JPH0191335A - 光ピックアップ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、光ディスク等の光記録媒体に記録されている
信号を読み取るための光ピックアップ、特に詳細には集
光性回折格子を備えたライトガイドを用いた光ピックア
ップに関するものである。

（従来の技術） 近時、画像信号や音声信号等の記録媒体として、光ディ
スク等の光記録媒体が広く実用に供されている。この光
記録媒体にピットや反射率の差等（以上の説明は、ピッ
トの場合を例にとって行なう）の形で記録されている信
号は、光学式のピックアップ、いわゆる光ピックアップ
によって読み取られる。この光ピックアップは、例えば
レーザ光等の光を光記録媒体表面に照射し、該記録媒体
において反射した光のレベルを検出して上記ピットの白
゛無を検出するようにしたものである。

このような光ピックアップにおいては、上述のようにし
て記録情報読取りを行なうとともに、トラッキングエラ
ー検出、つまりピット検出のための光ビームが所定のビ
ット列（トラック）中心から左右どちら側にずれて照射
されているかを検出するための機能、およびフォーカス
エラー検出、つまり上記光ビームの焦点が光記録媒体の
反射面よりも近くにあるかあるいは遠くにあるかを検出
するための機能を備えることが求められる。すなわちこ
のトラッキングエラー、フォーカスエラーの検出信号は
、該信号が打ち消されるようにトラッキング制御、フォ
ーカス制御をかけて、光ビームを所定のトラックに正し
く照射するため、また該光ビームを光記録媒体の反射面
上で正しく合焦させるために利用される。なお従来より
、トラッキングエラー検出方法としてはプッシュプル法
、ヘテロダイン法、時間差検出法等が知られており、一
方フオーカスエラー検出方法としては、非点収差法、臨
界角検出法、フーコー法等が知られている。

上述のような機能を備えるために従来の光ピックアップ
は、光記録媒体において反射したビームを該媒体に向け
て照射されている光ビームから分離するためのビームス
プリッタや、この反射ビームをフォトダイオード等の光
検出器の近傍で集束させるためのレンズや、さらには上
記トラッキングエラー検出方法およびフォーカスエラー
検出方法を実行するためのプリズム、シリンドリカルレ
ンズ等の微小光学素子から構成されていた。

（発明が解決しようとする問題点） しかし上記のような微小光学素子は精密な加工を要し、
またピックアップ組立てに際しての相互の位置調整も面
倒であるので、このような光学素子を用いる光ピックア
ップは必然的に高価なものとなっていた。さらにこのよ
うな構成の光ピックアップは、大型で重いものとなるの
で、読取装置の小型軽量化や、アクセスタイム短縮化の
点で不利なものとなっていた。

上記の不具合を解消するため従来より、例えば非球面レ
ンズ等の特殊な光学素子を用いてピックアップの構成を
簡素化する試みも種々なされている。しかしこの種の光
学素子は特に高価であるので、このような素子を用いる
光ピックアップは、構成は簡素化されても、コストの点
ては前述のような光ピックアップとさほど変わり無いも
のとなっている。

本発明は上記のような事情に鑑みてなされたものであり
、小型軽量で、しかも極めて安価に形成されうる光ピッ
クアップを提供することを目的とするものである。

（問題点を解決するための手段） 本発明の光ピックアップは、先に述べたビームスプリッ
タ、レンズおよびプリズム等が果たす作用を、ライトガ
イド上に設けた集光性回折格子によって？ｌｊるように
したものであり、具体的には、光ディスク等の光記録媒
体の表面に光ビームを照射する光源と、 上記光ビームを光記録媒体の反射面上で集束させる対物
レンズと、 光記録媒体で反射した反射ビームを一表面で受けるよう
な向きに配置されたライトガイドと、このライトガイド
の一表面の反射ビーム照射位置に設けられ、該反射ビー
ムを、この一表面とそれに対向する他表面との間で全反
射を繰り返して端面側に進行する向きで該ライトガイド
内に入射させるとともに、このライトガイド内を進行す
る反射ビームを集束させる集光性回折格子と、上記ライ
トガイドの表面あるいは端面に取り付けられ、上記集光
性回折格子により集束された反射ビームを検出する光検
出器と、 この光検出器の出力に基づいてトラッキングエラーとフ
ォーカスエラー検出を行なうエラー検出回路と、 上記光検出器の出力に基づいて、光記録媒体に記録され
た情報を検出する信号検出回路とから構成されたことを
特徴とするものである。

上記集光性回折格子は、曲りとチャープ、または曲りを
有する回折格子であり、入射光を回折し、またこの回折
された光を集束させる。

（作　　用） 光記録媒体からの反射ビームは集光性回折格子の回折作
用により、光記録媒体に向かう光ビームの光路から分離
される。これは前述のビームスプリッタが果たす作用と
同じである。また集光性回折格子は反射ビームを集束さ
せるが、これは前述のレンズが果たす作用と同じである
。

さらにこのような集光性回折格子を２個配置して、トラ
ッキングエラー検出、フォーカスエラー検出のために、
光記録媒体からの反射ビームを互いにトラッキング方向
に２系統に分岐させることもできる。また集光性回折格
子を非点収差回折格子とすることにより、トラッキング
エラー検出、フォーカスエラー検出のために反射ビーム
に非点収差を作り出すこともできる。これは前述のプリ
ズムやシリンドリカルレンズが果たす作用と同じである
。

（実　施　例） 以下、図面に示す実施例に基づいて本発明の詳細な説明
する。

第１図は本発明の第１実施例による光ピックアップを示
すものであり、第２図はこの光ピックアップのライトガ
イドの平面形状と電気回路を示すものである。第１図に
示されるようにこの光ビックアップは、紙面に略垂直な
方向に延びるロッド比１１に沿って移動自在とされたブ
ロック■２を有している。このブロック１２はピット列
（トラック）に追随するために、例えば精密送りネジと
光学系送りモータ等により、光ディスク１３のビット２
１の並び方向（ビーム照射位置において矢印Ｕ方向）に
直角な方向、あるいはそれに近い方向に移動されるよう
になっている。

上記ブロック１２には、光ディスク１３の反射面１４に
向けて光ビーム（レーザビーム）　１５を発する半導体
レーザ１６と、該半導体レーザ１６から発せられた発散
ビームを平行ビームにするコリメータレンズ１７と、平
行ビームとされた光ビーム１５を上記反射面１４上で集
束させる対悔レンズ１８とが取り付けられている。この
対物レンズ１８は後に詳述するトラッキング制御、フォ
ーカス制御のために、トラッキング方向（矢印Ｕ方向に
直角な方向）およびフォーカス方向（矢印Ｖ方向）に移
動可能に支持され、トラッキングコイル１９、フォーカ
スコイル２０によりそれぞれ上記の方向に移動されるよ
うになっている。

上記コリメータレンズ１７と対物レンズ１８との間には
、光ディスク１３で反射した反射ビーム１５“を一表面
２９ａで受けるような向きにして、例えば光学ガラスか
らなる平板状のライトガイド２９が配置されている。ま
た上記反射ビーム１５’　が照射される位置においてラ
イトガイド２９の表面２９ａには、第１．第２の集光性
回折格子（ＦｏｃｕｓｉｎｇＧｒａｔ　ｉｎｇ：以下、
ＦＧと称する）　３１．３２が＋Ｕ隣接して設けられて
いる（第２図参照）。これらのＦＧ３１．３２は曲りと
チャープ、あるいは曲りを有する回折格子であり、それ
ぞれが反射ビーム１５’　を回折させてライトガイド２
９内に入射させ、該ライトガイド２９内をその一表面２
９ａと他表面２９ｂとの間で全反射を繰り返して端面側
に進行させ、そしてこのライトガイド２９内の一点で集
束させるように形成されている。またＦＧ３１．３２は
、前述のトラッキング方向に対して直角で反射ビーム１
５゛のほぼ中心を通るライトガイド２９上の軸（第２図
のｙ軸）をはさんで並設され、またそれぞれがこのｙ軸
をはさんで互いに離れた位置に反射ビーム１５°を集束
させるように形成されている。なおＦＣ３１，３２は、
ライトガイド２９の表面２９ａとは反対側の表面２９ｂ
に設けられてもよい。

上記のような作用を果たすＦＣ，ＩＩ、　３２のｍ番目
の格子パターン形状式は、空間座標を第２図図示のＸ輔
（トラッキング方向軸）とｙ軸、およびこれらの軸の交
点を通り両輪と直角な２軸とによって規定してＦＧ３１
．３２によるビーム集束位置（第１図に点にで示すよう
に、ライトガイド２９内における全反射か無い場合の集
束位置とする）の座標をそれぞれ（−Ｆｘ、Ｆｙ、Ｆｚ
）、（Ｆｘ、Ｆｙ、Ｆｚ）とし、ライトガイド２９の屈
折率をｎｌとし、そして反射ビーム１５’　の光波長を
λとすると、 −ｍλ＋ｃｏｎｓｔ、（ｘ（０で復号同順）で与えられ
る。

上記ＦＧ３１．３２は、ライトガイド２９上に５ｉ−Ｎ
をＰＣＶＤにて製膜し、電子ビーム直接描画によりレジ
ストパターンを形成した後、ＲＩＥて５ｉ−Ｎ膜に転写
する、等の方法によって形成することができる。

またライトガイド２９には、上述のようにして２系統に
分離された反射ビーム１５°の各集束位置に沿って拡が
るように斜めにカットされた端面２９ｃが設けられてい
る。そしてこの端面２９ｃ上には、第１．第２のＦＧ３
１．３２により集束された反射ビーム１５°をそれぞれ
検出する第１組、第２組の光検出器２４．２５が取り付
けられている。第１組の光検出器２４は、前記ｙ軸を通
りライトガイド表面２９ａに垂直な面と平行に延びるギ
ャップで２分割されたフォトダイオードＰＤＩ、ＰＤ２
からなり、第２組の光検出器２５もそれぞれ同様のフォ
トダイオードＰＤ３とＰＤ４からなる。

フォトダイオードＰＤ１は一例として第３図に詳しく示
すように、ライトガイド２９上に下部透明電極２８ａ１
薄膜状光専電性祠料２８ｂ１および上部電極２８ｃをこ
の順に装荷して形成されたものである。そして下部透明
電極２８ａと上部電極２８ｃとの間には、電源２８ｄか
ら所定の電界が印加される。

この構成のフォトダイオードＰＤＩにおいては、光導電
性材料２８ｂが光照射を受けるとその光量に応じた光電
流か流れる。したがって、端子２８ｅにおける電位変化
を検出すれば、光導電性材料２８ｂの受光光量を検出す
ることができる。フォトダイオードＰＤ２〜４も、フォ
トダイオードＰＤＩと同様に形成されている。なお薄膜
状光導電性材料２８ｂは、例えば■族のＳ　ｉｓ　Ｇ　
ｅ　％　■族のＳｅ。

ｍ−ｖ族のＧａＡｓ、ＩＩ−Ｖｌ族のＺｎＯ，ＣｄＳ。

ＩＶ−Ｖｒ族のＰｂＳ等のエピタキシャル膜、多結晶体
膜、非晶質膜等から形成可能であり、また非晶質カルコ
ゲン膜（ａ−８ｅ、　ａ−Ｓｅ−Ａｓ　−Ｔｅなど）、
非晶質Ｓｉを主体とし水素および／またはフッ素を含む
膜（ａ−５ｉ　二ＨＳａ−Ｓ　ｉＧｅ：ＨＳａ−５ｉＣ
：Ｈなど）に■族、Ｖ族の原子（ＢＳＰなど）を添加す
ることによりｐｎ接合、ｐ−１−ｎ接合を得てフォトダ
イオードを形成する膜、前記非晶質Ｓｉを主体とし水素
および／またはフッ素を含む膜とショットキー接合を構
成する電極を用いてフォトダイオードを形成する膜等か
ら形成することもできる。

第２図に示すようにフォトダイオードＰＤ１゜ＰＤ２の
出力は加算アンプ３３で加算され、またフォトダイオー
ドＰＤ３．ＰＤ４の出力も同様に加算アンプ３Ｇで加算
され、そして第１組、第２組の光検出ｒＪ２４．２５そ
れぞれの外側のフォトダイオードＰＤＩ、ＰＤ４の出力
が加算アンプ３４て加算され、内側のフォトダイオード
ＰＤ２．ＰＤ３の出力が加算アンプ３５で加算される。

また上記加算アンプ３３．３６の出力は加算アンプ３７
および差動アンプ３９に人力され、そして加算アンプ３
４．３５の出力は差動アンプ３８に人力される。上記加
算アンプ３７の出力Ｓ１、差動アンプ３８の出力Ｓ２、
および差動アンプ３９の出力Ｓ３はそれぞれ、読取回路
４０、フォーカスコイル駆動制御回路４１およびトラッ
キングコイル駆動制御回路４２に入力される。

次に、上記構成の光ピックアップの作動について説明す
る。半導体レーザ１６から発せられ平行ビームとされた
光ビーム（レーザビーム）　１５はライトガイド２９を
透過し、光ディスク１３の反射面１４上で合焦するよう
に対物レンズ１８によって集束される。光ディスク１３
は図示しない回転駆動手段により、上記光ビーム１５の
照射位置においてピット２１の列（トラック）が矢印Ｕ
方向に移動するように回転される。周知の通り上記ビッ
ト２１は、画像信号や音声信号等を担持するものであり
、光ディスク１３からの反射ビーム１５°　は、このピ
ット２１の無い部分においては高レベル、ビット２１の
存在部分においては低レベルとなる。この反射ビーム１
５゜は対物レンズ１８を通過し、ＦＧ３１．３２におい
て回折してライトガイド２９内に入射する。ライトガイ
ド２９内に入射した反射ビーム１５′　は、その一表面
２９ａと他表面２９ｂとの間で全反射を繰り返して進行
し、ＦＧ３１．３２それぞれのビーム集束作用により、
ｙ軸をはさんだ位置で集束するようになる。

ＦＧ３１で集束された反射ビーム１５′の光量はフォト
ダイオードＰＤＩ、ＰＤ２で検出され、一方ＦＧ３２で
集束された反射ビーム１５′　の光量はフォトダイオー
ドＰＤ３．ＰＤ４で検出されるので、加算アンプ３３．
３６の各出力を加算する加算アンプ３７の出力Ｓ１は、
光ディスク１３において反射した反射ビーム１５°の全
体的な光量を示すもの、つまりピット２１の有無を示す
ものとなる。この出力Ｓ１は読取回路４０において読取
処理を受け、光ディスク１３に記録されている情報が読
み取られる。

ブロック１２は先に述べたように光学系送りモータの駆
動によって矢印Ｕ方向と直角な方向、あるいはそれに近
い方向に送られ、それにより光デイスク１３上の光ビー
ム１５の照射位置（ディスク径方向位置）が変えられて
、ビット２１か連続的に読み取られる。ここで上記光ビ
ーム１５は、所定のピット列（トラック）の中心に正し
く照射されなければならない。以下、このように光ビー
ム１５の照射位置を正しく維持する制御、すなわちトラ
ッキング制御について説明する。反射ビーム１５°の中
心がちょうどＦＧ３１とＦＧ３２との間に位置するとき
、第１組の光検出器２４（フォトダイオードＰＤＩとＰ
Ｄ２）によって検出される光量と、第２組の光検出器２
５（フォトダイオードＰＤ３とＰＤ４）によって検出さ
れる光量とは一致する。したがってこの場合は差動アン
プ３９の出力Ｓ３は０（ゼロ）となる。一方光ビーム１
５の照射位置が不正になって、反射ビーム１５′　の光
強度分布が第２図中上方側に変位すると、第１組の光検
出器２４の検出光量か第２組の光検出器２５の検出光量
を上回る。したがって差動アンプ３９の出力Ｓ３は＋（
プラス）となる。反対に反射ビーム１５゛　の光強度分
布が第２図中下方側に変位すると、差動アンプ３９の出
力Ｓ３は−（マイナス）となる。つまり差動アンプ３９
の出力Ｓ３は、トラッキングエラーの方向（第２図の矢
印Ｘ方向）を示すものとなる。この出力Ｓ゛うはトラッ
キングエラー信号としてトラッキングコイル駆動制御回
路４２に送られる。なおこのようにフォトダイオードＰ
Ｄ１〜４の出力を処理してトラッキングエラーを検出す
る方法は、プッシュプル法として従来から確立されてい
るものである。

トラッキングコイル駆動制御回路４２は上記トラッキン
グエラー信号Ｓ３を受け、該信号Ｓ３が示すトラッキン
グエラーの方向に応じた電流Ｉｔをトラッキングコイル
１９に供給し、このトラッキングエラーが解消される方
向に対物レンズ１８を移動させる。それにより光ビーム
１５は、常にビット列の中心に正しく照射されるように
なる。

次にフォーカス制御、すなわち光ビーム１５を光ディス
ク１３の反射面１４上に正しく集束させる制御について
説明する。光ビーム１５が光ディスク１３の反射面１４
上で合焦しているとき、ＦＧ３１により集束される反射
ビーム１５゛　　はフォトダイオードＰＤ１とＰＤ２と
の中間位置で集束する。このとき同様にＦＧ３２により
集束される反射ビーム１５°は、フォトダイオードＰＤ
３とＰＤ４との中間位置で集束する。したがって加算ア
ンプ３４の出力と加算アンプ３５の出力は等しくなり、
差動アンプ３８の出力Ｓ２は０（ゼロ）となる。一方光
ビーム１５が上記反射面１４よりも近い位置で集束して
いるときは、ＦＣ３１，３２に入射する反射ビーム１５
゛　は収束ビームとなり、光検出器２４．２５の各々に
おける反射ビーム１５゛　の照射位置はそれぞれ内側（
フォトダイオードＰＤ２側およびフォトダイオードＰＤ
Ｂ側）に変位する。したがってこの場合は加算アンプ３
４の出力が加算アンプ３５の出力を下回り、差動アンプ
３８の出力Ｓ２は−（マイナス）となる。反対に光ビー
ム１５が反射面１４よりも遠い位置で集束しているとき
は、ＦＧ３１．３２に入射する反射ビーム１５゜は発散
ビームとなり、光検出器２４．２５の各々における反射
ビーム１５°の照射位置はそれぞれ外側（フォトダイオ
ードＰＤＩ側およびフォトダイオードＰＤ４側）に変位
する。したがってこの場合は加算アンプ３４の出力が加
算アンプ３５の出力を上回り、差動アンプ３８の出力Ｓ
２は＋（プラス）となる。このように差動アンプ３８の
出力Ｓ２は、フォーカスエラーの方向を示すものとなる
。この出力Ｓ２は、フォーカスエラー信号としてフォー
カスコイル駆動制御回路４１に送られる。なおこのよう
にフォトダイオードＰＤＩ〜４の出力を処理してフォー
カスエラーを検出する方法は、従来より、フーコープリ
ズムを用いるフーコー法において実行されているもので
ある。フォーカスコイル駆動制御回路４１は上記フォー
カスエラー信号Ｓ２を受け、該信号Ｓ２が示すフォーカ
スエラーの方向に応じた電流■「をフォーカスコイル２
０に供給し、このフォーカスエラーが解消される方向に
対物レンズ１８を移動させる。それにより光ビーム１５
は、常に光ディスク１３の反射面１４上に正しく集束す
るようになる。

なお、半導体レーザ１Ｂから発せられた光ビームＩ５は
、コリメータレンズ１７から対物レンズ１８に向かう際
にＦＧ３１．３２によって一部がライトガイド２９に取
り込まれるので、この光ビーム１５がライトガイド２９
の端面２９ｄで反射して光検出器２４．２５に受光され
ることがないように、上記端面２９ｄには光吸収部材５
５を貼むしたり、あるいはこの端面２９ｄを粗面加工し
ておくのが望ましい。

またこの実施例において２つのＦＧ３１．３２は、それ
ぞれの格子が連続して互いに密接した状態に形成されて
いるが、これら２つのＦＧ３１．３２は少しの距離をお
いて互いに独立に形成されてもよい。

これは以上に説明する実施例においても同様である。

またＦＧ３１．３２によってそれぞれ集束される反射ビ
ーム１５゛　を互いに交差させる、つまり第２図で説明
すればＦＧ３１によるビーム集束位置がｙ軸の下側に、
ＦＧ３２によるビーム集束位置がｙ軸の上側に位置する
ようにＦＣ３１，３２を形成しても構わない。

次に第４図を参照して本発明の第２実施例について説明
する。なおこの第４図において、前：ｉ２第１図中の要
素と同等の要素には同呑号を付し、それらについては特
に必要の無い限り説明を省略する（以上、同様）。この
第２実施例の光ピックアップにおいては、第１図の装置
において設けられたコリメータレンズ１７が省かれ、光
ディスク１３からの反射ビーム１５’　は収束ビームの
状態でライトガイド２９内に取り込まれるようになって
いる。このようにしても、とにか＜ＦＧ３１，３２の作
用で集束する２系統の反射ビーム１５’　を、第２図図
示のような第１．第２組の光検出器２４．２５で検出す
れば、記録信号、トラッキングエラー、フォーカスエラ
ーを検出できる。

この場合、ＦＧ３１．３２のｍ番目の格子パターン形状
式は、空間座標およびＦＧ３１．３２によるビーム集束
位置の座標を前記第１実施例の場合と同様に規定し、ラ
イトガイド２９の屈折率をｎｌ　とし、また光源の座標
を（０，’Ｏ，Ｌｚ　）と規定すると、−ｍλ十ｃｏｎ
ｓｔ、（ｘ−ｉ５０で復号同順）で与えられる。

次に第５図を参照して本発明の第３実施例について説明
する。この第３実施例の光ピ・ソファ・ノブにおいては
、ライトガイド２９が十分屈折率の大きい材料から形成
され、光ビーム１５はこのライトガイド２９の表面で反
射して光デイスク１３側に進行するようになっている。

この場合も光ディスク１３からの反射ビーム１５゛　は
、２つのＦＧ３１．３２によって回折、集束される。

第６図は本発明の第４実施例による光ピックアップを示
すものである。この実施例においては、半導体レーザ１
６から発せられた光ビーム１５を発散ビームの状態のま
まライトガイド２９の表面において反射させ、光ディス
ク１３に向けて進行させるようにしている。

次に第７図を参照して本発明の第５実施例について説明
する。この実施例においては、ライトガイド２９と対物
レンズ１８とが１つのヘッド６０に固定されて一体化さ
れ、このヘッド６０がブロック１２に対してトラッキン
グ方向およびフォーカス方向に移動自在に支持されてい
る。そしてこのヘッド６０は、トラッキングコイル１９
、フォーカスコイル２０によって移動される。つまり本
例ではトラッキング制御、フォーカス制御のために、ラ
イトガイド２９が対物レンズ１８とともに移動される。

このようにすれば、対物レンズ１８のみを移動させる場
合のようにトラッキング制御によって対物レンズ１８が
ライトガイド２９に対してオフセットすることが無くな
り、トラッング制御をより精度良く行なえるようになる
。

以上説明した５つの実施例においては、ＦＣ３１゜３２
によって反射ビーム１５°を２系統に分岐し、ブツシュ
プル法によりトラッキングエラー検出を、そしてフーコ
ー法によりフォーカスエラー検出を行なうようにしてい
るが、その他の方法によって上記両エラー検出を行なう
ことも可能である。例えば第８図に示す第６実施例にお
いては、ライトガイド２９上に１つのＦＧ７１が設けら
れ、該ＦＧ７１は非点収差回折格子とされている。した
がってこのＦＧ７１を通過した反射ビーム１５°は非点
収差を持つことになるので、この反射ビーム１５’　を
４分′割フォトダイオードからなる光検出器７２て検出
することにより、従来より公知のヘテロダイン法、非点
収差法によってそれぞれトラッキングエラー、フォーカ
スエラーを検出することができる。

なお上記のようにしてトラッキングエラー、フォーカス
エラーを検出する場合においても、光ビーム１５が発散
ビームの状態でライトガイド２９を通過するようにして
もよいし、ライトガイド２９の表面で光ビーム１５を反
射させて光デイスク１３側に進行させてもよいし、さら
にトラッキング制御、フォーカス制御は対物レンズ１８
のみを移動させて行なっでも、あるいは対物レンズ１８
とライトガイド２９とを一体的に移動させて行なっても
よい。

またＦＧ３１．３２および７１は、先に述べた製造方法
に限らず、公知のフォトリソ法、ホログラフィック転写
法等によりすべてブレーナ技術で形成可能であり、容易
に大量複製可能である。

（発明の効果） 以上詳細に説明した通り本発明の光ピックアップにおい
ては、従来の光ピックアップにおいてビームスプリッタ
、レンズおよびプリズム等の光学素子が果たしていた作
用がライトガイド上に設けた集光性回折格子のみによっ
て得られるようになっている。したがって本発明の光ピ
ックアップは、部品点数が極めて少なく小形軽量に形成
されるので、従来装置に比べて大幅なコストダウンが可
能となり、またアクセスタイムの短−縮も可能となる。

そして本発明の光ピックアップは、その主要部分がブレ
ーナ技術により容易に大量生産されうるので、この点か
らも大幅なコストダウンを実現できるものとなる。

さらに本発明の光ピックアップにおいては、上記のよう
な光学素子の位置調整は勿論不要であるから、この点で
もコストダウンが達成される。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１実施例装置を示す側面図、第２図
は上記第１実施例装置の先導波路の平面形状と電気回路
を示す概略図、 第３図は上記第１実施例装置の光検出器を詳しく示す側
面図、 第４．５．６および７図はそれぞれ、本発明の第２．第
３．第４および第５実施例装置を示す側面図、 第８図は本発明の第６実施例装置の一部を示す概略斜視
図である。 １３・・・光ディスク　　　　１４・・・光ディスクの
反射面１５・・・光ビーム　　　　　１５゛　・・・反
射ビーム１６・・・半導体レーザ　　　１７・・・コリ
メータレンズ１８・・・対物レンズ　　　　１９・・・
トラッキングコイル２０・・・フォーカスコイル　２１
・・・ピット２９・・・ライトガイド　２９ａ・・・ラ
イトガイドの一表面２９ｂ・・・ライトガイドの他表面 ２９ｃ、２９ｄ・・・ライトガイドの端面２４、２５．
７２・・・光検出器　３１．３２．７１・・・ＦＣ３３
、８４，３５，３６，３７・・・加算アンプ３８、３９
・・・差動アンプ　　４０・・・読取回路４１・・・フ
ォーカスコイル駆動制御回路４２・・・トラッキングコ
イル駆動制御回路６０・・・ヘッド　　　ＰＤ１〜４・
・・フォトダイオード第１図 第３図

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. （１）光記録媒体の表面に光ビームを照射する光源と、
   前記光ビームを前記光記録媒体の反射面上で集束させる
   対物レンズと、 前記光記録媒体で反射した反射ビームを一表面で受ける
   向きに配置されたライトガイドと、このライトガイドの
   一表面の反射ビーム照射位置に設けられ、前記反射ビー
   ムを、この一表面とそれに対向する他表面との間で全反
   射を繰り返して端面側に進行する向きで該ライトガイド
   内に入射させるとともに、このライトガイド内を進行す
   る反射ビームを集束させる集光性回折格子と、前記ライ
   トガイドの表面あるいは端面に取り付けられ、前記集光
   性回折格子により集束された反射ビームを検出する光検
   出器と、 この光検出器の出力に基づいてトラッキングエラーとフ
   ォーカスエラー検出を行なうエラー検出回路と、 前記光検出器の出力に基づいて、前記記録媒体に記録さ
   れた情報を検出する信号検出回路とからなる光ピックア
   ップ。
2. （２）前記集光性回折格子が、前記ライトガイドの一表
   面上において前記反射ビームの略中心を通りかつトラッ
   キング方向に略直角に延びる軸をはさんで並設され、そ
   れぞれ該反射ビームを前記軸をはさんで互いに離れた位
   置に各々集束させる第１、第２の集光性回折格子からな
   り、 前記光検出器が、トラッキングエラー検出、フォーカス
   エラー検出をそれぞれプッシュプル法、フーコー法で行
   なえるように、前記第１、第２の集光性回折格子で各々
   集束された反射ビームをそれぞれ検出する第１組、第２
   組の２分割光検出器からなることを特徴とする特許請求
   の範囲第１項記載の光ピックアップ。
3. （３）前記集光性回折格子が非点収差回折格子からなり
   、前記光検出器が、トラッキングエラー検出、フォーカ
   スエラー検出をそれぞれヘテロダイン法、非点収差法で
   行なえるように配置された４分割光検出器からなること
   を特徴とする特許請求の範囲第１項記載の光ピックアッ
   プ。
4. （４）前記ライトガイドが、前記光源と対物レンズとの
   間に配置されていることを特徴とする特許請求の範囲第
   １項から第３項いずれか１項記載の光ピックアップ。
5. （５）前記ライトガイドが、前記光源から発せられた光
   ビームを反射させて、前記光記録媒体に向けて進行させ
   るように配置されていることを特徴とする特許請求の範
   囲第１項から第３項いずれか１項記載の光ピックアップ
   。
6. （６）前記ライトガイドと対物レンズとが互いに独立し
   て配設され、該対物レンズのみがトラッキング制御およ
   びフォーカス制御のために移動されるようになっている
   ことを特徴とする特許請求の範囲第１項から第５項いず
   れか１項記載の光ピックアップ。
7. （７）前記ライトガイドが前記対物レンズと一体化され
   、トラッキング制御およびフォーカス制御のために該対
   物レンズとともに移動されるようになっていることを特
   徴とする特許請求の範囲第１項から第５項いずれか１項
   記載の光ピックアップ。