JPH0198913A - 測距用受光センサー - Google Patents

測距用受光センサー

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JPH0198913A
JPH0198913A JP25693387A JP25693387A JPH0198913A JP H0198913 A JPH0198913 A JP H0198913A JP 25693387 A JP25693387 A JP 25693387A JP 25693387 A JP25693387 A JP 25693387A JP H0198913 A JPH0198913 A JP H0198913A
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JP
Japan
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light
distance
subject
distance measurement
light receiving
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Pending
Application number
JP25693387A
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English (en)
Inventor
Takaaki Kotani
高秋 小谷
Seiji Takada
誠司 高田
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Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はアクティブタイプの測距装置に用いられる受光
センサーに関するものである。
〔従来の技術〕
最近のコンパクトカメラに多用されているアクティブタ
イプの測距装置では、被写体に向けて測距用の光ビーム
を投射し、この光ビームのうちの被写体からの反射光を
受光センサーで受けるようにしている。受光センサーは
、複数個の微少な受光素子を基線長方向に配列したもの
で、そのいずれの受光素子に被写体からの反射光が入射
したかを電気的に識別し、被写体距離に対応した測距信
号を得るようにしている。
特公昭55−33005号公報記載の測距装置では、基
線長方向に複数個の受光素子を配列するとともに各々の
受光素子に一定の参照電位を与えておき、この参照電位
との比較によっていずれの受光素子に反射光が入射した
かを検出して測距信号を得るようにしている。
また特開昭54−119267号公報に記載された測距
装置においては、前述のように配列された受光素子のい
ずれに被写体からの反射光が入射したかを識別するだけ
でなく、隣接した2個あるいは3個の受光素子にまたが
って反射光が入射した場合には、個々の受光素子に入射
したときの中間の被写体距離に対応した測距信号を検出
できるように工夫されている。
さらに、特開昭56−29112号公報記載の測距装置
では、複数の受光素子から光電出力が現れたときには、
受光素子の各々に接続されたコンパレータの基準電圧を
、光電出力の最大レベルのものを基準にして変えること
によって、クロストーク等の影響による偽信号の発生を
回避するようにしている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところが、特公昭55−33005号公報の測距装置に
おいては、遠距離被写体からの微弱な反射光を受光する
遠距離側の受光素子に合わせて参照電位を決めておくと
、近距離側の受光素子に強い反射光が入射したときには
、特定の受光素子だけでなく、これに隣接した受光素子
からもクロストーク等の影響による偽信号が発生され、
誤測距しやすくなるという欠点がある。
また、特開昭54−119267号公報の測距装置では
、被写体からの反射光が隣接した2個の受光素子に入射
したときには、この2個の受光素子の各々から受光信号
「1」が出力されるようにしなくてはならない。したが
って、3個並んだ受光素子のうちの中央の受光素子は、
その1個だけに反射光が入射したときの他に、各々両側
の受光素子にまたがって反射光が入射した状態も含め、
ある距離範囲にわたってその受光素子から受光信号「I
Jが出力されるようにしなくてはならない6しかしなが
ら、前記距離範囲の上限と下限では入射光強度が変化す
るのが通常であるため、実際には複数の受光素子を単に
配列しただけでは良好な測距機能を得ることができない
さらに、特開昭56−29112号公報の測距装置では
、受光センサーに接続して用いられる信号処理回路の構
成が複雑になり、コストが高(なるという難点がある。
〔発明の目的〕
本発明は以上のような従来技術の問題点を解決するため
になされたもので、被写体距離の遠近に伴う反射光強度
の変化や、クロストーク等の影響に左右されることがな
く、しかも信号処理回路を複雑化させることがない測距
用受光センサーを提供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は上記目的を達成するために、被写体からの反射
光を受光し、その受光位置に対応した測距信号を出力す
る受光センサーを構成するにあたり、測距対象となる被
写体距離範囲を複数の測距−4〜 エリアに分割し、これらの測距エリアに対応するように
複数の受光素子を基線長方向に配列して受光センサーを
構成し、基線長方向におけるこれらの受光素子の各々の
幅を、対応する測距エリアの最遠位置にある被写体から
の反射光が入射したときと、その測距エリアの最短位置
にある被写体からの反射光が入射したときとで、同じ出
力レベルの光電出力が得られるような幅に設定したもの
である。
〔作用〕
上記の構成によれば、特定の受光素子に被写体からの反
射光が入射した場合、その受光素子に対応する測距エリ
アのどの距離位置に被写体があったとしても、その測距
エリアの最短位置あるいは最遠位置に被写体があったと
きの光電出力よりも大きい光電出力が得られるようにな
るから、被写体距離にかかわらず確実に一定出力レベル
以上の光電出力が得られるようになる。
以下、図面を参照して本発明の一実施例について説明す
る。
〔実施例〕
本発明の受光センサーを利用した測距光学系の概略を示
す第2図において、投光部2は、近赤外光を放射する放
電管3.放電管3からの光をスリット状に整形するスリ
ット板4.投光レンズ5とからなる。また受光部7は、
受光レンズ8.受光センサー9とから構成されている。
投光レンズ5と受光レンズ8の各々の光軸5a、8aは
、撮影レンズ10の光軸10aと平行となっており、基
線長しだけ隔てられている。受光センサー9は、詳しく
は後述するように、横長矩形の微少な受光素子81〜S
6を基線長し方向に配列してなるものである。
投光部2から被写体に向けてスリット光を照射したとき
、その一部の光が近距離被写体12で反射されると、そ
の反射光12aは受光レンズ8を通して受光素子S3に
入射する。また、中距離被写体13あるいは遠距離被写
体14からスリット光の一部が反射されると、反射光1
3a、14aのそれぞれは受光素子32.SLに入射す
るようになる。したがって受光センサー9のうちで、ど
の受光素子に被写体からの反射光が入射したかを検出す
ることによって被写体距離を求めることができる。なお
、このように測距用の光ビームとしてスリット光を用い
ると、主要被写体を撮影画面の中央部から外した状態で
もこれに測距用の光ビームが照射されるようになり、測
距時における照準操作や測距の後にフレーミングをし直
すという面倒な操作をしなくても済むようになるが、ス
リット光の代わりにスポット光を投射して測距を行うこ
ともできる。
第3図は至近距離から無限遠までの距離範囲について、
撮影レンズ10をセットし得る位置を表したもので、撮
影レンズ10は、0.855m。
0.935m、1.05m・・・・5.86mを最適合
焦位置とする10個所にセットされる。ここで、許容錯
乱円の径を0.025mmに設定した場合、撮影レンズ
10のセット位置が0.855mの位置であったとして
も、0.807〜0゜893mの距離範囲を合焦範囲と
見做すことがで=7− きる。
このように撮影レンズ10のセット位置を設定したとき
、受光素子5l−36が分担する測距エリアR1〜R6
は下表のとおりである。
上表から明らかなように、測距エリアR1〜R5は部分
的に重なり合ついる。したがって、この重なり合った被
写体距離、例えば1.5mの距離位置にある被写体から
の反射光は受光素子S2゜S3の両方に入射し、受光素
子S2.S3から光電出力が得られることになる。なお
受光素子S6は近距離警告用に用いられ、この受光素子
S6だけに光電出力が現れたときには、これが警告信号
として用いられる。
第4図に示したように、前記受光センサー9は信号処理
回路15に接続して用いられる。信号処理回路15は、
例えば第5図に示したような回路構成となっており、受
光素子S1〜S6からの各光電流信号は、それぞれ初段
のオペアンプによって電圧信゛号に変換される。この電
圧信号には直流成分、すなわち太陽光等の外光による光
電信号も含まれているが、初段のオペアンプの出力端に
はそれぞれ低周波成分カット用のコンデンサが接続され
ているから、次段のオペアンプには光電信号のうちの高
周波成分だけが入力される。次段のオペアンプによって
それぞれ一定の増幅率で増幅された光電出力は、それぞ
れコンパレータ17a〜17fの信号入力端に供給され
る。
前記コンパレータ17a〜17fの参照電圧入力端には
、分圧農工8によって得られた参照電圧Vr+〜Vr6
が印加されている。この参照電圧Vr+〜■r6は、被
写体距離が遠くなる程被写体からの反射光が弱く、その
光電出力も小さくなることを考慮し、■rIくvr2〈
・・〈vr6となるように決められている。これにより
、受光素子81〜S6のいずれかに被写体からの反射光
が入射すると、これに対応したコンパレータ17a〜1
7fの出力端には信号出力「1」が現れ、反射光の入射
がなかったものには信号出力「o」が現れるようになる
ところで前述のように、受光素子31〜S5は、それぞ
れ一定の幅をもった測距エリアR1−R5内にある被写
体からの反射光を受光し、これに応じてコンパレータ1
7a〜17fの出力端に信号出力「1」を出しさせるよ
うな光電出力を得なくてはならない。このため、受光素
子31〜S5の基線長り方向の幅DI−D5は、第1図
に示したようにして決定される。第1図において、受光
素子S1の右端は、測距エリアR1の最遠位置である4
、27mに被写体があるときの反射光を検出できる位置
に決められる。このときの光電出力の検出レベルは、信
号処理回路15の第2段のオペアンプ出力がノイズレベ
ルよりも2〜3倍大きくなるレベルとして設定される。
こうして受光素子S1の右端を決めた後は、被写体を測
距エリアR1の最近位置である2、19mに移動させ、
最初の検出レベルと等しい光電出力を得ることができる
ところで受光素子S1の左端を決め、これにより幅D1
を決定する。これは、例えば受光素子S1の右端の位置
を決めてからテスト被写体を4.27mの位置に移動し
た後、受光素子S1の前面を覆ったマスクを基線長し方
向に開いてゆき、前記検出レベルの光電出力が得られた
ときのマスクの移動量と一致する。もちろん、このよう
なシミュレーションを行う代わりに、コンピュータ解析
によって幅D1を求めることも可能である。
こうして受光素子S1の幅D1を決定した後は、次の受
光素子S2の右端を受光素子S1の左端に近接させ、被
写体を測距エリアR2の最遠位置すなわち2.86mの
位置におく。そして、そのときの光電出力の検出レベル
を測定した後、被写体を測距エリアR2の最近位置1.
46mに移動して、そのときの光電出力が前記測定され
た検出レベルに一致するところで受光素子S2の最近側
の端部を決める。これにより受光素子S2の幅D2が決
定され、以下同様にして受光素子S3〜S5の各幅D3
〜D5を決める。なお、受光素子81〜S5を密着させ
ずに、各々の境界部に適宜の隙間を設けることも可能で
ある。
前記コンパレータ17a〜11fの出力端に現れる2値
化された信号出力A1〜A6は、AF制御回路20に供
給される。第6図はAF制御回路20の一例を示してい
る。このAF制御回路20は、例えばシャッタボタンの
半押しによって作動される。電源■。Cが印加されると
、この電源VCCの安定を待ってリセットパルス発生回
路23からリセットパルスが出力され、これによりアン
ドゲート24の開閉を制御するRSフリップフロップ回
路FFOがリセットされ、ζ端子に信号「1」が現れ、
アンドゲート24がオープンされる。
第4図のマイクロコンピュータ22は、シャツタボタン
の半押し信号が入力されてから100m5ecの遅延の
後、AF制御回路20にクロックパルスを出力する。こ
のクロックパルスは、アンドゲート24を通ってカウン
タ25に供給される。
カウンタ25にはデコーダ26が接続され、デコーダ2
6はカウンタ25でのクロックパルスの計数値に対応し
て測距シーケンスをコントロールする。デコーダ26は
、信号処理回路15からの信号出力AI−A6をラッチ
するためのDフリップフ回路1回路DFF 1〜DFF
6 (以下、それぞれ単にDFFI〜DFF6と記す)
、及びシフトレジスタ28をリセットする。その後、A
F)リガパルスをストロボ制御回路29に出力する。
ストロボ制御回路29は第8図のように構成されており
、端子T、に前記AF)リガパルスが供給されることに
よって放電管3が発光する。AFトリガパルスが出力さ
れた後、放電管3からのストロボ光がピークに達するま
での所定時間分のクロックパルスがカウンタ25によっ
て計数されると、前記ストロボ光の立ち上がり時間のパ
ラツキを考慮した所定の時間幅をもった読み込みパルス
がデコーダ26から出力される。この読み込みパルスは
、DFF 1〜DFF6のクロック端子に接続されたア
ンドゲートG1〜G6の一方に入力される。したがって
、こうしてアンドゲートG1〜G6が読み込みパルスに
よってオープンされている間に、信号処理回路15から
の信号出力A1〜A6の中に信号値「1」のものがある
と、DFF1〜DFF6のうち対応したものがセットさ
れることになる。
DFFI〜DFF6の内、信号出力A1〜A6の中の信
号値「1」によってセットされたもののQ端子には信号
「1」が現れ、これがシフトレジスタ28に入力され、
所定のビット位置にメモリされる。したがって、例えば
信号出力A1〜A6の信号値がra」、ro」、rl」
、ro」。
rIJ、rQ」であったとすると、シフトレジスタ28
にはroololo」の測距データが格納されるように
なる。読み込みパルスの出力を終えた後、デコーダ26
はシフトレジスタ28にシフトパルスを出力する。これ
により、シフトパルスた28にメモリされた測距データ
は順次にマイクロコンピュータ22に転送される。
デコーダ26は所定個数のシフトパルスをシフトレジス
タ28に出力した後、測距完了信号を出力する。この測
距完了信号は、インバータ29を介してFFOのセット
端子に供給され、これによりFFOがセット状態になる
。この結果、FFOの菟端子出力が「0」になってアン
ドゲート24をクローズして測距シーケンスが完了する
マイクロコンピュータ22は、AF制御回路20から入
力された測距データをAF子テーブル0と対照して撮影
レンズ10のセット位置を決定する。AF子テーブル0
は第7図に示したように構成され、受光素子31〜S6
の受光パターンすなわち前述した測距データの他に、測
光回路31で検出された被写体輝度データ(EV値)を
も考慮して撮影レンズ100セット位置を決定する。こ
れは、EV値によってプログラムシャッタの最大開口径
が変わることに対応して、その被写界深度を最大限に利
用できるようにするためである。なお、第7図のAF子
テーブル0の中でN、、N。
、・・、N、。で表したレンズセット位置は、第3図で
示した0、855m、0.935m、  ・・。
5.86mを最適合焦位置とするレンズセット位置に対
応するものである。
こうしてレンズセット位置が決定されると、マイクロコ
ンピュータ22はモータ駆動回路32にレンズセット位
置に対応した個数の駆動パルスを出力する。これにより
ステッピングモータ33が所定量回転し、撮影レンズ1
0は決定されたレンズセット位置に移動されるようにな
る。
前記AF子テーブル0には、破線で囲んだように、低輝
度被写体に補助照明を与える内蔵ストロボ35の制御デ
ータ、すなわち内蔵ストロボ35の発光タイミングデー
タもメモリされている。そして、レンズセット位置がA
F子テーブル0の破線で囲んだデータによって決定され
た場合には、シャッタ駆動回路36の作動によってプロ
グラムシャッタがAF子テーブル0にメモリされた開口
径になったときに、マイクロコンピュータ22がストロ
ボ制御回路37に発光トリガ信号を出力して内蔵ストロ
ボ35が発光動作される。なお、第8図はストロボ制御
回路29の一例を示すもので、端子T、は充電禁止信号
入力端、端子T2は充電開始信号入力端、端子T3はA
F放電管3の充電完了信号出力端、端子T4は内蔵スト
ロボ35の発光トリガ信号入力端で、各々マイクロコン
ピュータ22に接続される。また、端子T、はAF制御
回路20から出力されるAF)リガパルスの入力端とし
て用いられる。
〔発明の効果〕
以上に説明したように、本発明の測距用受光センサーに
おいては、基線長方向に配列された複数の受光素子の基
線長方向の幅を調整し、各々の受光素子が見込む測距エ
リア内からの反射光であれば、これを受光したときの光
電出力が一定レベル以上になるように設定しているから
、こうして得られる光電出力を2値化するときにクロス
トークの影響を受けて偽信号が入り込むことがなく、し
かも2値化のための信号処理回路も複雑化させるような
ことがない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を用いた受光センサーの構成の概略及び
光電出力の相関を示す説明図である。 第2図は本発明を用いた測距用光学系の概略図である。 第3図は撮影レンズのセット位置と測距エリアとの関係
を示す説明図である。 第4図は測距装置の回路構成を示すブロック図である。 第5図は第4図に用いられる信号処理回路の一例を示す
回路図である。 第6図は第4図に用いられるAF制御回路の一例を示す
回路図である。 第7図はレンズセット位置を決めるAF子テーブル概念
図である。 第8図は第4図に用いられるストロボ制御回路の一例を
示す回路図である。 2・・・投光部 7・・・受光部 9・・・受光センサー S1〜S6・・受光素子 R1−R6・・測距エリア 10・・撮影レンズ 15・・信号処理回路 20・・AF制御回路 30・・AF子テーブル

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被写体に向けて光束を投射する投光手段と、この
    投光手段と一定の基線長だけ隔てて配置され、被写体に
    投射された光束のうち被写体で反射された光を受光する
    受光センサーとを備えた測距装置において、 測距距離範囲を複数の測距エリアに分割し、その測距エ
    リアに対応した複数の受光素子を基線長方向に配列して
    前記受光センサーを構成するとともに、各々の受光素子
    の基線長方向での幅を、その受光素子に対応する測距エ
    リアの最遠位置の被写体から反射された光が入射したと
    きと、その測距エリアの最短位置の被写体から反射され
    た光が入射したときとで、ほぼ同じ出力レベルの光電出
    力が得られる幅にしたことを特徴とする測距用受光セン
    サー。
  2. (2)前記測距エリアの各々は、隣接する測距エリアと
    部分的に重なり合っていることを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載の測距用受光センサー。
  3. (3)前記各々の受光素子の基線長方向の幅は、遠距離
    側を基準にして決められていることを特徴とする特許請
    求の範囲第2項記載の測距用受光センサー。
JP25693387A 1987-10-12 1987-10-12 測距用受光センサー Pending JPH0198913A (ja)

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