JPH0198183A - 記憶装置 - Google Patents

記憶装置

Info

Publication number
JPH0198183A
JPH0198183A JP63122251A JP12225188A JPH0198183A JP H0198183 A JPH0198183 A JP H0198183A JP 63122251 A JP63122251 A JP 63122251A JP 12225188 A JP12225188 A JP 12225188A JP H0198183 A JPH0198183 A JP H0198183A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
line
write
register
logic
value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP63122251A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0677398B2 (ja
Inventor
Raymond Pinkham
レイモンド ピンクハム
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Texas Instruments Inc
Original Assignee
Texas Instruments Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Texas Instruments Inc filed Critical Texas Instruments Inc
Publication of JPH0198183A publication Critical patent/JPH0198183A/ja
Publication of JPH0677398B2 publication Critical patent/JPH0677398B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1078Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
    • G11C7/109Control signal input circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1015Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
    • G11C7/1039Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port using pipelining techniques, i.e. using latches between functional memory parts, e.g. row/column decoders, I/O buffers, sense amplifiers
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1075Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for multiport memories each having random access ports and serial ports, e.g. video RAM
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1078Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1078Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
    • G11C7/1087Data input latches
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1078Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
    • G11C7/1093Input synchronization
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/16Multiple access memory array, e.g. addressing one storage element via at least two independent addressing line groups

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、記憶装置、特に複数入力端子を有する等速呼
用し半導体記憶装置に関する。
[従来の技術] 低価格の半導体記憶装置の出現に伴い、現今の電子計算
機及び超小形電子計iI機組織は、その組織からデータ
を出力するためにビット・マツプ映像表示を使用す゛る
ことができるようになっている。
周知のようにビット・マツプ表示は、その表示装置の各
画素(ビクセル)ごとに少なくとも1つの2進数(ビッ
ト)を記憶することのできる記憶装置を必要とする。各
画素ごとに記憶された追加ビットは、電子計算機組織に
、多色画像などのような、及び背景図形の上にテキスト
情報をオーバレイした背景と前景画像などのような、複
合画像を提供する能力を付与する。また、ビット・マツ
プ記憶を使用することによってデータ処理操作を通して
記憶画像を容易に発生しかつ変調することが可能となる
現今の表示装置は、多くの場合ラスク走査式であり、こ
の場合電子銃は表示パターンを発生するために表示スク
リーンを横切って水平線維追跡を行う。ラスク走査され
た画像が映像スクリーン上に連続的に表示されるために
はその画像は周期間隔を取ってリフレッシュされなけれ
ばならない。
陰極線管映像表示装置の場合、普通のりフレシュ速度は
1秒の1/60であるが、これはこの速度において行わ
れるリフレシュ動作がこの組織の人間である使用者には
感知されないからである。しかしながら、表示画像の解
像度を向上させるためにスターン上に表示される画素の
数が増加するに従って、リフレシュ間隔中にビット・マ
ツプ記憶装置から呼び出されなければならないピッ1〜
はますます多くなる。もしビット・マツプ記憶装置が単
一の入力ボートと出力ポートしか持たないならば、リフ
レシュ間隔が一定である限り、データ処理装置が時間を
通してビット・マツプ記憶装置から呼び出すことのでき
るその時間の占める百分率は表示の画素寸法と共に減少
する。さらに、より多くのビットが一定の時間期間中に
出力されなければならないので、記憶装置の速度を上げ
なければならない。
複数ボート等速呼出し記憶装置が開発されており、この
装置によって映像表示装置へのデータの高速出力またデ
ータ処理装置への記憶内容の呼出し性の向上が図られる
。複数ボート記憶装置は、これを達成するために、等速
呼用しと電子計算機組織のデータ処理装置による記憶の
更新のために第一ボートを有し及び第一ボートから独立
にかつこれと非同期して記憶内容を映像表示装置へ直列
出力するための第二ボートを有し、これによって映像表
示装置端子へのデータの出力中に記憶内容を呼び出すこ
とを可能にする。複数のボート等速記憶装置の例は、米
国特許第4,562.435号(1987年12月31
日発行)、米国特許第4.639.890号(1987
年1月27日発行)、及び米国特許第4,636.98
6号(1987年1月13日発行)に記載されており、
これらの特許は全てテキサス・インスツルメンツ有限責
任会社に譲受されている。
米国特許第4,636.986号記載の複数ボート等速
呼出し記憶装置は、4つの入/出力端子と、4つの直列
呼出し入/出力端子を有し、従って単一記憶装置は4つ
の記憶配列のように見える。
このことは、単一等速呼び出しによって、単一アドレス
値を使って、同時に4つのデータを読み書きすることを
可能とし、かつまた映像表示装置とのデータ通信の目的
のために四重直列出力を可能とする。外部直並列レジス
タは、したがって、4つの直列出力ビットを受け取り、
かつこれらをリフレシュ速度で映像表示装置に偏移させ
、これによって記憶レジスタが映像表示装置の速度の四
分の1で偏移できるようになる。
ほかに、四重編成の使用は、強化画像表示能力を与える
。例えば、四重編成は、各アドレスに関連した4つのビ
ットが各1つの記憶「而」を構成することができるので
、多色表示に有効である。
技術的に周知のように、四面編成は各色が映像表示の画
素に対応する最高160色を表現する2准将号の記憶の
ために配設される。これら4つのビットの他の使用とし
ては、ビットの1つを使用してテキストを表し、残りの
3つのビットを使用して図形背景に対する8ビツトの色
符号を表し、四重記憶は、したがって、テキスト・メツ
セージの図形画像へのオーバレイを容易にする。このよ
うな応用においては、他のこれらの面の小集合内のデー
タを(等速呼用しボートを経由して)変更することがで
き、これに伴って他の面内のデータを変更することなく
、またその組織にとって変更されない面内のデータの値
を知ることを要せず、これができることが効果的である
。単一記憶装置が各面°ごとに使用される場合には、電
子計n機組織は、各チップへ行く書込み使用可能信号を
制御することによって特定の面に容易に書き込みをする
ことができる。上に引用した米国特許第4,636.9
86号は、4つの入力の小集合に対する書込み回路を選
択的に禁止する書込みマスクを有し、したがって、映像
記憶装置の非選択面は選択面の書き込み動作中変更され
ないまま保持される。
米国特許第4.636,986号に記載された記憶装置
は、書込みマスク情報が行アドレス・ストローブ・クロ
ック信号の各起こるたびに、すなわち、行アドレスの各
変化ごとに記憶装置に提示されるに構成されている。し
かしながら、進歩した図形組織は、現在、極めて広いデ
ータ・バスを使用しており、この組織は同じマスク情報
を使用してビット・マツプ記憶装置の繰返し更新を必要
とする。各行アドレス・ストローブ・サイクルに際し負
荷されるような書込みマスクを利用する記憶装置のブロ
ックの更新は、書込みマスクを設定するに要する追加の
時間を必要とするのみならず、このような繰返し負荷に
対する書込みマスク値を記憶するための外部回路を必要
とする。
[発明が解決しようとする問題点] したがって、本発明の目的は、複数記憶サイクル中書込
みマスク値を保持する能力のある複数等速呼出し入力記
憶装置を提供することにある。
本発明の他の目的は、独立かつ非同期直列出力を有する
記憶装置を提供することにある。
本発明のさらに他の目的は、遅延書込みサイクル中にレ
ジスタを書込みマスク情報で負荷する能力を有する記憶
装置を提供することにある。
本発明のさらに他の目的は、先行のマスクを使用するマ
スク書込みサイクルが無マスク書込み動作の後に遂行さ
れるように、書込み情報を保持する能力を有する記憶装
置を提供することにある。
本発明のさらに他の目的は、入力データが各書込みサイ
クル中に供給される必要がないように、色符号などのよ
うな、記憶装置に書き込もうとする情報を記憶するレジ
スタを含む記憶装置を提供することにある。
本発明のさらに他の目的は、隣合う列への繰返し書込み
が単一記憶サイクルにおいて行われるように、複数の隣
合う列のアドレスを単一サイクルにおいて可能とする二
重ボート記憶装置を提供することにある。
本発明の他の目的と利点は、後掲の本発明の、付図を参
照する実施例についての詳細な説明から当業者にとって
明らかになるはずである。
[問題を解決するための手段] 本発明は、複数等速呼出し入力を有する等速呼用し記憶
装置に適用される。本発明においては、レジスタが配設
されて特別のサイクルにおいて入力から書き込みをされ
、このレジスタは入力の合名に対してビット位置を有す
る。この特別のサイクルは、追加の特別機能入力によっ
て使用可能とされる。このレジスタは、入力のどれに対
して書込み動作を禁止すべきかを指示するマスク・パタ
ーンを記憶する。いったんこのレジタスが負荷されると
、後続の書込みサイクルの実行によって1込みマスクが
使用可能となり書込み禁止が望まれる入力を阻止する。
このレジスタは、マスク情報を、特別サイクル中に再書
込みされるまで保持し、このような特別サイクルは行ア
ドレス・ストローブ信号の複数サイクルの後に起こる。
このレジスタを負荷する代替態様も、本発明に含まれ、
この場合レジスタは遅延国込みと同じように負荷され、
このような代替態様においては超小形電子計算機による
レジスタの負荷が可能であり、超小形電子計算機がアド
レス値とデータ値を同一バスに多重化する。
[実施例] 第1図を参照すると、本発明に従って構成され、改善さ
れた書込みマスク特徴を含む二重ボート記憶装置1の機
能ブロック線図が示されている。本明細書に参照文献と
して収録されている前記米国特許第4.636,986
号の記憶装置と同様に、この二重ボート記憶装置は、回
線AOがらA8を通してアドレス信号を受け取るほか、
クロック信号を回線RAS−、CAS−及び5CLKを
通して、書込み使用可能信号を回線WE−、転送使用可
能信号を回線T’R,,、及び直列出力使用可能信号を
回線SOEを通して受け取る。注意すべきことは、書込
みマスク特徴が内蔵されているので、単一列アドレス・
ストローブ回線CAS信号のみが二重ボート記憶装置1
に受け取られて利用されるということである。二重ボー
ト記憶装置1は、米国特許箱4.636.986号の記
憶装置の入出力端子のように4つではなく、8つの等速
呼出し入出力データ端子DOからD7を有するが、ここ
に説明しようとする本発明は、もちろん、これらのどち
らの編成にも、又は二重ボート記憶装置の他の編成にも
適用可能である。したがって、二重ボート記憶装置1は
、8つの配列2を含み、その各々が、この実施例におい
て、512行と256列に編成された128にビットの
記憶容量を有する。したがって第1図の二重ボート記憶
装置1は、1Mビットの記憶容量を含む。各配列2に関
連して、読出し増幅器バンク4があり、これは読出し技
術において周知のように256個の読出し増幅器を含み
配列2の動的記憶セルから及びこれへのデータの復元及
び書込みを行う。
二重ボート記憶装置1の直列側を見ると、米国特許箱4
,636.986号の二重ボート記憶装置におけると同
様に、転送ゲート6が配列2内のビット回線の各々に接
続され、配列2からデータをデータ・レジスタ8又はこ
れと逆方向に転送する。この例においては、データ・レ
ジスタ8は256−ビット・レジスタであり、したがっ
て、データの256ヒツトが転送ゲート6の各バンクに
よって転送される、すなわち、各転送サイクルにおいて
、データの2048ビツトが転送される。
直列論理回路14は、直列クロック信号を回線5CLK
を通して、直列出力使用可能信号を回線SOEを通して
、及び転送信号を回線TR−を通して、並びに等速呼出
し記憶(RAM)論理回路16からの信号を受け取り、
これによって、米国特許箱4.636.986号の記憶
装置におけるように、データの転送が適正な時間に行わ
れる。
トグル計数器/検出器22は、直列入出力が開始されよ
うとしているデータ・レジスタ8の各々内のビットを選
択する計数器及び検出器を含む。
したがって、トグル計数器/検出器22は、回線21を
経由してRAM論理回路16からラッチ列アドレス信号
を受け取り、米国特許箱4.636゜986号の記憶装
置の場合のように、直列入力又は出力が開始されるべき
直列位置を選択する。直列論理回路14は、トグル計数
器/検出器22を制御して、上述のように、転送サイク
ル中にラッチ列アドレス値を負荷し、及び回線5CLK
を経由してクロック信号の各サイクル中にトグル計数器
/検出器22に信号を送り、これによってトグル計数器
/検出器22内の計数値が各直列サイクル中に増分され
る。トグル計数器/検出器22は、その計数器内に記憶
されている復号値をポインタ10の各々に供給し、この
ようなポインタの1つずつがデータ・レジスタ8の各々
に関連させられている。データ・レジスタ8の内容は米
国特許箱4.636,986号の記憶装置におけるよう
に各サイクル中その内部偏移をさせられないで、その代
わりに、ポインタ10がレジスタ内部のビットを指示し
、その指示する位置はトグル計数器/検出器22内の計
数器の内容を増分する回線5CLK経由のクロック信号
の各サイクルと共に増分する。ポインタ10の関連する
1つによって指示されるデータ・レジスタ8の各々内の
ビット内容は入出力目的のために直列入出力v1衝記憶
装冒12に送られ、これらの直列入出力緩衝記憶装置の
各々は8つの配列2及びデータ・レジスタ8の各々に関
連させられる。直列入出力緩衝記憶装置12は、lIl
連する直列入出力端子SDOからSC2とポインタ10
で指示されるその関連するレジスタ8のビットとの間に
データを連絡する。
回線SOEを通る信号は、前述のように、直列論理回路
14に直列動作が書込みか読出しのどちらであるかを指
示し、直列論理回路14はこれに従って直列入出力[i
記憶装置12を制御する。直列入出力は、したがって、
米国特許箱4.636゜986号の記憶装置の場合にお
けるそれと次の点を除いて同じように機能的に起こる、
すなわち、異なる点は直列レジスタ機能は無偏移データ
・レジスタ8によって達成されこのレジスタ内部のビッ
トは増分する仕方を通して選択される。
等速呼出し側においては、米国特許筒4.636.98
6号の記憶装置において実行されるように、RAM論理
回路16がアドレス・ラッチングと復号を実行し、それ
ゆえ、回線RAS−の行アドレス・ストローブ信号と回
線CAS−の列アドレス中ストローブ信号をそれぞれを
受け取り、及びアドレス回線AOから八8の信号を受け
取る。
アドレス端子AOからへ8上に現れる行アドレス値は、
回線RAS−の列アドレス・ストローブ信号によってラ
ッチされ、かつ回線19を経由してX復号器18に送ら
れ、その結果X復号器18は回線19上のラッチ行アド
レス値に応答して配列2の各々内の行を選択づることが
できる。同様に、アドレス回ICAOからA7上に現れ
る列アドレス値(g4子八8上に現れる列アドレス信号
は256列の1つを選択するためには必要ない)は、回
線CAS−の列アドレス・ストローブ信号に応答してR
AM論理回路16によってラッチされ、ラッチ列アドレ
ス値はRAM論理回路16から回線21の1つを経由し
てX復号器20に送られ、8つの配列2の各々はそれに
関連するX復号器20の1つを有する。X復号器20の
各々は、したがって、その関連する配列2内のかつラッ
チ列アドレス値に対応する所望のビット回線をその関連
する入出力緩衝記憶装置24に接続することができる。
米国特許筒4.636.986号に記載された機能に加
えて、二重ポート記憶装置1は、等速呼出しデータ入力
機能に渡っての追加的側@機能を有し、このような追加
的制御は特別機能論理回路30によって実行される。8
つの入出力緩衝記憶装置24の各々は、多重変換装置2
6によってデータ端子DOから07に接続される。等速
呼出し目的のために、入出力緩衝記憶装M24の出力は
出力駆動回路31に受け取られ、これによってデータ端
子DoからD7に接続される。出力駆動回路31は、多
数の周知の構成のうちのいずれかの構成を取り、かつR
AM論理回路16の制御の下に回線TRG−を経由する
外部信号によって使用可能とされる。書込み目的のため
に、もちろん、出力駆動回路31はRAM論理回路16
によって使用禁止されてデータの衝突を防止する。
書込みサイクル中、特別機能論理回路30からの回線W
TCLRは多重化変換装置26を制御して、使用者によ
って選択された機能に応じて、データ端子DoからD7
に現れるデータ値か又は特別機能論理回路30内の色レ
ジスタ32の内容のいずれかを選択してこれを回線27
を経由して入出力緩衝記憶装置24に送る。特別機能論
理回路30は、また、米国特許筒4.636.986号
の記憶装置の場合に関し上述したのと同様な書込みマス
ク特徴を113611することができる、しかしながら
、特別機能論理回路30は書込みマスク値を書込みマス
ク・レジスタ54内に記憶させるように動作可能であり
、これによって書込みマスク値は複数サイクル中動作す
ることができ、またそれゆえ書込みマスク値はそれが最
初に負荷されて以後、及び無マスク等速呼出し書込みの
介入サイクル以後、多数のサイクル中に再現可能である
。書込みマスク・レジスタ34の内容、又は無マスク書
込み信号は、所望されるならば、次に述べるように、特
別機能論理回路30によって回線WCLKを経由して入
出力緩衝記憶装置24に送られる。
ここで、第2図を参照して、特別機能論理回路30の構
成及び機能を説明する。特別機能論理回路30は、アド
レス端子AOからへ8上の行アドレス及び列アドレス信
号がラッチされるのと同じような仕方において、高から
低論理値への遷移を行う回線RAS−行アドレス・スト
ローブ信号と回線CAS−列アドレス・ストローブ信号
の各々と関連してこの論理回路への各種入力値を記憶す
るためのラッチを含む。回線SFは、これを経由して特
別機能信号が外部から二重ボート記憶装置1に供給され
るが、D形うッチ32及び34のD入力に接続されてい
る。ラッチ32のクロック入力はRAM論理回路16に
よって発生され回線RAS−行アドレス・ストロブ信号
から遅延したクロック・パルスである回線RAS’りO
ツク信号であり、またラッチ34のクロック入力は同様
にRAM論理回路16によって発生され回線CAS−列
アドレス・ストローブ信号から遅延した回線CAS’の
クロック・パルスであるクロック信号である。特別機能
論理回路30は、さらにラッチ36を含みこのラッチは
そのD入力に回線TR−を接続をされることによって外
部転送信号を受け取り、かつそのクロック入力に回線R
AS’クロック信号を受け取る。ラッチ38は、回線W
E−を通して外部書込み使用可能信号を受け取り、かつ
回線RAS’クロック信号によってクロック制御される
データ端子DoからD7上のデータ入力信号は、上に論
じられた信号と同じように、特別機能論理回路30内の
ラッチ40によって、回線RAS−行アドレス・ストロ
ーブ信号に対してラッチされる。ラッチ40は、したが
って、データ端子DOからD7よりの8つのデータ信号
を記憶するために、8つのデータ・ビットを含み、この
各々が回線RAS’によってクロック制御される。ラン
チ40の出力は多重化変換装置58の1つの入力に接続
され、後者の出力は8ビット書込みマスク・レジスタ5
4の入力に接続され、書込みマスク・レジスタ54の内
容に対応する8つの入出力緩衝記憶装置24のうちの1
つが等速呼比し書込み動作に対し使用可能とされるであ
ろう。書込みマスク・レジスタ54の出力は多重化変換
装置60の第一入力に接続され、後者の他の入力は電源
Vddに接続されている、ここで、もちろん、明らかな
ように、多重化変換装置60の入力の各々は8つの平行
ビツ−トを含み、多重化変換装@60は書込みマスク・
レジスタ54の8ビツト平行出力又は電源Vddによっ
て発生された全部II 111の8ビツト値を受け取る
。多重化変換装置60は、組合せ論理回路44によって
回線SELMSKを経由して制御される。回線SELM
SKは、書込みマスク・レジスタ54の内容が8つの回
線WCLKS上に信号を発生しようとするとき、組合せ
論理回路44によって高論理値に設定され、回線WCL
KSの各々WCLKは入出力緩衝装置24と関連し、回
線WCLK上の高論理値によってその関連する入出力緩
衝装置24がその回線27の1つの回線上の値をその配
列2内の選択された記憶場所に書き込む。組合せ論理回
路44からの回線WCLKSが低論理値を取ることによ
って多重化変換装@60は電源Vddをその出力へ供給
させ、これによってすべての入出力緩衝装置24が、書
込みマスク・レジスタ54の内容にかかわらず、書込み
動作の実行すべきことを表示する。注意すべきことは、
多重化変換装置60は、ANDゲート59の出力によっ
てもまた制御され、このゲートはその入力に組合せ論理
回路44からの回線W′クロック信号及び回線WEN書
込み使用信号を受け取ることである。ANDゲート59
の出力は、多重化変換装置58の選択された入力の回線
WCLKへの供給をゲート制御し、この結果、回線WC
LK上の使用可能信号がそのサイクル中の適正な時間に
おいて入出力緩衝装置24に供給され、及びこの結果、
使用可能信号は読出しサイクル中には供給されない。
データ端子DoからD7上のデータ入力信号は回線W′
クロック信号に応答して8ビツト・ラッチ42内へ記憶
され、このクロック信号は、下に論じるように、低論理
値へ遷移する回線CAS−及びWEの信号間の論理条件
成立に応じてRAM論理回路16によって発生される。
ラッチ42の出力は、8ビツト色レジスタ50の入力に
接続される他、データ多重化変換装置26の入力、及び
多重化変換装@58の第二入力に接続される。色レジス
タ50の出力はデータ多重化変換装置26の他の入力に
接続される。色レジスタ50は、ラッチ42の出力によ
って、組合せ論理回路44が回線しDCLR上に高論理
値を発生する際、負荷され、これによって後続の書込み
サイクル中に8つの入出力緩衝装置24に供給されるべ
き所定データ・パターンを記憶しこの書込みサイクル中
はこの色レジスタがデータ源として選択される。第1図
及び第2図から明らかなように、多重化変換装置26は
、特別機能回路30内の組合せ論理回路44からの回線
WTCLR上の制御信号に応答して、回線27を経由し
て入出力緩衝装置24に供給するために、色レジスタ5
0の内容か又はラッチ42の出力を選択するよう−に動
作する。また回線WTCLR上の一^論理値によってこ
の色レジスタ50の内容が回線27上に供給される。上
述したように、出力駆動回路31は、回線27上の値を
読出しサイクル中にデータ端子DoからD7へ供給する
ラッチ42の出力もまた、上述したように、多重化変換
装置58の第二入力に供給されることによって、書込み
マスク・レジスタ54に負荷するに当たっての代替方法
を提供する。下にさらに詳細に説明するように、組合せ
論理回路44は、書込みマスク・レジスタ54を負荷す
るに当たっての二つの動作態様の1つを使用者が選択す
るのに応答して、高論理値信号を回線LDMSK上に発
生するであろう。ラッチ40の内容(回線RAS−によ
ってラッチされた端子DOからD7の値を記憶する)か
又はラッチ42の内容(回線WE−によってラッチされ
た回線DOからD7の値を記憶する)のいずれかが所望
されるのに応じて、組合せ論理回路44は選択されたラ
ッチ内容の回線5LE40を経由しての書込みマスク・
レジスタ54への供給を制御するであろう、そしてこの
レジスタは高論理値信号のときラッチ4oの出力を選択
し、低論理値信号のときラッチ42の出力を選択する。
第3a図を参照すると、回線RAS’クロック信号の発
生が示されている。第3a図に示されている回路は、第
1図のRAM論理回路16内に存在する。二重ボート記
憶装置1の外部から発生された回線RAS−行アドレス
・ストローブ信号は、否定素子110によって反転され
、遅延段102を通して所望の遅延をさせられた後、上
に参照した回線RAS’信号を発生する。否定素子10
4による追加の反転は、回線RAS−’クロック信号を
発生し、これについては下で論じられよう。
注意すべきことは、もちろん、必要な遅延、そして実際
に、回1!RAS’及びRAS−’信号の追加遅延形態
は、多様な制御機能に対して二重ボート記憶装置1を徹
底して使用するならば、通常の技術の遅延によって容易
に発生させられるということである。回線RAS’及び
RAS−’信号は、もちろん、同様な仕方でRAM論理
回路16内でも、又は当業者にとって周知の多数の方法
によっても発生される。
第3b図は、RAM論理回路16にある回線W′クロッ
ク信号、すなわち、第2図の回路において使用されたよ
うな回線W′クロック信号の発生を示す。回線WE−は
外部で発生される使用可能信号を受け取6、この信号は
NORゲート106によってゲート制御され、このゲー
トの他の入力は回線RAS−’に接続されている。回線
WE−書込み使用可能信号が回線RAS−の活性期間中
に起こるときのみ高レベルを取るNORゲート1゜6の
出゛力は、NANDゲート108の第一入力に接続され
、後者は他の入力を回線CAS’に接続されている。上
述したように、回線CAS’上の信号は遅延されまた反
転されて回線CAS−列アドレス・ストローブ信号の形
態になる。NANDゲート108の出力は、NORゲー
トioeの出力と回線CAS’の両者が高論理値のとき
、すなわち、回線WE−とCAS−信号間の論理条件成
立に応じて、低論理値を取る。遅延段110による所望
の遅延及び否定素子112による反転を通して、第2図
の回路で利用される回線W′クロック信号が発生させら
れる。
上に全体的に論じたように、組合せ論理回路44は、ラ
ッチ32.34.36.38の状態に応答して、各種の
制御信号をそれぞれ回線33,35.37.39上に発
生する。これらの制御信号は、二重ボート記憶¥装置1
を制御してその各種態様の動作を実行させる。第1表は
、二重ボート記憶装置1の各種の特別態様の真理値表で
あり、これらの態様のいくつかについて以下に詳細に説
明しよう。
第  1  表 ooo   x   レジスター記憶装置転送010 
 x  記憶装置−レジスタ転送1000IIAS−で
書込みマスク負荷;データ配列に書込み。
10018AS−で書込みマスク負荷:色レジスタを配
列に書込み。
101 0  旧マスク使用:データを配列書込み。
101 1  旧書込みマスク使用: 色レジスタを配列に書込み 1110WE−で書込みマスク負荷。
111114E−で色レジスタ負荷。
110 1  書込みマスク使用禁止二色レジスタを配
列に書込み 110 0  書込みマスク使用禁止;正常読み書き。
上に論じたように、回線WTCLllJm信号は組合せ
論理回路44によって発生されることによって、データ
多重化変換装置26に色レジスタ50の内容とラッチ4
2の出力との間で選択を行わせその結果を入出力緩衝装
置24に印加させる。回線LDCLR信号は、組合せ論
理回路44によって発生される信号で、これによって色
レジスタ50がラッチ42の内容で以て負荷される。回
線LDMSK信号は、組合せ論理回路44によって発生
される信号で出込みマスク・レジスタ54に送られ、こ
れによって、多重化変換装置58の動作を制御する回線
5EL40の状態に応答して、書込みマスク・レジスタ
54にラッチ42の内容かラッチ40の内容のいずれか
を負荷させる。書込みマスク・レジスタ54の内容の回
線ECLKへの供給は組合せ論理回路44からの回線S
ELMSKの論理状態に依存して使用可能とさせられる
。したがって、組合せ論理回路44は、これに供給され
る入力に応答する適当な制御信号を発生するに必要なよ
うな論理を含み、これについては第4図を参照して説明
しよう。
組合せ論理回路44は、ラッチ32.34,36.38
の出力をそれぞれ回線33.35.37゜39を経由し
て、並びに他に、上述のように、回線RAS’及びW′
倍信号受け取る。組合せ論理回路44の構成と動作は、
この回路が第1表に掲げられた特別機能の各々を使用可
能とするのでこれに従ってここでは説明しよう。
上述のように、書込みマスク・レジスタ54は、ラッチ
40の内容か又はラッチ42の内容を負荷される。ラッ
チ42は回線CAS−及びWE−信号間の論理条件成立
により起こる回線W′信号に応答して負荷されるので、
書込みマスク・レジスタ54は様々な仕方で負荷される
ことが可能であるばかりではなく、一つのサイクル中の
様々な時間にも負荷されることが可能であり、このこと
が二重ボート記憶装置1の使用者に対する融通性を向上
する。
第5a図を参照すると、ラッチ40から書込みマスク・
レジスタへ負荷する場合、すなわち、そのサイクルの最
初の部分中のタイミング線図が示されている。第1表は
、第5a図に示されているように、書込みマスク・レジ
スタ54が回線WE−及びSF信号が低論理値にあり、
かつ信号TR−が高論理値にあり、回1!RAS−がそ
の高から低論理値への遷移を行うときの、早期に負荷さ
れることを示している。このときに、データ端子DOか
らD7上の値が(回線RAS’信号に応答して)ラッチ
40へ負荷され、また回線SF、TR,及びWE−信号
がそれぞれラッチ32,36.38内へ記憶される。ラ
ッチ32.36.38のそれぞれ回線33.37.39
上の出力は、NANDゲート118の入力に接続される
(回線33.37の信号は否定素子114.116によ
って反転される)。したがって、NANDゲート118
の出力は、回線WE−とSFのラッチ状態が低論理値に
あるときかつ回線TR−のラッチ状態が高論理値にある
とき低論理値へ遷移する。このことは、低論理値をNO
Rゲート120の一つの入力に供給し、このゲートはそ
の持つ他の入力を回1!1lRAs’クロック信号によ
って制御されこのクロック信号は否定遅延段122によ
って所望するように遅延しかつ論理を生じ、また回線R
AS’遅延りOツク信号の低から高論理値への遷移の際
、NORゲート120の出力は高論理値へ遷移し、第2
図の多重化変換装置58への回線5EL40の高論理値
を発生して、ラッチ40の出力が選択されるべきことを
表示する。回線5EEL40は、またORゲート124
の1つの入力に接続され、回線LDMSKに高論理値を
発生する。回1i!LDMSK回線は、書込みマスク・
レジスタ54に接続され、低から高論理値への遷移によ
って、書込みマスク・レジスタ54が多重化変換装置5
8の出力値で負荷されるべきこととを表示し、この値は
、説明している場合においては、ラッチ40の内容であ
る。この動作によって、書込みマスク・レジ、スタ54
は記憶サイクルの最初の部分中に負荷される。
回線TR−、WE−及びSFが、回線RAS−の低論理
値へ遷移の際に、それぞれのラッチへ記憶された後に、
回線TR−、WE−及びSFは、書込みマスク・レジス
タ54を負荷する目的に対して「don’t care
 (心配無用)」と状態となり、他の論理値へ遷移可能
となる。しかしながら、書込みマスク・レジスタ54の
負荷掛けに続いて、読出し又は書込みのいずれかが、回
線WE−及びTR−(米国特許第4.636.986号
の記憶装鱈におけるように、等速呼出し出力使用可能信
号用として働く回線TR−’)に応じて、二重ボート記
憶装置1によって実行される。第5a図は、書込みマス
ク・レジスタ54の負荷掛けの後に起こる書込みサイク
ルの比較的有りそうな事態を示している(使用者の書込
み動作実行における興味は書込みマスク・レジスタ54
の負荷によって証拠立てられる)。第5a図に示されて
いるように、行アドレス値、すなわち、回線RAS−の
遷移時におけるアドレス回線AOからA8の状態は、書
込みマスク・レジスタ54が負荷されつつある時間中に
受け取られる、また、行アドレス復号及び選択が、周知
の等速呼出しの仕方において、RAM論理回路16及び
X復号器18によって行われる。列アドレス値は、第5
a図に示されているように、回線CAS−アドレス・ス
トローブ信号と関連してアドレス端子AOからA7上に
現れる。
第1表は、回線CAS−の遷移時における回線SFの値
がデータ端子DoからD7上に受け取られたデータ又は
色レジスタ50の内容のどちらが配列2に書き込まれる
データであるかを判定することを示している。第2図に
示されているように、ラッチ34は回線CAS−クロッ
ク信号に応答して信号SFの値を負荷され、このクロッ
ク信号は回線CAS信号に関する遅延かつ反転信号であ
る。
ラッチ34の出力からの回1135は、(否定素子12
5によって反転された後)NORゲート126の1つの
入力に接続される。ANDゲート127は、その1つの
入力にNANDゲート118の出力を受け取り、後者は
、上述したように、書込みマスク・レジスタ54が負荷
される間は低論理値にある、またこれは、もちろん、A
NDゲート127の出力を低論理値に制御し、この出力
はNORゲート126の他の入力に供給される。もし回
線CAS−信号の遷移時における回線SFの値が論理値
”1”であるならば、高論理値がNORゲート126の
出力に及び回線WTCLRに発生されるであろう。また
もし回線CAS−の遷移時回1alsFが論理値T# 
OIIであるならば、低論理値が回1i1WT CL 
Rに発生されるであろう。回線WTCLR回線はデータ
多重化変換装置26の制御入力に接続され、この多重化
変換装置は高論理値にある回1mWTCLRに応答して
色レジスタ50の内容を回線27に供給し信号WTCL
Rが低論理値のときラッチ42の内容を回線27に供給
する。このようにして、組合せ論理回路44は、書込み
マスク・レジスタ54の負荷されるのと°同じ記憶サイ
クル中にデータ源を選択するように動作可能であり、こ
の選択は回線CAS−の遷移時における回線SFの値に
応答する。
回線33,37.39はANDゲート128にも接続さ
れ、回線33はこれに先行して否定素子114によって
その信号を反転される。したがって、回線RAS−の遷
移時に回線WE−の値が論理値″O″にあった限り、A
N[)ゲート128の出力は論理値II OI+にある
。ANDゲート128の出力は、否定素子130を通し
て、回線8ELMSKに接続され、この回線は多重化変
換装置160の制御入力に接続されている。回線 82
1MSKの高論理値は、このサイクル中に書込みマスク
・レジスタ54が回線RAS−信号の遷移に応答して負
荷されるので、書込みマスク・レジスタ54の内容が入
出力緩衝装M24への回線WCLK上への信号を発生す
るために選択されるべきことを指示する。さらに、回1
i!33.37゜39は、反転されることなく、AND
ゲート132の入力にも接続され、またANDゲート1
32の出力も回線33.39が低論理値のとき低論理値
にある。ANDゲート132の出力は否定素子134に
接続され、後者の出力に発生する回線WEN信号は第2
図のANDゲート59の1つの入力に接続されている。
したがって、ANDゲート132の出力が低論理値のあ
る限り、回線WENは高論理値にあり回線W′クロック
信号を使用可能としてゲートに通し、多重化変換装置6
0を経由して、書込みマスク・レジスタ54の内容を回
線WCLKへ供給させる。上述したように、回線WCL
K信号は、入出力緩衝装置24への書込みクロック信号
があり、回線27上のデータの配列2への書込みを実行
させ、この場合、書込みマスク・レジスタ54内に記憶
されている110 PIにm迎するこれらの入出力緩[
I装置は書込み動作を実行しない。したがって、他方が
低論理値で活性である間に高から低論理値へ遷移する回
線WE−と回線CAS−の間の論理条件成立に応じて(
すなわち、回線RAS−の遷移に関連して回線WE−が
論理値に遷移しかつ高論理値に復帰することは回線W′
クロック信号を発生されない)、クロック信号が回線W
°に発生され、この信号は多重化変換装置60の選択入
力をゲート制御して回線WCLKに通し、入出力緩衝装
置24による書込み動作を実行させる。
第6図は、レジスタ規模の線図であって、書込みマスク
書込み動作を示す。マスク書込み動作前の8ビツトの記
憶場所の例が2°で示され、ここで8ビツトの各々は二
重ボート記憶袋M1の配列2の各々内のアドレス指定場
所に対応する。この例においては、書き込もうとするデ
ータを含むデータ源は色レジスタ50であり、第6図に
示されたその内容の例は101010102であるa@
込みマスク・レジスタ54の内容は、第6図においては
、4つの中央ビットのみ、すなわち、8ビツト記憶場所
のうち低位第3桁から第6桁までのみに書き込んで示さ
れている、また、逆に記憶場所2゜最上位2桁と最下位
2桁に対しては書込み動作がマスクされている。色レジ
スタ50の内容がマスク書込みにおいて書き込まれる所
の、上に説明した書込みサイクルの実行の際の、アドレ
ス指定された記憶場所の更新が第6図に2 ′として示
されている。中央の4つのビットのみが色レジスタ50
の内容で以て書き込まれ、最上位2桁と最下位2桁とは
書込み動作前と同じに保持されるということは、明らか
である。
上に言及したように、二重ボート記憶装置1は、回線W
′クロック信号によってクロック制御されるラッチ42
によって、□記憶サイクルの後期部分中に書込みマスク
・レジスタ54を負荷することができる。第5b図は、
記憶サイクルの後期部分中に書込みマスク・レジスタを
負荷するタイミング・サイクルを示している。回線33
,37.39は、上に論じたように、これらの上の三う
の信号のいずれも反転されることなく、ANDゲート1
32の入力に接続されており、したがって、ANDゲー
ト132の出力はこれらの回線の3つの信号が全て高論
理値のときに高論理値にある。
このことは、第1表に相当し、′この表において、書込
みマスク・レジスタ54の論理条件成立による負荷掛け
が信号RAS−の遷移時にいずれも高論理値にある回線
SF、WE−及びTR−信号によって使用可能とされる
。ANDゲート132の出力の高論理値は、否定素子1
34を経由して回線WENの低論理値を生じこれが書込
み回線WCLKクロック信号を使用禁止し、これによっ
て配列2への占込み動作を禁止する。ANDゲート13
2の出力はNANDゲート136の1つの入力に接続さ
れ後者の有する他の入力は回線W′回線の接続を受ける
、また(回線RAS−の遷移の後)回線WE−又はCA
S−の遅い方すなわち、両者の間の論理条件成い至るま
でNANDゲート136の出力は高論理値を保持する。
NORゲート138は、その1つの入力にNANDゲー
ト136の出力を受け取り、かつその有する他の入力に
回線35を経由してラッチ34の出力を受け取る、また
上述したように、ラッチ34は回線CAS−の遷移と同
時に信号SFの値を記憶する。
第1表は、書込みマスク・レジスタ54が回線CAS−
の遷移時に回線SFが論理値”0′′にあるとき負荷さ
れ、回線RAS−の遷移時に回線SF、WE−、及びT
R−が全て高論理値にあることを示している。したがっ
て、書込みマスク・レジスタ54を負荷するには、回線
35上の信号は、低論理値にある回線SF倍信号ラッチ
34に記憶する回線CAS’クロック信号に応答して、
低論理値にあるであろう。
書込みマスク・レジスタ54の負荷掛けは、(回線RA
S−の遷移の後)回線WE−とCAS−間の論理条件成
によって完了する。第5a図に描かれている例は、回線
WE−が回線CAS−の後にその遷移を行うことを示し
ており、以下の説明はこの例を使用している。第2図に
戻って参照すると、ラッチ42は、回線りOツク信号W
′に応じてデータ端子DoからD7上の値を負荷され、
このクロック信号はく他方が活性している間、第3b図
参照)高から低論理値に遷移する回線WE−及びCAS
−信号に遅れて発生される。第5b図は、回線WE−の
低論理値への遷移時におけるデータ端子DOからD7上
のrMAsKJとしての書込みマスク・レジスタ54の
内容の表現を示す。さらに、回線W′クロック信号は、
NANDゲートの出力を低論理値に遷移させ、これによ
ってNORゲート138の出力に高論理値を発生させる
。この結果、ORゲート124を経由して回線LDMS
Kを高論理値にし、これによって、多重化変換装置60
の出力でもって書込みマスク・レジスタ54を負荷させ
る。
NANDゲート118の出力が論理値″1″にある限り
(回線39が高論理値)、回線5EL40はNORゲー
ト120の動作によって低論理値にあるであろう。前述
したように、回線5EL40の低論理値は多重化変換装
置6oを制御して、ラッチ42の内容を選択させ、これ
を上述による回線LDMSK信号発生の際、書込みマス
ク・レジスタ54に供給させる、またラッチ42はこの
ときにこれに負荷されたデータ端子DoからD7の値を
保持する。このような仕方で、組合せ論理回路44は、
第5b図のタイミングに従って書込みマスク・レジスタ
54論理条件成立角荷掛けを実行し、また回線SFは回
線CAS−の遷移時に低論理値にある。
色レジスタ50は、論理条件成立負荷態様における書込
みマスク・レジスタ54と同じ仕方において、第1表に
示されているように、回線CAS、、の遷移時に信号S
Fが高論理値にあるときにのみ負荷される。このことが
、NORゲート140によって実行され、このゲートは
上に論じたNANDゲート136の出力を受け取り、費
者は回1!1i35の信号を否定素子125による反転
の後景は取る。回線CAS−の遷移時の回線SFの高論
理値は、NORゲート140の1つの入力の低論理値を
結果する。高から低論理値に遷移する回線WE−及びC
AS−に遅れて、前述したように、NANDゲート13
6の出力は低論理値へ遷移し、NORゲート140の出
力を高論理値へ駆動する。NORゲート140の出力は
、回線しDCLRであり、これは色レジスタ50に接続
され、及びこの出力は高論理値において色レジスタ50
をラッチ42の内容で負荷する。ラッチ42は、前述し
たように、クロック信号W′に応答してデータ端子Do
から07上の値(すなわち、第5b図の値「内容」)で
負荷される。
注意すべきことは、色レジスタ50の負荷掛は又は書込
みマスク・レジスタ54の遅れ負荷掛けのいずれかに対
して二重ボート記憶装置1の等速呼比しが禁止されると
いうことである。第5b図に示されているように、この
ことによって、アドレス端子AOからA8上のアドレス
値は回線RAS−とCAS−の遷移の両方においてrd
on’t cares  (心配無用)」となる。[従
来の技術]において論じたように、多重記憶サイクルに
おいて書込みマスク・レジスタ54の内容を使用するこ
とができること、並びに、後続のマスク書込み動作に先
行して書込みマスク情報の負荷を必要とせずに無マスク
書込み動作を実行できることが、効果的である。したが
つで、第1表は、書込みマスク・レジスタの内容を繰り
返し使用するための、並びに、書込みマスク・レジスタ
内に書込みマスク情報を保持する一方無マスク書込み動
作を実行するための、いくつかの動作態様が利用可能で
あることを示している。
特別機能論理回路30、及びこの中の組合せ論理回路4
4は、このような機能を達成するように設計されている
第5C図は、書込みマスク情報の再負荷をしないで、す
なわち、書込みマスク・レジスタ54の先行の内容を利
用する、無マスク書込み動作を、示している。回線RA
S−の遷移の際に、回線TR−とSFとは高論理値にあ
り、一方、回線WE−は低論理値にある。前述のように
、ラッチ32.36.38はこれらの値を回線RAS’
クロック信号の制御の下に記憶し、これらは組合せ論理
回路44によって受け取られる。第2図及び第4図を参
照すると、これらの組合せにおいてはANDNOゲート
120は低論理値にあるので、回線SELMSKは高論
理値にあり、したがって、書込みマスク・レジスタ54
の内容はANDNヘゲ59の出力が高論理値に遷移する
際に回線WCLK回線に供給されるように選択されるで
あろう。回線RAS−の遷移時の回線TR−1SF及び
WE−の組合せによってANDゲート132の出力は低
論理値にされるから、したがって、回線WENは高論理
値にあり、これが回線WE−と低論理値へ遷移する回線
CAS−間の論理条件成立を可能とし、この結果、多他
変換装置60の出力、すなわち、書込みマスク・レジス
タ54の内容を回線WCLK回線へ供給させる。
しかしながら、上述した回線TR−1SF及びWE−の
組合せの場合は、このサイクル中に印加される書込みマ
スク・レジスタ54の内容は、先行の状態から変化させ
られていない。書込みマスク・レジスタ54の再負荷は
組合せ論理回路44によって禁止される、これは、AN
Dゲート132の低論理値出力がまたNANDゲート1
36の出力を高論理値に置き、後者がさらにNORゲー
ト138の出力を低論理値に置くからである。第5C図
に示されているように、回1mRAS−の遷移時の回線
TR,−、SF及びWE−の上述の組合せに対してはN
ANDゲート118の出力は高論理値にあるから、NO
Rゲート120の出力は低論理値を強制される。したが
って、ORゲート124の両入力は低論理値にあり、こ
れが回線LDMSKを低論理値に強制して書込みマスク
・レジスタ54が負荷されるのを禁止する。書込みマス
ク・レジスタ54の先行の内容が、したがって、保持さ
れ、上述したように、回線 SELMSKによって選択された書込みサイクル中に利
用される。
回線CAS−の遷移時の回線SFの状態に応じて、マス
ク書込み動作を受けるために回線27に供給されたデー
タは、色レジスタ50の内容か、又は回線W°りOツク
信号に応じてラッチ42によって記憶されたデータ端子
DOからD7のデータ値のいずれかであることができる
。第4図に示されている組合せ論理回路44は、第1表
の真理値表に従って、この選択を、ANDゲート142
を通すことによって可能とし、このゲートはその3つの
入力を回133.37.39に接続サレ、また回線39
の信号は否定素子116で反転される。したがって、A
NDゲート142の出力は、回線RAS−の遷移時に高
論理値ある回線TR−1SF及び低論理値にある回線W
’E−の組合せに応答して高論理値を取るであろう。A
NDゲート142の出力はORゲート144の第一出力
に接続され、それが高論理値のときORゲート144の
出力を高論理値へ駆動する。ORゲート144の出力は
、NANDゲート146の第一入力に接続され、後者の
有する他の入力は上述の回線W′クロック信号に接続さ
れ、その出力はANDゲート127の入力に接続されて
いる。したがって、NANDゲート146の出力は、A
NDゲート142の出力が回線W′クロック信号の低か
ら高論理値への遷移に際して高論理値にあるとき、低論
理値へ駆動される。NANDゲート146の低論理値出
力は、ANDゲート127の出力を低論理レベルへ強制
し、これによって、上述のようにNORゲート126入
力を低論理値にする。第5a図に関して上にしたのと同
様に、回線WTCLRは、ラッチ34からの回線35を
通しての動作によって高又は低論理値へ駆動されるが、
このラッチは回線CAS−の遷移時の回線SF値を記憶
しており、これによって、多重化変換装置26を制御し
て色レジスタ5oの内容を選択させて回線27を経由し
て入出力緩衝記憶装置24に供給させるか、又はデータ
端子DoからD7の値を選択させる。第5C図は、デー
タ端子DOからD7にとって妥当入力データが所望デー
タ源である際にこのような妥当データrDATAJを供
給するに必要なタイミングを表示している。上述のよう
に、ラッチ42は回線W′クロック信号に応じて入力デ
ータを記憶し、またもし使用者が望めば、ラッチ42の
出力はデータ多重化変換装置26の1つの入力に供給さ
れる。
書込みマスク・レジスタ54の内容は、特別機能論理回
路30、及びこの中の組合せ論理回路44によって行わ
れる特別サイクルにおいては、書込み動作に対して無視
されるが、しかし後続のマスク書込み動作のために保持
される。このようなサイクルの例のタイミングは、第5
d図に示されている。回線RAS−の遷移の際に、第1
表に示されているように、回線TR−、sFは高論理値
にあり、一方回線WE−は低論理値にある、また前述の
ように、これらの値は、回線RAS−クロック信号によ
って、それぞれラッチ36.38゜32内に記憶される
。回線37,39.33上に出現するこの信号の組合せ
(回線33は否定素子114で反転させられる)によっ
て、ANDゲートの出力は論理値”1″に遷移し、回線
SEELMSを低論理値に置き、その結果、多重化変換
装置Oに、書込みマスク・レジスタ54の内容を無視し
て、電源■ddを選択させて適当な時刻に回線WCLK
に供給させる。回線RAS−信号の遷移時の回線SFの
状態に対応するラッチ32の内容は低論理値にあるから
、ANDゲートの出力もまた低論理値にあり、回線WE
Nを高論理値に置き、したがって、回線W′りOツク信
号は、回線WCLKが低論理値であるため、多重化変換
装置26を通過して回線WCLKの全てに高論理値を発
生する。この前のサイクルに関しては、第5d図が、回
1ilWE−は回線CAS−の遷移の後に低論理値へ駆
動されて、回線W′クロック信号を介しての書込み動作
を実行させることを示している。
信号RAS−の遷時の高論理値にある回線TR−、WE
−及び低論理値にある回線SFの組合せに対してAND
ゲート132の出力が低論理値かつNANDゲート11
8の出力が高論理値にあるから、第5b図の場合と同様
に、書込みマスク・レジスタ54の負荷が禁じられる。
新しい値は書込みマスク・レジスタ54に負荷されない
(回線LDMSKは低論理値に留まる)から、これに記
憶されている先行の値が保持される。したがって、第5
C図に示されたような後続のサイクルによって、書込み
動作は、占込みマスク・レジスタ54内に保持されてい
る書込みマスク情報を使用して、この書込み情報を再負
荷する必要なく、書込み動作を実行する。
第5C図に関連して上に論じたように、回線CAS−の
遷移時の回線SFの状態は、第5d図の書込みサイクル
がデータ源として色レジスタ50の内容を使用するか(
回線SFは低論理値)又はデータ源としてデータ端子D
oからD7の値(第5d図のrDATAJ >を使用す
るかのいずれかを取るように制御する。組合せ論理回路
44は、この選択を実行する、これは、ANDゲート1
28の出力がORゲート144の第二入力に接続されて
おり、これによって、第5C図のサイクルとに関連して
上に論じられた、ANDゲート142の出力としてNO
Rゲート126による回線WTCLRの発生と同じ効果
を有するからである。
映像装置内の第1図に示された二重ボート記憶装置1の
ような二重ボート記憶装置の使用においては、多くの場
合、多数の逐次記憶が同等のデータで書き込まれる。例
えば、二重ボート記憶装置1が図形画像のビット・マツ
プ表示を含む所では、表示画像の広い面積が成る色で満
たされる。したがって、単一サイクルにおいて、二重ボ
ート記憶装置内の多数場所に同等のデータを書き込むこ
とが効果的であると思われる。
第7図を参照すると、Y復号器2oのブロック線図が示
されており、これは、単一サイクルにおいてその内部の
隣合う列をアドレス指定する特徴を実行する回路を含み
、以後この特徴を「ブロック書込み」特徴と呼ぶことに
する。二重ボート記憶装置1の動作は第7図に関連して
以下に説明される特徴によって強化されるけれども、注
意すべきことは、以下に説明される二重ボート記憶装置
はブロック書込み特徴がなくても充分に動作可能である
ことである。また、注意すべきことは、第7図は二重ポ
ート記Jc1装置1内の単一配列2に対するY復号器を
示しているが、もちろん、第7図に示されている回路は
第1図に示されている配列2の各々に関連しているとい
うことである。Y復号器2oは、前述のように、アドレ
ス端子AOからA7上に受け取った列アドレス信号のラ
ッチ値を受け取る、なお、これらのラッチ列アドレス回
線tよ第7図の端子AYOからAY7によって表示され
る。もちろん、配列2の各々内には256列だけしか存
在しないから、回線CAS−によってラッチされた端子
A8の値は列復号動作においては利用されない。前記復
号器200が端子AY2からAY7を受けとり、これら
の6ビツトを復号して64本の出力回線202に入れ、
これらの1つは高論理値にあることによって使用可能と
なる。
出力回線202の各々は、したがって、その関連する配
列2内の4つの列からなる群の選択を表示する。
4つの列の各群に関連して列選択回路204があり、簡
単のために第7図においては、1つの列選択回路204
だけが示されている。前置復号器202からの関連する
出力回線202は、各列選択回路204内4に含まれる
、ANDゲート206の1つの入力、及びANDゲート
208の1つの入力に接続されている。特別機能回路3
0からの回IWTcLRはANM−ト206(7)第二
入力接続され、否定素子207によって反転される回1
1WTcLRはANDゲート208の第二入力に接続さ
れる。上述のように、回線WTCLRは、色レジスタ5
0が配列2に書き込まれるときに発生される、また配列
2の各々内の多数の列をアドレス指定するに当たっての
ここに説明される特徴は同じ信号によって使用可能であ
る。なおまた、列選択回路204に含まれて4−の−1
復号器210があり、等速呼比し態様においてアドレス
指定されるべき配列2内の列の選択に当たって、端子A
YOからAY7を最下位列アドレス・ビットの実際の復
号を実行する。4−の−1復号器210は、端子AYO
からAY7の値に応じて、4つの回線214 から21
4 n+3を駆動する。パス・トランジスタ212 か
ら2128+3はその対応する回線214oから214
.、をその対応するトランジスタ220  から22 
On+3のゲートに接続する。各トランジスタ212o
から212   (7)’7”−H,t、ANDゲート
208の出n+3 力によって制御される。したがって、ブロック書込み特
徴が選択される、すなわち、回線WTCLRが蟲論理値
にある事態においては、4−の−ii号器210の動作
結果は、たとえ対応する出力回線202その関連する4
つの列の群を選択したとしても、4−の−1復号器21
0の動作結果は無視されるであろう。
列選択回路204は、第7図に回線43o、43 .4
3 .436として示されているように、ラッチ42の
内容の偶数ビットを受け取る。
上述のように、ラッチ42は、各サイクルに書込み使用
可能信号クロック信号の後の時刻に受け取るデータ端子
DOからD7の値を記憶する。回線43.43.43.
436の各々は、バス・トランジスタ216 から21
6  に接続さn      n+3 れ、これらのトランジスタはそのゲートをANDゲート
206の出力に接続され、これらのトランジスタの各々
はまたその対応するトランジスタ220 から220.
+3のゲートに接続されている。
トランジスタ220 から220  は、配列n   
   n+3 2に関連する入出力緩衝記憶装置24をその列に関連す
る読出し増幅器4に接続し、これによって技術的に周知
の仕方で、選択された列に対する書込み動作を達成する
。回線WTCLRが使用可能でない通常動作の場合には
、ANDゲート206の出力は低論理値にあり、回線4
3.432、43 .436をトランジスタ220 か
ら22n On+3の状態に影響を及ぼさないように使用禁止する
。同時に、ANDゲート208の前置復号器200によ
って選択された4つの列の群に対する出力は高論理値に
あり、これによって4−の−1復号器204の結果で、
関連する入出力緩衝記憶装置24の選択された列に対す
る読出し増幅器4の接続を制御するのを可能とする。
組合せ論理回路44によって回線WTCLRを使用可能
とするために第1表に示されたように回線WE−1SF
及びRT−の状態に応じてブロック書込み特徴が選択さ
れるとき、端子AY2からAY7に応答して前favI
I号器200によって選択された4つの列の群に対して
AN[)ゲート206の出力は高論理値にあるであろう
。この事態について、回線43 .43 .43 .4
36の状態は、トランジスタ220 から220 n+
3のどれが導通するかを判定1ノ、及び実に関連する群
内の最高全部で4つの列のその入出力緩衝記憶装置24
への接続を可能とする。次いで、配列2に対応する色レ
ジスタ50のビット内容が、ラッチ42からの回線43
.43.434.436の状態によって選択される列内
に書き込まれる。
第8図を参照すると、ブロック書込み動作を説明するタ
イミング線図が示されている。前掲の第1表から明らか
なように、回線CAS−列アドレス信号が高論理値へ移
行するとき回1m5Fが高論理値にあることに関連して
、回線RAS−の活性への遷移時に回線TR−が高論理
値にありかつ両回線WE−,SFが低論理値にあるとき
の書込みサイクル中に色レジスタ50の内容が書き込ま
れる。第1表に従って、かつ第8図に示されているよう
に、色レジスタの書込み動作(及び本実施例におけるブ
ロック書込み特徴)は、回線RAS−行アドスレ・スト
ローブ信号がその低論理値において活性へ遷移するとき
に、回線TR−は、高論理値にあり、かつ回線WE−S
Fの論理ANDが低論理レベルにあることを要求し、ま
た回線CAS−列アドレス・ストローブ信号が活性へ移
行するとき、回線SFが高論理値にあることを要求する
。ブロック書込み態様がこのようにして使用可能にされ
ることに伴って、活性に移行する回線CAS−とWE−
の論理条件成立に応じてデータ端子DOからD7のデー
タ入力信号の偶数ビットの値、(すなわち、データ端子
DO1D2、D4、D6)が、対応する配列2に対する
色レジスタ50の内容でもって書き込むべき4つの列か
らなる群内の列を指定する。上述のように、このような
列の全て4つのがこの態様においてアドレス指定され、
8つの配列2の各々内の4つの列が単一サイクルにおい
て書き込まれるという特徴を提供する。
第1表を、再び参照すると、回線SFとWE−の両方が
回線RAS−の活性への遷移時に低論理値にある事態に
おいては、マスク書込み動作がブロック書込み特徴に従
って使用可能である。このようにして、色レジスタ50
の内容が(4つの列の群内の)多数の列に、選択され他
配列だけに、肉き込まれる。第9図を参照すると、色レ
ジスタ50の応用がレジスタ規模で示されており、かつ
書込みマスク・レジスタ54が2つの列C0Ln及びc
 o tl n+1に関連する配列217j各々内の記
憶場所の内容を変更するように示されている。上述した
ように、第8図のタイミングにおいて回線CAS−が活
性になった後に回線WE−使用可能信号が活性に移行す
るときデータ端子DO1D2が論理値”1”を有しかつ
データ端子D4、D6が論理値”0”にある事態におい
て、列COL。
及びCoLo+、が、選択される。第6図の例において
は、下位第3ビツトから第6ビツトだけが色レジスタ5
0の内容で書き込まれたが、しかしながら、上に説明さ
れたブロック書込み特徴は選択された列COL  及び
COL 、、においても同時におこなわれる。
本発明は、その好適実施例を参照して詳細に説明された
けれども、この説明は例示のためであって限定的に解釈
されるべきではない。本発明の実施例の詳細における多
数の変更及び本発明の追加的実施例は、この説明を参照
することによって当業者にとって明白でありかつ実現可
能である。このようないかなる変更も追加的実施例も前
掲の特許請求の範囲の精神と真の範囲に含まれることを
意図するものである。
以上の説明に関して更に以下の項を開示する。
(1)データを受け取る第一入力端子と、データを受け
取る第二入力端子と、前記第一入力端子に接続された第
一複数アドレス指定可能読み書き記憶セルと、前記第二
入力端子に接続された第二複数アドレス指定可能読み化
記憶セルと、アドレス信号を受け取るアドレス端子と、
前記アドレス信号に応答して前記第一複数アドレス指定
可能記憶セルと前記第二アドレス指定可能記憶セルのう
ちから1つの記憶セルを選択するために前記アドレス端
子に接続された選択装置と、前記第一入力端子に受け取
ったデータを前記第一複数アドレス可能記憶セルうちの
選択された記憶セルに書き込む第一書込み装置と、前記
第二入力端子に受け取ったデータを前記第二複数アドレ
ス指定可能記憶セルうちの選択された記憶セルに書き込
む第二書込み装置と、マスク符号を記憶するマスク符号
レジスタと、前記マスク符号に応答して前記第一書込み
装置と前記第二書込み装置が前記第一入力端子及び前記
第二入力端子に受け取ったデータをそれぞれ前記第一複
数アドレス指定可能記憶セルと前記第二複数アドレス指
定可能記憶セルに1き込むのを選択的に禁止するマスク
装置とを包含することを特徴とする記憶装置。
を含むことを特徴とする記憶装置。
(2)  第1項記載の記憶装置であって、機能制御端
子と、前記機能制御端子に供給される信号に前記マスク
装置を選択的に使用可能及び使用禁止するために前記マ
、スク装置と前記機能制御端子とに接続されるマスク使
用可能装置とを含むことを特徴とする前記記憶装置。
(3)第2項記載の記憶装置において、前記マスク符号
レジスタは前記マスク使用可能装置が使用禁止された後
は前記記憶されたマスク符号を保持することを特徴とす
る前記記憶装置。
(4)  第1項記載の記憶装置であって、さらに機能
制御端子と、前記機能制御端子に受け取ったマスク符号
記憶信号に応答して前記第一入力端子と前記第二入力端
子に受け取ったデータで以て前記マスク符号レジスタを
負荷するために前記機能制御端子と前記マスク符号レジ
スタに接続されている機能選択論理回路とを含む、こと
を特徴とする前記記憶装置。
(5)第4項記載の記憶装置であって、さらにクロック
端子と、前記クロック端子に受け取られたクロシフ信号
に応答して前記第一入力端子と前記第二入力端子の論理
状態を記憶するために前記第一入力端子と前記第二入力
端子とに接続された入力ラッチとを含み、前記機能選択
論理回路は前記機能制御I端子に受け取られたマスク符
号記憶信号に応答して前記入力ラッチの内容で以て前記
マスク符号レジスタを負荷することを特徴とする前記記
憶装置。
(6)第5項記載の記憶装置であって、さらに前記クロ
ック信号に応答して前記機能制御端子の論理状態を記憶
するために前記機能1i11 nil端子と前記クロッ
ク端子とに接続された機能ラッチとを含み、前記機能ラ
ッチは前記機能選択論理回路に接続され、前記マスク符
号記憶信号は前記第−論理状態にある前記機能ラッチ出
力であることを特徴とする前記記憶装置。
(7)第一入力端子と、第二入力端子と、行と列に配列
された第一複数アドレス指定可能読み書き記憶セルと、
行と列に配列された第二複数アドレス可能読み書き記憶
セルと、アドレス信号を受け取るアドレス端子と、前記
アドレス端子によって受け取られた行アドレス信号に対
応する前記第一複数アドレス指定可能記憶セルと前記第
二複数アドレス指定可能記憶セルの行を選択するために
前記アドレス端子に接続された行復号器と、前記アドレ
ス端子に受け取られた列アドレスに対応する前記第一複
数アドレス指定可能記憶セルと前記第二複数アドレス指
定可能記憶セルの各々内の前記選択された行において記
憶セルを選択するために前記ドレス端子に接続された列
復号器と、マスク符号を記憶するマスク符号レジスタと
、前記マスク符号に従って前記第一複数アドレス指定可
能記憶セルと前記第二複数アドレス指定可能記憶セルの
うちの選択された記憶セノkに前記第−入力端子と前記
第二入力端子に受け取られたデータを選択的に書き込む
ために前記マスク符号レジスタに接続された書込み装置
とを包含することを特徴とする記憶装置。
(8)第7項記載の記憶装置であって、さらに行うロッ
ク信号を受け取る行うロック端子と、列クロツク信号を
受1プ取る列クロツク端子と、書込み使用可能信号を受
け取る出込み信号端子とを含み、前記行復号器は前記行
うロック信号の時刻において前記アドレス端子の値に対
応する行を選択することと、前記列復号器は前記クロッ
ク信号の時刻において前記アドレス端子の値に対応する
記憶セルを選択することと、前記書込み装置は前記揚込
み信号端子によって受け取られた書込み使用可能信号に
よって使用可能とされることとを特徴とする前記記憶装
置。
(9)第8項記載の記憶装置において、さらに前記行う
ロック信号に応答して前記第一入力端子と前記第二入力
端子の値を記憶するために前記第一入力端子と前記第二
入力端子に接続された第一入力ラッチと、機能制御信号
を受け取る機能入力装置と、前記機能入力装置によって
受け取られたマスク負荷信号に応答して前記第一入力端
子と前記第二入力端子の値で以て前記マスク符号レジス
タを負荷するために前記機能入力装置と前記第一入力ラ
ッチと前記マスク符号レジスタとに接続された特別機能
論理回路とを含むことを特徴とする前記記憶装置。
(10)第9項記載の記憶装置であって、さらに前記書
込み使用可能信号に応答して書込みクロック信号を発生
する書込みクロック装置と、前記書込みクロック信号に
応答して前記第一入力端子と前記第入力端子との値を記
憶するために前記第一入力端子と前記第二入力端子とに
接続された第二入力ラッチとを含み、前記書込み装置は
前記書込みクロック信号に応答して前記マスク符号に従
って前記第一複数アドレス指定可能記憶セルと前記第二
複数アドレス指定可能記憶セルのうちの選択された記憶
セルに前記第二入力ラッチの内容を接続することを特徴
とする前記記憶装置。
(11)第10項記載の記憶装置であって、さらに前記
機能入力装置によって受取られた無マスク書込み信号に
応答して前記書込み装置から前記マスク符号レジスタを
切り放すために前記特別機能論理回路と、前記マスク符
号レジスタと、前記書込み装置とに接続されたマスク使
用禁止装置を含むことを特徴とする前記記憶装置。
(12)第10項記載の記憶装置において、前記特別機
能論理回路は前記機能入力装置によって受けとられた最
新のマスク負荷信号に応答して前記第二入力ラッチの内
容で以て前記マスク符号レジスタを負荷することを特徴
とする前記記憶装置。
(13)第10項記載の記憶装置であって、さらに第一
機能入力端子と、第二機能入力端子とを含み、前記第−
機能入力端子及び第二機能入力端子は前記行うロック信
号に応答して前記第一機能入力端子の論理状態を記憶す
るために的記第−機能入力端子に接続された第一ラッチ
と、前記行うロック信号に応答して前記第二機能入力端
子の論理状態を記憶するために前記第二機能入力端子に
接続された第二機能ラッチと、前記列クロツク信号に応
答して前記第−機能入力端子の論理状態を記憶するため
に前記第一機能入力端子に接続された第三機能ラッチと
を有することと、前記特別機能論理回路は前記第一機能
ラッチ、前記第二機能ラッチ、前記第三機能ラッチの内
容の各種組合に対応して前記第一機能ラッチと、前記第
二機能ラッチと、前記第三機能ラッチと、前記マスク負
荷信号と、前記無マスク書込み信号と、前記最新マスク
負荷信号とに接続されることとを特徴とする前記記憶装
置。
(14)第7項記載の記憶装置であって、さらに転送制
御l端子と、レジスタと、前記レジスタの内容の直列表
示供給のため前記レジスタに接続された直列出力端子と
、前記転送制御端子に受け取られた転送信号に応答して
前記選択された行内の複数記憶セルの内容を前記レジス
タへ転送する転送装置とを含むことを特徴とする前記記
憶装置。
(15)複数の等速呼用し入力を有する二重ボート記憶
装置1が提供される。この記憶8@は特別機能論理回路
30を含みこの回路はレジスタ34を有し、このレジス
タは書き込まれることによって特別サイクルにおいて入
力を形成し、またレジスタ34は入力の各々に対してビ
ット位置を有する。
特別サイクルは、この記憶装置に供給される追加的特別
機能入力口1(SF)信号と伯の信号との組合せによっ
て使用可能とされる。レジスタ34は、どの入力に対し
て書込み動作を禁止するかを表示する論理パターンを記
憶する。いったんレジスタ34が負荷されると、後続の
書込みサイクルの実行は書込みマスク・パターンを使用
可能として書込み禁止が所望されている入力に対する書
込み動作を阻止させる。レジスタ34は特別サイクル中
再書込みまでマスク・パターン情報を保持し、この特別
ナイクルは行アドレス・ストローブ信号回線(RAS)
信号がRAM論理回路16に供給された後に起こる。こ
のレジスタを負荷する代替装置も含まれ、この場合レジ
スタ34は遅延書込みと同様に負荷される。この代替5
A置ば、同一のパス上にアドレスとデータを多重化する
超小形電子計算機による書込みマスク・パターン・レジ
スタ34の負荷掛けを可能とする。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明により構成された二重ボート記憶装置
の好適実施例の概略ブロック線図、第2図は、第1図の
二重ボート記憶装置の特別機能論理回路の概略ブロック
線図、 第3a図及び第3b図は、第2図の特別機能論理回路に
よって使用されるクロック信号発生用回路の概路線図、 第4図は、第2図の特別機能論理回路内の組合せ論理回
路の概路線図、 第5a図は、本発明による書込みレジスタをその記憶サ
イクルの早期部分中に負荷する場合の記憶サイクルのタ
イミング線図、 第5b図は、本発明による書込みレジスタの記憶サイク
ルの後期部分中に書込みレジスタ又は色レジスタのいず
れかを負荷する場合の記憶サイクルのタイミング線図、 第5C図は、本発明の記憶装置において先行サイクルに
おいて負荷された書込みレジスタの内容を利用する記憶
サイクルのタイミング線図、第5d図は、本発明により
書込みレジスタの内容を破壊することなく書込みレジス
タの内容を無視する記憶サイクルのタイミング線図、第
6図は、本発明によるマスク書込み動作を説明するレジ
スタ規模での線図、 第7図は、第1図の記憶装置のブロック末込み特徴の追
加を含む列復号器の概路線図、第8図は、第7図の回路
を使用するブロック書込みサイクルの動作のタイミング
線図、第9図は、本発明によるブロック書込み態様にお
ける色レジスタと書込みマスク・レジスタの応用のレジ
スタ規模の線図、である。 [記号の説明] 1: 二重ボート記憶装置 2: 配列 4: 読出し増幅器バンク 6: 転送ゲート 8: データ・レジスタ 10: ポインタ 12: 直列入出力緩衝記憶装置 14: 直列論理回路 16:  RAM論理回路 18; X復号器 20: Y復号器 22: トルク計数器/検出器 24: 入出力緩衝記憶装置 26: 多重変化変換装置 3o: 特別機能論理回路 31: 出力駆動回路 34: 書込みマスク・レジスタ Do−D7:  データ端子 5DO−8D7:  入出力端子 AO−A8:  アドレス端子 SF二 機能信号回線 WE、 :  書込み使用可能信号回線TR,−:  
転送使用可能信号 RAS−:  クロック信号回線 CAS、、:  クロック信号回線 CAS :  アドレス・ストローブ信号回線5CLK
 :  クロック信号回線 SOE :  直列出力使用可能信号回線26: 多重
化変換装置 34.36.38.40,42:  ラッチ44: 組
合せ論理回路 50: 色レジスタ 54: 書込みマスク・レジスタ 58.60:  多m化変換装訝 200: 前値復号器 2o4; 列選択回路 210:  4−の−1復号器

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)データを受け取る第一入力端子と、データを受け
    取る第二入力端子と、前記第一入力端子に接続された第
    一複数アドレス指定可能読み書き記憶セルと、前記第二
    入力端子に接続された第二複数アドレス指定可能読み書
    き記憶セルと、アドレス信号を受け取るアドレス端子と
    、前記アドレス信号に応答して前記第一複数アドレス指
    定可能記憶セルと前記第二アドレス指定可能記憶セルの
    うちから1つの記憶セルを選択するために前記アドレス
    端子に接続された選択装置と、前記第一入力端子に受け
    取つたデータを前記第一複数アドレス可能記憶セルのう
    ちの選択された記憶セルに書き込む第一書込み装置と、
    前記第二入力端子に受け取ったデータを前記第二複数ア
    ドレス指定可能記憶セルのうちの選択された記憶セルに
    書き込む第二書込み装置と、マスク符号を記憶するマス
    ク符号レジスタと、前記マスク符号に応答して前記第一
    書込み装置と前記第二書込み装置が前記第一入力端子及
    び前記第二入力端子に受け取つたデータをそれぞれ前記
    第一複数アドレス指定可能記憶セルと前記第二複数アド
    レス指定可能記憶セルに書き込むのを選択的に禁止する
    マスク装置とを包含することを特徴とする記憶装置。
JP63122251A 1987-05-21 1988-05-20 記憶装置 Expired - Lifetime JPH0677398B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US07/053,200 US4817058A (en) 1987-05-21 1987-05-21 Multiple input/output read/write memory having a multiple-cycle write mask
US53200 1987-05-21

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0198183A true JPH0198183A (ja) 1989-04-17
JPH0677398B2 JPH0677398B2 (ja) 1994-09-28

Family

ID=21982581

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63122251A Expired - Lifetime JPH0677398B2 (ja) 1987-05-21 1988-05-20 記憶装置

Country Status (4)

Country Link
US (3) US4817058A (ja)
JP (1) JPH0677398B2 (ja)
KR (2) KR970005410B1 (ja)
TW (1) TW213995B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03205681A (ja) * 1989-10-30 1991-09-09 Mitsubishi Electric Corp フラッシュライト機能を備えた半導体記憶装置
JPH05234365A (ja) * 1992-01-10 1993-09-10 Samsung Electron Co Ltd ブロックライト機能を持つ半導体メモリ装置

Families Citing this family (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4891795A (en) * 1987-05-21 1990-01-02 Texas Instruments Incorporated Dual-port memory having pipelined serial output
US5195056A (en) * 1987-05-21 1993-03-16 Texas Instruments, Incorporated Read/write memory having an on-chip input data register, having pointer circuits between a serial data register and input/output buffer circuits
US5014242A (en) * 1987-12-10 1991-05-07 Hitachi, Ltd. Semiconductor device for a ram disposed on chip so as to minimize distances of signal paths between the logic circuits and memory circuit
US6112287A (en) 1993-03-01 2000-08-29 Busless Computers Sarl Shared memory multiprocessor system using a set of serial links as processors-memory switch
US5010522A (en) * 1988-12-05 1991-04-23 Texas Instruments Incorporated Integrated-circuit configuration having fast local access time
DE4027051A1 (de) * 1989-09-25 1991-04-04 Mitsubishi Electric Corp Mehrtoriger speicher mit direktem und seriellem zugriff
US5426610A (en) * 1990-03-01 1995-06-20 Texas Instruments Incorporated Storage circuitry using sense amplifier with temporary pause for voltage supply isolation
US6751696B2 (en) 1990-04-18 2004-06-15 Rambus Inc. Memory device having a programmable register
IL96808A (en) * 1990-04-18 1996-03-31 Rambus Inc Introductory / Origin Circuit Agreed Using High-Performance Brokerage
KR920003269B1 (ko) * 1990-05-04 1992-04-27 삼성전자 주식회사 듀얼 포트 메모리소자의 모우드 전환방법
US5267199A (en) * 1991-06-28 1993-11-30 Digital Equipment Corporation Apparatus for simultaneous write access to a single bit memory
JPH05101684A (ja) * 1991-10-07 1993-04-23 Toshiba Corp 半導体記憶装置
JPH05325545A (ja) * 1992-05-25 1993-12-10 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
ES2108875T3 (es) * 1992-06-12 1998-01-01 Dow Chemical Co Interfaz sigilosa para ordenadores de control de procesos.
US5319606A (en) * 1992-12-14 1994-06-07 International Business Machines Corporation Blocked flash write in dynamic RAM devices
US5511025A (en) * 1993-10-18 1996-04-23 Texas Instruments Incorporated Write per bit with write mask information carried on the data path past the input data latch
US5422998A (en) * 1993-11-15 1995-06-06 Margolin; Jed Video memory with flash fill
JP3547466B2 (ja) * 1993-11-29 2004-07-28 株式会社東芝 メモリ装置、シリアル‐パラレルデータ変換回路、メモリ装置にデータを書き込む方法、およびシリアル‐パラレルデータ変換方法
EP0757837B1 (en) * 1994-04-29 1998-11-04 Texas Instruments Incorporated A method and apparatus for testing a memory circuit with parallel block write operation
US6005811A (en) * 1994-08-17 1999-12-21 Oak Technology, Incorporated Method for operating a memory
US5598569A (en) * 1994-10-17 1997-01-28 Motorola Inc. Data processor having operating modes selected by at least one mask option bit and method therefor
US6272465B1 (en) * 1994-11-02 2001-08-07 Legerity, Inc. Monolithic PC audio circuit
KR0140179B1 (ko) * 1994-12-19 1998-07-15 김광호 불휘발성 반도체 메모리
JPH08212132A (ja) * 1995-02-07 1996-08-20 Mitsubishi Electric Corp 記憶装置
US5838934A (en) * 1995-06-07 1998-11-17 Texas Instruments Incorporated Host port interface
US5764963A (en) * 1995-07-07 1998-06-09 Rambus, Inc. Method and apparatus for performing maskable multiple color block writes
JP3431774B2 (ja) * 1995-10-31 2003-07-28 ヒュンダイ エレクトロニクス アメリカ 混合電圧システムのための出力ドライバ
US5646896A (en) 1995-10-31 1997-07-08 Hyundai Electronics America Memory device with reduced number of fuses
US5838631A (en) 1996-04-19 1998-11-17 Integrated Device Technology, Inc. Fully synchronous pipelined ram
DE69724327T2 (de) * 1996-05-17 2004-06-17 Hyundai Electronics America Inc., San Jose Leistungsreduzierung während eines Blockschreibens
US6115320A (en) 1998-02-23 2000-09-05 Integrated Device Technology, Inc. Separate byte control on fully synchronous pipelined SRAM
US7069406B2 (en) * 1999-07-02 2006-06-27 Integrated Device Technology, Inc. Double data rate synchronous SRAM with 100% bus utilization
US8391039B2 (en) 2001-04-24 2013-03-05 Rambus Inc. Memory module with termination component
US6675272B2 (en) 2001-04-24 2004-01-06 Rambus Inc. Method and apparatus for coordinating memory operations among diversely-located memory components
FR2864321B1 (fr) * 2003-12-23 2007-01-19 St Microelectronics Sa Memoire dynamique a acces aleatoire ou dram comportant au moins deux registres tampons et procede de commande d'une telle memoire
US7301831B2 (en) 2004-09-15 2007-11-27 Rambus Inc. Memory systems with variable delays for write data signals
US20070061494A1 (en) * 2005-08-30 2007-03-15 Paul Wallner Semiconductor memory system, semiconductor memory chip, and method of masking write data in a semiconductor memory chip
US7916572B1 (en) 2008-07-28 2011-03-29 Altera Corporation Memory with addressable subword support

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61289596A (ja) * 1985-06-17 1986-12-19 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
JPS6243888A (ja) * 1985-08-20 1987-02-25 Nec Corp デユアルポ−トメモリ

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3761902A (en) * 1971-12-30 1973-09-25 Ibm Functional memory using multi-state associative cells
AT354159B (de) * 1975-02-10 1979-12-27 Siemens Ag Assoziativspeicher mit getrennt assoziierbaren bereichen
DE2712575C2 (de) * 1977-03-22 1985-12-19 Walter Dipl.-Ing. 8011 Putzbrunn Motsch Assoziatives Speichersystem in hochintegrierter Halbleitertechnik
US4347587A (en) * 1979-11-23 1982-08-31 Texas Instruments Incorporated Semiconductor integrated circuit memory device with both serial and random access arrays
US4642797A (en) * 1983-11-10 1987-02-10 Monolithic Memories, Inc. High speed first-in-first-out memory
US4689741A (en) * 1983-12-30 1987-08-25 Texas Instruments Incorporated Video system having a dual-port memory with inhibited random access during transfer cycles
US4639890A (en) * 1983-12-30 1987-01-27 Texas Instruments Incorporated Video display system using memory with parallel and serial access employing selectable cascaded serial shift registers
US4636986B1 (en) * 1985-01-22 1999-12-07 Texas Instruments Inc Separately addressable memory arrays in a multiple array semiconductor chip

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61289596A (ja) * 1985-06-17 1986-12-19 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
JPS6243888A (ja) * 1985-08-20 1987-02-25 Nec Corp デユアルポ−トメモリ

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03205681A (ja) * 1989-10-30 1991-09-09 Mitsubishi Electric Corp フラッシュライト機能を備えた半導体記憶装置
JPH05234365A (ja) * 1992-01-10 1993-09-10 Samsung Electron Co Ltd ブロックライト機能を持つ半導体メモリ装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR890007289A (ko) 1989-06-19
KR970006597B1 (ko) 1997-04-29
KR890004318A (ko) 1989-04-21
US4817058A (en) 1989-03-28
TW213995B (ja) 1993-10-01
US4866678A (en) 1989-09-12
US4961171A (en) 1990-10-02
KR970005410B1 (ko) 1997-04-16
JPH0677398B2 (ja) 1994-09-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0198183A (ja) 記憶装置
US4807189A (en) Read/write memory having a multiple column select mode
US5661692A (en) Read/write dual port memory having an on-chip input data register
US5844855A (en) Method and apparatus for writing to memory components
EP0197412B1 (en) Variable access frame buffer memory
US5282177A (en) Multiple register block write method and circuit for video DRAMs
US5001672A (en) Video ram with external select of active serial access register
JPH10505935A (ja) 改善されたメモリアーキテクチャ、及びこれを利用するデバイス、システム及び方法
JPH09512942A (ja) デュアルバンクメモリおよび同メモリを用いたシステム
US5065368A (en) Video ram double buffer select control
JPH03205681A (ja) フラッシュライト機能を備えた半導体記憶装置
US5528551A (en) Read/write memory with plural memory cell write capability at a selected row address
US5414447A (en) Frame buffer, method and circuit
JP2593060B2 (ja) ダイナミックランダムアクセスメモリ、ダイナミックランダムアクセスメモリのアクセス方法及びシステム
US5257237A (en) SAM data selection on dual-ported DRAM devices
US4837746A (en) Method and apparatus for resetting a video SRAM
EP0381940A1 (en) Register bank circuit
JPH09508745A (ja) 連続ページランダムアクセスメモリと、連続ページランダムアクセスメモリを使用するシステムおよび方法
US5097256A (en) Method of generating a cursor
JPH01165087A (ja) 記憶装置
GB2208344A (en) Digital display system
JP2598916B2 (ja) 描画装置
JPH0677262B2 (ja) 画像記憶装置のアクセス方式
JPH0711916B2 (ja) デユアルポ−ト半導体メモリ
JPH09171377A (ja) ビデオ表示用メモリ