JPH0197263U - - Google Patents

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JPH0197263U
JPH0197263U JP19269187U JP19269187U JPH0197263U JP H0197263 U JPH0197263 U JP H0197263U JP 19269187 U JP19269187 U JP 19269187U JP 19269187 U JP19269187 U JP 19269187U JP H0197263 U JPH0197263 U JP H0197263U
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JP19269187U
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Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案によるＩＣパツケージ用測定プ
ローブ組立体の一実施例を示す正面図、第２図は
第１図に示したＩＣパツケージ用測定プローブ組
立体の１つの測定プローブとＩＣパツケージのリ
ードとの係合状態を拡大して示す斜視図、第３図
は本考案によるＩＣパツケージ用測定プローブ組
立体の別の実施例を示す正面図、第４図は本考案
によるＩＣパツケージ用測定プローブ組立体の更
に別の実施例を示す側面図、第５図は本考案によ
るＩＣパツケージ用測定プローブ組立体の更に別
の実施例を示す正面図、第６図は本考案によるＩ
Ｃパツケージ用測定プローブ組立体の更に別の実
施例を示す側面図である。 １０……櫛形部材、１２……歯部、１４……測
定プローブ、１６……テーパ状ヘツド部材、１８
……導体部材、２０……導体小片、２２……リー
ド線、２４……接続部、２６……電気ケーブル、
２８……測定器、３０……リード、３２……歯部
、３４……テーパ状部材、３６……磁石、３８…
…ＩＣパツケージ、４０……プリント回路基板、
４４……フツク要素、４６……ロツド部材。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 １ プリント回路基板４０上に設置されたＩＣパ
    ツケージ３８の電気特性テスト、機能テスト等を
    行う際に用いられるＩＣパツケージ用測定プロー
    ブ組立体であつて、少なくとも２つの測定プロー
    ブ１４を具備し、これら測定プローブの各々は絶
    縁材料から作られたテーパ状ヘツド部材１６と、
    このテーパ状ヘツド部材の互いに対向する両テー
    パ側面に絶縁状態で適用された一対の導体部材１
    ８とからなり、この一対の導体部材間の距離が前
    記テーパ状ヘツド部材の狭窄端部側でＩＣパツケ
    ージのリードピツチ間隔よりも小さくされ、前記
    ２つの測定プローブがそれらのテーパ状ヘツド部
    材の両テーパ側面を互いに向かい合わせて整列さ
    せるような態様で配置されると共に該２つの測定
    プローブの中心間距離がＩＣパツケージの連続す
    る３つのリードピツチ間隔のうちの両外側のリー
    ドピツチ間隔の中心間距離に相当するようになつ
    ているＩＣパツケージ用測定プローブ組立体。 ２ 実用新案登録請求の範囲第１項に記載のＩＣ
    パツケージ用測定プローブ組立体において、前記
    ２つの測定プローブ１４が櫛形部材１０の歯部の
    先端に設けられることを特徴とするＩＣパツケー
    ジ用測定プローブ組立体。 ３ 実用新案登録請求の範囲第２項に記載のＩＣ
    パツケージ用測定プローブ組立体において、前記
    測定プローブ１４のそれぞれをＩＣパツケージ３
    ８の該当リードピツチ間隔内に挿入させるような
    態様で前記櫛形部材１０をＩＣパツケージ３８の
    リード上に保持させるための保持手段が設けられ
    ることを特徴とするＩＣパツケージ用測定プロー
    ブ組立体。 ４ 実用新案登録請求の範囲第３項に記載のＩＣ
    パツケージ用測定プローブ組立体において、前記
    支持手段が前記櫛形部材１０から吊下されしかも
    その歯部の中間に配置されたテーパ状弾性部材か
    らなり、このテーパ状弾性部材がＩＣパツケージ
    ３８の連続する３つのリードピツチ間隔のうちの
    中間リードピツチ間隔内に挿入されるようになつ
    ているＩＣパツケージ用測定プローブ組立体。 ５ 実用新案登録請求の範囲第３項に記載のＩＣ
    パツケージ用測定プローブ組立体において、前記
    支持手段が前記櫛形部材１０の両端から吊下され
    たフツク要素４４からなり、これら両フツク要素
    がＩＣパツケージ３８の連続する３つのリードピ
    ツチ間隔のうちの両外側のリード３０とスナツプ
    係合し得るようになつていることを特徴とするＩ
    Ｃパツケージ用測定プローブ組立体。 ６ 実用新案登録請求の範囲第３項に記載のＩＣ
    パツケージ用測定プローブ組立体において、前記
    支持手段が前記櫛形部材１０から片持梁りの態様
    で支持された磁石３６からなり、この磁石がＩＣ
    パツケージ３８の本体上に置かれるようになつて
    いることを特徴とするＩＣパツケージ用測定プロ
    ーブ組立体。 ７ 実用新案登録請求の範囲第３項に記載のＩＣ
    パツケージ用測定プローブ組立体において、前記
    支持手段が前記櫛形部材１０に枢動自在に取り付
    けられた支え部材からなり、この支え部材が筋交
    いの態様で前記櫛形部材をＩＣパツケージ３８の
    リード上に保持させることを特徴とするＩＣパツ
    ケージ用測定プローブ組立体。 ８ 実用新案登録請求の範囲第７項に記載のＩＣ
    パツケージ用測定プローブ組立体において、前記
    支え部材も櫛形部材１０として構成され、その歯
    部１２の先端には前記測定プローブ１４が設けら
    れることを特徴とするＩＣパツケージ用測定プロ
    ーブ組立体。 ９ 実用新案登録請求の範囲第１項から第８項ま
    でのいずれか１項に記載のＩＣパツケージ用測定
    プローブ組立体において、前記テーパ状ヘツド部
    材が楔形状を呈し、その互いに向かい合つた楔面
    に前記一対の導体部材が適用されることを特徴と
    するＩＣパツケージ用測定プローブ組立体。 １０ 実用新案登録請求の範囲第１項から第８項
    までのいずれか１項に記載のＩＣパツケージ用測
    定プローブにおいて、前記テーパ状ヘツド部材が
    切頭円錐形状を呈し、その直径方向で互いに向か
    い合う両テーパ面部分に前記一対の導体部材が適
    用されていることを特徴とするＩＣパツケージ用
    測定プローブ組立体。 １１ 実用新案登録請求の範囲第１項から第８項
    までのいずれか１項に記載のＩＣパツケージ用測
    定プローブにおいて、前記テーパ状ヘツド部材が
    切頭楕円錐形状を呈し、その直径方向で互いに向
    かい合う両テーパ面部分に前記一対の導体部材が
    適用されていることを特徴とするＩＣパツケージ
    用測定プローブ組立体。
JP19269187U 1987-12-21 1987-12-21 Expired - Lifetime JPH0533974Y2 (ja)

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JPH0197263U true JPH0197263U (ja) 1989-06-28
JPH0533974Y2 JPH0533974Y2 (ja) 1993-08-27

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006261144A (ja) * 2005-03-15 2006-09-28 Minowa Koa Inc 抵抗器の製造法及び抵抗器の検測装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2006261144A (ja) * 2005-03-15 2006-09-28 Minowa Koa Inc 抵抗器の製造法及び抵抗器の検測装置

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JPH0533974Y2 (ja) 1993-08-27

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