JPH0192924A - 磁気記録媒体 - Google Patents
磁気記録媒体Info
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- JPH0192924A JPH0192924A JP25048987A JP25048987A JPH0192924A JP H0192924 A JPH0192924 A JP H0192924A JP 25048987 A JP25048987 A JP 25048987A JP 25048987 A JP25048987 A JP 25048987A JP H0192924 A JPH0192924 A JP H0192924A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic recording
- recording layer
- corrosion resistance
- fluorine
- film
- Prior art date
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、薄膜型の磁気記録媒体に関する。
(従来の技術〕
磁性体とバインダーから主としてなる磁気記録層を備え
た従来の磁気記録媒体に対して、金属、酸化物または、
金属と酸化物の組み合わせから主としてなり、バインダ
ーを用いない薄膜の磁気記録層を備えた薄膜型の磁気記
録媒体が高密度記録が可能なものとして精力的に検討さ
れている。本発明者らもコバルト、酸化コバルトまたは
鉄および/またはニッケルならびにそれらの酸化物から
主としてなる薄膜型の磁気記録膜を特開昭61−177
566号で提案した。
た従来の磁気記録媒体に対して、金属、酸化物または、
金属と酸化物の組み合わせから主としてなり、バインダ
ーを用いない薄膜の磁気記録層を備えた薄膜型の磁気記
録媒体が高密度記録が可能なものとして精力的に検討さ
れている。本発明者らもコバルト、酸化コバルトまたは
鉄および/またはニッケルならびにそれらの酸化物から
主としてなる薄膜型の磁気記録膜を特開昭61−177
566号で提案した。
薄膜型磁気記録媒体を実用化する上で最も重要な問題の
1つに耐食性を向上させることが挙げられる。
1つに耐食性を向上させることが挙げられる。
従来、耐食性を向上させる方法としては、保護層を設け
る方法(例えば特開昭61−17224号)や防錆層を
設ける方法(例えば特開昭61−8232号)が提案さ
れている。また磁気記録層自体の耐食性を向上させる方
法としては、酸素原子温度の膜厚方向の分布を規定した
ものヤクロムなどの金属元素を添加したもの(例えば特
開昭59τ58804号、61−66217号)が提案
されている。
る方法(例えば特開昭61−17224号)や防錆層を
設ける方法(例えば特開昭61−8232号)が提案さ
れている。また磁気記録層自体の耐食性を向上させる方
法としては、酸素原子温度の膜厚方向の分布を規定した
ものヤクロムなどの金属元素を添加したもの(例えば特
開昭59τ58804号、61−66217号)が提案
されている。
[発明が解決しようとする問題点]
しかしながら、保護層や防錆層を磁気記録層上に設ける
方法は、これらの層上にピンホールがあった場合、これ
が腐食の起点になり全体の耐食性を著しく低下させると
いう問題がある。
方法は、これらの層上にピンホールがあった場合、これ
が腐食の起点になり全体の耐食性を著しく低下させると
いう問題がある。
また、従来の酸素濃度の高い層を磁気記録層表層に形成
する方法(特開昭59−58804号)の場合、本発明
者らの検討によれば、耐食性を向上させるためには酸素
濃度の高い層を数百Å以上の厚さに形成しなければなら
ないという問題がある上、酸素濃度の高い層は非磁性で
あるため、この層を厚くすると、磁気記録層と磁気ヘッ
ドとの間隔が大きくなり、スペーシングロスによる再生
出力および記録密度が著しく低下するという問題があっ
た。
する方法(特開昭59−58804号)の場合、本発明
者らの検討によれば、耐食性を向上させるためには酸素
濃度の高い層を数百Å以上の厚さに形成しなければなら
ないという問題がある上、酸素濃度の高い層は非磁性で
あるため、この層を厚くすると、磁気記録層と磁気ヘッ
ドとの間隔が大きくなり、スペーシングロスによる再生
出力および記録密度が著しく低下するという問題があっ
た。
ざらに耐食性向上に効果のある金属元素を磁気記録層に
添加することは、薄膜付着速度が速く、生産性の高い真
空蒸着法においては、材料間での蒸気圧の違いにより、
組成制御が難しいなど生産上適応が難しいばかりでなく
、耐食性向上の効果を現出するだけの量を添加すると、
磁気記録層の磁気特性、特に再生出力の低下を伴なう飽
和磁化の低下を引き起こすという問題があることが本発
明者らの検討で判明した。
添加することは、薄膜付着速度が速く、生産性の高い真
空蒸着法においては、材料間での蒸気圧の違いにより、
組成制御が難しいなど生産上適応が難しいばかりでなく
、耐食性向上の効果を現出するだけの量を添加すると、
磁気記録層の磁気特性、特に再生出力の低下を伴なう飽
和磁化の低下を引き起こすという問題があることが本発
明者らの検討で判明した。
また耐摩耗性向上の目的で、磁気記録層に炭素を添加す
る提案がある(特開昭61−99923号)が、これは
本発明者らの検討によれば、耐食性の向上には効果がな
いことが明らかとなった。
る提案がある(特開昭61−99923号)が、これは
本発明者らの検討によれば、耐食性の向上には効果がな
いことが明らかとなった。
本発明者らは、上記の問題点のない耐食性向上の方策に
ついて鋭意検討した結果、本発明に到達したものである
。
ついて鋭意検討した結果、本発明に到達したものである
。
本発明は次の構成を有する。
すなわち、本発明は、基体上に、強磁性体とその酸化物
から主としてなる磁気記録層を備えた磁気記録媒体であ
って、該磁気記録層が弗素および炭素を含有してなるこ
とを特徴とする磁気記録媒体である。
から主としてなる磁気記録層を備えた磁気記録媒体であ
って、該磁気記録層が弗素および炭素を含有してなるこ
とを特徴とする磁気記録媒体である。
本発明で使用される基体としては1、アルミニウム、銅
、鉄、ステンレスなどで代表される金属、ガラス、セラ
ミックなどの無機材料、プラスチックフィルムなどの各
種有機重合体材料が挙げられる。特にチーブ、フレキシ
ブルディスクなど加工性、形成性、可撓性が重視される
場合には、有機重合体材料が適している。特に二軸延伸
されたフィルム、シー1へ類は、平面性、寸法安定性に
優れ最も適しており、中でもポリエステル、ポワフエニ
レンスルフィド、芳香族ポリアミド、ポリイミドなどが
最も適している。
、鉄、ステンレスなどで代表される金属、ガラス、セラ
ミックなどの無機材料、プラスチックフィルムなどの各
種有機重合体材料が挙げられる。特にチーブ、フレキシ
ブルディスクなど加工性、形成性、可撓性が重視される
場合には、有機重合体材料が適している。特に二軸延伸
されたフィルム、シー1へ類は、平面性、寸法安定性に
優れ最も適しており、中でもポリエステル、ポワフエニ
レンスルフィド、芳香族ポリアミド、ポリイミドなどが
最も適している。
本発明で用いられる基体は、磁気記録層などの形成に先
たち、易接着化、平面性改良、着色、帯電防止、耐摩耗
性付与等の目的で各種の表面処理や前処理が施されても
よい。
たち、易接着化、平面性改良、着色、帯電防止、耐摩耗
性付与等の目的で各種の表面処理や前処理が施されても
よい。
基体の形状は、ドラム状、ディスク状、シート状、テー
プ状、カード状などいずれでも良く、厚みも特に限定さ
れるものではない。シート状、テープ状、カード状等の
場合、加工性、寸法安定性の点で、厚みは2〜500μ
m、中でも4〜20μmの範囲が好ましい。
プ状、カード状などいずれでも良く、厚みも特に限定さ
れるものではない。シート状、テープ状、カード状等の
場合、加工性、寸法安定性の点で、厚みは2〜500μ
m、中でも4〜20μmの範囲が好ましい。
本発明において使用される強磁性体は特に限定されない
が、コバル1〜、鉄およびニッケル等の金属の単独また
は2種以上を組合わせて使用するのが好ましい。中でも
コバルトまたはコバルトと鉄および/またはニッケルで
あることが垂直磁化膜を形成できる点で好ましい。
が、コバル1〜、鉄およびニッケル等の金属の単独また
は2種以上を組合わせて使用するのが好ましい。中でも
コバルトまたはコバルトと鉄および/またはニッケルで
あることが垂直磁化膜を形成できる点で好ましい。
コバルト、鉄およびニッケルの組成比は特に限定される
ものではないが、コバルトと鉄を使用する場合は、重量
比で97〜85:3〜15の範囲となすのが、再生出力
の増大と磁気異方性の低下防止の点で好ましく、95〜
9o:5〜1oの範囲がさらに好ましい。
ものではないが、コバルトと鉄を使用する場合は、重量
比で97〜85:3〜15の範囲となすのが、再生出力
の増大と磁気異方性の低下防止の点で好ましく、95〜
9o:5〜1oの範囲がさらに好ましい。
またコバルトとニッケルを使用する場合は、重量比で9
7〜60:3〜4o範囲となすのが再生出力の増大と耐
食性の向上の点で好ましく、95〜70:5〜30の範
囲がざらに好ましい。
7〜60:3〜4o範囲となすのが再生出力の増大と耐
食性の向上の点で好ましく、95〜70:5〜30の範
囲がざらに好ましい。
ざらにコバルト、鉄およびニッケルを使用する場合には
、重量を百分率で各々P、Q、Rとした時、65≦P≦
98.1≦Q≦15.1≦R≦30、P十〇十R=10
0の範囲となすのが、再生出力とS/Nの増大および磁
気異方性の低下防止の点で好ましく、75≦P≦94.
1≦Q≦10.1≦R≦15の範囲がざらに好ましい。
、重量を百分率で各々P、Q、Rとした時、65≦P≦
98.1≦Q≦15.1≦R≦30、P十〇十R=10
0の範囲となすのが、再生出力とS/Nの増大および磁
気異方性の低下防止の点で好ましく、75≦P≦94.
1≦Q≦10.1≦R≦15の範囲がざらに好ましい。
磁気記録層に含まれる酸化物としてはCoo、CO2O
3、CO3O4やFed、Fe2O3、Fe3O4、N
ioなどが主なものであるが、これらのほか、Coa
x、FeO’y、N ioz (x、y、ZはOから2
の間の数)で表わされる非化学量論的な亜酸化物、過酸
化物も含まれていてもよい。
3、CO3O4やFed、Fe2O3、Fe3O4、N
ioなどが主なものであるが、これらのほか、Coa
x、FeO’y、N ioz (x、y、ZはOから2
の間の数)で表わされる非化学量論的な亜酸化物、過酸
化物も含まれていてもよい。
窒化物、水酸化物が該垂直磁化膜の磁気特性を損わない
範囲で含まれていてもよい。
範囲で含まれていてもよい。
磁気記録層には炭素および弗素が同時に含まれているこ
とが重要である。
とが重要である。
磁気記録層中に含有される弗素の最は特に限定されない
が、弗素の量が少ない場合は耐食性向上の効果が現われ
にくく、一方多すぎる場合は、磁気記録層に積層する潤
滑層や保護層などとの接着性が低下しやすく、媒体の耐
摩耗性を低下させるため好ましくない。
が、弗素の量が少ない場合は耐食性向上の効果が現われ
にくく、一方多すぎる場合は、磁気記録層に積層する潤
滑層や保護層などとの接着性が低下しやすく、媒体の耐
摩耗性を低下させるため好ましくない。
本発明において、磁気記録層中に含まれる好適な弗素の
伍は、強磁性体原子に対し、原子個数で0.1〜10%
の範囲にあることが好ましく、より好ましくは0.2〜
6%、さらに好ましくは0゜3〜3%の範囲である。
伍は、強磁性体原子に対し、原子個数で0.1〜10%
の範囲にあることが好ましく、より好ましくは0.2〜
6%、さらに好ましくは0゜3〜3%の範囲である。
また磁気記録層中に含まれる炭素の量は特に限定されな
いが、炭素の量が少ない場合は耐食性向上の効果が現わ
れにくく、一方多すぎる場合は、磁気記録層にクラック
が入りやすくなるため好ましくない。
いが、炭素の量が少ない場合は耐食性向上の効果が現わ
れにくく、一方多すぎる場合は、磁気記録層にクラック
が入りやすくなるため好ましくない。
磁気記録層中に含まれる好適な炭素の口は、強磁性体原
子に対し、原子個数で0.5〜30%の範囲にあること
が好ましく、より好ましくは1〜20%の範囲でおる。
子に対し、原子個数で0.5〜30%の範囲にあること
が好ましく、より好ましくは1〜20%の範囲でおる。
本発明においては、磁気記録層中の弗素と炭素は磁気記
録層の膜厚方向の全体にわたって存在しているが、磁気
記録層の表面または磁気記録層と仙の層との界面で濃度
が高くなるように含有させることが耐食性の向上効果の
点で好ましい。
録層の膜厚方向の全体にわたって存在しているが、磁気
記録層の表面または磁気記録層と仙の層との界面で濃度
が高くなるように含有させることが耐食性の向上効果の
点で好ましい。
膜厚方向で弗素および炭素に濃度分布がおる場合は、膜
厚方向の平均で弗素および炭素の濃度をそれぞれ表わさ
れる。すなわち、磁気記録層の表層部分は汚染や酸化に
よる影響があるので、これらの影響のない深さの部分か
ら、磁気記録層の基体側界面までの範囲で、弗素、炭素
および強磁性体の原子個数の比を膜厚方向に所定間隔ご
とに(または連続的)に測定し、これらのデータをそれ
ぞれ膜厚方向に加算して平均の濃度比が算出される。
厚方向の平均で弗素および炭素の濃度をそれぞれ表わさ
れる。すなわち、磁気記録層の表層部分は汚染や酸化に
よる影響があるので、これらの影響のない深さの部分か
ら、磁気記録層の基体側界面までの範囲で、弗素、炭素
および強磁性体の原子個数の比を膜厚方向に所定間隔ご
とに(または連続的)に測定し、これらのデータをそれ
ぞれ膜厚方向に加算して平均の濃度比が算出される。
また磁気記録層には上記コバルト、鉄、ニッケル以外の
元素や化合物、例えば銅、クロム、アルミニウム、シリ
コン、バナジウム、チタン、亜鉛、マンガンや、タンタ
ルおよびこれらの酸化物、窒化物、水酸化物などが磁気
記録層の磁気特性を損わない範囲で含まれていてもよい
。
元素や化合物、例えば銅、クロム、アルミニウム、シリ
コン、バナジウム、チタン、亜鉛、マンガンや、タンタ
ルおよびこれらの酸化物、窒化物、水酸化物などが磁気
記録層の磁気特性を損わない範囲で含まれていてもよい
。
磁気記録層中には、このほか、10〜50体積%の空隙
(ボイド)が含まれていることが、磁気特性の点から好
ましい。
(ボイド)が含まれていることが、磁気特性の点から好
ましい。
磁気記録層の膜厚は特に制限されないが、再生出力、平
坦性、可撓性などの点から0.05μmから2μmの範
囲が良く、中でも0.1μmから0.5μmの範囲が最
も好ましい。
坦性、可撓性などの点から0.05μmから2μmの範
囲が良く、中でも0.1μmから0.5μmの範囲が最
も好ましい。
磁気記録層は基体の片面に設けてもよいし、両面に設け
てもよい。
てもよい。
本発明において以下の説明で垂直磁化膜とは次のように
規定されるものである。
規定されるものである。
JIS C−2561に示される方法により膜面方向
のじステリシスループを測定する。
のじステリシスループを測定する。
このヒステリシスループに原点から接線を引き、この接
線上の磁化の値が飽和磁化と同じになる点め外部印加磁
界の値を異方性磁界という。異方性磁界が大きい程、垂
直方向に磁化し易いことを表わす。本発明では、異方性
磁界が2キロ工ルステツド以上のものを垂直磁化膜とす
る。
線上の磁化の値が飽和磁化と同じになる点め外部印加磁
界の値を異方性磁界という。異方性磁界が大きい程、垂
直方向に磁化し易いことを表わす。本発明では、異方性
磁界が2キロ工ルステツド以上のものを垂直磁化膜とす
る。
次に本発明の磁気記録層の製造方法の1例を添付図面を
参照して説明する。
参照して説明する。
図は反応性蒸着方式による製造装置を例示するもので、
長尺フィルム状基体1を支持移動できる基体巻き出し軸
2、円筒上の基体支持ドラム3および基体巻き取り軸4
などの基体走行系を備えた真空槽5を排気口6より1X
10−5トール以下に抽気する。次いで酸素ガスと窒素
ガスと弗化炭素ガスが体積比で10:80:10の混合
ガスを0゜6d/分の流電でバリアプルリークバルブ7
より導入する。
長尺フィルム状基体1を支持移動できる基体巻き出し軸
2、円筒上の基体支持ドラム3および基体巻き取り軸4
などの基体走行系を備えた真空槽5を排気口6より1X
10−5トール以下に抽気する。次いで酸素ガスと窒素
ガスと弗化炭素ガスが体積比で10:80:10の混合
ガスを0゜6d/分の流電でバリアプルリークバルブ7
より導入する。
次いで蒸発源8よりコバルトを蒸発させ、ドラム2にそ
って移動する基体上にコバルトおよび酸化コバルトから
主としてなる垂直磁化膜を、約5μm/分の速さで約3
,000人の厚さに付着させる。
って移動する基体上にコバルトおよび酸化コバルトから
主としてなる垂直磁化膜を、約5μm/分の速さで約3
,000人の厚さに付着させる。
9および10は蒸発源から蒸発される金属上記基体への
入射角度を規制するための遮蔽板で、基体への入射開始
点にあける入射蒸気と基体の法線とがなす角度が45°
以下となるように設置される。
入射角度を規制するための遮蔽板で、基体への入射開始
点にあける入射蒸気と基体の法線とがなす角度が45°
以下となるように設置される。
11および12は遮蔽板9および10の各上面の中間側
所定位置と基体支持ドラム3との間に設けられた隔壁で
、基体支持ドラム3、両隔壁11.12および遮蔽板9
.10によって囲まれる空間に、所定の混合ガスを導入
することによって部分酸化され、弗素と酸素とを含む薄
膜を得ることができる。
所定位置と基体支持ドラム3との間に設けられた隔壁で
、基体支持ドラム3、両隔壁11.12および遮蔽板9
.10によって囲まれる空間に、所定の混合ガスを導入
することによって部分酸化され、弗素と酸素とを含む薄
膜を得ることができる。
本発明の磁気記録層はその伯、弗化水素をイオン化し、
薄膜形成中に薄膜に照射するイΔンアシスト蒸着によっ
ても得ることができる。
薄膜形成中に薄膜に照射するイΔンアシスト蒸着によっ
ても得ることができる。
基体と磁気記録層の間には磁気記録層の磁気特性向上、
耐食性向上、接着力向上などの目的で下地層を一層ある
いは複数層積層させることができる。特に下地層として
軟磁性層を設けることは、記録・再生感度を上げるため
に大ぎな効果がおり、好ましい。
耐食性向上、接着力向上などの目的で下地層を一層ある
いは複数層積層させることができる。特に下地層として
軟磁性層を設けることは、記録・再生感度を上げるため
に大ぎな効果がおり、好ましい。
磁気記録層上に耐摩耗性向上、耐食性向上などの目的で
、さらに潤滑層、保護層、防錆層などを積層することは
適宜許される。特に炭素膜を磁気記録層上に設けること
は、耐摩耗性向上、耐食性向上効果が大きくため好まし
い。
、さらに潤滑層、保護層、防錆層などを積層することは
適宜許される。特に炭素膜を磁気記録層上に設けること
は、耐摩耗性向上、耐食性向上効果が大きくため好まし
い。
本発明は、強磁性体およびその酸化物から主としてなる
磁気記録層自体に弗素と炭素を同時に含有せしめたため
、磁気記録層自体の耐食性を著しく向上させることがで
きたものでおる。また本発明によれば磁気記録層自体の
磁気特性や記録密度などの性能低下がないうえ、磁気記
録層の形成を効率よく高生産性下に行なうことができる
利点がある。
磁気記録層自体に弗素と炭素を同時に含有せしめたため
、磁気記録層自体の耐食性を著しく向上させることがで
きたものでおる。また本発明によれば磁気記録層自体の
磁気特性や記録密度などの性能低下がないうえ、磁気記
録層の形成を効率よく高生産性下に行なうことができる
利点がある。
この作用の詳細は不明でおるが、弗素を含有しているこ
とによる撥水性の光用が耐食・11向上に効果があるこ
とが考えられる。また炭素は弗化炭素の形で弗素を安定
に存在させる働きがあることが推測される。
とによる撥水性の光用が耐食・11向上に効果があるこ
とが考えられる。また炭素は弗化炭素の形で弗素を安定
に存在させる働きがあることが推測される。
本発明で得られる磁気記録媒体はテープ、シー1〜、カ
ード、ディスク、ドラムなどの形状にて、オーディオ、
ビデオ、デジタル信号などの磁気記録用途に広く用いる
ことができる。
ード、ディスク、ドラムなどの形状にて、オーディオ、
ビデオ、デジタル信号などの磁気記録用途に広く用いる
ことができる。
(特性の測定方法・評価基準)
■ 垂直磁化膜の磁気異方性の測定
JIS C−2561に示される方法により膜面方向
のヒステリシスループを測定する。ヒステリシスループ
の飽和点の磁化の値を飽和磁化という。このヒステリシ
スループに原点から接線を引き、この接線上の磁化の値
が飽和磁化と同じになる点の外部磁界の値を異方性磁界
(Hk)という。
のヒステリシスループを測定する。ヒステリシスループ
の飽和点の磁化の値を飽和磁化という。このヒステリシ
スループに原点から接線を引き、この接線上の磁化の値
が飽和磁化と同じになる点の外部磁界の値を異方性磁界
(Hk)という。
本発明ではHkが2キロ工ルステツド以上のものを垂直
磁化膜とする。
磁化膜とする。
測定には、試料振動式磁力計(理研電子(株)製、B
HV −30>を使用した。
HV −30>を使用した。
■ 耐食性試験
試料を60℃、90%RHの雰囲気中に置き、時間の経
過による試料表面の状態の変化を微分干渉顕微鏡によっ
て観察し、耐食性の度合を相対比較したものである。
過による試料表面の状態の変化を微分干渉顕微鏡によっ
て観察し、耐食性の度合を相対比較したものである。
■ 磁気記録層中の弗素と炭素の濃度の測定X線光電子
分光分析機(VGサイアンティフィック社製ESCAL
AB5)を使用した。汚染おJ:び酸化の影響を除去す
るため、磁気記録層の表面より400Å以上の深さにお
いて、全ての強磁性体からのX線光電子と炭素におよび
弗素からのX線光電子を測定し、それらの強度からそれ
ぞれの相対的な原子個数を算出した。弗素および炭素の
濃度を全ての強磁性体の原子個数に対する原子個数の割
合で表わすことにする。
分光分析機(VGサイアンティフィック社製ESCAL
AB5)を使用した。汚染おJ:び酸化の影響を除去す
るため、磁気記録層の表面より400Å以上の深さにお
いて、全ての強磁性体からのX線光電子と炭素におよび
弗素からのX線光電子を測定し、それらの強度からそれ
ぞれの相対的な原子個数を算出した。弗素および炭素の
濃度を全ての強磁性体の原子個数に対する原子個数の割
合で表わすことにする。
膜厚方向で弗素および炭素の濃度に分布がおる場合は、
膜厚方向の平均で弗素および炭素の濃度をそれぞれ表わ
す。すなわら、磁気記録層の表面より400人の深さか
ら磁気記録層の基体側界面までの範囲で、弗素、炭素お
よび強磁性体の原子個数の比を膜厚方向に所定間隔ごと
にに測定し、これらのデータをそれぞれ膜厚方向に加算
した1変、それぞれ加算したデータ数で除してそれぞれ
の平均の濃度を算出する。
膜厚方向の平均で弗素および炭素の濃度をそれぞれ表わ
す。すなわら、磁気記録層の表面より400人の深さか
ら磁気記録層の基体側界面までの範囲で、弗素、炭素お
よび強磁性体の原子個数の比を膜厚方向に所定間隔ごと
にに測定し、これらのデータをそれぞれ膜厚方向に加算
した1変、それぞれ加算したデータ数で除してそれぞれ
の平均の濃度を算出する。
(実施例)
実施例1
図の装置を用い、蒸発源8にコバル1〜、ニッケル、鉄
が、IB比で85:10:5のインボッ1〜を充填した
。蒸発源には電子ビーム加熱器を使用し、基体は、二軸
延伸した厚さ50μmのポリエチレンテレフタシー1〜
フイルムとした。真空槽内を5X10’トール以下に排
気した後、バルブ7より酸素と窒素と02F6を体積比
で10:80:10の混合ガスを0.60./分の速さ
で導入した。
が、IB比で85:10:5のインボッ1〜を充填した
。蒸発源には電子ビーム加熱器を使用し、基体は、二軸
延伸した厚さ50μmのポリエチレンテレフタシー1〜
フイルムとした。真空槽内を5X10’トール以下に排
気した後、バルブ7より酸素と窒素と02F6を体積比
で10:80:10の混合ガスを0.60./分の速さ
で導入した。
次いで蒸発源8より]パル1へ、ニッケル、鉄を蒸発さ
せ、ドラム3にそって移動する基体上にコバルト、ニッ
ケル、鉄およびこれらの酸化物から主として成る垂直磁
化膜を、約5μm/分の速さで約3000人の厚さに付
着させた。 □得られた垂直磁化膜の異方性磁界ト
1は3.2キロエルステッドであった。また400大エ
ツチング後における弗素原子は強磁性体原子(コバルト
、ニッケルおよび鉄)の1.5%、炭素原子は強磁性体
原子の8%であった。
せ、ドラム3にそって移動する基体上にコバルト、ニッ
ケル、鉄およびこれらの酸化物から主として成る垂直磁
化膜を、約5μm/分の速さで約3000人の厚さに付
着させた。 □得られた垂直磁化膜の異方性磁界ト
1は3.2キロエルステッドであった。また400大エ
ツチング後における弗素原子は強磁性体原子(コバルト
、ニッケルおよび鉄)の1.5%、炭素原子は強磁性体
原子の8%であった。
次に1qられた試料を20X20mmに切り出し、60
’C90%RHの雰囲気中に入れ、耐食性試験を行なっ
た。1週間放首後、観察したところ、試料には全体で直
径2〜30μmの大きざの腐食点が7比的められたが、
(多連の各比較例に比べて耐食性は著しく良好であった
。
’C90%RHの雰囲気中に入れ、耐食性試験を行なっ
た。1週間放首後、観察したところ、試料には全体で直
径2〜30μmの大きざの腐食点が7比的められたが、
(多連の各比較例に比べて耐食性は著しく良好であった
。
実施例2
蒸発源にコバルトのインゴットを充填した以外は実施例
1と同様にして垂直磁化膜を形成した。
1と同様にして垂直磁化膜を形成した。
)Hられた垂直磁化膜の11には3.9キロエルステツ
ドであった。また400人エツチング後にあける弗素原
子は強磁性体原子の1.8%、炭素原子は強磁性体原子
の13%でおった。
ドであった。また400人エツチング後にあける弗素原
子は強磁性体原子の1.8%、炭素原子は強磁性体原子
の13%でおった。
次に得られた試料を20X20mmに切り出し、60
’C90%RHの雰囲気中に入れ、耐食性試験を行なっ
た。1週間放置後、観察したところ、試料には全体で直
径2〜30μmの大きざの腐食点が11個比的られたが
、各比較例に比べて耐食性は著しく良好でめった。
’C90%RHの雰囲気中に入れ、耐食性試験を行なっ
た。1週間放置後、観察したところ、試料には全体で直
径2〜30μmの大きざの腐食点が11個比的られたが
、各比較例に比べて耐食性は著しく良好でめった。
比較例1
導入する混合ガスを酸素と窒素が体積比で]O:90と
した以外、実施例1と同様にして垂直磁化膜を形成した
。
した以外、実施例1と同様にして垂直磁化膜を形成した
。
得られた垂直磁化膜のHkは3.2キロエルステツドで
あった。400人エツチング1変において弗素原子は測
定されず、炭素原子は強磁性体原子の5%存在していた
。
あった。400人エツチング1変において弗素原子は測
定されず、炭素原子は強磁性体原子の5%存在していた
。
次に得られた試おlについて実施例1と同様にして耐食
性試験を行なったところ、全体で直径4μm〜1.5m
mの大きさの腐食点が20([発生しており、本発明に
比べて耐食性が著しく不良であった。
性試験を行なったところ、全体で直径4μm〜1.5m
mの大きさの腐食点が20([発生しており、本発明に
比べて耐食性が著しく不良であった。
比較例2
導入する混合ガスを酸素と窒素が体積比で10:90と
した以外、実施例2と同様にして垂直磁化膜を形成した
。
した以外、実施例2と同様にして垂直磁化膜を形成した
。
得られた垂直磁化膜のト1には4.2キロエルステツド
であった。400人エツチング)変において弗素原子は
測定されず、炭素原子は強磁性体原子の4%存在してい
た。
であった。400人エツチング)変において弗素原子は
測定されず、炭素原子は強磁性体原子の4%存在してい
た。
実施例2と同様にして耐食性試験を行なったところ、試
料には全体で直径4μm〜1mmの大ぎざの腐食点が2
40個発生しており、本発明に比べて耐食性が著しく不
良であった。
料には全体で直径4μm〜1mmの大ぎざの腐食点が2
40個発生しており、本発明に比べて耐食性が著しく不
良であった。
図は本発明の磁気記録媒体の製造するための装置の1例
を示す概略断面図である。 1:基体、5:真空槽、8:蒸発源。
を示す概略断面図である。 1:基体、5:真空槽、8:蒸発源。
Claims (1)
- (1)基体上に、強磁性体とその酸化物から主としてな
る磁気記録層を備えた磁気記録媒体であって、該磁気記
録層が弗素および炭素を含有してなることを特徴とする
磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25048987A JPH0192924A (ja) | 1987-10-02 | 1987-10-02 | 磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25048987A JPH0192924A (ja) | 1987-10-02 | 1987-10-02 | 磁気記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0192924A true JPH0192924A (ja) | 1989-04-12 |
Family
ID=17208626
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25048987A Pending JPH0192924A (ja) | 1987-10-02 | 1987-10-02 | 磁気記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0192924A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02141922A (ja) * | 1988-11-22 | 1990-05-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気記録媒体 |
| WO2006022437A1 (en) * | 2004-08-26 | 2006-03-02 | Showa Denko K.K. | Substrate for perpendicular magnetic recording medium, method of manufacturing the same, and perpendicular magnetic recording medium |
-
1987
- 1987-10-02 JP JP25048987A patent/JPH0192924A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02141922A (ja) * | 1988-11-22 | 1990-05-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気記録媒体 |
| WO2006022437A1 (en) * | 2004-08-26 | 2006-03-02 | Showa Denko K.K. | Substrate for perpendicular magnetic recording medium, method of manufacturing the same, and perpendicular magnetic recording medium |
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