JPH0210491B2 - - Google Patents
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- JPH0210491B2 JPH0210491B2 JP55142910A JP14291080A JPH0210491B2 JP H0210491 B2 JPH0210491 B2 JP H0210491B2 JP 55142910 A JP55142910 A JP 55142910A JP 14291080 A JP14291080 A JP 14291080A JP H0210491 B2 JPH0210491 B2 JP H0210491B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- track
- photodetector
- lens
- signal
- Prior art date
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- Optical Head (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、光デイスク等の光学的情報記録再生
装置、特に情報トラツクからの回折光を利用した
光学的トラツク追跡装置を備えた光学的情報記録
再生装置に関するものである。
装置、特に情報トラツクからの回折光を利用した
光学的トラツク追跡装置を備えた光学的情報記録
再生装置に関するものである。
光デイスク等の光学的情報記録再生装置におい
て用いられる情報トラツクの追跡装置として、光
源（例えばHe−Neレーザ、半導体レーザ）の波
長λに対してトラツク溝の深さが（2n−１）
λ／４（ｎ＝１、２、３……）からずれている場
合、光ビームがトラツクからずれるとトラツク溝
のエツジにより回折光の非対称性が生じることを
利用してトラツキング制御信号を検出してトラツ
ク追跡を行なう装置が知られている。この装置で
はトラツクと平行に配置された２つの光検出器で
トラツク溝からの回折光パターンを受光し、この
２つの光検出器の出力差をとることによりトラツ
キング制御信号を検出している。しかし、検出器
の位置がレンズの遠視野領域にあるため、トラツ
キング制御のために光ビームを振ると光検出器面
上の回折光パターンも振られ、この振れ分がトラ
ツキング制御信号中に偏差信号として表われる。
このため、トラツク追跡が正常に行なわれなくな
るという欠点が生ずる。
て用いられる情報トラツクの追跡装置として、光
源（例えばHe−Neレーザ、半導体レーザ）の波
長λに対してトラツク溝の深さが（2n−１）
λ／４（ｎ＝１、２、３……）からずれている場
合、光ビームがトラツクからずれるとトラツク溝
のエツジにより回折光の非対称性が生じることを
利用してトラツキング制御信号を検出してトラツ
ク追跡を行なう装置が知られている。この装置で
はトラツクと平行に配置された２つの光検出器で
トラツク溝からの回折光パターンを受光し、この
２つの光検出器の出力差をとることによりトラツ
キング制御信号を検出している。しかし、検出器
の位置がレンズの遠視野領域にあるため、トラツ
キング制御のために光ビームを振ると光検出器面
上の回折光パターンも振られ、この振れ分がトラ
ツキング制御信号中に偏差信号として表われる。
このため、トラツク追跡が正常に行なわれなくな
るという欠点が生ずる。
かかる装置は特開昭49−60702号あるいは特開
昭52−62037号に示されており、第１図〜第３図
を用いて説明する。第１図は従来の回折光を利用
したトラツク追跡装置の構成を示す図である。レ
ーザ１から出た光ビームはレンズ２により平行光
となり、プリズム３及び絞り込みレンズ４を通つ
てデイスク５面上に1μｍφ程度のスポツト状に
収束される。デイスク５面上には凹凸の形態で配
列された情報トラツク５１が設けられている。こ
のトラツク５１は、その光学的深さが使用レーザ
波長λに対して（2n−１）λ／４（ｎ＝１、２…
…）からずれるように形成されている。光スポツ
トがトラツク内に位置するとトラツクからの反射
光にトラツク情報を含む回折光パターンが発生す
る。この反射光は再び、絞り込みレンズ４、プリ
ズム３及び集光レンズ６を通りトラツクを左右に
挾む如く配置された２つの光検出器７ａ，７ｂに
受光される。反射光の回折成分は、光スポツトと
トラツクの位置関係によつて変化するので、両検
出器の出力差を検出することにより光スポツトと
トラツクの相対位置を検出できる。光検出器７
ａ，７ｂからの２つの出力は差動増幅器８によつ
て差分され、この出力はトラツク制御回路９へ導
かれ、絞り込みレンズ４の周りに取りつけられた
アクチユエータ１０を制御することによりレンズ
４を微動してトラツク追跡を行なう。しかし、ト
ラツク追跡のため、絞り込みレンズ４が動きはじ
めると光軸の移動に供なつて、検出器の面上でも
光ビームが移動する。すなわち、デイスク面上で
スポツトを距離ｄだけ動かす場合にはレンズ４を
ｄだけ動かす必要があるので、光軸はｄだけ移動
することになる。従つて、収束レンズ６の焦点距
離をｆ、このレンズ６の焦点から光検出器までの
距離をｌとすれば、この時の光検出器面上での光
ビームの動き量はｄ・ｌ／ｆとなる。例えば、ｄ＝ 0.2mm、ｆ＝50mm、ｌ＝25mmとすれば、その動き
量は0.1mmとなる。絞り込みレンズ４の口径を５
mmとすれば、光検出器７面上での光ビーム径は
2.5mmとなるので、光ビーム径の４％分が動くこ
とになる。これより目安として、差動して得られ
るトラツキング制御信号中には、トラツク幅の８
％に相当する偏差信号が重畳されることになる。
しかし、この偏差信号の大きさは、光学系の構
成、光検出器の大きさ、そのおく位置などに大き
く依存するものである。第２図ａは第１図に示し
た装置に用いられる光検出器の一例を示す図であ
る。二つの光検出器７ａ，７ｂは2.5×1.2mm2の受
光面をもつシリコンセルであり、0.1mmの距離だ
け互いに分離される。この時の光検出器面上での
回折光パターン分布（中心付近）と光検出器との
関係は第２図ｂの通りである。図において、実線
で示される曲線P1はトラツクの左側エツジによ
る回折光パターン分布を示し、点線で示される曲
線Prはトラツクの右側エツジによる回折光パター
ン分布を示す。各パターンにおいて、P0が光ス
ポツトとトラツクの位置関係によりほとんど変化
しない非回折成分、即ち、０次光成分であり、
P1が光スポツトとトラツクの位置関係により変
化する回折成分すなわち１次光成分である。第３
図は、ビームの振れ量（レンズの振れ量に相当す
る）に対するトラツク偏差信号の関係を示す図で
ある。図において、点線で示される直線イは第２
図ｂに示した光検出器を用いた場合を示し、レン
ズの振れ量ｘに対してトラツク偏差信号ｙとの関
係はｙ＝0.003x（μｍ）である。従つて、レンズ
を0.1（mm）振ると、0.3μｍの偏差信号が発生する
ことになりトラツク追跡精度が著しく悪くなる。
偏差信号の発生する原因としては、第２図ｂに示
した回折光パターンにおいて、そのパワーの大部
分を占める中央部の０次光成分P0の移動がその
まま偏差信号として表われてくると考えられる。
昭52−62037号に示されており、第１図〜第３図
を用いて説明する。第１図は従来の回折光を利用
したトラツク追跡装置の構成を示す図である。レ
ーザ１から出た光ビームはレンズ２により平行光
となり、プリズム３及び絞り込みレンズ４を通つ
てデイスク５面上に1μｍφ程度のスポツト状に
収束される。デイスク５面上には凹凸の形態で配
列された情報トラツク５１が設けられている。こ
のトラツク５１は、その光学的深さが使用レーザ
波長λに対して（2n−１）λ／４（ｎ＝１、２…
…）からずれるように形成されている。光スポツ
トがトラツク内に位置するとトラツクからの反射
光にトラツク情報を含む回折光パターンが発生す
る。この反射光は再び、絞り込みレンズ４、プリ
ズム３及び集光レンズ６を通りトラツクを左右に
挾む如く配置された２つの光検出器７ａ，７ｂに
受光される。反射光の回折成分は、光スポツトと
トラツクの位置関係によつて変化するので、両検
出器の出力差を検出することにより光スポツトと
トラツクの相対位置を検出できる。光検出器７
ａ，７ｂからの２つの出力は差動増幅器８によつ
て差分され、この出力はトラツク制御回路９へ導
かれ、絞り込みレンズ４の周りに取りつけられた
アクチユエータ１０を制御することによりレンズ
４を微動してトラツク追跡を行なう。しかし、ト
ラツク追跡のため、絞り込みレンズ４が動きはじ
めると光軸の移動に供なつて、検出器の面上でも
光ビームが移動する。すなわち、デイスク面上で
スポツトを距離ｄだけ動かす場合にはレンズ４を
ｄだけ動かす必要があるので、光軸はｄだけ移動
することになる。従つて、収束レンズ６の焦点距
離をｆ、このレンズ６の焦点から光検出器までの
距離をｌとすれば、この時の光検出器面上での光
ビームの動き量はｄ・ｌ／ｆとなる。例えば、ｄ＝ 0.2mm、ｆ＝50mm、ｌ＝25mmとすれば、その動き
量は0.1mmとなる。絞り込みレンズ４の口径を５
mmとすれば、光検出器７面上での光ビーム径は
2.5mmとなるので、光ビーム径の４％分が動くこ
とになる。これより目安として、差動して得られ
るトラツキング制御信号中には、トラツク幅の８
％に相当する偏差信号が重畳されることになる。
しかし、この偏差信号の大きさは、光学系の構
成、光検出器の大きさ、そのおく位置などに大き
く依存するものである。第２図ａは第１図に示し
た装置に用いられる光検出器の一例を示す図であ
る。二つの光検出器７ａ，７ｂは2.5×1.2mm2の受
光面をもつシリコンセルであり、0.1mmの距離だ
け互いに分離される。この時の光検出器面上での
回折光パターン分布（中心付近）と光検出器との
関係は第２図ｂの通りである。図において、実線
で示される曲線P1はトラツクの左側エツジによ
る回折光パターン分布を示し、点線で示される曲
線Prはトラツクの右側エツジによる回折光パター
ン分布を示す。各パターンにおいて、P0が光ス
ポツトとトラツクの位置関係によりほとんど変化
しない非回折成分、即ち、０次光成分であり、
P1が光スポツトとトラツクの位置関係により変
化する回折成分すなわち１次光成分である。第３
図は、ビームの振れ量（レンズの振れ量に相当す
る）に対するトラツク偏差信号の関係を示す図で
ある。図において、点線で示される直線イは第２
図ｂに示した光検出器を用いた場合を示し、レン
ズの振れ量ｘに対してトラツク偏差信号ｙとの関
係はｙ＝0.003x（μｍ）である。従つて、レンズ
を0.1（mm）振ると、0.3μｍの偏差信号が発生する
ことになりトラツク追跡精度が著しく悪くなる。
偏差信号の発生する原因としては、第２図ｂに示
した回折光パターンにおいて、そのパワーの大部
分を占める中央部の０次光成分P0の移動がその
まま偏差信号として表われてくると考えられる。
本発明はかかる点に鑑みてなされたものであ
り、光検出器面上でのビーム振れによる偏差信号
を軽減し、もつてより正確なトラツク追跡を達成
し得る光学的トラツク追跡装置を備えた光学的情
報記録再生装置を提供することを目的とする。
り、光検出器面上でのビーム振れによる偏差信号
を軽減し、もつてより正確なトラツク追跡を達成
し得る光学的トラツク追跡装置を備えた光学的情
報記録再生装置を提供することを目的とする。
かかる目的を達成するために、本発明において
は情報トラツクからの回折光を受光する光検出器
が上記回折光のうちトラツキング信号成分を含ま
ない０次光成分を除いた光成分のみを受光し、か
つ互いに分離された少なくとも２個の受光部を有
することを特徴とする。
は情報トラツクからの回折光を受光する光検出器
が上記回折光のうちトラツキング信号成分を含ま
ない０次光成分を除いた光成分のみを受光し、か
つ互いに分離された少なくとも２個の受光部を有
することを特徴とする。
以下、本発明の実施例を図面により説明する。
第４図ａは本発明の光学的トラツキング装置に用
いられる光検出器の一実施例を示す図である。図
において、D1及びD2は受光部、Ｂは暗部分を示
す。光検出器７は1.5mm×1.5mmの大きさで、中央
に設けられた0.5mm幅の暗部分Ｂによつて２つの
受光部D1，D2に分離されている。なお、トラツ
クは図面の上下方向に延在しており、受光部D1，
D2はトラツクを挾む如くトラツクの方向に対し
て対称に配置される。
第４図ａは本発明の光学的トラツキング装置に用
いられる光検出器の一実施例を示す図である。図
において、D1及びD2は受光部、Ｂは暗部分を示
す。光検出器７は1.5mm×1.5mmの大きさで、中央
に設けられた0.5mm幅の暗部分Ｂによつて２つの
受光部D1，D2に分離されている。なお、トラツ
クは図面の上下方向に延在しており、受光部D1，
D2はトラツクを挾む如くトラツクの方向に対し
て対称に配置される。
即ち、受光部D1とD2の対称軸Ｏがトラツクの
方向とほぼ平行に配置される。この光検出器を用
いた時の光検出器面上での回折光パターン分布と
各受光部D1，D2との関係を第４図ｂに示す。図
から明らかなように回折光パターンのうち１次光
成分P1は受光部D1，D2に照射され、０次光成分
P0は暗部分Ｂに照射される。
方向とほぼ平行に配置される。この光検出器を用
いた時の光検出器面上での回折光パターン分布と
各受光部D1，D2との関係を第４図ｂに示す。図
から明らかなように回折光パターンのうち１次光
成分P1は受光部D1，D2に照射され、０次光成分
P0は暗部分Ｂに照射される。
したがつて、光検出器では、１次光成分だけが
検出され、０次光成分は検出されない。１次光成
分は光スポツトとトラツクの位置関係により変化
するので受光部D1，D2からの出力信号をそれぞ
れS1，S2とすれば（S1−S2）がトラツク制御信号
となる。かかる構成の光検出器を用いた場合にお
けるレンズの振れ量に対する偏差信号の関係を第
３図に実線ロで示す。図から明らかなように偏差
信号は０次光成分をも検出していた従来のものに
比べて大幅に軽減される。
検出され、０次光成分は検出されない。１次光成
分は光スポツトとトラツクの位置関係により変化
するので受光部D1，D2からの出力信号をそれぞ
れS1，S2とすれば（S1−S2）がトラツク制御信号
となる。かかる構成の光検出器を用いた場合にお
けるレンズの振れ量に対する偏差信号の関係を第
３図に実線ロで示す。図から明らかなように偏差
信号は０次光成分をも検出していた従来のものに
比べて大幅に軽減される。
本実施例では、光検出器の受光部の数を２個と
したがこれに限定されることはない。たとえば、
第５図ａに示すように受光部D1，D2と直交する
方向にさらに２個の受光部D3，D4を設ける。か
かる構成の光検出器を用いれば、受光部D3とD4
の差信号を用いて、情報トラツクの情報ピツトの
長さを検出し、情報信号を検出することができる
（情報信号の検出方法については、特開昭49−
98113号に詳細に述べられている）。即ち、受光部
D3，D4からの出力信号S3，S4をそれぞれ差動増
幅器に入力して差の信号（S3−S4）をとれば、こ
の信号が情報信号となる。
したがこれに限定されることはない。たとえば、
第５図ａに示すように受光部D1，D2と直交する
方向にさらに２個の受光部D3，D4を設ける。か
かる構成の光検出器を用いれば、受光部D3とD4
の差信号を用いて、情報トラツクの情報ピツトの
長さを検出し、情報信号を検出することができる
（情報信号の検出方法については、特開昭49−
98113号に詳細に述べられている）。即ち、受光部
D3，D4からの出力信号S3，S4をそれぞれ差動増
幅器に入力して差の信号（S3−S4）をとれば、こ
の信号が情報信号となる。
また、光検出器は第５図ｂ及び第５図ｃに示す
ように、その形状を円形として、中央部に円形の
暗部Ｂを設けて周辺部のみを受光部とすることが
できる。第５図ｂは２個の場合、第５図ｃは第４
図の場合を示し、受光部D1，D2はトラツキング
制御信号検出用、受光部D3，D4は情報信号検出
用である。
ように、その形状を円形として、中央部に円形の
暗部Ｂを設けて周辺部のみを受光部とすることが
できる。第５図ｂは２個の場合、第５図ｃは第４
図の場合を示し、受光部D1，D2はトラツキング
制御信号検出用、受光部D3，D4は情報信号検出
用である。
なお、図において、トラツクは図面の上下方向
に延在しており、受光部D1とD2の対称軸Ｏがト
ラツク方向とほぼ平行に配置される。これは、第
６図及び第７図においても同じである。
に延在しており、受光部D1とD2の対称軸Ｏがト
ラツク方向とほぼ平行に配置される。これは、第
６図及び第７図においても同じである。
第６図は本発明に用いられる光検出器の他の実
施例の構成を示す図である。この光検出器７は第
６図に示すように、第５図ｂに示した検出器にお
いて、中央の暗部分Ｂにさらにもう１個の受光部
D5を設けたものである。かかる構成によれば、
１個の光検出器で情報信号及びトラツキング信号
をＳ／Ｎよく検出できる。即ち、０次光成分は情
報信号によつて大きく変化するため受光部D5で
この０次光成分を受光することによつて、この中
央の１個の受光部だけで情報信号をＳ／Ｎよく検
出することができるのである。かかる構成の光検
出器はλ／８の深さの案内トラツクを設けてある
記録媒体を用いて記録、再生を行う場合に有効で
ある。トラツキング信号は受光部D1，D2からの
出力信号S1，S2をそれぞれ差動増幅器に入力して
差をとると得られる。また、情報信号を再生する
場合は、受光部D5からの出力信号S5を増幅器に
入力すれば情報信号が得られる。また、クロツク
の同期信号、アドレス信号等がさらに深さλ／４
で設けてある場合は、これらも受光部D5を用い
て検出できる。
施例の構成を示す図である。この光検出器７は第
６図に示すように、第５図ｂに示した検出器にお
いて、中央の暗部分Ｂにさらにもう１個の受光部
D5を設けたものである。かかる構成によれば、
１個の光検出器で情報信号及びトラツキング信号
をＳ／Ｎよく検出できる。即ち、０次光成分は情
報信号によつて大きく変化するため受光部D5で
この０次光成分を受光することによつて、この中
央の１個の受光部だけで情報信号をＳ／Ｎよく検
出することができるのである。かかる構成の光検
出器はλ／８の深さの案内トラツクを設けてある
記録媒体を用いて記録、再生を行う場合に有効で
ある。トラツキング信号は受光部D1，D2からの
出力信号S1，S2をそれぞれ差動増幅器に入力して
差をとると得られる。また、情報信号を再生する
場合は、受光部D5からの出力信号S5を増幅器に
入力すれば情報信号が得られる。また、クロツク
の同期信号、アドレス信号等がさらに深さλ／４
で設けてある場合は、これらも受光部D5を用い
て検出できる。
さらに第７図に本発明に用いられる光検出器の
さらに他の実施例を示す。本実施例はこの光検出
器１個でトラツク制御信号、自動焦点制御信号及
び情報信号をＳ／Ｎよく検出することができるも
のである。この検出器７は第６図に示した検出器
において、周辺の受光部D1およびD2をそれぞれ
２個の受光部D11，D12及びD21，D22に分離し、
さらに中央の受光部D5を４個の受光部D51，D52，
D53，D54に分離したものである。これら８個の
受光部D11，D12，D21，D22，D51，D52，D53.D54
からの信号をそれぞれS11，S12，S21，S22，S51，
S52，S53，S54とし、第８図を用いてトラツク制
御信号、自動焦点信号及び情報信号の検出方法を
説明する。第８図は本発明の光学的トラツク追跡
装置を備えた光学的情報再生装置の一実施例を示
す図である。レーザ１から出た光ビームはレンズ
２により平行光となり、プリズム３で光路を変
え、絞り込みレンズ４を通つてデイスク５面上に
1μｍφ程度のスポツト状に収束される。デイス
ク５面から反射された光ビームは再び、絞り込み
レンズ４、プリズム３を通つて集光レンズ６へ入
射する。さらに光軸に垂直な平面でトラツクの方
向に対して45゜回転させて配置されたシリンドリ
カルレンズ１１を通つて第７図に示した８分割の
光検出器７に入射する。光検出器７は、軸Ｏがト
ラツクの方向と平行になるように配置される。光
検出器７からの８つの出力は信号処理回路１２で
トラツク制御信号ST、自然焦点信号SA、情報信
号SGに分離される。かかる構成によれば、トラツ
クの像はシリンドリカルレンズ１１によつて90°
回転されて投影されるため、トラツクに垂直な方
向に対称に配置される受光部からの差信中がトラ
ツクのための信号となる。したがつて、トラツク
制御信号STは（S11＋S12）−（S12＋S22）から検出
され、サーボ回路１２１を通してアクチユエータ
１０のうち、トラツク追跡のために内側で上下動
（図で）する第１のアクチユエータ１０１を駆動
することによりトラツク制御が行なわれる。自動
焦点信号SAは特公昭53−37722号（自動焦点合わ
せ方式）に詳しく述べられているように、シリン
ドリカルレンズによる光ビームの非点収差を受光
する４分割の光検出器から検出される。即ち、本
実施例では（D11＋D51），（D12＋D52），（D21＋
D53），（D22＋D54）をそれぞれ１個の受光部と考
えれば、（D11＋D51＋D22＋D54）と（D12＋D52＋
D21＋D53）の差信号が自動焦点のための信号と
なる。したがつて、本実施例では（S11＋S51＋
S22）−（S12＋S52＋S53＋S21）が自動焦点信号SAと
なる。この信号SAはサーボ回路１２２を廻つて
第２のアクチユエータ１０２（外側）を左右動さ
せることにより、自動焦点制御が行なわれる。情
報信号SGの検出には、トラツクに平行な方向に対
称に配置される受光部からの差信号を用いて、情
報ピツトの長さを検出する。したがつて、本実施
例では（S11＋S12）−（S21＋S22）が情報信号SGと
なる。
さらに他の実施例を示す。本実施例はこの光検出
器１個でトラツク制御信号、自動焦点制御信号及
び情報信号をＳ／Ｎよく検出することができるも
のである。この検出器７は第６図に示した検出器
において、周辺の受光部D1およびD2をそれぞれ
２個の受光部D11，D12及びD21，D22に分離し、
さらに中央の受光部D5を４個の受光部D51，D52，
D53，D54に分離したものである。これら８個の
受光部D11，D12，D21，D22，D51，D52，D53.D54
からの信号をそれぞれS11，S12，S21，S22，S51，
S52，S53，S54とし、第８図を用いてトラツク制
御信号、自動焦点信号及び情報信号の検出方法を
説明する。第８図は本発明の光学的トラツク追跡
装置を備えた光学的情報再生装置の一実施例を示
す図である。レーザ１から出た光ビームはレンズ
２により平行光となり、プリズム３で光路を変
え、絞り込みレンズ４を通つてデイスク５面上に
1μｍφ程度のスポツト状に収束される。デイス
ク５面から反射された光ビームは再び、絞り込み
レンズ４、プリズム３を通つて集光レンズ６へ入
射する。さらに光軸に垂直な平面でトラツクの方
向に対して45゜回転させて配置されたシリンドリ
カルレンズ１１を通つて第７図に示した８分割の
光検出器７に入射する。光検出器７は、軸Ｏがト
ラツクの方向と平行になるように配置される。光
検出器７からの８つの出力は信号処理回路１２で
トラツク制御信号ST、自然焦点信号SA、情報信
号SGに分離される。かかる構成によれば、トラツ
クの像はシリンドリカルレンズ１１によつて90°
回転されて投影されるため、トラツクに垂直な方
向に対称に配置される受光部からの差信中がトラ
ツクのための信号となる。したがつて、トラツク
制御信号STは（S11＋S12）−（S12＋S22）から検出
され、サーボ回路１２１を通してアクチユエータ
１０のうち、トラツク追跡のために内側で上下動
（図で）する第１のアクチユエータ１０１を駆動
することによりトラツク制御が行なわれる。自動
焦点信号SAは特公昭53−37722号（自動焦点合わ
せ方式）に詳しく述べられているように、シリン
ドリカルレンズによる光ビームの非点収差を受光
する４分割の光検出器から検出される。即ち、本
実施例では（D11＋D51），（D12＋D52），（D21＋
D53），（D22＋D54）をそれぞれ１個の受光部と考
えれば、（D11＋D51＋D22＋D54）と（D12＋D52＋
D21＋D53）の差信号が自動焦点のための信号と
なる。したがつて、本実施例では（S11＋S51＋
S22）−（S12＋S52＋S53＋S21）が自動焦点信号SAと
なる。この信号SAはサーボ回路１２２を廻つて
第２のアクチユエータ１０２（外側）を左右動さ
せることにより、自動焦点制御が行なわれる。情
報信号SGの検出には、トラツクに平行な方向に対
称に配置される受光部からの差信号を用いて、情
報ピツトの長さを検出する。したがつて、本実施
例では（S11＋S12）−（S21＋S22）が情報信号SGと
なる。
なお、本実施例では、シリンドリカルレンズを
トラツクの方向に対して45゜傾けて配置した場合
について説明したが、シリンドリカルレンズを傾
けるかわりに、光検出器７を45゜傾けて配置して
もよい。
トラツクの方向に対して45゜傾けて配置した場合
について説明したが、シリンドリカルレンズを傾
けるかわりに、光検出器７を45゜傾けて配置して
もよい。
以上説明したように、本発明によれば、電気
的、機械的な補助手段を用いることなくビーム振
れによるトラツク制御信号の偏差成分を軽減で
き、もつてより正確なトラツク追跡ができる。
的、機械的な補助手段を用いることなくビーム振
れによるトラツク制御信号の偏差成分を軽減で
き、もつてより正確なトラツク追跡ができる。
第１図は従来の回折光を利用したトラツク追跡
装置を説明する図、第２図ａは第１図に示した装
置における光検出器の詳細を示す図、第２図ｂは
この光検出器と回折光パターン分布の関係を示す
図、第３図はビームの振れ量に対する偏差信号の
関係を示す図、第４図ａは本発明の装置に用いら
れる光検出器を示す図、第４図ｂはこの光検出器
と回折光パターン分布の関係を示す図、第５図
ａ，ｂ及びｃそれぞれ本発明の装置に用いられる
光検出器の形状を示す図、第６図及び第７図はそ
れぞれ本発明の装置に用いられる光検出器の他の
形状を示す図、第８図は本発明の光学的トラツク
追跡装置を備えた光学的情報再生装置の一実施例
を示す図である。
装置を説明する図、第２図ａは第１図に示した装
置における光検出器の詳細を示す図、第２図ｂは
この光検出器と回折光パターン分布の関係を示す
図、第３図はビームの振れ量に対する偏差信号の
関係を示す図、第４図ａは本発明の装置に用いら
れる光検出器を示す図、第４図ｂはこの光検出器
と回折光パターン分布の関係を示す図、第５図
ａ，ｂ及びｃそれぞれ本発明の装置に用いられる
光検出器の形状を示す図、第６図及び第７図はそ
れぞれ本発明の装置に用いられる光検出器の他の
形状を示す図、第８図は本発明の光学的トラツク
追跡装置を備えた光学的情報再生装置の一実施例
を示す図である。
Claims (1)
- １ 光源と、上記光源からの光束を絞り込みレン
ズに入射させて所定の記録面に設けられたトラツ
クへ収束スポツトとして照射する光学手段と、上
記トラツクの方向に対して対称に配置され、かつ
互いに分離された少なくとも２個の受光部から構
成され、上記記録面で反射された回折光束を上記
絞り込みレンズへの入射光束に対する開口径と同
じ開口径でもつて上記絞り込みレンズを通過さ
せ、その反射回折光束中に含まれる１次光成分を
受光するよう上記分離された２個の受光部が配置
され、上記反射回折光のトラツキング信号成分を
含まない０次光成分は上記分離された２個の受光
部の間に照射されるよう構成された光検出器と、
上記分離された２個の受光部の出力信号の差によ
つて上記収束スポツトと上記トラツクとのずれを
検出する検出手段であつて、上記収束スポツトの
移動に伴つて上記光検出器上で発生する上記反射
回折光束の振れによつて生じる偏差信号を軽減し
た出力を得る検出手段と、上記ずれを低減すべく
上記検出手段の出力に応じて上記収束スポツトを
移動させる手段とを備えたことを特徴とする光学
的情報記録再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55142910A JPS5769534A (en) | 1980-10-15 | 1980-10-15 | Optical track tracing device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55142910A JPS5769534A (en) | 1980-10-15 | 1980-10-15 | Optical track tracing device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5769534A JPS5769534A (en) | 1982-04-28 |
| JPH0210491B2 true JPH0210491B2 (ja) | 1990-03-08 |
Family
ID=15326452
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP55142910A Granted JPS5769534A (en) | 1980-10-15 | 1980-10-15 | Optical track tracing device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5769534A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61216143A (ja) * | 1985-03-20 | 1986-09-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学ヘツド |
| JP3267748B2 (ja) * | 1993-06-08 | 2002-03-25 | パイオニア株式会社 | 情報再生方法及び光検出器 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2197495A5 (ja) * | 1972-08-25 | 1974-03-22 | Thomson Csf | |
| FR2266932B1 (ja) * | 1973-03-02 | 1977-09-02 | Thomson Brandt | |
| JPS51134018A (en) * | 1975-05-16 | 1976-11-20 | Hitachi Ltd | Information regeneration method |
| JPS5465007A (en) * | 1977-11-02 | 1979-05-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Disc form recording carrier reader |
-
1980
- 1980-10-15 JP JP55142910A patent/JPS5769534A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5769534A (en) | 1982-04-28 |
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