JPH02101877A - 電子撮像カメラの測光装置 - Google Patents

電子撮像カメラの測光装置

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JPH02101877A
JPH02101877A JP63255640A JP25564088A JPH02101877A JP H02101877 A JPH02101877 A JP H02101877A JP 63255640 A JP63255640 A JP 63255640A JP 25564088 A JP25564088 A JP 25564088A JP H02101877 A JPH02101877 A JP H02101877A
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増沢　和宣
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吉沢　徹
Kazuo Ishikawa
和男 石川
Jiyunichi Ujii
淳一 氏井
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電子撮像カメラ、特に固体撮像素子を用いたス
チルカメラ用の測光装置に関する。
〔従来の技術〕
従来、光学画像を固体撮像素子により映像信号に変換し
て磁気媒体に記録するビデオカメラや電子スチルカメラ
の自動露出制御方式において、撮像光学系の光路内にあ
って入射光をファインダ光学系へ反射し電子撮像部から
の反射光を測光系へ反射するビームスプリッタを設けた
ＴＴＬダイレクト測光方式が提案されている。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来の測光方式の一例を第４図に示す。図において絞り
３を絞り込んでビームスプリッタのハーフミラ一部より
も絞り開口部が小さくなると、絞り羽根からの反射光が
測光系に入り、撮像素子７０表面からの反射光に重畳す
るため適正な測光値が得られないという問題点があった
。
本発明は固体撮像素子を用いた電子カメラのＴＴＬダイ
レクト測光方式の改良であって、撮像素子からの主とし
て正反射光をビームスプリッタ裏面で測光系へ反射する
測光装置において、絞り羽根からの反射光が測光系に入
ることを減少させて測光精度を向上させた測光装置を枡
供することを目的としている。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するためには、副絞りの開口径がビーム
スプリッタ−の後方に配置した絞り機構の開口径より等
しいかやや大きめにしてやることが必要である。本発明
の第１の構成（第１図の発明）では、絞り機構３が絞ら
れた時にビームスプリッタ２の前に副絞り１０を挿入し
て入射光を絞ることにより絞り機構３０羽根からの反射
光を減少させる。次に第２の構成（第２図の発明）は上
記副絞り機構の代りに光束制御素子１０′例えば液晶板
をビームスプリッタ２の前に固定設置し入射光を絞るこ
とにより絞り機構３の羽根からの反射光を減少させる。
〔作用〕
このように構成された測光装置では固体撮像素子表面か
らの反射光を簡易、高精度に測光できる。
〔実施例〕
実施例について図面を参照して説明する。第１図は本発
明を適用した電子カメラ用測光装置の一実施例を示す。
レンズ系１の後方には光学ファインダ用のビームスプリ
ッタ２が配置・されており、ファインダ光学系により被
写体（不図示）を目視できるものとなっている。ビーム
スプリッタ２の後方には絞り機構３、マスターレンズ４
、光学フィルタ５が配置され、入射光はそれらを通って
固体撮像素子７に入射する。入射光の一部は固体撮像素
子７の表面で反射され、主として正反射分がビームスプ
リッタ２の表面で反射され測光レンズ８を通って測光素
子９に導びかれる。測光素子９は入射光の強さに応じた
電気信号を測光信号として出力し、測光回路１１にて演
算し、シャッタ制御回路１２および絞り制御回路１３に
よって制御して適正露光を得る。ここで絞り機構３がビ
ームスプリッタ２のハーフミラ一部よりも小さく絞られ
ると絞り機構３の絞り羽根からの反射光が測光系へ入っ
てしまう。そこでビームスプリッタ２の前へ副絞り１０
を挿入して入射光を絞ることにより上記絞り羽根からの
反射光を減少させる。次に第２図の実施例では、第１図
の副絞り１０を出し入れする方式では機構が複雑となる
ので、液晶板等の光束制御素子１０′を副絞り１００代
りに光軸上に固定設置して、絞り制御することにより、
簡易な副絞り機能を達成できる。
第３図は本実施例における絞り機構３の絞り値と測光素
子の出力との関係を示す測定例である。副絞りがない場
合は小絞り側で測光出力が高くなり直線性が悪くなって
いる。本発明の場合の副絞りがある場合は小絞り側でも
良好な直線性が得られる。
〔発明の効果〕
以上により本発明によれば、撮像素子表面からの反射光
をビームスプリッタ裏面で反射して測光する、簡単な構
造で、高精度なＴＴＬダイレクト測光が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の第１の実施例の構成を示すプロ・Ｚり
図。第２図は本発明のｖ、２の実施例の構成を示すブロ
ック図。第３図は第１図の実施例の場合の測定例。第４
図は従来の測光装置の一例の構成を示すブロック図であ
る。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １、被写体の光を通し光像を形成する撮像光学系と、光
    像を受けこれを電気信号に変換する電子撮像部と、前記
    撮像光学系の光路内にあつて入射光をファインダ光学系
    へ反射し前記電子撮像部からの反射光を測光系へ反射す
    るビームスプリッタとを具備する電子撮像カメラの測光
    装置において、前記ビームスプリッタの被写体側に前記
    撮像光学系に出入りする副絞り機構を設けたことを特徴
    とする電子撮像カメラの測光装置。 ２、前記ビームスプリッタの被写体側に固定の副絞り素
    子を設けたことを特徴とする特許請求範囲第１項に記載
    の電子撮像カメラの測光装置。
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