JPH0198698A - 表面清浄剤/磨き剤組成物及びその製造方法 - Google Patents
表面清浄剤/磨き剤組成物及びその製造方法Info
- Publication number
- JPH0198698A JPH0198698A JP63153685A JP15368588A JPH0198698A JP H0198698 A JPH0198698 A JP H0198698A JP 63153685 A JP63153685 A JP 63153685A JP 15368588 A JP15368588 A JP 15368588A JP H0198698 A JPH0198698 A JP H0198698A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- crystalline aluminosilicate
- particle size
- surface cleaner
- zeolite
- polish composition
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09G—POLISHING COMPOSITIONS; SKI WAXES
- C09G1/00—Polishing compositions
- C09G1/02—Polishing compositions containing abrasives or grinding agents
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Detergent Compositions (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Silicates, Zeolites, And Molecular Sieves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は特定の粒度分布を有する研摩材としての特定の
結晶性アルミノシリケートを含有する清浄/研摩処方物
に関し、またその製造方法にも関する。
結晶性アルミノシリケートを含有する清浄/研摩処方物
に関し、またその製造方法にも関する。
発明の背景
広範囲にわたる徨々の清浄処方物が当業界に公知である
。概して、このような清浄処方物は通常的にケイ酸アル
ミニウム、けいそう±、無定形シリカ、白亜などのよう
な研摩材の液体ベースの懸濁液である。若干の清浄処方
物は研摩剤の#1か忙ワックスをも含有し、それKよシ
清浄及び研摩の作用と表面への保護コーティングの塗布
とを組み合わせている。
。概して、このような清浄処方物は通常的にケイ酸アル
ミニウム、けいそう±、無定形シリカ、白亜などのよう
な研摩材の液体ベースの懸濁液である。若干の清浄処方
物は研摩剤の#1か忙ワックスをも含有し、それKよシ
清浄及び研摩の作用と表面への保護コーティングの塗布
とを組み合わせている。
慣用的には清浄組成物の処方は、最終清浄組成物を得る
ために日常的に添加される成分に関して多少固定的であ
る。研摩剤、ワックス、増粘剤、安定剤を含めて成る椎
の周知の成分は上記のような清浄組成物に対する日常的
な添加剤であると思われる。これらの成分の111又は
それ以上を包含させることは一般的に意図された目的に
対する単なる一つの処方であると思われる。
ために日常的に添加される成分に関して多少固定的であ
る。研摩剤、ワックス、増粘剤、安定剤を含めて成る椎
の周知の成分は上記のような清浄組成物に対する日常的
な添加剤であると思われる。これらの成分の111又は
それ以上を包含させることは一般的に意図された目的に
対する単なる一つの処方であると思われる。
清浄組成物における研摩材として結晶性アルミノシリケ
ートを使用することは当業界に周知である。例えは19
84年5月2日に公表されたヨーロッパ特許第0107
334号明細書は研摩剤としての特定の結晶性アルミノ
シリケート及びケイ素含有化合物を含有する磨き剤(p
otiah )組成物について記載しておシ、この場合
核層き剤組成物において使用されるケイ素銹導体の量は
、他の慣用の研摩剤と共に使用される場合に受は入れる
ことのできる光沢及び均一性を付与するのに必要な童に
関して実質的に′減少させることのできる量である。ケ
イ素誘導化合物のflCおけるこの減少は磨き剤組成物
の磨き剤成分としてゼオライトA。
ートを使用することは当業界に周知である。例えは19
84年5月2日に公表されたヨーロッパ特許第0107
334号明細書は研摩剤としての特定の結晶性アルミノ
シリケート及びケイ素含有化合物を含有する磨き剤(p
otiah )組成物について記載しておシ、この場合
核層き剤組成物において使用されるケイ素銹導体の量は
、他の慣用の研摩剤と共に使用される場合に受は入れる
ことのできる光沢及び均一性を付与するのに必要な童に
関して実質的に′減少させることのできる量である。ケ
イ素誘導化合物のflCおけるこの減少は磨き剤組成物
の磨き剤成分としてゼオライトA。
ゼオライトX1ゼオライトY及びそれらの混合物から選
択される結晶性アルミノシリケートを使用することによ
シ行われる。結晶性アルミノシリケートの選択は、ケイ
素誘導化合物の有効量が必要な最小有効量であシ、かつ
前記磨き剤組成物中における研摩材として、例えばけい
そう土岩又はカオリンのような慣用の研摩材を使用した
場合に必要な量よりも少量であシ、しかも一方において
該磨き剤組成物によって得られる光沢及び均一性が維持
されるように、ケイ素誘導化合物の選択と相関する。し
かしながら、この刊行物は、本発明によシ、特定の粒度
分布を有する研摩材として特定の結晶性アルミノシリケ
ートを使用することによって与えられる予想外の利点を
どこにも開示、例示又は認めていない。
択される結晶性アルミノシリケートを使用することによ
シ行われる。結晶性アルミノシリケートの選択は、ケイ
素誘導化合物の有効量が必要な最小有効量であシ、かつ
前記磨き剤組成物中における研摩材として、例えばけい
そう土岩又はカオリンのような慣用の研摩材を使用した
場合に必要な量よりも少量であシ、しかも一方において
該磨き剤組成物によって得られる光沢及び均一性が維持
されるように、ケイ素誘導化合物の選択と相関する。し
かしながら、この刊行物は、本発明によシ、特定の粒度
分布を有する研摩材として特定の結晶性アルミノシリケ
ートを使用することによって与えられる予想外の利点を
どこにも開示、例示又は認めていない。
研摩剤を含有しない洗浄処方物もまた当業界に公知であ
る。カナダ国特許第726,668号明細書は水、炭素
原子1〜5個を有するm個アルコール及びそれらの混合
物から選択される揮発性液体ビヒクル中の微粉砕された
ダイラタント(dit&ta−nt)粘土を含有する清
浄処方物を記載している。
る。カナダ国特許第726,668号明細書は水、炭素
原子1〜5個を有するm個アルコール及びそれらの混合
物から選択される揮発性液体ビヒクル中の微粉砕された
ダイラタント(dit&ta−nt)粘土を含有する清
浄処方物を記載している。
清浄処方物中に凝結防止剤(anti−caking
agent )を使用して長期貯蔵中におけるダイラタ
/ト粘土懸濁液のケーキング(caking)傾向を減
少させることができる。好適な凝結防止剤はとシわけて
結晶性アルカリ金属ケイ酸アルミニウムを包含する。前
記カナダ国特許明細書の第1頁第14〜15行に記載の
ように該開示された清浄組成物は研摩剤を含有しない。
agent )を使用して長期貯蔵中におけるダイラタ
/ト粘土懸濁液のケーキング(caking)傾向を減
少させることができる。好適な凝結防止剤はとシわけて
結晶性アルカリ金属ケイ酸アルミニウムを包含する。前
記カナダ国特許明細書の第1頁第14〜15行に記載の
ように該開示された清浄組成物は研摩剤を含有しない。
本発明は、C)高められた湿潤性を与え、(b)高めら
れた分散安定性を与え、(c)高められた防曇性(an
ti−fogging)を与え、(d)残留フィルミン
グ(re−siduatfiming )を減少させ、
もしくは排除し、かつ/又は(e) ’R面除去中にお
けるダストを減少させ、もしくは排除するのに十分な特
定の粒置゛分布を有する研摩材としての特定の結晶性ア
ルミノシリケートを使用する点【Cおいて先行技術の清
浄組成物と相違する。
れた分散安定性を与え、(c)高められた防曇性(an
ti−fogging)を与え、(d)残留フィルミン
グ(re−siduatfiming )を減少させ、
もしくは排除し、かつ/又は(e) ’R面除去中にお
けるダストを減少させ、もしくは排除するのに十分な特
定の粒置゛分布を有する研摩材としての特定の結晶性ア
ルミノシリケートを使用する点【Cおいて先行技術の清
浄組成物と相違する。
発明の開示
本発明は、(+)水、炭素原子1〜5個を有するm個ア
ルコール及びそれらの混合物から選択される揮発性液体
キャリヤーと、(膳)ゼオライトA1ゼオライトX1ゼ
オライトY1ゼオライトP及びそれらの混合物から選択
される研摩材としての結晶性アルミノシリケートとを包
含して成シ、この場合前記結晶性アルミノシリケートは
(a)高められた湿潤性を与え、(b)高められた分散
安定性を与え、(c)高められた防曇性を与え、(d)
残留フ・イルミフグを減少させ、もしくは排除し、かつ
/又は(g)表面除去中におけるダストを減少させ、も
しくは排除するのに十分な粒度分布を有するものである
表面清浄剤/mき剤(potiah)組成物に関する。
ルコール及びそれらの混合物から選択される揮発性液体
キャリヤーと、(膳)ゼオライトA1ゼオライトX1ゼ
オライトY1ゼオライトP及びそれらの混合物から選択
される研摩材としての結晶性アルミノシリケートとを包
含して成シ、この場合前記結晶性アルミノシリケートは
(a)高められた湿潤性を与え、(b)高められた分散
安定性を与え、(c)高められた防曇性を与え、(d)
残留フ・イルミフグを減少させ、もしくは排除し、かつ
/又は(g)表面除去中におけるダストを減少させ、も
しくは排除するのに十分な粒度分布を有するものである
表面清浄剤/mき剤(potiah)組成物に関する。
また本発明は該表面清浄剤/磨き剤組成物の製造方法に
も関する。
も関する。
詳細な記述
上記に示したように本発明は(ii)水、炭素原子1〜
5個を有するm個アルコール及びそれらの混合物から選
択される揮発性液体キャリヤーと、(ii)ゼオライト
A1ゼオライトX1ゼオライトY、ゼオライトP及びそ
れらの混合物から選択される結晶性アルミノシリケート
とを包含して成シ、この場合前記結晶性アルミノシリケ
ートは、(a)高められた湿潤性を与え、(b)高めら
れた分散安定性を与え、(c)高められた防曇性を与え
、(d)残留フィルミングを減少させ、もしくは排除し
、かつ/又Fi(e)表面除去中におけるダストを減少
させ、もしくは排除する、のに十分な粒度分布を有する
ものである表面清浄剤/磨き一剤組成物に関する。また
本発明は表面清浄剤/磨き剤組成物の製造にも関する。
5個を有するm個アルコール及びそれらの混合物から選
択される揮発性液体キャリヤーと、(ii)ゼオライト
A1ゼオライトX1ゼオライトY、ゼオライトP及びそ
れらの混合物から選択される結晶性アルミノシリケート
とを包含して成シ、この場合前記結晶性アルミノシリケ
ートは、(a)高められた湿潤性を与え、(b)高めら
れた分散安定性を与え、(c)高められた防曇性を与え
、(d)残留フィルミングを減少させ、もしくは排除し
、かつ/又Fi(e)表面除去中におけるダストを減少
させ、もしくは排除する、のに十分な粒度分布を有する
ものである表面清浄剤/磨き一剤組成物に関する。また
本発明は表面清浄剤/磨き剤組成物の製造にも関する。
本発明によシ意回される揮発性液体キャリヤーは水、炭
素原子1〜5個を有する一価アルコール、石油留出物(
ミネラルスピリット)及びそれらの混合物を包含する。
素原子1〜5個を有する一価アルコール、石油留出物(
ミネラルスピリット)及びそれらの混合物を包含する。
これらのキャリヤーは当業界に公知の慣用の物質である
。好ましい一価アルコールはイングロバノール、メタノ
ール及ヒエタノールを包含する。揮発性液体キャリヤー
は組成物の全重量を基準にして約50重量%又はそれ以
下から約95重f%又はそれ以上までのiにおいて使用
する。好ましくは水、一価アルコール(イングロパノー
ル)及び石油留出物(ミネラルスピリット)をそれぞれ
約70重量%ないし約801址チ、約5重量俤ないし約
15重−jlq!I及び約1重量%ないし約10重fq
bの量において含有する比較的に迅速に乾燥する液体キ
ャリヤーを使用する。
。好ましい一価アルコールはイングロバノール、メタノ
ール及ヒエタノールを包含する。揮発性液体キャリヤー
は組成物の全重量を基準にして約50重量%又はそれ以
下から約95重f%又はそれ以上までのiにおいて使用
する。好ましくは水、一価アルコール(イングロパノー
ル)及び石油留出物(ミネラルスピリット)をそれぞれ
約70重量%ないし約801址チ、約5重量俤ないし約
15重−jlq!I及び約1重量%ないし約10重fq
bの量において含有する比較的に迅速に乾燥する液体キ
ャリヤーを使用する。
本発明によシ意図される結晶性アルミノシリケート研摩
材は特定の粒度分布を有するゼオライトA1ゼオライト
X1ゼオライトY1ゼ第2イトP(ゼオライトBとして
も知られている)及びそれらの混合物を包含する。特に
該結晶性アルミノシリケートは(ml高められた湿向性
を与え、(b)高められた分散安定性を与え、(c)高
められた防曇性を与え、(d)残留フィルミングを減少
させ、もしくは排除し、かつ/又は(e)表面除去中に
おけるダストを減少させ、もしくは排除する、のに十分
な粒度分布を有する。このような性質を与えるためには
、沈降分析によシ全結晶性アルミノシリケート粒子の5
%未満、好ましくは39b未満が直径5ミクロンよりも
大きい粒度な有すべきであることがわかった。該結晶性
アルミノシリケートはエアミルにかけて特定の粒度分布
とすることが好ましい。ゼオライト4Aのような成る種
の結晶性アルミノシリケートは合成して特定の粒度分布
を与えることができる。
材は特定の粒度分布を有するゼオライトA1ゼオライト
X1ゼオライトY1ゼ第2イトP(ゼオライトBとして
も知られている)及びそれらの混合物を包含する。特に
該結晶性アルミノシリケートは(ml高められた湿向性
を与え、(b)高められた分散安定性を与え、(c)高
められた防曇性を与え、(d)残留フィルミングを減少
させ、もしくは排除し、かつ/又は(e)表面除去中に
おけるダストを減少させ、もしくは排除する、のに十分
な粒度分布を有する。このような性質を与えるためには
、沈降分析によシ全結晶性アルミノシリケート粒子の5
%未満、好ましくは39b未満が直径5ミクロンよりも
大きい粒度な有すべきであることがわかった。該結晶性
アルミノシリケートはエアミルにかけて特定の粒度分布
とすることが好ましい。ゼオライト4Aのような成る種
の結晶性アルミノシリケートは合成して特定の粒度分布
を与えることができる。
ゼオライトA、X、Y及びPは当業界に公知の慣用の物
質である。ゼオライトA、X、Y及びPの化学的性質及
び物理的性質はBreak−、、Donald W著、
ゼオライト モレ呼ニラ−シープズ(Zeolite
Mo−1eculer 5ieves )、Wlle7
−Interacience Publicution
社発行(ii974年)、第67〜77.83〜107
.133.168.176 及び177頁に記載されて
いる(前記頁は参考として本明細書に組み入れる)。
質である。ゼオライトA、X、Y及びPの化学的性質及
び物理的性質はBreak−、、Donald W著、
ゼオライト モレ呼ニラ−シープズ(Zeolite
Mo−1eculer 5ieves )、Wlle7
−Interacience Publicution
社発行(ii974年)、第67〜77.83〜107
.133.168.176 及び177頁に記載されて
いる(前記頁は参考として本明細書に組み入れる)。
特定の粒度分布を有するゼオライト15Xは本発明の表
面清浄剤/磨き剤組成物忙おける研摩剤として使用する
のK特に好適であることがわかった。
面清浄剤/磨き剤組成物忙おける研摩剤として使用する
のK特に好適であることがわかった。
結晶性アルミノシリケート研摩材は一般的に本発明の表
面清浄剤/磨き剤組成物において該組成物の全重量を基
準にして約0.1重量%と約30重ft俤との間の量に
おいて使用される。好ましくは該結晶性アルミノシリケ
ートは約1重量%ないし約15重i%の量において使用
される。
面清浄剤/磨き剤組成物において該組成物の全重量を基
準にして約0.1重量%と約30重ft俤との間の量に
おいて使用される。好ましくは該結晶性アルミノシリケ
ートは約1重量%ないし約15重i%の量において使用
される。
本発明の表面清浄剤/磨き剤組成物はワックス、界面活
性剤、増粘剤又は懸濁助剤、香料などのような当業界に
おいて慣用的に使用される、他の成分を含有することが
できる。適当なワックスとしては植物ワックス、動物ワ
ックス、鉱物ワックス、及び合成ワックスが包含される
。適当な界面活性剤としては例えばユニオンカーバイド
コーポレーション製のエトキシル化ノニルフェノール界
面活性剤である。テルギトール(Tergitol )
NP−9(商標)のような非イオン界面活性剤が包含
される。適当な増粘剤又は懸濁助剤としては、例えはB
、 F、グツドリッチ社製の、アクリル酸から訪導され
る増粘剤であるカルボボール(carbopol )
934(商標)が包含される。適当な香料としては例え
ば花の芳香及び柑橘の芳香が包含される。アンモニアも
また本発明の表面清浄剤/脂き剤組成物において清浄性
を高めるために包含されることがある。これらの成分及
び使用量の選択は個々の表面清浄剤/磨き剤組成物の性
質と個々の成分の、その意図される機能を遂行する能力
とによって指示される。
性剤、増粘剤又は懸濁助剤、香料などのような当業界に
おいて慣用的に使用される、他の成分を含有することが
できる。適当なワックスとしては植物ワックス、動物ワ
ックス、鉱物ワックス、及び合成ワックスが包含される
。適当な界面活性剤としては例えばユニオンカーバイド
コーポレーション製のエトキシル化ノニルフェノール界
面活性剤である。テルギトール(Tergitol )
NP−9(商標)のような非イオン界面活性剤が包含
される。適当な増粘剤又は懸濁助剤としては、例えはB
、 F、グツドリッチ社製の、アクリル酸から訪導され
る増粘剤であるカルボボール(carbopol )
934(商標)が包含される。適当な香料としては例え
ば花の芳香及び柑橘の芳香が包含される。アンモニアも
また本発明の表面清浄剤/脂き剤組成物において清浄性
を高めるために包含されることがある。これらの成分及
び使用量の選択は個々の表面清浄剤/磨き剤組成物の性
質と個々の成分の、その意図される機能を遂行する能力
とによって指示される。
本発、明の好ましい表面清浄剤/Nき剤組成物は下記を
含有する: 成分 を量チ ゼオライト15X 5.0 〜15.0ミ
ネラルスピリツト tO〜 10.0イソプロパ
ノール 5.0 〜15.0テルギトール N
P−9(商標) 0.10〜0.20カルボポール
934(商標) o、is〜 0.20香料
Q、10〜α20 水 70.0〜8
0.0本発明の表面清浄剤/磨き開祖放物は成分を混合
し、かつ分散させるような、歯業者に公知の慣用の方法
によって製造することができる。しかしながら特定の混
合順序により、高度に好ましい性質を有する本発明の表
面清浄剤/磨き開祖放物が得られることがわかった。
含有する: 成分 を量チ ゼオライト15X 5.0 〜15.0ミ
ネラルスピリツト tO〜 10.0イソプロパ
ノール 5.0 〜15.0テルギトール N
P−9(商標) 0.10〜0.20カルボポール
934(商標) o、is〜 0.20香料
Q、10〜α20 水 70.0〜8
0.0本発明の表面清浄剤/磨き開祖放物は成分を混合
し、かつ分散させるような、歯業者に公知の慣用の方法
によって製造することができる。しかしながら特定の混
合順序により、高度に好ましい性質を有する本発明の表
面清浄剤/磨き開祖放物が得られることがわかった。
好ましい混合順序においてカルボボール934(商標)
のような増粘剤又は懸濁助剤を、連続的にかくはんしな
がら水に溶解させ、次いで特定の粒度分布を有するゼオ
ライト4A又はゼオライト15Xのような結晶性アルミ
ノシリケート研摩材を添加し、かくはんする。得られた
混合物にイソプロパツールのような一価アルコールを添
加し、その後にイソプロパツールのよりな一価アルコー
ル、ミネラルスピリットのような石油留出物及びテルギ
トールNP−9(商標)のような界面活性剤を含有する
混合物を連続的にかくはんしながら添加する。得られる
表面清浄剤7語き開祖放物は本明細書に記載のような高
度に望ましい性質を示す0この特定の混合順序は本発明
の表面清浄剤/磨き開祖放物を得ることに対して重要で
あることがわかった。
のような増粘剤又は懸濁助剤を、連続的にかくはんしな
がら水に溶解させ、次いで特定の粒度分布を有するゼオ
ライト4A又はゼオライト15Xのような結晶性アルミ
ノシリケート研摩材を添加し、かくはんする。得られた
混合物にイソプロパツールのような一価アルコールを添
加し、その後にイソプロパツールのよりな一価アルコー
ル、ミネラルスピリットのような石油留出物及びテルギ
トールNP−9(商標)のような界面活性剤を含有する
混合物を連続的にかくはんしながら添加する。得られる
表面清浄剤7語き開祖放物は本明細書に記載のような高
度に望ましい性質を示す0この特定の混合順序は本発明
の表面清浄剤/磨き開祖放物を得ることに対して重要で
あることがわかった。
全結晶性アルミノシリケート粒子の5%よりも多くが直
径5ミクロンよりも大きな粒度である粒度分布を有する
アルミノシリケートを含有する清浄組成物と比較して、
本発明の表面清浄剤/磨き開祖放物は高められた湿潤性
、高められた分散安定性、高められた防曇性、残留フィ
ルミングの減少又は排除、及び表面除去中におけるダス
トの減少又は排除を示す。そのほか、ここに意図される
表面清浄剤/磨き開祖放物は内面及び外面の両方、特に
ガラスのような風雨にさらされる表面に対して優れた清
浄性を与える。
径5ミクロンよりも大きな粒度である粒度分布を有する
アルミノシリケートを含有する清浄組成物と比較して、
本発明の表面清浄剤/磨き開祖放物は高められた湿潤性
、高められた分散安定性、高められた防曇性、残留フィ
ルミングの減少又は排除、及び表面除去中におけるダス
トの減少又は排除を示す。そのほか、ここに意図される
表面清浄剤/磨き開祖放物は内面及び外面の両方、特に
ガラスのような風雨にさらされる表面に対して優れた清
浄性を与える。
本発明の表面清浄剤/磨き開祖放物は硬質表面清浄剤、
ガラス清浄剤、恩情浄剤、非塗装表面に対する研摩助剤
などとしての用途を有する。該表面清浄剤/磨き開祖放
物の塗布及び除去に対しては手動による、又は機械的な
塗りつけ又はぬぐい取りのような慣用の方法を使用する
ことができる0下記の実施例は本発明を更に特徴づける
ために記載されるものであって、いかなる態様において
も本発明を限定するものではない0結晶性アルミノシリ
ケートの粒度は沈降分析によって測定した0実施例1 本実験は本発明の清浄組成物によす処理したガラスに付
与された改良された湿潤性を例証する。
ガラス清浄剤、恩情浄剤、非塗装表面に対する研摩助剤
などとしての用途を有する。該表面清浄剤/磨き開祖放
物の塗布及び除去に対しては手動による、又は機械的な
塗りつけ又はぬぐい取りのような慣用の方法を使用する
ことができる0下記の実施例は本発明を更に特徴づける
ために記載されるものであって、いかなる態様において
も本発明を限定するものではない0結晶性アルミノシリ
ケートの粒度は沈降分析によって測定した0実施例1 本実験は本発明の清浄組成物によす処理したガラスに付
与された改良された湿潤性を例証する。
下記成分を含有させてガラス清浄処方物を調製した:
処方A
成 分 重量%ゼオライト1s
x’ 1o、。
x’ 1o、。
ミネラルスピリット 5.0イソプロパノ
ール 1Q、0 テルギトール NP−90,15 カルボポール 934 0.18本ゼオライ
ト15Xはエアミルにかけて、全結晶性アルミノシリケ
ート粒子の5チ未満が直径5ミクロンよりも大きい粒度
を有する粒度分布としたものである。
ール 1Q、0 テルギトール NP−90,15 カルボポール 934 0.18本ゼオライ
ト15Xはエアミルにかけて、全結晶性アルミノシリケ
ート粒子の5チ未満が直径5ミクロンよりも大きい粒度
を有する粒度分布としたものである。
処方B
成 分 MfIkqb林
ゼオライト4A 10.0ミネラルスピ
リツト 5.0イソプロパノール
10.0テルギトールNP−90,15 カルボボール 934 0.18ゼオライ
ト4Aはエアミルにかけなかったものであシ、全結晶性
アルミノシリケート粒子の5%よシ多くが直径5ミクロ
/よ如も大きい粒度である粒度分布を有するものである
。
リツト 5.0イソプロパノール
10.0テルギトールNP−90,15 カルボボール 934 0.18ゼオライ
ト4Aはエアミルにかけなかったものであシ、全結晶性
アルミノシリケート粒子の5%よシ多くが直径5ミクロ
/よ如も大きい粒度である粒度分布を有するものである
。
これらの処方物を水平ガラス表面に塗布し、次いでふき
取った。次いで測定された等しい滴数の水を水平ガラス
表面に塗布した0処方Aにより処理した水平ガラス表面
は処方Bにより処理したガラス表面と比較して高められ
た湿潤性又は優れた親水特性(水で覆われたガラス上の
、より大きな面M)を示すことが観察された。
取った。次いで測定された等しい滴数の水を水平ガラス
表面に塗布した0処方Aにより処理した水平ガラス表面
は処方Bにより処理したガラス表面と比較して高められ
た湿潤性又は優れた親水特性(水で覆われたガラス上の
、より大きな面M)を示すことが観察された。
実施例2
本実験は本発明の清浄組成物により処理したガラスに付
与された改良された湿潤性を例証する。
与された改良された湿潤性を例証する。
下記成分を含有させてガラス清浄処方物を調製した:
処方A
成 分 N量チ
*
ゼオライト13X 10.0ミネラルスピリ
ツト 5.0 イソプロパツール 10.0 テルギトールNP−9α15 カルボボール934 0.18ゼオライト1
3Xはエアミルにかtフで、全結晶性′7/シミノシリ
ケート粒子の5%未満が@径5ミクロンよりも大きい粒
度を有する粒度分布としたものである。
ツト 5.0 イソプロパツール 10.0 テルギトールNP−9α15 カルボボール934 0.18ゼオライト1
3Xはエアミルにかtフで、全結晶性′7/シミノシリ
ケート粒子の5%未満が@径5ミクロンよりも大きい粒
度を有する粒度分布としたものである。
処方B
ミネラルスピリット 5.0
イングロパノール 10.0
テルギトールNP−90,15
カルボポール 934 018
水 74.68ゼオ
ライト15XはエアミルKかけなかったものであ)、全
結晶性アルミノシリケート粒子の5%よシ多くが直径5
ミクロ/よりも大きい粒度である粒度分布を有するもの
である。
ライト15XはエアミルKかけなかったものであ)、全
結晶性アルミノシリケート粒子の5%よシ多くが直径5
ミクロ/よりも大きい粒度である粒度分布を有するもの
である。
これらの地方物を水平ガラス表面に塗布し、次いでふき
取った。次いで測定された等しい滴数の水を水平ガラス
表面に塗布した。処方Aによシ処理した水平ガラス表m
目よ処方Bによシ処理したガラス表面と比較して高めら
れた湿潤性又は優れた親水特性(水で負われたガラス上
の、よシ大きな面積)を示すことが観察された。
取った。次いで測定された等しい滴数の水を水平ガラス
表面に塗布した。処方Aによシ処理した水平ガラス表m
目よ処方Bによシ処理したガラス表面と比較して高めら
れた湿潤性又は優れた親水特性(水で負われたガラス上
の、よシ大きな面積)を示すことが観察された。
実施例5
本実験は本発明の清浄組成物により処理したガラスに付
与された改良された湿潤性を例証する。
与された改良された湿潤性を例証する。
下記成分を含有させてガラス清浄処方物を調製した:
処方A
ミネラルスピリット 5.0イングロパノー
ル 10.0テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18ゼオライト
4Aはエアミルにかけて、全結昂性アルミノシリケート
粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも大きい粒度を有
する粒度分布としたものである0 ミネラルスピリット 5.0イングロパノ
ール 1Q、0デルギトールNP−90,1
5 カルボボール934 0.18たもので0
、全納9ルミノシリケ一ト粒子の5チよシ多くが直径5
ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有するもの
である。
ル 10.0テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18ゼオライト
4Aはエアミルにかけて、全結昂性アルミノシリケート
粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも大きい粒度を有
する粒度分布としたものである0 ミネラルスピリット 5.0イングロパノ
ール 1Q、0デルギトールNP−90,1
5 カルボボール934 0.18たもので0
、全納9ルミノシリケ一ト粒子の5チよシ多くが直径5
ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有するもの
である。
これらの処方物を水平ガラス表面に塗布し、次いでふき
取った。次いで測定された等しい滴数の水を水平ガラス
表面に塗布した。処方Aによシ処理した水平ガラス表面
は処方Bにより処理したガラス表面と比較して高められ
た湿潤性又Fi優れた親水特性(水で負われたガラス上
の、より大きな面積)を示すことが観察された。
取った。次いで測定された等しい滴数の水を水平ガラス
表面に塗布した。処方Aによシ処理した水平ガラス表面
は処方Bにより処理したガラス表面と比較して高められ
た湿潤性又Fi優れた親水特性(水で負われたガラス上
の、より大きな面積)を示すことが観察された。
実施例4
本実数は本発明の清浄組成物により処理したガラス忙付
与された改良された湿潤性を例証する。
与された改良された湿潤性を例証する。
下記成分を含有させてガラス清浄処方物を調製した:
処方A
ミネラルスピリット 5.0イングロパノー
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18水
74.68*ゼオライ
ト4AはエアミルKかけて、全結晶性アルミノシリケー
ト粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも大きい粒度を
有する粒度分布としたものである。
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18水
74.68*ゼオライ
ト4AはエアミルKかけて、全結晶性アルミノシリケー
ト粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも大きい粒度を
有する粒度分布としたものである。
処方B
ミネラルスピリット 5,0イソプロパノ
ール 10.0テルギトールNP−90,1
5 カルボボール934 0.18水
74.68** ゼオライト4Aはエアミルにかけなかったものであプ、
全結晶性アルミノシリケート粒子の5%よシ多くが直径
5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有するも
のである。
ール 10.0テルギトールNP−90,1
5 カルボボール934 0.18水
74.68** ゼオライト4Aはエアミルにかけなかったものであプ、
全結晶性アルミノシリケート粒子の5%よシ多くが直径
5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有するも
のである。
これらの処方物を水平ガラス表面に塗布し、次いでふき
取った。次いで測定された等しい滴数の水を水平ガラス
表面に、塗布した。処方Aにより処理した水平ガラス表
面は処方BKより処理したガラス表面と比較して高めら
れた湿潤性又は優れた親水特性(水で憶われたガラス上
の、よシ大きな面積)を示すことが観察された。
取った。次いで測定された等しい滴数の水を水平ガラス
表面に、塗布した。処方Aにより処理した水平ガラス表
面は処方BKより処理したガラス表面と比較して高めら
れた湿潤性又は優れた親水特性(水で憶われたガラス上
の、よシ大きな面積)を示すことが観察された。
実施例5
本実験は本発明の清浄組成物、こよ多処理したガラスに
付与された改良された湿潤性を例証する。
付与された改良された湿潤性を例証する。
下記成分を含有させてガラス清浄処方物を調製した:
ミネラルスピリット 5.0イソプロパノー
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボポール934 0.18水
74.68* ゼオライト 15Xはエアミルにかけて、全結晶性アル
ミノシリケート粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも
大きい粒度を有する粒度分布としたものである。
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボポール934 0.18水
74.68* ゼオライト 15Xはエアミルにかけて、全結晶性アル
ミノシリケート粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも
大きい粒度を有する粒度分布としたものである。
処方B
ミネラルスピリット 5.0イソプロパノー
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボポール934 0.18ものであり、
・全結晶性アルミノシリケート粒子の5%よシ多くが直
径5ミクa7よりも大きい粒度である粒度分布を有する
ものである。
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボポール934 0.18ものであり、
・全結晶性アルミノシリケート粒子の5%よシ多くが直
径5ミクa7よりも大きい粒度である粒度分布を有する
ものである。
これらの処方物を垂直ガラス表面に塗布し、次いでふき
取った。次いで該垂直ガラス表面に水を塗布した。処方
AjCよ多処理された垂直ガラス表面は処方BKよ多処
理されたガラス表面と比較して高められた湿潤性又は優
れた親水特性〔ガラス上におけろ水の均一かつ完全なシ
ーテイング(sh−・・tings薄層被all を
示すことが観察された。
取った。次いで該垂直ガラス表面に水を塗布した。処方
AjCよ多処理された垂直ガラス表面は処方BKよ多処
理されたガラス表面と比較して高められた湿潤性又は優
れた親水特性〔ガラス上におけろ水の均一かつ完全なシ
ーテイング(sh−・・tings薄層被all を
示すことが観察された。
実施例6
本実験は本発明の清浄組成物によ多処理したガラスに付
与された改良された湿潤性を例証する。
与された改良された湿潤性を例証する。
下記成分を含有させてガラス清浄処方物を調製した:
処方A
ミネラルスピリット 5.0イングロパノー
ル 1Q、0 テルギトールNP−9α15 カルボポール934 0.18水
74.68* ゼオライト13Xはエアミルにかけて′、全結晶性アル
ミノシリケート粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも
大きい粒度を有する粒度分布としたものである。
ル 1Q、0 テルギトールNP−9α15 カルボポール934 0.18水
74.68* ゼオライト13Xはエアミルにかけて′、全結晶性アル
ミノシリケート粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも
大きい粒度を有する粒度分布としたものである。
処方B
ミネラルスピリット 5.0イソプロパツー
ル 1α0 テルギトールNP−90,15 カルボポール934 0.18水
74.68** ゼオライト15XはエアミルKかけなかったものであり
、全結晶性アルミノシリケート粒子の59bよシ多くが
直径5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有す
るものである。
ル 1α0 テルギトールNP−90,15 カルボポール934 0.18水
74.68** ゼオライト15XはエアミルKかけなかったものであり
、全結晶性アルミノシリケート粒子の59bよシ多くが
直径5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有す
るものである。
これらの処方物を垂直ガラス表面に塗布し、次いでふき
取った。次いで該垂直ガラス表面に水を塗布した。処方
AFcよ多処理された垂直ガラス表面は処方’BKよ多
処理されたガラス表面と比較して高められた湿潤性又は
優れた親水特性〔ガラス上におけろ水の均一かつ完全な
シーテイング(sh−eetlngq薄層被榎)〕を示
すことが観察された。
取った。次いで該垂直ガラス表面に水を塗布した。処方
AFcよ多処理された垂直ガラス表面は処方’BKよ多
処理されたガラス表面と比較して高められた湿潤性又は
優れた親水特性〔ガラス上におけろ水の均一かつ完全な
シーテイング(sh−eetlngq薄層被榎)〕を示
すことが観察された。
実施例7
本実験は本発明の清浄組成物により処理したガラスに付
与された改良された湿潤性を例証する。
与された改良された湿潤性を例証する。
下記成分を含有させてガラス清か処方物を調製した:
処方A
ミネラルスピリット 5.0イングロパノ
ール 1α0 テルギトールNP−90,15 カルボポール934 0.18* ゼオライト4AはエアミルKかけて、全結晶性アルミノ
シリケート粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも大き
い粒度を有する粒度分布としたものである 処方B ミネラルスピリット 5.0イソプロパノ
ール 10.0テルギトールNP−9(ii
15 カルボポール934 1118水
74.68ゼオラ
イト13XtlエアミルKかけなかったものでアシ、全
結晶性アルミノシリケート粒子の5sよシ多くが直径5
ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有するもの
であるO これらの処方物を垂直ガラス表面に塗布し、次いでふき
取った0次いで該垂直ガラス表面に水を塗布した。処方
AKよ多処理された垂直ガラス表面は処方Bによ〕処理
されたガラス表面と比較して高められた湿潤性又は優れ
た親水特性〔ガラス上におけろ水の均一かつ完全なシー
テイング(s+h−eetings薄層被a〕〕を示す
ことが観察された。
ール 1α0 テルギトールNP−90,15 カルボポール934 0.18* ゼオライト4AはエアミルKかけて、全結晶性アルミノ
シリケート粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも大き
い粒度を有する粒度分布としたものである 処方B ミネラルスピリット 5.0イソプロパノ
ール 10.0テルギトールNP−9(ii
15 カルボポール934 1118水
74.68ゼオラ
イト13XtlエアミルKかけなかったものでアシ、全
結晶性アルミノシリケート粒子の5sよシ多くが直径5
ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有するもの
であるO これらの処方物を垂直ガラス表面に塗布し、次いでふき
取った0次いで該垂直ガラス表面に水を塗布した。処方
AKよ多処理された垂直ガラス表面は処方Bによ〕処理
されたガラス表面と比較して高められた湿潤性又は優れ
た親水特性〔ガラス上におけろ水の均一かつ完全なシー
テイング(s+h−eetings薄層被a〕〕を示す
ことが観察された。
実施例8
本実験は本発明の清浄組成物によシ処理したガラスに付
与された改良された湿潤性を例証する。
与された改良された湿潤性を例証する。
下記成分を含有させてガラス清浄処方物を調製した:
処方A
ミネラルスピリット 5.0イソプロパツー
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボポール934 α18* ゼオライト4Aはエアミルにかけて、全結晶性アルミノ
シリケート粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも大き
い粒度を有する粒度分布としたものである。
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボポール934 α18* ゼオライト4Aはエアミルにかけて、全結晶性アルミノ
シリケート粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも大き
い粒度を有する粒度分布としたものである。
処方B
ミネラルスピリット 5.0イングロパノー
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボポール934 0.18ゼオライト
4Aはエアミルにかけなかったものであり、全結晶性ア
ルミノシリケート粒子の5%よ)多くが直径5ミクロン
よりも大きい粒度である粒度分布を有するものである。
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボポール934 0.18ゼオライト
4Aはエアミルにかけなかったものであり、全結晶性ア
ルミノシリケート粒子の5%よ)多くが直径5ミクロン
よりも大きい粒度である粒度分布を有するものである。
これらの処方物を垂直ガラス表面忙塗布し、次いでふき
取った。次いで該垂直ガラス異面に水を塗布した。処方
Aによシ処理された垂直ガラス表面は処方Bによシ処理
されたガラス表面と比較して高められた湿潤性又は優れ
た親水特性〔ガラス上における水の均一かつ完全なシー
テイノグ(5h−ee t ings薄層被覆)〕を示
すことが観察された。
取った。次いで該垂直ガラス異面に水を塗布した。処方
Aによシ処理された垂直ガラス表面は処方Bによシ処理
されたガラス表面と比較して高められた湿潤性又は優れ
た親水特性〔ガラス上における水の均一かつ完全なシー
テイノグ(5h−ee t ings薄層被覆)〕を示
すことが観察された。
実施例9
本実験は本発明の清浄組成物によって示される改良され
た分散安定性を例証する。下記成分を含有させて清浄処
方物を調製した: ミネラルスピリット 5.0イソプロパツー
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボポール934 α18* ゼオライト13Xはエアミルkかけて、全結晶性アルミ
ノシリケート粒子の5チ未満が直径5ミクロンよりも大
きい粒度を有する粒度分布としたものである。
た分散安定性を例証する。下記成分を含有させて清浄処
方物を調製した: ミネラルスピリット 5.0イソプロパツー
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボポール934 α18* ゼオライト13Xはエアミルkかけて、全結晶性アルミ
ノシリケート粒子の5チ未満が直径5ミクロンよりも大
きい粒度を有する粒度分布としたものである。
処方B
ミネラルスピリット 5.0イソプロパノー
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18水
74.68** ゼオライト4Aはエアミルにかけなかったものであシ、
全結晶性アルミノシリケート粒子の51よシ多くが直径
5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有するも
のである。
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18水
74.68** ゼオライト4Aはエアミルにかけなかったものであシ、
全結晶性アルミノシリケート粒子の51よシ多くが直径
5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有するも
のである。
これらの処方物を26週間の期間にわたって放置した。
処方Bにおいては、ゼオライトの激しい沈降(hard
5ettle )を包含する多層沈降が観察された。
5ettle )を包含する多層沈降が観察された。
処方Bにおいては、沈降したゼオライトを包含する該多
層を溶液中に戻すためには激しい振とうが必要であった
。処方Aにおいては沈降が全く、又は殆んど観察されず
、しかも、すべての沈降物質は穏やかな振とうにょシ容
易に再分散された。
層を溶液中に戻すためには激しい振とうが必要であった
。処方Aにおいては沈降が全く、又は殆んど観察されず
、しかも、すべての沈降物質は穏やかな振とうにょシ容
易に再分散された。
処方Aは処方Bと比較して高められた分散安定性を示す
ことが観察された。
ことが観察された。
実施例10
本実験は、本発明の清浄組成物によシ示された改善され
た分散安定性を説明するものである。下記成分を含有す
る清浄処方物をw!4製した。
た分散安定性を説明するものである。下記成分を含有す
る清浄処方物をw!4製した。
処方A
ミネラルスピリット 5.0イングロパノー
ル 10.0 テ>ギトーA−NP−90,15 カルボポール934 α18* ゼオライト13Xはニアミル忙がけて、全結晶性アルミ
ノシリケート粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも大
きい粒度を有する粒度分布としたものである。
ル 10.0 テ>ギトーA−NP−90,15 カルボポール934 α18* ゼオライト13Xはニアミル忙がけて、全結晶性アルミ
ノシリケート粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも大
きい粒度を有する粒度分布としたものである。
処方B
ミネラルスピリット S、Oイソプロパノー
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 Q、18** ゼオライト13Xはエアミルにかけなかったものであシ
、全結晶性アルミノシリケート粒子の5チよシ多くが直
径5ミク日ンよりも大きい粒度である粒度分布を有する
ものであるO これらの処方を26週間にわたシ装置した。ゼオライト
の撤しい沈降を含む多層沈降が処方Bにおいてみられた
。沈降したゼオライトを含む多層物を処方Bの溶液中へ
もどすために激しい振とぅを与える必要があった。処方
Aでは沈降がないか、あって屯極めて僅かであ〕、沈降
物質はすべて軽い振とうにより容易に再分散された。処
方Aは処方Bに比して高い分散安定性を示すことが観測
された。
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 Q、18** ゼオライト13Xはエアミルにかけなかったものであシ
、全結晶性アルミノシリケート粒子の5チよシ多くが直
径5ミク日ンよりも大きい粒度である粒度分布を有する
ものであるO これらの処方を26週間にわたシ装置した。ゼオライト
の撤しい沈降を含む多層沈降が処方Bにおいてみられた
。沈降したゼオライトを含む多層物を処方Bの溶液中へ
もどすために激しい振とぅを与える必要があった。処方
Aでは沈降がないか、あって屯極めて僅かであ〕、沈降
物質はすべて軽い振とうにより容易に再分散された。処
方Aは処方Bに比して高い分散安定性を示すことが観測
された。
実施例11
本実験は、本発明の清浄組成物によシ示された改善され
た分散安定性を説明するものである。下記成分を含有す
る清抄処方物を調製した。
た分散安定性を説明するものである。下記成分を含有す
る清抄処方物を調製した。
処方A
成 分 lI量チ*
ゼオライト4 A I 0.0ミネラル
スピリツト 5.0イソプロパツール
1α0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 α18*
74.68* ゼオライト4Aはエアミルkかけて、全結晶性アルミノ
シリケート粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも大き
い粒度を有する粒度分布としたものである。
スピリツト 5.0イソプロパツール
1α0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 α18*
74.68* ゼオライト4Aはエアミルkかけて、全結晶性アルミノ
シリケート粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも大き
い粒度を有する粒度分布としたものである。
処方B
ゼオライト15X 10.0ミネラルス
ピリツト 5.0イソプロパノール
10.0テルギトールNP−9α15 カルボポール934 0.18子の5q
IJより多くが直径5ミクロンよりも大きい粒度である
粒度分布を有するものである。
ピリツト 5.0イソプロパノール
10.0テルギトールNP−9α15 カルボポール934 0.18子の5q
IJより多くが直径5ミクロンよりも大きい粒度である
粒度分布を有するものである。
これらの処方を26週間にわたシ装置した。ゼオライト
の激しい沈降を含む多層沈降が処方Bにおいてみられた
。沈降したゼオライトを含む多層物を処方Bの溶液中へ
もどすために激しい振とうを与える必要があった。処方
Aでは沈降がないか、あっても極めて僅かであシ、沈降
物質はすべて軽い振とうによシ容易&C再分散された。
の激しい沈降を含む多層沈降が処方Bにおいてみられた
。沈降したゼオライトを含む多層物を処方Bの溶液中へ
もどすために激しい振とうを与える必要があった。処方
Aでは沈降がないか、あっても極めて僅かであシ、沈降
物質はすべて軽い振とうによシ容易&C再分散された。
処方Aは処方BK比して高い分散安定性を示すことが認
められた。
められた。
実施例12
本実験は、本発明の清浄組成物にょシ示された教書され
た分散安定性を説明するものである。下記成分を含有す
る清浄処方物を調製した。
た分散安定性を説明するものである。下記成分を含有す
る清浄処方物を調製した。
処方A
ミネラルスピリット 5.0イソプロパツー
ル 10.0 テルギトー# NP−90,15 カルボボール934 0.18* ゼオライト4Aはエアミルにかけて、全結晶性アルミノ
シリケート粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも大き
い粒度を有する粒度分布としたものである。
ル 10.0 テルギトー# NP−90,15 カルボボール934 0.18* ゼオライト4Aはエアミルにかけて、全結晶性アルミノ
シリケート粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも大き
い粒度を有する粒度分布としたものである。
処方B
ミネラルスピリット 5.0イソプ四パノー
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18水
74.68** ゼオライト4Aはエアミルにかけなかったものであり、
全結晶性アルミノシリケート粒子の5%よシ多くが直径
5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有するも
のである。
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18水
74.68** ゼオライト4Aはエアミルにかけなかったものであり、
全結晶性アルミノシリケート粒子の5%よシ多くが直径
5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有するも
のである。
これらの処方を26週間にわたり静置した。ゼオライト
の激しい沈降を含む多層沈降が処方Bにおいてみられた
。沈降したゼオライトを含む多層物を処方Bの溶液中へ
もどすために激しい振とうを与える必要があった。処方
Aでは沈降が無いか、あっても極めて僅かであシ、沈降
物質はすべて軽い振とうによシ容易に再分散された。処
方Aは処方BK比して高い分散安定性を示した。
の激しい沈降を含む多層沈降が処方Bにおいてみられた
。沈降したゼオライトを含む多層物を処方Bの溶液中へ
もどすために激しい振とうを与える必要があった。処方
Aでは沈降が無いか、あっても極めて僅かであシ、沈降
物質はすべて軽い振とうによシ容易に再分散された。処
方Aは処方BK比して高い分散安定性を示した。
実施例13
本実験は、本発明の清浄組成物の乾燥したものを表面除
去している間のダストの減少もしくは除去を説明するも
のである0下記成分を含有する清浄処方物を調製した。
去している間のダストの減少もしくは除去を説明するも
のである0下記成分を含有する清浄処方物を調製した。
処方A
ミネラルスピリット 5.0−イングロパノ
ール 10.0テルギトールNP−90,15 カルボポール934 α18* ゼオライト15Xはエアミルにかけて、全結晶性アルミ
ノシリケート粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも大
きい粒度を有する粒度分布としたものである。
ール 10.0テルギトールNP−90,15 カルボポール934 α18* ゼオライト15Xはエアミルにかけて、全結晶性アルミ
ノシリケート粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも大
きい粒度を有する粒度分布としたものである。
処方B
ミネラルスピリット 5.0イングロバノー
ル 10,0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18** ゼオライト4Aはエアミルにかけなかったものでメジ、
全結晶性アルミノシリケート粒子の5%よシ多くが直径
5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有するも
のである。
ル 10,0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18** ゼオライト4Aはエアミルにかけなかったものでメジ、
全結晶性アルミノシリケート粒子の5%よシ多くが直径
5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有するも
のである。
これらの処方を汚れたガラスに対して適用した後ふき取
った。ガラス表面は効果的に清浄化され、乾燥処方Bの
手ふきkよるガラス表面からの除去の間との比較におい
て乾燥処方Aの手ふきによるガラス表面からの除去の間
における、処方の除去に使用された織物又は非織物に付
着していないダスト量の減少を観察した。
った。ガラス表面は効果的に清浄化され、乾燥処方Bの
手ふきkよるガラス表面からの除去の間との比較におい
て乾燥処方Aの手ふきによるガラス表面からの除去の間
における、処方の除去に使用された織物又は非織物に付
着していないダスト量の減少を観察した。
実施例14
本実験は、本発明の清浄組成物の乾燥したものを表面除
去している間のダストの減少もしくは除去を説明するも
のである。下記成分を含有する清浄処方物をθ4製した
。
去している間のダストの減少もしくは除去を説明するも
のである。下記成分を含有する清浄処方物をθ4製した
。
処方A
成 分 重量%*
ゼネラル15X 10.0ミネラルス
ピリツト 5.0イングロバノール
10.0テルギトールNP−90,1s カルボボール934 0.18水
74.68* ゼオライト15Xはエアミルにかけて、全結晶性アルミ
ノシリケート粒子の5%未満が直径5電クロンよりも大
きい粒度を有する粒度分布としたものである。
ピリツト 5.0イングロバノール
10.0テルギトールNP−90,1s カルボボール934 0.18水
74.68* ゼオライト15Xはエアミルにかけて、全結晶性アルミ
ノシリケート粒子の5%未満が直径5電クロンよりも大
きい粒度を有する粒度分布としたものである。
処方B
ミネラルスピリット 5.0イソプロパノー
ル 10,0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18水
74.68ゼ第2イ)
13Xはエアミルにかけなかったものでメジ、全結晶性
アルミノシリケート粒子の5%よシ多くが直径5ミクロ
ンよりも大きい粒度である粒度分布を有するものである
0 これら、の処方を汚れたガラスに対して適用した後ふき
取った。ガラス表面は効果的に清浄化され、乾燥処方B
の手ふきkよるガラス表面からの除去の間との比較にお
いて、乾燥処方Aの手ふき忙よるガラス表面からの除去
の間忙おける、処方の除去に使用された織物又は非織物
に付着していないダスト量の減少を観察した。
ル 10,0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18水
74.68ゼ第2イ)
13Xはエアミルにかけなかったものでメジ、全結晶性
アルミノシリケート粒子の5%よシ多くが直径5ミクロ
ンよりも大きい粒度である粒度分布を有するものである
0 これら、の処方を汚れたガラスに対して適用した後ふき
取った。ガラス表面は効果的に清浄化され、乾燥処方B
の手ふきkよるガラス表面からの除去の間との比較にお
いて、乾燥処方Aの手ふき忙よるガラス表面からの除去
の間忙おける、処方の除去に使用された織物又は非織物
に付着していないダスト量の減少を観察した。
実施例15
本実験は、本発明の清浄組成物の乾燥したものを表面除
去している間のダストの減少もしくは除去を説明するも
のである。下記成分を含有する清浄処方物を調製した0 処方A ミネラルスピリット 5.0イソプロパツー
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18* ゼオライト4AはエアミルKかけて、全結晶性アルミノ
シリケート粒子の5To未満が直径5ミクロンよりも大
きい粒度を有する粒度分布としたものである。
去している間のダストの減少もしくは除去を説明するも
のである。下記成分を含有する清浄処方物を調製した0 処方A ミネラルスピリット 5.0イソプロパツー
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18* ゼオライト4AはエアミルKかけて、全結晶性アルミノ
シリケート粒子の5To未満が直径5ミクロンよりも大
きい粒度を有する粒度分布としたものである。
処方B
ミネラルスピリット 5.0イソプロパツ
ール 10.0テルギトールNP−9α15 カルボボール934 0.18水
74.6B本本 ゼオライト15Xはエアミルにかけなかったものであり
、全結晶性アルミノシリケート粒子の59によシ多くが
直径5ミクロンよ〕も大きい粒度である粒度分布を有す
るものである。
ール 10.0テルギトールNP−9α15 カルボボール934 0.18水
74.6B本本 ゼオライト15Xはエアミルにかけなかったものであり
、全結晶性アルミノシリケート粒子の59によシ多くが
直径5ミクロンよ〕も大きい粒度である粒度分布を有す
るものである。
これらの処方を汚れたガラスに対して適用した後ふき取
った。ガラス表面は効果的に清浄化され、乾燥処方Bの
手ふきKよるガラス表面からの除去の間との比較におい
て、乾燥処方Aの手ふきkよるガラス表面からの除去の
間における、処方の除去に使用された織物又は非織物に
付着していないダスト址の減少を観察した。
った。ガラス表面は効果的に清浄化され、乾燥処方Bの
手ふきKよるガラス表面からの除去の間との比較におい
て、乾燥処方Aの手ふきkよるガラス表面からの除去の
間における、処方の除去に使用された織物又は非織物に
付着していないダスト址の減少を観察した。
**例16
本′A鯖は、本発明の清浄組成物の乾燥したもの、を表
面除去している間のダストの減少もしくは除去を説IJ
jするものである。下記成分を含有する清浄処方物を調
製した。
面除去している間のダストの減少もしくは除去を説IJ
jするものである。下記成分を含有する清浄処方物を調
製した。
処方A
ミネラルスピリット 5.0イングロパノー
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18* ゼ第2イト4AはエアミルKかけて、全結晶性アルζノ
シリケート粒子の5ts未満が直径5ミクロンよりも大
きい粒度を有する粒度分布としたものである。
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18* ゼ第2イト4AはエアミルKかけて、全結晶性アルζノ
シリケート粒子の5ts未満が直径5ミクロンよりも大
きい粒度を有する粒度分布としたものである。
処方B
ミネラルスピリット 5.0イソプロパノー
ル 10.0 テルギトールNP−9α15 カルボボール934 α18水
74.68** ゼオライト4Aはエアミルにかけなかったものであり、
全結晶性アルミノシリケート粒子の5%より多くが直径
5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有するも
のである。
ル 10.0 テルギトールNP−9α15 カルボボール934 α18水
74.68** ゼオライト4Aはエアミルにかけなかったものであり、
全結晶性アルミノシリケート粒子の5%より多くが直径
5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有するも
のである。
これらの処方を汚れたガラスに対して適用した後ふき取
った。ガラス表面は効果的に清浄化され、乾燥処方Bの
手ふきによるガラス表面からの除去の間との比較におい
て、乾燥処方Aの手ふきKよるガラス表面からの除去の
間における、処方の除去に使用された織物又は非織物に
付着していないダスト量の減少を観察した。
った。ガラス表面は効果的に清浄化され、乾燥処方Bの
手ふきによるガラス表面からの除去の間との比較におい
て、乾燥処方Aの手ふきKよるガラス表面からの除去の
間における、処方の除去に使用された織物又は非織物に
付着していないダスト量の減少を観察した。
実施例17
本実験は、本発明のi′#沙組成物の乾燥したものを表
面除去している間のダストの減少もしくは除去をBi明
するものである。下記成分を含有する清浄処方物を調製
した0 処方A ミネラルスピリット 5.0 イソプロパノール 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18水
74.68* ゼオライト15Xはエアミルにかけて、全結晶性アルミ
ノシリケート粒子の3%未満が直径5ミクロンよりも大
きい粒度を有する粒度分布としたものである。
面除去している間のダストの減少もしくは除去をBi明
するものである。下記成分を含有する清浄処方物を調製
した0 処方A ミネラルスピリット 5.0 イソプロパノール 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18水
74.68* ゼオライト15Xはエアミルにかけて、全結晶性アルミ
ノシリケート粒子の3%未満が直径5ミクロンよりも大
きい粒度を有する粒度分布としたものである。
処方B
ミネラルスピリット 5.0イソプロパツー
ル 10,0 テルギトーkNP−9α15 カルボボール934 0.18** ゼオライト4AはエアミルKかけなかったものでtりシ
、全結晶性アルミノシリケート粒子の5qbよシ多くが
直径5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有す
るものである。
ル 10,0 テルギトーkNP−9α15 カルボボール934 0.18** ゼオライト4AはエアミルKかけなかったものでtりシ
、全結晶性アルミノシリケート粒子の5qbよシ多くが
直径5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有す
るものである。
これらの処方を汚れたガラス表面に対して適用した後ふ
き取った。ガラス表面は効果的に清浄化され、乾燥処方
Bの手ふきによるガラス表面からの除去後残留フィルミ
ングとの比較において、乾燥処方Aの手ふきkよるガラ
ス表面からの除去後の残留フィルミングよシ少いことが
観察された。
き取った。ガラス表面は効果的に清浄化され、乾燥処方
Bの手ふきによるガラス表面からの除去後残留フィルミ
ングとの比較において、乾燥処方Aの手ふきkよるガラ
ス表面からの除去後の残留フィルミングよシ少いことが
観察された。
また、処方Aで処理されたガラス表面は清浄化の後、よ
シ滑らかな感触、例えばベルペットのような感触を示し
、清浄化の後処方Bで処理されたガラス表面との比較に
おいて、清浄化の後処方Aで処理されたガラス表面に誘
引されるダスト量がよシ少いことが観察された0 実施例18 本実験は本発明の清浄組成物によシ処理したガラス表面
における残留フィルミングの減少もしくは除去を説明す
るものである0下記酸分を含有する清浄処方物を調製し
た0 処方A ミネラルスピリット 5.0イソプロパツー
ル 1Q、0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18ゼオライト
15Xはエアミルkかけて1.全結晶性アルきノシリケ
ート粒子の59b未満が直径5ミクロンよりも大きい粒
度を有する粒度分布としたものである。
シ滑らかな感触、例えばベルペットのような感触を示し
、清浄化の後処方Bで処理されたガラス表面との比較に
おいて、清浄化の後処方Aで処理されたガラス表面に誘
引されるダスト量がよシ少いことが観察された0 実施例18 本実験は本発明の清浄組成物によシ処理したガラス表面
における残留フィルミングの減少もしくは除去を説明す
るものである0下記酸分を含有する清浄処方物を調製し
た0 処方A ミネラルスピリット 5.0イソプロパツー
ル 1Q、0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18ゼオライト
15Xはエアミルkかけて1.全結晶性アルきノシリケ
ート粒子の59b未満が直径5ミクロンよりも大きい粒
度を有する粒度分布としたものである。
処方B
ミネラルスピリット 5.0イソプ四パノー
ル 10.0 テルギトールNP−9α15 カルボボール934 0.18水
74.68** ゼオライト15Xはエアミルにかけなかったものでアシ
、全結晶性アルミノシリケート粒子の5%よυ多くが直
径5ミクロンよりも大きい粒度でるる粒度分布を有する
ものであるO これらの処方を汚れたガラス表面圧対して適用した後ふ
き取った。ガラス表面は効果的に清浄化され、乾燥処方
Bの手ふきによるガラス表面からの除去後フィルミング
との比較において、乾燥処方Aの手ふきKよるガラス表
面からの除去後の残留フィルミングより少いことが観察
された。また、処方Aで処理されたガラス表面は清浄化
の後、より滑らかな感触、例えばベルペットのような感
触を示し、清浄化の後処方Bで処理されたガラス表面と
の比較において、清浄化の後処方Aで処理されたガラス
表面に誘引されるダスト量がよシ少いことが観察された
。
ル 10.0 テルギトールNP−9α15 カルボボール934 0.18水
74.68** ゼオライト15Xはエアミルにかけなかったものでアシ
、全結晶性アルミノシリケート粒子の5%よυ多くが直
径5ミクロンよりも大きい粒度でるる粒度分布を有する
ものであるO これらの処方を汚れたガラス表面圧対して適用した後ふ
き取った。ガラス表面は効果的に清浄化され、乾燥処方
Bの手ふきによるガラス表面からの除去後フィルミング
との比較において、乾燥処方Aの手ふきKよるガラス表
面からの除去後の残留フィルミングより少いことが観察
された。また、処方Aで処理されたガラス表面は清浄化
の後、より滑らかな感触、例えばベルペットのような感
触を示し、清浄化の後処方Bで処理されたガラス表面と
の比較において、清浄化の後処方Aで処理されたガラス
表面に誘引されるダスト量がよシ少いことが観察された
。
実施例19
本実験は本発明の清浄組成物により処理したガラス表面
における残留フィルミングの減少もしくは除去を説明す
るものである0下記酸分を含有する清浄処方物を調製し
た0 処方A ミネラルスピリット 5.0イソプロパツー
ル 10.0 テルギトールNP−9115 カルボポール934 0.18* ゼオライト4Aはエアミルにかけて、全結晶性アルミノ
シリケート粒子の5%未満が直径5電クロンよりも大き
い粒度を有する粒度分布としたものである。
における残留フィルミングの減少もしくは除去を説明す
るものである0下記酸分を含有する清浄処方物を調製し
た0 処方A ミネラルスピリット 5.0イソプロパツー
ル 10.0 テルギトールNP−9115 カルボポール934 0.18* ゼオライト4Aはエアミルにかけて、全結晶性アルミノ
シリケート粒子の5%未満が直径5電クロンよりも大き
い粒度を有する粒度分布としたものである。
処方B
ミネラルスピリット 5.0イソプロパツ
ール 10.0テルギトールNP−90,1
5 カルボボール934 0.18水
74.68林 ゼオライト13XはエアミルKかけなかったものであり
、全結晶性アルミノシリケート粒子の51よシ多くが直
径5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有する
ものであるO これらの処方を汚れたガラス表面に対して適用した後ふ
き取った0ガラス表面は効果的に清浄化され、乾燥処方
Bの手ふきによるガラス表面からの除去後残留フィルミ
ングとの比較において、乾燥処方Aの手ふきによるガラ
ス表面からの除去後の残留フィルミングより少いことが
観察された。
ール 10.0テルギトールNP−90,1
5 カルボボール934 0.18水
74.68林 ゼオライト13XはエアミルKかけなかったものであり
、全結晶性アルミノシリケート粒子の51よシ多くが直
径5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有する
ものであるO これらの処方を汚れたガラス表面に対して適用した後ふ
き取った0ガラス表面は効果的に清浄化され、乾燥処方
Bの手ふきによるガラス表面からの除去後残留フィルミ
ングとの比較において、乾燥処方Aの手ふきによるガラ
ス表面からの除去後の残留フィルミングより少いことが
観察された。
また、処方Aで処理されたガラス表面は清浄化の後、よ
り滑らかな感触、例えばベルペットのような感触を示し
、清浄化の後処方Bで処理されたガラス表面との比較に
おいて、清浄化の後処方Aで処理されたガラス表面1/
Cvj引されるダスト量がよシ少いことが観察された。
り滑らかな感触、例えばベルペットのような感触を示し
、清浄化の後処方Bで処理されたガラス表面との比較に
おいて、清浄化の後処方Aで処理されたガラス表面1/
Cvj引されるダスト量がよシ少いことが観察された。
実施例20
本実験は本発明の清浄組成物によシ処理したガラス表面
における残留フィルミングの減少もしくは除去を説明す
るものでめゐ。下記成分を含有する清浄処方物を調製し
た。
における残留フィルミングの減少もしくは除去を説明す
るものでめゐ。下記成分を含有する清浄処方物を調製し
た。
処方A
ミネラルスピリット sh。
イソプロパツール 10.0
テルギトールNP−90,15
カルボポール934 018水
74.68ゼオライト4A
Fiエアミルにかけて、全結晶性アルミノシリケート粒
子の3%未満が直径5ミクロンよりも大きい粒度を有す
る粒度分布としたものである。
74.68ゼオライト4A
Fiエアミルにかけて、全結晶性アルミノシリケート粒
子の3%未満が直径5ミクロンよりも大きい粒度を有す
る粒度分布としたものである。
処方ら
ミネラルスピリット 5.0イングロパノー
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18** ゼオライト4Aはエアミルにかけなかったものであシ、
全結晶性アルミノシリケート粒子の5%より多くが直径
5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有するも
のである。
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18** ゼオライト4Aはエアミルにかけなかったものであシ、
全結晶性アルミノシリケート粒子の5%より多くが直径
5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有するも
のである。
これらの処方を汚れたガラス表面に対して適用した後ふ
き取った。ガラス表面は効果的に清浄化され、乾燥処方
Bの手ふきKよるガラス表面からの除去後残留フィルミ
ングとの比較において、乾燥処方Aの手ふきによるガラ
ス表面からの除去後の残留フィルミングよシ少いことが
観察された。
き取った。ガラス表面は効果的に清浄化され、乾燥処方
Bの手ふきKよるガラス表面からの除去後残留フィルミ
ングとの比較において、乾燥処方Aの手ふきによるガラ
ス表面からの除去後の残留フィルミングよシ少いことが
観察された。
また、処方Aで処理されたガラス表面は清浄化の後、よ
り滑らかな感触、例えにベルペットのような感触を示し
、清浄化の後処方Bで処理されたガラス表面との比較に
おいて、清浄化の後処方Aで処理されたガラス表面kl
!引されるダスト鷲がよ〕少いことが観察された。
り滑らかな感触、例えにベルペットのような感触を示し
、清浄化の後処方Bで処理されたガラス表面との比較に
おいて、清浄化の後処方Aで処理されたガラス表面kl
!引されるダスト鷲がよ〕少いことが観察された。
実施例21
本実験は本発明の清浄剤で処理したガラス表面における
曇プの減少もしくは除去を説明するものである。下記成
分を含有する清浄処方物を調製したO 処方A ミネラルスピリット 5.0イングロパノー
ル 10.0 テルギトールNP−9115 カルボボール934 0.18水
74.68*ゼオライト
13Xはエアミルにかけて、全結晶性アルミノシリケー
ト粒子の3%未満が直径5ばり關ンよりも大きい粒度を
有する粒度分布としたものである。
曇プの減少もしくは除去を説明するものである。下記成
分を含有する清浄処方物を調製したO 処方A ミネラルスピリット 5.0イングロパノー
ル 10.0 テルギトールNP−9115 カルボボール934 0.18水
74.68*ゼオライト
13Xはエアミルにかけて、全結晶性アルミノシリケー
ト粒子の3%未満が直径5ばり關ンよりも大きい粒度を
有する粒度分布としたものである。
処方B
ミネラルスピリット 5.0イソプロパノ
−# 10.0テルギトールNP−9α15 カルボポール934 018林 ゼオライト4Aはエアミルにかけなかったものでメジ、
全結晶性アルミノシリケート粒子の51よシ多くが直径
5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有するも
のである。
−# 10.0テルギトールNP−9α15 カルボポール934 018林 ゼオライト4Aはエアミルにかけなかったものでメジ、
全結晶性アルミノシリケート粒子の51よシ多くが直径
5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有するも
のである。
これらの処方をガラス表面に適用した後ふき取った。次
いでガラス表面を曇ル状態とした(息の吐出し忙よる)
0処方Bで処理したガラス表面との比較において、処方
Aで処理したガラス表面の曇りの方がよシ少いことが観
察された。処方Bで処理されたガラス表面との比較にお
いて、処方Aで処理されたガラス表面からのあらゆる付
着した曇りの、よシ迅速な消散が観察された0実施例2
2 本実験は本発明の清浄剤で処理したガラス表面における
曇りの減少もしくは除去を説明するものである。下記成
分を含有する清浄処方物を調製した0 処方A 成 分 重n−チ* ゼオライト15X 10.0ミネラルスピリ
ツト 5.0イングロパノール 1
0.0 テルギトールNP−9115 カルボボール934 0.18* ゼオライト15Xはエアミルにかけて、全結晶性アルミ
ノシリケート粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも大
きい粒度を有する粒度分布としたものである。
いでガラス表面を曇ル状態とした(息の吐出し忙よる)
0処方Bで処理したガラス表面との比較において、処方
Aで処理したガラス表面の曇りの方がよシ少いことが観
察された。処方Bで処理されたガラス表面との比較にお
いて、処方Aで処理されたガラス表面からのあらゆる付
着した曇りの、よシ迅速な消散が観察された0実施例2
2 本実験は本発明の清浄剤で処理したガラス表面における
曇りの減少もしくは除去を説明するものである。下記成
分を含有する清浄処方物を調製した0 処方A 成 分 重n−チ* ゼオライト15X 10.0ミネラルスピリ
ツト 5.0イングロパノール 1
0.0 テルギトールNP−9115 カルボボール934 0.18* ゼオライト15Xはエアミルにかけて、全結晶性アルミ
ノシリケート粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも大
きい粒度を有する粒度分布としたものである。
処方B
ミネラルスピリット 5.0イングロパノー
ル 1Q、0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18ゼオライト
15Xはエアミルにかけなかったものでロシ、全結晶性
アルミノシリケート粒子の5esより多くが直径5ミク
ロンよりも大きい粒度である粒度分布を有するものであ
る0 これらの処方をガラス表面に適用した後ふき取った。次
でガラス表面を曇り状態とした(息の吐出しKよる)0
処方Bで処理されたガラス表面との比較において、処方
Aで処理されたガラス表面の曇りの方がより少いことが
観察された。処方Bで処理されたガラス表面との比較に
おいて、処方Aで処理されたガラス表面からのあらゆる
付着した曇りの、よ)迅速な消散が観察された0実施例
23 本実験は本発明の清浄剤で処理したガラス表面における
曇シの減少もしくは除去を説明するものでおる。下記成
分を含有する清浄処方物を調製した0 処方A ミネラルスピリット 5.0イソプロパツー
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボポール934 1118* ゼオライト4Aはエアミルにかけて、全結晶性アルミノ
シリケート粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも大き
い粒度を有する粒度分布としたものである。
ル 1Q、0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18ゼオライト
15Xはエアミルにかけなかったものでロシ、全結晶性
アルミノシリケート粒子の5esより多くが直径5ミク
ロンよりも大きい粒度である粒度分布を有するものであ
る0 これらの処方をガラス表面に適用した後ふき取った。次
でガラス表面を曇り状態とした(息の吐出しKよる)0
処方Bで処理されたガラス表面との比較において、処方
Aで処理されたガラス表面の曇りの方がより少いことが
観察された。処方Bで処理されたガラス表面との比較に
おいて、処方Aで処理されたガラス表面からのあらゆる
付着した曇りの、よ)迅速な消散が観察された0実施例
23 本実験は本発明の清浄剤で処理したガラス表面における
曇シの減少もしくは除去を説明するものでおる。下記成
分を含有する清浄処方物を調製した0 処方A ミネラルスピリット 5.0イソプロパツー
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボポール934 1118* ゼオライト4Aはエアミルにかけて、全結晶性アルミノ
シリケート粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも大き
い粒度を有する粒度分布としたものである。
処方B
ミネラルスピリット 5.0イングロパノー
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18水
74.68本本 ゼオライト13Xはエアミルにかけなかったものであり
、全結晶性アルミノシリケート粒子の5%よシ多くが直
径5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有する
ものであるO これらの処方をガラス表面に適用した後ふき取った。次
いでガラス表面を曇シ状態とした(息の吐出しkよる)
0処方Bで処理されたガラス表面との比較において、処
方Aで処理されたガラス表面の曇シの方がよル少いこと
が観察された。処方Bで処理されたガラス表面との比較
において、処方Aで処理されたガラス表面からのあらゆ
る付着した曇りの、よシ迅速な消散がkJlSされた○
実施例24 ・ 本実験は本発明の清浄剤で処理したガラス表面にお
ける曇りの減少もしくは除去を説明するものである。下
記成分を含有する清浄処方物を調製した0 処方A ミネラルスピリット 5.0イソプロパツー
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 [118* ゼオライト4Aはエアミルにかけて、全結晶性チルミノ
シリケート粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも大き
い粒度を有する粒度分布としたものである。
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18水
74.68本本 ゼオライト13Xはエアミルにかけなかったものであり
、全結晶性アルミノシリケート粒子の5%よシ多くが直
径5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有する
ものであるO これらの処方をガラス表面に適用した後ふき取った。次
いでガラス表面を曇シ状態とした(息の吐出しkよる)
0処方Bで処理されたガラス表面との比較において、処
方Aで処理されたガラス表面の曇シの方がよル少いこと
が観察された。処方Bで処理されたガラス表面との比較
において、処方Aで処理されたガラス表面からのあらゆ
る付着した曇りの、よシ迅速な消散がkJlSされた○
実施例24 ・ 本実験は本発明の清浄剤で処理したガラス表面にお
ける曇りの減少もしくは除去を説明するものである。下
記成分を含有する清浄処方物を調製した0 処方A ミネラルスピリット 5.0イソプロパツー
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 [118* ゼオライト4Aはエアミルにかけて、全結晶性チルミノ
シリケート粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも大き
い粒度を有する粒度分布としたものである。
処方B
ミネラルスピリット 、5.0イングロパノ
ール 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18水
74.68** ゼオライト4Aはエアミルにかけなかったものであり、
全結晶性アルミノシリケート粒子の5Toより多くが直
径5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有する
ものである。
ール 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18水
74.68** ゼオライト4Aはエアミルにかけなかったものであり、
全結晶性アルミノシリケート粒子の5Toより多くが直
径5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有する
ものである。
これらの処方をガラス表面に適用した後ふき取った。次
いでガラス表面を曇り状態とした(息の吐出しによる)
0処方Bで処理されたガラス表面との比較において、処
方Aで処理されたガラス表面の曇りの方がより少いこと
が観察された。処方Bで処理されたガラス表面との比較
において、処方Aで処理されたガラス表面からのあらゆ
る付着した曇りの、より迅速な消散が麹察された。
いでガラス表面を曇り状態とした(息の吐出しによる)
0処方Bで処理されたガラス表面との比較において、処
方Aで処理されたガラス表面の曇りの方がより少いこと
が観察された。処方Bで処理されたガラス表面との比較
において、処方Aで処理されたガラス表面からのあらゆ
る付着した曇りの、より迅速な消散が麹察された。
実施例25
本実験は本発明の清浄組成物によシ処理したガラスに付
与された改良された湿潤性を説明するものである。下記
成分を含有するガラス清浄組成物を調製した。
与された改良された湿潤性を説明するものである。下記
成分を含有するガラス清浄組成物を調製した。
処方A
ミネラルスピリット 5.0イングロパノー
ル 1Q、0 テルギトールNP−9α15 カルボボール934 0.18水
74.68木 ゼオライト15Xはエアミルにかけて、全結晶性アルミ
ノシリケート粒子の3%未満が直径5ミクロンよりも大
きい粒度を有する粒度分布としたものである。
ル 1Q、0 テルギトールNP−9α15 カルボボール934 0.18水
74.68木 ゼオライト15Xはエアミルにかけて、全結晶性アルミ
ノシリケート粒子の3%未満が直径5ミクロンよりも大
きい粒度を有する粒度分布としたものである。
処方B
ミネラルスピリット 5.0イングロパノー
ル 10.0 テルキトールNP−90,15 カルボボール934 a18** ゼオライト4Aはエアミルにかけなかったものでアシ、
全結晶性アルミノシリケート粒子の5%よシ多くが直径
5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有するも
のである。
ル 10.0 テルキトールNP−90,15 カルボボール934 a18** ゼオライト4Aはエアミルにかけなかったものでアシ、
全結晶性アルミノシリケート粒子の5%よシ多くが直径
5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有するも
のである。
これらの処方液を凍結し、再解凍し、水平にしたガラス
表面に適用した後ふき取った。次で水平ガラス表面に測
定された均一な数滴の水を適用した。処方Bで処理され
たガラス表面との比較において、処方Aで処理された水
平ガラス表面は高められた湿潤力もしくは卓越した親水
性(ガラス上において水による被覆面積がよシ大きいこ
と)を示すことが観察された。また、処方Aで処理され
たガラス表Ell Id清浄化の後、処方Bで処理され
たガラス表面のfk hI化の後との比較においてよ如
滑らかな感触、例えはベルペットのような感触を示した
。
表面に適用した後ふき取った。次で水平ガラス表面に測
定された均一な数滴の水を適用した。処方Bで処理され
たガラス表面との比較において、処方Aで処理された水
平ガラス表面は高められた湿潤力もしくは卓越した親水
性(ガラス上において水による被覆面積がよシ大きいこ
と)を示すことが観察された。また、処方Aで処理され
たガラス表Ell Id清浄化の後、処方Bで処理され
たガラス表面のfk hI化の後との比較においてよ如
滑らかな感触、例えはベルペットのような感触を示した
。
実施例26
本実貌は本発明の清浄組成物により処理したガラスに付
与された改良された湿潤性を説明するものである。下記
成分を含有するガラス清浄組成物を調製した。
与された改良された湿潤性を説明するものである。下記
成分を含有するガラス清浄組成物を調製した。
処方A
成 分 重′!iチ*
ゼオライト13X 10.0ミネラルスピ
リツト 5.0イソプロパツール
10.0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18水
74.68ゼオライト
15Xはエアミルにかけて、全結晶性アルミノシリケー
ト粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも大きい粒度を
有する粒度分布としたものである。
リツト 5.0イソプロパツール
10.0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18水
74.68ゼオライト
15Xはエアミルにかけて、全結晶性アルミノシリケー
ト粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも大きい粒度を
有する粒度分布としたものである。
処方B
ミネラルスピリット 5゜0イソプロパツー
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18水
74.68** ゼオライト4Aはエアミルにかけなかったものでめり、
全結晶性アルミノシリケート粒子の5チよシ多くが直径
5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有するも
のである0これらの処方液を凍結し、再解凍し、垂直ガ
ラス六面1/Cm用した後ふき取った0次で垂直ガラス
表面に水を適用した0処方BでIA理されたガラス性(
ガラス上1tCおける均一で完全な水の広がυ)を示す
ことが観察されたofた、処方Aで処理されたガラス表
面は清浄化の後、処方Bで処理されれたガラス表面の清
浄化の後との比較においてより滑らかな感触、例えばベ
ルペットのような感触を示した0 実施例27 本実験は本発明の表面清浄剤/&fき開祖放物を得る上
で重要な特別の混合シーケンスについて説明するもので
ある。
ル 10.0 テルギトールNP−90,15 カルボボール934 0.18水
74.68** ゼオライト4Aはエアミルにかけなかったものでめり、
全結晶性アルミノシリケート粒子の5チよシ多くが直径
5ミクロンよりも大きい粒度である粒度分布を有するも
のである0これらの処方液を凍結し、再解凍し、垂直ガ
ラス六面1/Cm用した後ふき取った0次で垂直ガラス
表面に水を適用した0処方BでIA理されたガラス性(
ガラス上1tCおける均一で完全な水の広がυ)を示す
ことが観察されたofた、処方Aで処理されたガラス表
面は清浄化の後、処方Bで処理されれたガラス表面の清
浄化の後との比較においてより滑らかな感触、例えばベ
ルペットのような感触を示した0 実施例27 本実験は本発明の表面清浄剤/&fき開祖放物を得る上
で重要な特別の混合シーケンスについて説明するもので
ある。
手1’141
水74.53 tの入ったフラスコ中にカルボボール0
、18 Fを加え、完全に酊解するまで約1時間攪拌を
続けた。攪拌を続けながら、この溶液にゼオライト15
X(全ゼオライト15X粒子の596未満が直径で5ミ
クロンよりも大きい粒度を有しているもの)10.Of
を徐々に加えた。得られた混合物にイソプロパツール6
.72を加え、その後ミネラルスピリット35 f、イ
ソプロパツール3.5f及■ びテルギトールNP−9を含む混合物を、攪拌を続けな
がら約30分間にわたり添加した。得られた本発明の表
面清浄剤/賠き開祖放物は1.058−の密度を有して
いた〇 手順… 水74.55fの入ったフラスコ中にカルボボールα1
8fを加え、完全に溶解するまで約1時間攪拌を続けた
。得られた溶液にイソプロパツール6.72を加え、そ
の後ミネラルスピリツ) 3.3f。
、18 Fを加え、完全に酊解するまで約1時間攪拌を
続けた。攪拌を続けながら、この溶液にゼオライト15
X(全ゼオライト15X粒子の596未満が直径で5ミ
クロンよりも大きい粒度を有しているもの)10.Of
を徐々に加えた。得られた混合物にイソプロパツール6
.72を加え、その後ミネラルスピリット35 f、イ
ソプロパツール3.5f及■ びテルギトールNP−9を含む混合物を、攪拌を続けな
がら約30分間にわたり添加した。得られた本発明の表
面清浄剤/賠き開祖放物は1.058−の密度を有して
いた〇 手順… 水74.55fの入ったフラスコ中にカルボボールα1
8fを加え、完全に溶解するまで約1時間攪拌を続けた
。得られた溶液にイソプロパツール6.72を加え、そ
の後ミネラルスピリツ) 3.3f。
イック。パ/−#3.5F及びfヤギトーヤ、2−2■
を含む混合物を、攪拌を続けながら添加した0この混合
物にゼオライト1!IX(全ゼオライト13X粒子の5
ts未満が直径で5ミクロンよりも大きい粒度を有して
いるもの) i o、 o rを攪拌を続けながら約3
0分間にわたり徐々に添加した。得られた組成物は0.
986f/1ttlの密度を有していた。
を含む混合物を、攪拌を続けながら添加した0この混合
物にゼオライト1!IX(全ゼオライト13X粒子の5
ts未満が直径で5ミクロンよりも大きい粒度を有して
いるもの) i o、 o rを攪拌を続けながら約3
0分間にわたり徐々に添加した。得られた組成物は0.
986f/1ttlの密度を有していた。
手順lで調製された本発明の表面清浄剤/磨き開祖放物
は、手順■によシ調製された組成物との比較において、
使用に際してよシ均質であシ、120’Fの温度におい
て2日間にわたるオープン中での貯蔵後もより低い分離
を示した。
は、手順■によシ調製された組成物との比較において、
使用に際してよシ均質であシ、120’Fの温度におい
て2日間にわたるオープン中での貯蔵後もより低い分離
を示した。
特許出願人 ユニ第4カーバイト(コーポレーション
代理人 高 木 六 V鴬 手 続 補 正 書 昭和〆3年 3月 3日
代理人 高 木 六 V鴬 手 続 補 正 書 昭和〆3年 3月 3日
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、(i)水、炭素原子1〜5個を有する一価アルコー
ル、及びそれらの混合物から選択される揮発性液体キャ
リヤーと、(ii)ゼオライトA、ゼオライトX、ゼオ
ライトY、ゼオライトP及びそれらの混合物から選択さ
れる、研磨材としての結晶性アルミノシリケートとを包
含して成り、この場合、前記結晶性アルミノシリケート
は(a)高められた湿潤性を与え、(b)高められた分
散安定性を与え、(c)高められた防曇性を与え、(d
)残留フイルミングを減少させ、もしくは排除し、かつ
/又は(e)表面除去中におけるダストを減少させ、も
しくは排除するのに十分な粒度分布を有するものである
表面清浄剤/磨き剤組成物。 2、結晶性アルミノシリケートが、全結晶性アルミノシ
リケート粒子の5%未満が直径5ミクロンよりも大きい
粒度を有する粒度分布を有する請求項1記載の表面清浄
剤/磨き剤組成物。 3、結晶性アルミノシリケートが、全結晶性アルミノシ
リケート粒子の4%未満が直径5ミクロンよりも大きい
粒度を有する粒度分布を有する請求項1記載の表面清浄
剤/磨き剤組成物。 4、結晶性アルミノシリケートが、全結晶性アルミノシ
リケート粒子の3%未満が直径5ミクロンよりも大きい
粒度を有する粒度分布を有する請求項1記載の表面清浄
剤/磨き剤組成物。 5、結晶性アルミノシリケートが、全結晶性アルミノシ
リケート粒子の2%未満が直径5ミクロンよりも大きい
粒度を有する粒度分布を有する請求項1記載の表面清浄
剤/磨き剤組成物。 6、結晶性アルミノシリケートが、全結晶性アルミノシ
リケート粒子の1%未満が直径5ミクロンよりも大きい
粒度を有する粒度分布を有する請求項1記載の表面清浄
剤/磨き剤組成物。 7、結晶性アルミノシリケートをエアミルにかけて、全
結晶性アルミノシリケート粒子の5%未満が直径5ミク
ロンよりも大きい粒度を有する粒度分布とする請求項1
記載の表面清浄剤/磨き剤組成物。 8、結晶性アルミノシリケートをエアミルにかけて、全
結晶性アルミノシリケート粒子の4%未満が直径5ミク
ロンよりも大きい粒度を有する粒度分布とする請求項1
記載の表面清浄剤/磨き剤組成物。 9、結晶性アルミノシリケートをエアミルにかけて、全
結晶性アルミノシリケート粒子の3%未満が直径5ミク
ロンよりも大きい粒度を有する粒度分布とする請求項1
記載の表面清浄剤/磨き剤組成物。 10、結晶性アルミノシリケートをエアミルにかけて、
全結晶性アルミノシリケート粒子の2%未満が直径5ミ
クロンよりも大きい粒度を有する粒度分布とする請求項
1記載の表面清浄剤/磨き剤組成物。 11、結晶性アルミノシリケートをエアミルにかけて、
全結晶性アルミノシリケート粒子の1%未満が直径5ミ
クロンよりも大きい粒度を有する粒度分布とする請求項
1記載の表面清浄剤/磨き剤組成物。 12、揮発性液体キャリヤーが水である請求項1記載の
表面清浄剤/磨き剤組成物。 13、揮発性液体キャリヤーが炭素原子1〜5個を有す
る一価アルコールである請求項1記載の表面清浄剤/磨
き剤組成物。 14、一価アルコールがイソプロパノールである請求項
15記載の表面清浄剤/磨き剤組成物。 15、揮発性液体キャリヤーが、水と、炭素原子1〜5
個を有する一価アルコールと、ミネラルスピリットとの
混合物である請求項1記載の表面清浄剤/磨き剤組成物
。 16、揮発性液体キャリヤーが組成物の全重量を基準に
して約50重量%ないし約95重量%の量において存在
する請求項1記載の表面清浄剤/磨き剤組成物。 17、結晶性アルミノシリケートがゼオライトAである
請求項記載の表面清浄剤/磨き剤組成物。 18、結晶性アルミノシリケートがゼオライトXである
請求項1記載の表面清浄剤/磨き剤組成物。 19、結晶性アルミノシリケートがゼオライトYである
請求項1記載の表面清浄剤/磨き剤組成物。 20、結晶性アルミノシリケートがゼオライトPである
請求項1記載の表面清浄剤/磨き剤組成物。 21、結晶性アルミノシリケートがゼオライト13Xで
ある請求項1記載の表面清浄剤/磨き剤組成物。 22、結晶性アルミノシリケートがゼオライト4Aであ
る請求項1記載の表面清浄剤/磨き剤組成物。 23、結晶性アルミノシリケートが組成物の全重量を基
準にして約0.1重量%ないし約30重量%の量におい
て存在する請求項1記載の表面清浄剤/磨き剤組成物。 24、結晶性アミノシリケートが組成物の全重量を基準
にして約0.5重量%ないし約20重量%の量において
存在する請求項1記載の表面清浄剤/磨き剤組成物。 25、更に界面活性剤を包含する請求項1記載の表面清
浄剤/磨き剤組成物。 26、更に増粘剤又は懸濁助剤を包含する請求項1記載
の表面清浄剤/磨き剤組成物。 27、更に香料を包含する請求項1記載の表面清浄剤/
磨き剤組成物。 28、更にアンモニウムを包含する請求項1記載の表面
清浄剤/磨き剤組成物。 29、約70重量%ないし約80重量%の量における水
と、約5重量%ないし約15重量%の量におけるイソプ
ロパノールと、約1重量%ないし約10重量%の量にお
けるミネラルスピリットと、約5重量%ないし約15重
量%の量におけるゼオライト13Xと、約0.10重量
%ないし約0.20重量%の量におけるテルギトールN
P−9(商標)と、約0.15重量%ないし約0.20
重量%の量におけるカルボボール934(商標)と、約
0.10重量%ないし約0.20重量%の量における香
料とを包含し、ここに前記重量%は組成物の全重量を基
準とするものである請求項1記載の表面清浄剤/磨き剤
組成物。 30、硬質表面清浄剤である請求項1記載の表面清浄剤
/磨き剤組成物。 31、ガラス清浄剤である請求項1記載の表面清浄剤/
磨き剤組成物。 32、窓清浄剤及び防曇剤である請求項1記載の表面清
浄剤/磨き剤組成物。 33、非塗装表面に対する研摩助剤である請求項1記載
の表面清浄剤/磨き剤組成物。 34、請求項1記載の表面清浄剤/磨き剤組成物を硬質
表面に塗布し、次いで前記組成物をふき取ることを包含
して成る硬質表面の清浄方法。 35、請求項1記載の表面清浄剤/磨き剤組成物をガラ
スに塗布し、次いで前記組成物をふき取ることを包含し
て成るガラスの清浄方法。 36、請求項1記載の表面清浄剤/磨き剤組成物を窓に
塗布し、次いで前記組成物をふき取ることを包含して成
る窓の清浄方法。 37、請求項1記載の表面清浄剤/磨き剤組成物を非塗
装表面に塗布し、次いで前記組成物をふき取ることを包
含して成る非塗装表面の研摩方法。 38、(i)水、炭素原子1〜5個を有する一価アルコ
ール及びそれらの混合物から選択される揮発性液体キャ
リヤーと、(ii)ゼオライトA、ゼオライトX、ゼオ
ライトY、ゼオライトP及びそれらの混合物から選択さ
れる結晶性アルミノシリケートとを含有する表面清浄剤
/磨き剤組成物において、結晶性アルミノシリケートと
して(a)高められた湿潤性を与え、(b)高められた
分散安定性を与え、(c)高められた防曇性を与え、(
d)残留フイルミングを減少させ、もしくは排除し、か
つ/又は(e)表面除去中におけるダストを減少させ、
もしくは排除する、のに十分な粒度分布を有する結晶性
アルミノシリケートを使用することを包含して成る、改
良された前記組成物。 39、結晶性アルミノシリケートをエアミルにかける請
求項38記載の表面清浄剤/磨き剤組成物。 40、(i)増粘剤又は懸濁助剤を水中に溶解させ;(
ii)ゼオライトA、ゼオライトX、ゼオライトY、ゼ
オライトP及びそれらの混合物から選択される結晶性ア
ルミノシリケートを、前記(i)中において混合し、こ
の場合前記結晶性アルミノシリケートは(a)高められ
た湿潤性を与え、(b)高められた分散安定性を与え、
(c)高められた防曇性を与え、(d)残留フイルミン
グを減少させ、もしくは排除し、かつ/又は(e)表面
除去中におけるダストを減少させ、もしくは排除する、
のに十分な粒度分布を有するものとし; (iii)一価アルコールを前記(ii)中において混
合し;次いで (iv)一価アルコール、石油留出物及び界面活性剤を
前記(iii)中において一緒に混合する、ことを包含
して成る表面清浄剤/磨き剤組成物の製造方法。 41、請求項40記載の方法によつて製造される表面清
浄剤/磨き剤組成物。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US066,062 | 1987-06-24 | ||
| US07/066,062 US5057152A (en) | 1987-06-24 | 1987-06-24 | Surface cleaner/polish compositions and a process for the preparation thereof |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0198698A true JPH0198698A (ja) | 1989-04-17 |
Family
ID=22067018
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63153685A Pending JPH0198698A (ja) | 1987-06-24 | 1988-06-23 | 表面清浄剤/磨き剤組成物及びその製造方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5057152A (ja) |
| EP (1) | EP0296599A3 (ja) |
| JP (1) | JPH0198698A (ja) |
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| CN119350976A (zh) * | 2024-12-24 | 2025-01-24 | 江苏集萃催化材料有限公司 | 包含分子筛颗粒的化学机械抛光液 |
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-
1988
- 1988-06-23 JP JP63153685A patent/JPH0198698A/ja active Pending
- 1988-06-23 EP EP88110047A patent/EP0296599A3/en not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001139935A (ja) * | 1999-11-12 | 2001-05-22 | Cheil Ind Co Ltd | 研磨用組成物 |
| JP2010512657A (ja) * | 2006-12-22 | 2010-04-22 | テクノ セミケム シーオー., エルティーディー. | ゼオライトを含有する銅化学機械的研磨組成物 |
| JP2021147445A (ja) * | 2020-03-17 | 2021-09-27 | ジークライト株式会社 | 研磨材及び研磨組成物 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5057152A (en) | 1991-10-15 |
| EP0296599A2 (en) | 1988-12-28 |
| EP0296599A3 (en) | 1990-06-13 |
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