 are separated without forming a groove in the wiring 110.
0C, the current flowing from the wiring 160A does not flow into the wiring 160C, and most of the current is extracted from the side surface 150B of the groove 140B to the wiring 160B.

本発明の方式による超電導配線を用いた接続体装置の構
造を、第2の実施例として、第2図を参照して詳細に説
明する。
The structure of a connecting body device using superconducting wiring according to the method of the present invention will be described in detail as a second embodiment with reference to FIG. 2.

第2図に示されているように、第1図の第1の実施例と
ばば同じ構成であるが、配線110に形成された溝部の
側面150A、150Bの形が、深さ方向に先細りのテ
ーパー状となっている。このテーパ状の溝部により、次
のような効果が得られた。はぼ、垂直な側面を有する溝
部が深い場合、リボン状薄膜配線160A、160Bを
溝部に均質に埋め込むことが困難となるが、溝部の側面
を、先細りのテーパー状にしてお(ことにより、薄膜配
線160A、160Bを溝部に均質に埋め込むことが容
易となる。さらには、溝部をテーパー状に形成した場合
、薄膜配線110の縦方向のコヒーレンス長と、溝部の
側面をテーパー状にしておくことによる溝部の増大した
実効側面積との積から決まる電流引出し領域の体積が大
きい。これにより、電流引出しの効率の改善が達成され
る。
As shown in FIG. 2, it has the same configuration as the first embodiment shown in FIG. It has a tapered shape. This tapered groove provided the following effects. If the groove with vertical side surfaces is deep, it will be difficult to uniformly embed the ribbon-shaped thin film wirings 160A and 160B in the groove. It becomes easy to uniformly embed the wirings 160A and 160B in the grooves.Furthermore, when the grooves are formed in a tapered shape, the longitudinal coherence length of the thin film wiring 110 and the tapered side surfaces of the grooves make it easier. The volume of the current extraction area determined by the product of the increased effective lateral area of the groove portion is large.Thereby, an improvement in the efficiency of current extraction is achieved.

本発明の方式による超電導配線を用いた接続体装置の製
造方法を、第3の実施例として、第3図(a)−(c)
を参照して詳細に説明する。
3(a) to 3(c) show a third embodiment of the method of manufacturing a connecting body device using superconducting wiring according to the method of the present invention.
This will be explained in detail with reference to .

第3図(a)のどと(、結晶性のサファイア(α−A 
I 20 a )の基体100上に、700−1000
″Cの基体温度で、C軸がほぼ基体の平面に垂直な方向
に配列されるようにY−Ba−Cu−0系結晶の厚さ約
1000ナノ・メータのリボン状の超電導性の薄膜を形
成し、通常のホトエツチング工程とアルゴン等を用いた
物理的エツチングにより、リボン状の配線110を形成
し、さらに、全面に、シリコン酸化膜等の絶縁膜120
を形成した。
Figure 3 (a) Throat (, crystalline sapphire (α-A
700-1000 on the substrate 100 of I20a)
A ribbon-shaped superconducting thin film of about 1000 nanometers thick of Y-Ba-Cu-0 system crystals is formed at a substrate temperature of "C" so that the C-axis is aligned in a direction substantially perpendicular to the plane of the substrate. A ribbon-shaped wiring 110 is formed by a normal photoetching process and physical etching using argon or the like, and an insulating film 120 such as a silicon oxide film is formed on the entire surface.
was formed.

第3図(b)のごと(、通常のホトエツチング工程にア
ルゴン等を用いた物理的エツチングにより、深さ約80
0ナノ・メータのほぼ垂直な側面を有する溝部1’40
A、140Bを形成し、全面に、多結晶状(基体温度2
00−500°Cで形成)のY−Ba−Cu−0系結晶
の厚さ約1500ナノ・メータ超電導薄膜160を堆積
させ、さらに、通常のホトエツチング工程により、レジ
スト・パターン180A、180B、180Cを形成し
た。
As shown in Fig. 3(b), a depth of about 80 mm is etched by physical etching using argon or the like in a normal photo-etching process.
Groove 1'40 with nearly vertical sides of 0 nanometers
A, 140B is formed on the entire surface, polycrystalline (substrate temperature 2
A superconducting thin film 160 of approximately 1500 nanometers thick is deposited using Y-Ba-Cu-0 crystals (formed at 00-500°C), and resist patterns 180A, 180B, and 180C are formed by a normal photoetching process. Formed.

第3図(C)のごとく、レジスト・パターン180A、
180B、180Gをマスクとして、超電導薄膜160
をアルゴン等を用いた物理的エツチングにより、リボン
状の超電導配線160A。
As shown in FIG. 3(C), resist pattern 180A,
Using 180B and 180G as masks, superconducting thin film 160
A ribbon-shaped superconducting wiring 160A is formed by physical etching using argon or the like.

160’B、160’Cを形成し、レジスト180A等
を除去した。ここに、超電導配線160Cは、超電導配
線110上を通過する配線である。
160'B and 160'C were formed, and the resist 180A and the like were removed. Here, the superconducting wiring 160C is a wiring that passes over the superconducting wiring 110.

以上のように、本発明の製造方法によれば、等方的に電
流を流せる配線160Aから流れ込んだ電流は、配線1
10に形成された溝部140Aの側面から一様に流れ込
み、溝部140Bの側面150Bから配線160Bに、
良好に、取り出された。
As described above, according to the manufacturing method of the present invention, the current flowing from the wiring 160A through which the current can flow isotropically is
10, uniformly flows from the side surface of the groove 140A formed in the groove 140B, and flows from the side surface 150B of the groove 140B to the wiring 160B.
It was taken out in good condition.

本発明の方式による超電導配線を用いた接続体装置の製
造方法を、第4の実施例として、第4図(a)−(C)
を参照して詳細に説明する。
A fourth embodiment of the method of manufacturing a connecting body device using superconducting wiring according to the method of the present invention is shown in FIGS. 4(a) to 4(C).
This will be explained in detail with reference to .

第4図(a)のどと(、結晶性のサファイア基体100
上に、基体に平行な平面方向に流れやすい導電性の異方
性がみられるY−Ba−Cu−0系の厚さ約1000ナ
ノ・メータのリボン状超電導薄・膜の第1層目の配線1
10を形成し、2層配線の眉間の絶縁膜となるシリコン
酸化膜120を堆積した後、基体に平行な平面方向に流
れやすい導電性の異方性がみられるY−!3a−Cu−
0系の材料のリボン状超電導薄膜の第2層目の配線20
0A、200B、200Cを形成し、ココテ、全面に、
絶縁膜となるシリコン酸化膜220を堆積した。
FIG. 4(a) Throat (crystalline sapphire substrate 100
Above is the first layer of a Y-Ba-Cu-0 based ribbon-shaped superconducting thin film with a thickness of approximately 1000 nanometers, which exhibits conductive anisotropy that tends to flow in a plane parallel to the substrate. Wiring 1
10 and depositing a silicon oxide film 120 that will become the insulating film between the eyebrows of the two-layer wiring, Y-! 3a-Cu-
Wiring 20 of the second layer of ribbon-shaped superconducting thin film made of 0-based material
Form 0A, 200B, 200C, and apply it to the entire surface.
A silicon oxide film 220 was deposited to serve as an insulating film.

第4図(b)のどと(、シリコン酸化膜の表面から、通
常のホトエツチング工程と反応性ガスあるいはアルゴン
等を組み合わせたエツチングにより、第2の配線200
A、200Bを貫通し、さらに第1の配線110内に溝
部を有する開口を形成した後、全面に、比較的低温の基
体温度(温度200−500°Cで形成)にて、厚さ約
1000ナノ・メータの多結晶状のY−Ba−Cu−0
系の超電導薄膜160を堆積した。
FIG. 4(b) The second wiring 200 is etched from the surface of the silicon oxide film by etching using a combination of a normal photoetching process and a reactive gas or argon.
After penetrating through A and 200B and further forming an opening having a groove in the first wiring 110, the entire surface is coated with a thickness of approximately 1000°C at a relatively low substrate temperature (formed at a temperature of 200-500°C). Nanometer polycrystalline Y-Ba-Cu-0
A superconducting thin film 160 of the system was deposited.

第4図(c)のどと(、超電導薄膜160の表面からア
ルゴン等のエツチングにより平坦にバック・エツチング
し、溝部の中に超電導薄膜160A、160Bを残置さ
せた。
In FIG. 4(c), the surface of the superconducting thin film 160 was back-etched flat by etching with argon or the like, leaving the superconducting thin films 160A and 160B in the grooves.

以上のように、本発明の製造方法によれば、電流の異方
性のある配線20OAから流れ込んだ電流は、溝部14
0A内に形成された異方性のない配線160Aに一様に
流れ込み、さらに、電流の異方性のある第1層目の配線
110を通り、溝部140Bの側面から異方性のない配
線160Bに良好に取り出され、最後に、第2層目の配
線200Bに電流が到達した。このようにして、第2層
目の配線200Cを避けて、配線20OA、200B間
の超電導電流路を形成することができた。
As described above, according to the manufacturing method of the present invention, the current flowing from the wiring 20OA having current anisotropy is transferred to the trench 14.
The current uniformly flows into the non-anisotropic wiring 160A formed in 0A, further passes through the first layer wiring 110 where the current has anisotropy, and flows into the non-anisotropic wiring 160B from the side surface of the groove 140B. The current was successfully taken out, and finally the current reached the second layer wiring 200B. In this way, a superconducting current path between the wirings 20OA and 200B could be formed while avoiding the second layer wiring 200C.

なお、本発明の実施例としては、おもに、配線の形成法
について述べたが、結晶性に優れた第1層目の配線11
0等の結晶部を直接にジョセフソン、バイポーラ等の種
々の能動素子の領域として使えることは当然であり、し
たがって、さらに高度な超電導電子回路が形成されつる
。また、本発明の実施例として、超電導電流を用いた例
について述べたが、本発明の主旨にそったリボン状薄膜
の導電性の異方性がみられるならば、必ずしも、超電導
電流である必要はなく、常電導の電流を用いた場合にも
、本発明の方法は適用可能である。
In addition, as an example of the present invention, the method of forming the wiring has been mainly described, but the first layer wiring 11 with excellent crystallinity has been described.
It goes without saying that the crystal part of the 0 etc. can be directly used as a region for various active elements such as Josephson, bipolar, etc., and therefore more advanced superconducting electronic circuits can be formed. In addition, as an example of the present invention, an example using a superconducting current has been described, but if an anisotropy in the conductivity of a ribbon-like thin film is observed in line with the gist of the present invention, it is not necessarily necessary to use a superconducting current. However, the method of the present invention is also applicable to cases where normally conducting current is used.

発明の効果 本発明による構造と製造方法によれば、特に、電流の異
方性のある超電導体薄膜どうしを良好に接続しながら配
線、素子等を形成し、集積化された接続体装置の提供が
可能となった。
Effects of the Invention According to the structure and manufacturing method of the present invention, in particular, it is possible to provide an integrated connecting body device in which wiring, elements, etc. are formed while connecting superconducting thin films having anisotropy of current to each other in a good manner. became possible.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明による構造の第1の実施例を示す断面図
、第2図は本発明による構造の第2の実施例を示す断面
図、第3図(a)−(c)は本発明による製造方法の第
3の実施例を示す一連の工程断面図、第4図(a)−(
c)は本発明による製造方法の第4の実施例を示す一連
の工程断面図である。 100・・・基体、110.200・・・異方性超電導
膜、120.220・・・絶縁膜、140・・・溝部、
150・・・溝部の側面、160・・・等方性超電導膜
、180・・・レジスト。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 ほか1名第 1 図 第 2 図    !TelのR電鷹頑第3図 第4図 770Ttlの超電11ff
FIG. 1 is a sectional view showing a first embodiment of the structure according to the present invention, FIG. 2 is a sectional view showing a second embodiment of the structure according to the present invention, and FIGS. A series of process cross-sectional views showing the third embodiment of the manufacturing method according to the invention, FIGS. 4(a)-(
c) is a series of process cross-sectional views showing a fourth embodiment of the manufacturing method according to the present invention. 100...Substrate, 110.200...Anisotropic superconducting film, 120.220...Insulating film, 140...Groove portion,
150: Side surface of groove, 160: Isotropic superconducting film, 180: Resist. Name of agent: Patent attorney Toshio Nakao and one other person Figure 1 Figure 2! Tel's R Dentaka Gun Figure 3 Figure 4 770Ttl's Superden 11ff

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)基体上に形成され、基体に平行な平面方向に流れ
やすい導電性の異方性がみられる第1のリボン状薄膜と
、前記第1のリボン状薄膜の表面から形成された溝部と
、前記溝部に接続して形成された、導電性の異方性がみ
られない等方性の第2のリボン状薄膜とから構成され、
第1のリボン状薄膜の溝部の側面から第2のリボン状薄
膜へ電流を取り出すことを特徴とする接続体装置。
(1) A first ribbon-shaped thin film formed on a substrate and exhibiting conductive anisotropy that tends to flow in a plane parallel to the substrate; and a groove formed from the surface of the first ribbon-shaped thin film. , an isotropic second ribbon-shaped thin film with no conductive anisotropy formed in connection with the groove,
A connecting body device characterized in that a current is taken out from a side surface of a groove of a first ribbon-like thin film to a second ribbon-like thin film.
(2)溝部の側面がテーパー状になっていることを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載の接続体装置。
(2) The connecting body device according to claim 1, wherein the side surface of the groove portion is tapered.
(3)溝部の底面が第1のリボン状薄膜を、少なくとも
、突き抜けていることを特徴とする特許請求の範囲第1
項または第2項に記載の接続体装置。
(3) Claim 1, characterized in that the bottom surface of the groove penetrates at least the first ribbon-shaped thin film.
The connecting body device according to item 1 or 2.
(4)リボン状薄膜が超伝導膜であることを特徴とする
特許請求の範囲第1項から第3項のいずれかに記載の接
続体装置。
(4) The connector device according to any one of claims 1 to 3, wherein the ribbon-shaped thin film is a superconducting film.
(5)溝部の底面と第1のリボン状薄膜の底部との間に
残された薄膜の厚みが、少なくとも、基体に垂直な方向
のコヒーレンス長と同程度以下であることをを特徴とす
る特許請求の範囲第4項記載の接続体装置。
(5) A patent characterized in that the thickness of the thin film left between the bottom of the groove and the bottom of the first ribbon-like thin film is at least about the same or less than the coherence length in the direction perpendicular to the substrate. A connecting body device according to claim 4.
(6)基体上に、基体に対して平行な平面方向に流れや
すい導電性の異方性がみられる第1のリボン状薄膜を形
成する工程と、前記第1のリボン状薄膜の表面から溝部
を形成する工程と、前記溝部に接続した、導電性の異方
性がみられない等方性の第2のリボン状薄膜を形成する
工程とからなり、第1のリボン状薄膜の溝部の側面から
第2のリボン状薄膜へ電流を取り出すことを特徴とする
接続体装置の製造方法。
(6) forming a first ribbon-shaped thin film on the substrate, which exhibits conductive anisotropy that easily flows in a plane direction parallel to the substrate, and forming grooves from the surface of the first ribbon-shaped thin film; and a step of forming an isotropic second ribbon-shaped thin film with no conductive anisotropy connected to the groove, the side surface of the groove of the first ribbon-shaped thin film being connected to the groove. A method for manufacturing a connecting body device, characterized in that a current is taken out from a thin ribbon to a second ribbon-shaped thin film.
(7)リボン状薄膜が超伝導膜であることを特徴とする
特許請求の範囲第6項記載の接続体装置の製造方法。
(7) The method for manufacturing a connecting body device according to claim 6, wherein the ribbon-shaped thin film is a superconducting film.
JP62-155823A 1987-06-23 Connection body device and its manufacturing method Pending JPH01780A (en)

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JPS64780A JPS64780A (en) 1989-01-05
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