JPH02149933A - 焦点制御装置 - Google Patents
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- JPH02149933A JPH02149933A JP63302474A JP30247488A JPH02149933A JP H02149933 A JPH02149933 A JP H02149933A JP 63302474 A JP63302474 A JP 63302474A JP 30247488 A JP30247488 A JP 30247488A JP H02149933 A JPH02149933 A JP H02149933A
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- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1381—Non-lens elements for altering the properties of the beam, e.g. knife edges, slits, filters or stops
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0901—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for track following only
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- G11B7/0916—Foucault or knife-edge methods
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- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/13—Optical detectors therefor
- G11B7/131—Arrangement of detectors in a multiple array
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1365—Separate or integrated refractive elements, e.g. wave plates
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- Optical Head (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
この発明は、光学装置のフォーカス状態を検出するため
の装置に係り、より詳細には情報記録媒体に情報を記録
する又は記録された情報を情報記録媒体から読出す為に
光ビームを情報記録媒体上にフォーカスさせる焦点制御
装置に関する。
の装置に係り、より詳細には情報記録媒体に情報を記録
する又は記録された情報を情報記録媒体から読出す為に
光ビームを情報記録媒体上にフォーカスさせる焦点制御
装置に関する。
（従来の技術）
近年、文書などの画像情報を記録し、必要に応じてその
画像情報を検索してハードコピー或いはソフトコピーと
して再生し得る光デイスク装置のような画像情報記録再
生装置が開発されている。
画像情報を検索してハードコピー或いはソフトコピーと
して再生し得る光デイスク装置のような画像情報記録再
生装置が開発されている。
光デイスク装置においては、集束性の光ビームが円盤状
記録媒体、即ち光ディスクに向けて照射されて情報が記
録又は再生される。すなわち、記録時においては、光ビ
ームが照射されることによって記録面上には状態変化が
起こされ、その結果情報は例えばピットとして光ディス
クに記録される。
記録媒体、即ち光ディスクに向けて照射されて情報が記
録又は再生される。すなわち、記録時においては、光ビ
ームが照射されることによって記録面上には状態変化が
起こされ、その結果情報は例えばピットとして光ディス
クに記録される。
また再生時においては定常光ビームが情報記録媒体上に
照射され、記録情報に応じて光ビームはピットで強度変
調される。変調された光ビーム強度を処理して情報が再
生される。記録及び再生の際、光ディスクが線速一定に
回転され、光ビームを光ディスクに向けるための光学ヘ
ッドが光デイスク上の半径方向に直線移動される。
照射され、記録情報に応じて光ビームはピットで強度変
調される。変調された光ビーム強度を処理して情報が再
生される。記録及び再生の際、光ディスクが線速一定に
回転され、光ビームを光ディスクに向けるための光学ヘ
ッドが光デイスク上の半径方向に直線移動される。
光学ヘッドは、光学ディスク上にレーザ光を集束させる
対物レンズを備え、対物レンズは所定領域に正確に集光
ビームを照射するためにその光軸方向に移動可能に支持
されている。焦点制御系の可動機構によって対物レンズ
が光軸方向に移動されて対物レンズが合焦状態に維持さ
れ、対物レンズからの光ビームが光ディスクに集束され
る。対物レンズを合焦状態に維持させるために記録媒体
上における焦点ずれ状態が検出されその検出結果が対物
レンズの移動機構にフィードバックされる。
対物レンズを備え、対物レンズは所定領域に正確に集光
ビームを照射するためにその光軸方向に移動可能に支持
されている。焦点制御系の可動機構によって対物レンズ
が光軸方向に移動されて対物レンズが合焦状態に維持さ
れ、対物レンズからの光ビームが光ディスクに集束され
る。対物レンズを合焦状態に維持させるために記録媒体
上における焦点ずれ状態が検出されその検出結果が対物
レンズの移動機構にフィードバックされる。
この焦点ずれの検出方法としてウェッジプリズム法が知
られている。
られている。
ウェッジプリズム法において、フォーカッレンズ状態に
応じて情報記録媒体から出射された光ビームは集光レン
ズを経てウェッジプリズムで２つのビームに分岐される
。その際、２つの光ビームは入射ビームの光軸に対して
特定角度で互いに異なる方向に出射される。分岐された
光ビームはそれぞれ所定位置に配置された２つの検出器
上に照射され電気信号に変換される。電気信号は所定の
方法で処理され、フォー力ッシングエラーに応じた電流
が対物レンズ駆動用のボイスコイルに供給される。ボイ
スコイルに電流が供給されることによって対物レンズが
駆動され、光ビームが情報記録媒体上に合焦される。
応じて情報記録媒体から出射された光ビームは集光レン
ズを経てウェッジプリズムで２つのビームに分岐される
。その際、２つの光ビームは入射ビームの光軸に対して
特定角度で互いに異なる方向に出射される。分岐された
光ビームはそれぞれ所定位置に配置された２つの検出器
上に照射され電気信号に変換される。電気信号は所定の
方法で処理され、フォー力ッシングエラーに応じた電流
が対物レンズ駆動用のボイスコイルに供給される。ボイ
スコイルに電流が供給されることによって対物レンズが
駆動され、光ビームが情報記録媒体上に合焦される。
（発明が解決しようとする課題）
ウェッジプリズム法を用いた焦点制御においては、光ビ
ームはウェッジプリズムで入射光軸に対して特定角度で
互いに異なる方向に出射する２つのビームに分岐される
。このため２つのビームを検出する２つの検出器の間隔
は、ウェッジプリズムと検出器の間の光軸方向の距離に
大きく依存する。
ームはウェッジプリズムで入射光軸に対して特定角度で
互いに異なる方向に出射する２つのビームに分岐される
。このため２つのビームを検出する２つの検出器の間隔
は、ウェッジプリズムと検出器の間の光軸方向の距離に
大きく依存する。
正確なフォー力ッシング制御を達成するにはつエツジプ
リズムの取付は位置に応じて検出器間隔が調整されなけ
ればならない。
リズムの取付は位置に応じて検出器間隔が調整されなけ
ればならない。
この発明は、情報記録媒体上のフォーカス状態を検出す
るための、新たな焦点制御装置を提供することを目的と
する。
るための、新たな焦点制御装置を提供することを目的と
する。
また、この発明は光学部品の光軸方向の位置ずれによっ
ておこる検出器間隔の位置調整の問題を解決し、それに
よって組立てや調整の容品な焦点制御装置を提供するこ
とを目的とする。
ておこる検出器間隔の位置調整の問題を解決し、それに
よって組立てや調整の容品な焦点制御装置を提供するこ
とを目的とする。
（課題を解決するための手段）
この発明の焦点制御装置は、光ビームを記録媒体上に集
束するための集束手段と、記録媒体からの光ビームの光
軸に対して互いに異なる角度に傾けられると共に光ビー
ム断面の略中央部に対してその両側に離間されて配置さ
れ、入射された光ビームを互いに略平行な第１及び第２
の光ビームに分岐する第１及び第２の平行平面板と、第
１及び第２の光ビームに応答して前記記録媒体に対する
前記集束手段の光軸方向の位置を調整する第１の応答手
段と、第１及び第２の平行平面板の互いに離間された領
域を通過された第３の光ビームに応答して前記記録媒体
に対する前記集束手段の光軸に垂直な面方向の位置を調
整する第２の応答手段を備える。
束するための集束手段と、記録媒体からの光ビームの光
軸に対して互いに異なる角度に傾けられると共に光ビー
ム断面の略中央部に対してその両側に離間されて配置さ
れ、入射された光ビームを互いに略平行な第１及び第２
の光ビームに分岐する第１及び第２の平行平面板と、第
１及び第２の光ビームに応答して前記記録媒体に対する
前記集束手段の光軸方向の位置を調整する第１の応答手
段と、第１及び第２の平行平面板の互いに離間された領
域を通過された第３の光ビームに応答して前記記録媒体
に対する前記集束手段の光軸に垂直な面方向の位置を調
整する第２の応答手段を備える。
（作用）
この発明によれば、情報記録媒体上のフォーカス状態及
びトラッキング状態が同一の検出器で検出される。
びトラッキング状態が同一の検出器で検出される。
また、この発明においては第１及び第２の平行平面板か
ら出射される光ビームの間隔が光学部品の光軸方向の位
置ずれに影響されずに略一定に保たれるため光学部品の
組立て及び位置調整が容易となる。
ら出射される光ビームの間隔が光学部品の光軸方向の位
置ずれに影響されずに略一定に保たれるため光学部品の
組立て及び位置調整が容易となる。
（実施例）
この発明の一実施例を図面を参照しながら以下に説明す
る。
る。
第１図は、この発明の焦点制御装置が組込まれる光デイ
スク装置の平面図を示している。第１図において光ディ
スク（記録媒体）１は、ガラス或いは、プラスチックス
等の円盤状の基板上に情報記録膜としてテルル或いは、
ビスマス等の金属被膜がコーティングされて形成される
。光ディスクの基板上には、トラッキングガイド領域を
定めるグループ５が同心円状に形成されている。光ディ
スク１に対向して光学ヘッド３が設けられ、記録、再生
及び検索時には、光ディスク１が光学ヘッド３に対して
線速一定で回転駆動される。第１図において記録領域を
定めるグループ５はＺ方向に延出されている。
スク装置の平面図を示している。第１図において光ディ
スク（記録媒体）１は、ガラス或いは、プラスチックス
等の円盤状の基板上に情報記録膜としてテルル或いは、
ビスマス等の金属被膜がコーティングされて形成される
。光ディスクの基板上には、トラッキングガイド領域を
定めるグループ５が同心円状に形成されている。光ディ
スク１に対向して光学ヘッド３が設けられ、記録、再生
及び検索時には、光ディスク１が光学ヘッド３に対して
線速一定で回転駆動される。第１図において記録領域を
定めるグループ５はＺ方向に延出されている。
光学ヘッド３は光源としての半導体レーザ１１を備え、
半導体レーザ１１からは発散性のレーザービームＬが発
生される。レーザビームしは情報を光ディスク１の記録
膜に書込む記録時には書込むべき情報に応じてその光強
度が変調されて発生され、又情報を光ディスク１の記録
膜から読み出す再生時には一定の強度で発生される。こ
の半導体レーザ１１から発生された発散性のレーザビー
ムＬはコリメータレンズ１３によって平行光束に変換さ
れてハーフプリズム１４に導かれる。ハーフプリズム１
４に導かれたレーザビームしは、ハーフプリズム１４を
通過して対物レンズ１６に入射され、対物レンズ１６に
よってレーザビームしは、光ディスク１の記録膜に向け
て集束される。
半導体レーザ１１からは発散性のレーザービームＬが発
生される。レーザビームしは情報を光ディスク１の記録
膜に書込む記録時には書込むべき情報に応じてその光強
度が変調されて発生され、又情報を光ディスク１の記録
膜から読み出す再生時には一定の強度で発生される。こ
の半導体レーザ１１から発生された発散性のレーザビー
ムＬはコリメータレンズ１３によって平行光束に変換さ
れてハーフプリズム１４に導かれる。ハーフプリズム１
４に導かれたレーザビームしは、ハーフプリズム１４を
通過して対物レンズ１６に入射され、対物レンズ１６に
よってレーザビームしは、光ディスク１の記録膜に向け
て集束される。
対物レンズ１６は、その先軸方向及び光軸と直交する面
内方向で移動可能に支持される。対物レンズ１６が光軸
上の最適位置即ち、合焦位置に配置されると、この対物
レンズ１６から発せられた集束性のレーザビームＬのビ
ームウェストが光ディスク１の記録膜の表面上に投射さ
れ、それによって最少ビームスポットが光ディスク１の
記録膜の表面上に形成される。一方、対物レンズ１６が
光軸と直交する面内（記録膜面に平行な面内）で最適位
置即ち、合トラック位置に配置されると光デイスク１上
に形成されるビームスポットが記録領域として定められ
たトラック上に正確に形成され、それによってトラック
がレーザビームで追跡される。この２つの状態（合焦状
態・合トラック状！Ｔ３）が保たれることによって情報
の書込み及び読出しが可能となる。即ち、記録時には強
度変調されたレーザービームによって記録膜にピット等
の状態変化が起こされ、再生時には一定強度のレーザビ
ームがトラック内のビット等で形成された記録領域で強
度変調されて反射される。
内方向で移動可能に支持される。対物レンズ１６が光軸
上の最適位置即ち、合焦位置に配置されると、この対物
レンズ１６から発せられた集束性のレーザビームＬのビ
ームウェストが光ディスク１の記録膜の表面上に投射さ
れ、それによって最少ビームスポットが光ディスク１の
記録膜の表面上に形成される。一方、対物レンズ１６が
光軸と直交する面内（記録膜面に平行な面内）で最適位
置即ち、合トラック位置に配置されると光デイスク１上
に形成されるビームスポットが記録領域として定められ
たトラック上に正確に形成され、それによってトラック
がレーザビームで追跡される。この２つの状態（合焦状
態・合トラック状！Ｔ３）が保たれることによって情報
の書込み及び読出しが可能となる。即ち、記録時には強
度変調されたレーザービームによって記録膜にピット等
の状態変化が起こされ、再生時には一定強度のレーザビ
ームがトラック内のビット等で形成された記録領域で強
度変調されて反射される。
光ディスク１の記録膜で反射された発散性のレーザビー
ムしは、合焦時において対物レンズ１６によって平行光
束に変換され、再びノ＼−フプリズム１４に戻される。
ムしは、合焦時において対物レンズ１６によって平行光
束に変換され、再びノ＼−フプリズム１４に戻される。
ハーフプリズム１４で反射されたレーザビームしは、集
束用の球面凸レンズ１７を透過されその光ビーム断面の
略中央部を残してその両側に離間して配置された第１及
び第２の光屈折体１８．１９に入射される。第１及び第
２の光屈折体１８．１９は入射される光ビーム断面の略
中央部を除くその各両端の光ビームが入射されるように
配置され、入射された先ビームを互いに平行な第１の光
ビームＬ１及び第２の光ビームＬ２に分岐する。光屈折
体１８．１９で分岐された光ビームＬ１及びＬ２はそれ
ぞれ光検出器２０上に照射される。他方互いに離間され
た第１の光屈折体１８及び第２の光屈折体１９の間の隙
間を通過された第３の光ビーム、すなわち光ビーム断面
の略中央領域の第３の光ビームもまた光検出器２０上に
照射される。光検出器２０に照射された光ビームＬ１、
Ｌ２、Ｌ３は各光検出領域で電気信号に変換されて所定
の方法で処理される。すなわち光ビームＬ１、Ｌ２に応
じた電気信号を特定の方法で処理することによって駆動
回路４４からフォー力ッシングエラー信号が発生され、
その発生された信号に応じてボイスコイル８に電流が供
給されて対物レンズ１６がその光軸方向に駆動されて光
ビームの焦点が制御される。また光ビームＬ３に応じた
電気信号を特定の方法で処理することによって駆動回路
４５からトラッキングエラー信号が発生される。そのト
ラッキング信号に応じてボイスコイルモータ８に電流が
供給されて対物レンズ１６がその光軸に垂直な面内で移
動され、それによって所定のトラックが光ビームによっ
て追跡される。更に全光検出領域で検出された信号は信
号処理回路４３で加算され読取り信号として利用される
。
束用の球面凸レンズ１７を透過されその光ビーム断面の
略中央部を残してその両側に離間して配置された第１及
び第２の光屈折体１８．１９に入射される。第１及び第
２の光屈折体１８．１９は入射される光ビーム断面の略
中央部を除くその各両端の光ビームが入射されるように
配置され、入射された先ビームを互いに平行な第１の光
ビームＬ１及び第２の光ビームＬ２に分岐する。光屈折
体１８．１９で分岐された光ビームＬ１及びＬ２はそれ
ぞれ光検出器２０上に照射される。他方互いに離間され
た第１の光屈折体１８及び第２の光屈折体１９の間の隙
間を通過された第３の光ビーム、すなわち光ビーム断面
の略中央領域の第３の光ビームもまた光検出器２０上に
照射される。光検出器２０に照射された光ビームＬ１、
Ｌ２、Ｌ３は各光検出領域で電気信号に変換されて所定
の方法で処理される。すなわち光ビームＬ１、Ｌ２に応
じた電気信号を特定の方法で処理することによって駆動
回路４４からフォー力ッシングエラー信号が発生され、
その発生された信号に応じてボイスコイル８に電流が供
給されて対物レンズ１６がその光軸方向に駆動されて光
ビームの焦点が制御される。また光ビームＬ３に応じた
電気信号を特定の方法で処理することによって駆動回路
４５からトラッキングエラー信号が発生される。そのト
ラッキング信号に応じてボイスコイルモータ８に電流が
供給されて対物レンズ１６がその光軸に垂直な面内で移
動され、それによって所定のトラックが光ビームによっ
て追跡される。更に全光検出領域で検出された信号は信
号処理回路４３で加算され読取り信号として利用される
。
第２図を参照して第１及び第２の光屈折体１８、１９の
機能を詳細に説明する。第１及び第２の光屈折体１８．
１９は例えばガラス板で構成され、好ましくは同一の厚
さを有する略平行平面板形状に形成されている。各平行
平板はＸ−２平面に平行な側面を有し、その側面は互い
に入射ビーム断面の略中央部に対してその両側に離間さ
れて配置される。換言すると、第１の平行平板１８の一
方の側面と第２の平行平板の一方の側面は、入射ビーム
の略中央部の光ビームが通過されるように、中心軸と平
行に一定幅だけ隙間を空けて設定される。第１の平行平
板１８と第２の平行平板１９の間の隙間幅は球面凸レン
ズ１７から出射される断面略円形状の光ビームの大きさ
に依存して設定される。その隙間幅は好ましくは入射さ
れる光ビームの断面直径幅の１／３の領域の光ビームが
通過されるように設定される。更にまた第１及び第２の
平行平板１８．１９の入射面及び出射面は、光軸に垂直
な平面に対して所定の角度を有するように傾けて配置さ
れ、好ましくはその２つの平行平板１８．１９は光軸に
対して互いに異なる方向に等しい角度に傾けて配置され
ている。これによって入射光ビームは後に述べるような
光デイスク上のグループ５の影が投影される方向（Ｙ方
向）に垂直なＸ方向の線に沿って分割される。このよう
に第１及び第２の平行平板１８．１９のそれぞれの入射
面及び出射面が傾けられることによって、平行平板１８
及び１９を透過した光ビームは、互いに入射光ビームＬ
の光軸に対して略平行で且つ所定の間隔りを有する第１
の光ビームＬ１及び第２の光ビームＬ２に分岐される。
機能を詳細に説明する。第１及び第２の光屈折体１８．
１９は例えばガラス板で構成され、好ましくは同一の厚
さを有する略平行平面板形状に形成されている。各平行
平板はＸ−２平面に平行な側面を有し、その側面は互い
に入射ビーム断面の略中央部に対してその両側に離間さ
れて配置される。換言すると、第１の平行平板１８の一
方の側面と第２の平行平板の一方の側面は、入射ビーム
の略中央部の光ビームが通過されるように、中心軸と平
行に一定幅だけ隙間を空けて設定される。第１の平行平
板１８と第２の平行平板１９の間の隙間幅は球面凸レン
ズ１７から出射される断面略円形状の光ビームの大きさ
に依存して設定される。その隙間幅は好ましくは入射さ
れる光ビームの断面直径幅の１／３の領域の光ビームが
通過されるように設定される。更にまた第１及び第２の
平行平板１８．１９の入射面及び出射面は、光軸に垂直
な平面に対して所定の角度を有するように傾けて配置さ
れ、好ましくはその２つの平行平板１８．１９は光軸に
対して互いに異なる方向に等しい角度に傾けて配置され
ている。これによって入射光ビームは後に述べるような
光デイスク上のグループ５の影が投影される方向（Ｙ方
向）に垂直なＸ方向の線に沿って分割される。このよう
に第１及び第２の平行平板１８．１９のそれぞれの入射
面及び出射面が傾けられることによって、平行平板１８
及び１９を透過した光ビームは、互いに入射光ビームＬ
の光軸に対して略平行で且つ所定の間隔りを有する第１
の光ビームＬ１及び第２の光ビームＬ２に分岐される。
第１及び第２の平行平板１８．１９から出射された光ビ
ームは集束されて光検出器２０上に照射される。また第
１の平行平板１０と第２の平行平板１２の間隔を離間す
ることによって、入射された光ビームの略中央部の帯領
域の第３の光ビームＬ３がその間を通過される。第３の
光ビームもまた集束されて光検出器２０上に照射される
。
ームは集束されて光検出器２０上に照射される。また第
１の平行平板１０と第２の平行平板１２の間隔を離間す
ることによって、入射された光ビームの略中央部の帯領
域の第３の光ビームＬ３がその間を通過される。第３の
光ビームもまた集束されて光検出器２０上に照射される
。
なお光検出器２０の位置は、対物レンズ１６が光ディス
ク１に対して合焦位置にあるとき（図示しない）第１の
光ビームＬ１及び第２の光ビームＬ２の各集光点が光検
出器の検出面と一致するように設定される。またこのと
き同時に光ビームＬ３は平行平板１８．１９を透過され
ないふんだけ第１及び第２の光ビームの集光点よりも前
方で集光されるため、光検出器２０上には一端集光され
た後の発散された第３の光ビームが照射される。
ク１に対して合焦位置にあるとき（図示しない）第１の
光ビームＬ１及び第２の光ビームＬ２の各集光点が光検
出器の検出面と一致するように設定される。またこのと
き同時に光ビームＬ３は平行平板１８．１９を透過され
ないふんだけ第１及び第２の光ビームの集光点よりも前
方で集光されるため、光検出器２０上には一端集光され
た後の発散された第３の光ビームが照射される。
このようにして検出器２０上に照射される光ビームのビ
ームスポットの形状は光検出器の光軸方向の位置、各平
行平板１８．１９の厚さ及び第１の平行平板１８と第２
の平行平板１９の隙間幅によって実質的に定められる。
ームスポットの形状は光検出器の光軸方向の位置、各平
行平板１８．１９の厚さ及び第１の平行平板１８と第２
の平行平板１９の隙間幅によって実質的に定められる。
また第１の光ビームＬ１及び第２の光ビームＬ２の間隔
りは、第１の平行平板１８及び第２の平行平板１９の屈
折率ｎ１厚さ及び平行平板１８．１９のなす角度θに依
存する。第３Ａ図及び第３Ｂ図には第１及び第２の平行
平板１８．１９に入射される光ビームの光路図が示され
ている。
りは、第１の平行平板１８及び第２の平行平板１９の屈
折率ｎ１厚さ及び平行平板１８．１９のなす角度θに依
存する。第３Ａ図及び第３Ｂ図には第１及び第２の平行
平板１８．１９に入射される光ビームの光路図が示され
ている。
第３Ａ図において、球面レンズ１７の光軸に一致した方
向から入射される光ビームは、第１及び第２の平行平板
１８．１９から出射されるとき入射光ビームＬの軸に対
して略平行な第１の光ビームＬ１及び第２の光ビームＬ
２に分岐されて出射される。この図において平行平板１
８．１９は同一の厚さを有する同一の材料で形成される
。平行平板１８．１９の厚さｔ１平行平板１８．１９の
屈折率ｎ、２枚の平行平板１８．１９のなす角度をθと
仮定すると、平行に分岐される光ビームＬ１及び光ビー
ムＬ２のＸ方向の間隔りは、角度θが比較的小さい範囲
では（１−１／ｎ）θｔと近似的に表わされる。そのた
め光ビームのＸ方向の間隔りは、集光レンズ１７、平行
平板１８．１９、及び光検出器２０の相互距離には依存
しない。
向から入射される光ビームは、第１及び第２の平行平板
１８．１９から出射されるとき入射光ビームＬの軸に対
して略平行な第１の光ビームＬ１及び第２の光ビームＬ
２に分岐されて出射される。この図において平行平板１
８．１９は同一の厚さを有する同一の材料で形成される
。平行平板１８．１９の厚さｔ１平行平板１８．１９の
屈折率ｎ、２枚の平行平板１８．１９のなす角度をθと
仮定すると、平行に分岐される光ビームＬ１及び光ビー
ムＬ２のＸ方向の間隔りは、角度θが比較的小さい範囲
では（１−１／ｎ）θｔと近似的に表わされる。そのた
め光ビームのＸ方向の間隔りは、集光レンズ１７、平行
平板１８．１９、及び光検出器２０の相互距離には依存
しない。
また、第３Ｂ図に入射光線が誤って光軸に対して角度δ
を有して前記２つの平行平板で分岐された光ビームＬ１
、Ｌ２のＸ方向の間隔りのずれを示す。光軸に対して角
度δを有して入射された場合、第２の平行平板１９によ
るずれ量は、（１−１／ｎ）δｔだけ増加され、第１の
平行平板１−８によるずれ量は、（１−１／ｎ）δｔだ
け減少される。そのため２つの光ビームのＸ方向の間隔
Ｄは、２つのガラス板のなす角θが比較的小さい範囲で
は角度δに依存しない。このようにこの発明の平行平板
１８．１９から出射される光ビームＬ１、Ｌ２の間隔り
は、各光学部品の光軸方向のずれに影響されずに略一定
に保たれる。そのため組立て及び調整の容易な焦点制御
装置が提供される。
を有して前記２つの平行平板で分岐された光ビームＬ１
、Ｌ２のＸ方向の間隔りのずれを示す。光軸に対して角
度δを有して入射された場合、第２の平行平板１９によ
るずれ量は、（１−１／ｎ）δｔだけ増加され、第１の
平行平板１−８によるずれ量は、（１−１／ｎ）δｔだ
け減少される。そのため２つの光ビームのＸ方向の間隔
Ｄは、２つのガラス板のなす角θが比較的小さい範囲で
は角度δに依存しない。このようにこの発明の平行平板
１８．１９から出射される光ビームＬ１、Ｌ２の間隔り
は、各光学部品の光軸方向のずれに影響されずに略一定
に保たれる。そのため組立て及び調整の容易な焦点制御
装置が提供される。
上に述べた光屈折体としての第１及び第２の平行平板１
８．１９を透過されて分岐された第１の光ビームＬ１及
び第２の光ビームＬ２、及び各平行平板間の隙間を通過
する第３の光ビームＬ３は第６図に示したような光検出
器２０上に照射される。
８．１９を透過されて分岐された第１の光ビームＬ１及
び第２の光ビームＬ２、及び各平行平板間の隙間を通過
する第３の光ビームＬ３は第６図に示したような光検出
器２０上に照射される。
第６図に示されるように、光検出器２０上には第１の光
ビームＬ１によって形成される第１のビームスポットＳ
１と、ビームスポットＳ１から下方（Ｘ方向）に所定間
隔だけ離された第２の光ビームＬ２によって形成される
第２のビームスポットＳ２、及び第１のビームスポット
Ｓ１と第２のビームスポットの間に第３の光ビームＬ３
によって形成される第３のビームスポットＳ３とが形成
される。光検出器は４つの検出領域２０Ａ〜２０Ｄから
構成され、先非検出領域としてＸ方向の分割線２１．２
２によって縦方向（Ｘ方向）に２分割されるとともに横
方向（Ｙ方向）の分割線２５に２分割されて、いる。ま
た分割線２５は光ディスクから回折されて投影されるグ
ループの影の投影される方向（Ｙ方向）と平行になるよ
うに予め設定されている。より詳細に述べると、光検出
器２０は第１ビームスポットＳ１全体と第３ビームスポ
ツトＳ３の上半分を検出して電気信号に変換する光検出
領域２ＯＡ、２０Ｃ及びビームスポットＳ２全体と第３
ビームスポツトＳ３を検出して電気信号に変換する光検
出領域２０Ｂ、２０Ｄから構成されている。この分離さ
れた検出領域２０Ａ〜２０Ｄの出力は、焦点補正、トラ
ッキング補正、及び情報再生に利用される。対物レンズ
１６が光ディスクに対し合焦位置にある場合は、光検出
器には第４Ｂ図に示すような像が投影される。
ビームＬ１によって形成される第１のビームスポットＳ
１と、ビームスポットＳ１から下方（Ｘ方向）に所定間
隔だけ離された第２の光ビームＬ２によって形成される
第２のビームスポットＳ２、及び第１のビームスポット
Ｓ１と第２のビームスポットの間に第３の光ビームＬ３
によって形成される第３のビームスポットＳ３とが形成
される。光検出器は４つの検出領域２０Ａ〜２０Ｄから
構成され、先非検出領域としてＸ方向の分割線２１．２
２によって縦方向（Ｘ方向）に２分割されるとともに横
方向（Ｙ方向）の分割線２５に２分割されて、いる。ま
た分割線２５は光ディスクから回折されて投影されるグ
ループの影の投影される方向（Ｙ方向）と平行になるよ
うに予め設定されている。より詳細に述べると、光検出
器２０は第１ビームスポットＳ１全体と第３ビームスポ
ツトＳ３の上半分を検出して電気信号に変換する光検出
領域２ＯＡ、２０Ｃ及びビームスポットＳ２全体と第３
ビームスポツトＳ３を検出して電気信号に変換する光検
出領域２０Ｂ、２０Ｄから構成されている。この分離さ
れた検出領域２０Ａ〜２０Ｄの出力は、焦点補正、トラ
ッキング補正、及び情報再生に利用される。対物レンズ
１６が光ディスクに対し合焦位置にある場合は、光検出
器には第４Ｂ図に示すような像が投影される。
すなわち第１の平行平板１８を通過された第１の光ビー
ムＬ１による微少面積のビームスポットＳ１が光検出領
域２ＯＡと２０Ｃを分割する分割線２１上を中心として
形成される。また同時に第２の平行平板１９を通過され
た第２の光ビームＬ２による微少面積のビームスポット
Ｓ２が光検出領域２０Ｂと２０Ｄを分割する分割線２２
上を中心として形成される。言替えると、光検出領域２
０Ａ〜２０Ｄの出力をそれぞれ■〜■とすると、分割線
２１及び２２の位置は、第７Ａ図に示されるように合焦
時においてフォー力ッシングエラー信号（Ｆ、Ｅ信号）
が零に等しくなる位置、即ちＦ・Ｅ（フォー力ッシング
エラー信号）−（（■＋■）−（■＋■））−〇の条件
を満たす位置に設定される。またこのとき同時に第１の
ビームスポットＳ１と第２のビームスポットＳ２の間に
形成される第３のビームスポットＳ３は光検出領域２０
Ａ、２０Ｃで検出される光強度の総和と光検出領域２０
Ｂ、２０Ｄで検出される光強度の総和とが常に等しい値
になる位置、すなわち第７Ｂ図に示されるように（（■
＋■）−（■＋■））−〇となる位置に予め設定される
。
ムＬ１による微少面積のビームスポットＳ１が光検出領
域２ＯＡと２０Ｃを分割する分割線２１上を中心として
形成される。また同時に第２の平行平板１９を通過され
た第２の光ビームＬ２による微少面積のビームスポット
Ｓ２が光検出領域２０Ｂと２０Ｄを分割する分割線２２
上を中心として形成される。言替えると、光検出領域２
０Ａ〜２０Ｄの出力をそれぞれ■〜■とすると、分割線
２１及び２２の位置は、第７Ａ図に示されるように合焦
時においてフォー力ッシングエラー信号（Ｆ、Ｅ信号）
が零に等しくなる位置、即ちＦ・Ｅ（フォー力ッシング
エラー信号）−（（■＋■）−（■＋■））−〇の条件
を満たす位置に設定される。またこのとき同時に第１の
ビームスポットＳ１と第２のビームスポットＳ２の間に
形成される第３のビームスポットＳ３は光検出領域２０
Ａ、２０Ｃで検出される光強度の総和と光検出領域２０
Ｂ、２０Ｄで検出される光強度の総和とが常に等しい値
になる位置、すなわち第７Ｂ図に示されるように（（■
＋■）−（■＋■））−〇となる位置に予め設定される
。
合焦時における光ビームのスポットサイズ及び検出器の
構成が上に述べたように設定されることによって、フォ
ーカス状態のズレ及びトラッキング状態のズレが検出可
能となる。
構成が上に述べたように設定されることによって、フォ
ーカス状態のズレ及びトラッキング状態のズレが検出可
能となる。
なお記載される実施例において、第１及び第２の光ビー
ムＬ１、Ｌ２は焦点制御用のサーボ信号として利用され
、光ビームＬ３はトラッキングガイド用のサーボ信号と
して利用される。
ムＬ１、Ｌ２は焦点制御用のサーボ信号として利用され
、光ビームＬ３はトラッキングガイド用のサーボ信号と
して利用される。
第４Ａ図乃至第４Ｃ図には合焦時及び非合焦時における
ビームスポット形状の変化が示されている。
ビームスポット形状の変化が示されている。
例えば対物レンズ１６が光ディスクに対して合焦位置か
ら離れた場合、光ディスクで反射される光ビームは合焦
時よりもわずかに収束される。そのため第１、第２及び
第３の光ビームの集光点は合焦時より前方に移動されて
、検出器２０上には第４Ｃ図に示されるような像が投影
される。すなわち検出器２０上の光検出領域２ＯＡ上に
略半円形状のビームスポットＳ１が形成され、光検出領
域２ＯＤ上に逆向きの略半円形状のビームスポットＳ２
が形成される。また同時に光検出器２０の中央部にはビ
ームスポットＳ３が合焦時よりも大きく形成される。こ
のときフォー力ツシングエラー信号はＦ、Ｅ＞０となる
。
ら離れた場合、光ディスクで反射される光ビームは合焦
時よりもわずかに収束される。そのため第１、第２及び
第３の光ビームの集光点は合焦時より前方に移動されて
、検出器２０上には第４Ｃ図に示されるような像が投影
される。すなわち検出器２０上の光検出領域２ＯＡ上に
略半円形状のビームスポットＳ１が形成され、光検出領
域２ＯＤ上に逆向きの略半円形状のビームスポットＳ２
が形成される。また同時に光検出器２０の中央部にはビ
ームスポットＳ３が合焦時よりも大きく形成される。こ
のときフォー力ツシングエラー信号はＦ、Ｅ＞０となる
。
逆に対物レンズ１６が光ディスクに対し合焦位置よりも
近づいた場合、光ディスクで反射される光ビームは合焦
時よりもわずかに発散される。そのため第１、第２及び
第３の光ビームの集光点は合焦時より後方に移動されて
、検出器２０上には第４Ａ図に示されるような像が投影
される。すなわち光検出器２０上の光検出領域２０Ｃ上
に略半円形状のビームスポットＳ１が形成され、光検出
領域２０Ｂ上に略半円形状のビームスポットＳ２が形成
される。また同時に光検出器２０の中央部にはビームス
ポットＳ３が合焦時よりも小さく形成される。このとき
フォー力ッシングエラー信号はＦ、Ｅ＜０となる。
近づいた場合、光ディスクで反射される光ビームは合焦
時よりもわずかに発散される。そのため第１、第２及び
第３の光ビームの集光点は合焦時より後方に移動されて
、検出器２０上には第４Ａ図に示されるような像が投影
される。すなわち光検出器２０上の光検出領域２０Ｃ上
に略半円形状のビームスポットＳ１が形成され、光検出
領域２０Ｂ上に略半円形状のビームスポットＳ２が形成
される。また同時に光検出器２０の中央部にはビームス
ポットＳ３が合焦時よりも小さく形成される。このとき
フォー力ッシングエラー信号はＦ、Ｅ＜０となる。
なおこの発明の検出器２０上に照射されるビームスポッ
トＳ１、Ｓ２、Ｓ３の形状及び大きさは第１の平行平板
１８及び第２の平行平板１９の間の設定された隙間幅に
依存して変化する。上に述べたように光ディスクに対す
る対物レンズ１６の光軸方向の位置は光検出領域２ＯＡ
、２０Ｄから発生される電気信号と、光検出領域２０Ｂ
、２０Ｃから発生される電気信号の差信号をフィードバ
ックさせることによって調整される。
トＳ１、Ｓ２、Ｓ３の形状及び大きさは第１の平行平板
１８及び第２の平行平板１９の間の設定された隙間幅に
依存して変化する。上に述べたように光ディスクに対す
る対物レンズ１６の光軸方向の位置は光検出領域２ＯＡ
、２０Ｄから発生される電気信号と、光検出領域２０Ｂ
、２０Ｃから発生される電気信号の差信号をフィードバ
ックさせることによって調整される。
他方第５Ａ図乃至第５Ｃ図には合トラッキング時及び非
合トラッキング時におけるビームスポット像の変化が示
されている。
合トラッキング時におけるビームスポット像の変化が示
されている。
一方、トラッキングガイドに利用される光デイスク１上
のグループ５の光の回折によって生ずる暗部は、第５Ａ
図乃至第５Ｃ図に示されるように光検出領域の分割線２
５に対して平行に現われる。
のグループ５の光の回折によって生ずる暗部は、第５Ａ
図乃至第５Ｃ図に示されるように光検出領域の分割線２
５に対して平行に現われる。
第７Ｂ図に示されるように、トラック位置のずれは光検
出領域２０Ａ〜２０Ｄの出力信号■〜■に対して、トラ
ッキングエラー信号（Ｔ、Ｅ）−（（■＋■）−（■＋
■））、即ち光検出領域２０Ａ、２０Ｃの検出信号の加
算結果と、光検出領域２０Ｂ、２０Ｄの検出信号の加算
結果との差信号すなわちトラック位置のずれ信号に応じ
て光学ヘッドの位置が光ディスクに平行な平面上で調整
される。
出領域２０Ａ〜２０Ｄの出力信号■〜■に対して、トラ
ッキングエラー信号（Ｔ、Ｅ）−（（■＋■）−（■＋
■））、即ち光検出領域２０Ａ、２０Ｃの検出信号の加
算結果と、光検出領域２０Ｂ、２０Ｄの検出信号の加算
結果との差信号すなわちトラック位置のずれ信号に応じ
て光学ヘッドの位置が光ディスクに平行な平面上で調整
される。
次に、第８図を参照して光検出器で検出された全電気信
号の処理回路について説明する。光検出領域２ＯＡの出
力は増幅回路３１Ａに供給される。
号の処理回路について説明する。光検出領域２ＯＡの出
力は増幅回路３１Ａに供給される。
光検出領域２０Ｂの出力は増幅回路３１Ｂに供給される
。光検出領域２０Ｃの出力は増幅回路３１Ｃに供給され
る。光検出領域２０Ｄの出力は増幅回路３１Ｄにそれ供
給される。各増幅器３１Ａ〜３１Ｄに供給された各信号
はそれぞれ増幅されて加算回路３６に供給される。加算
回路３６で加算された信号は情報再生信号として図示し
ない制御回路に供給される。増幅回路３１Ａからの信号
は加算回路３２及び３４に供給される。増幅回路３１Ｂ
からの信号は加算回路３３及び３５に供給される。増幅
回路３１Ｃからの信号は加算回路３３及び３４に供給さ
れる。増幅回路３１Ｄからの信号は加算回路３２及び３
５に供給される。
。光検出領域２０Ｃの出力は増幅回路３１Ｃに供給され
る。光検出領域２０Ｄの出力は増幅回路３１Ｄにそれ供
給される。各増幅器３１Ａ〜３１Ｄに供給された各信号
はそれぞれ増幅されて加算回路３６に供給される。加算
回路３６で加算された信号は情報再生信号として図示し
ない制御回路に供給される。増幅回路３１Ａからの信号
は加算回路３２及び３４に供給される。増幅回路３１Ｂ
からの信号は加算回路３３及び３５に供給される。増幅
回路３１Ｃからの信号は加算回路３３及び３４に供給さ
れる。増幅回路３１Ｄからの信号は加算回路３２及び３
５に供給される。
加算回路３２の出力及び加算回路３３の出力はフォーカ
ッレング制御信号をボイスコイルに供給するために利用
される。すなわち加算回路３２の出力は差動増幅器４１
の反転入力端に供給され、加算回路３３の出力は差動増
幅器４１の非反転入力端に供給される。差動増幅器４１
において光検出領域２ＯＡ、２０Ｄの検出信号の加算結
果と光検出領域２０Ｂ、２０Ｃの検出信号の加算結果と
は比較され、その差信号に応じた出力即ち、フォーカス
制御信号が駆動回路４４に供給される。駆動回路４４に
供給されるフォーカスずれ検出信号に応じて、対物レン
ズ１６をその先軸方向に駆動するコイル（図示しない）
に電流がフィードバックされる。フィードバックされた
電流に応じて対物レンズ１６が駆動されて焦点ぼけが補
正される。
ッレング制御信号をボイスコイルに供給するために利用
される。すなわち加算回路３２の出力は差動増幅器４１
の反転入力端に供給され、加算回路３３の出力は差動増
幅器４１の非反転入力端に供給される。差動増幅器４１
において光検出領域２ＯＡ、２０Ｄの検出信号の加算結
果と光検出領域２０Ｂ、２０Ｃの検出信号の加算結果と
は比較され、その差信号に応じた出力即ち、フォーカス
制御信号が駆動回路４４に供給される。駆動回路４４に
供給されるフォーカスずれ検出信号に応じて、対物レン
ズ１６をその先軸方向に駆動するコイル（図示しない）
に電流がフィードバックされる。フィードバックされた
電流に応じて対物レンズ１６が駆動されて焦点ぼけが補
正される。
また加算回路３４の出力及び加算回路３５の出力は、ト
ラッキング制御信号をボイスコイルに供給するために利
用される。すなわち加算回路３４の出力は差動増幅器４
２の反転入力端に供給され、上記加算回路３５の出力は
差動増幅器４２の非反転入力端に供給される。差動増幅
器４２において、上記光検出領域２ＯＡ、２０Ｃの検出
出力の加算結果及び光検出領域２０Ｂ、２０Ｄの検出出
力の加算結果とは比較され、その差に応じた出力即ち、
トラッキングずれ検出信号が駆動回路４５に供給される
。駆動回路４５に供給されるトラッキング制御信号に応
じて対物レンズ１６をその光軸に垂直な平面内で駆動す
るコイルに（図示しない）電流がフィードバックされる
。これにより対物レンズ１６が駆動されてトラッキング
ずれが補正される。
ラッキング制御信号をボイスコイルに供給するために利
用される。すなわち加算回路３４の出力は差動増幅器４
２の反転入力端に供給され、上記加算回路３５の出力は
差動増幅器４２の非反転入力端に供給される。差動増幅
器４２において、上記光検出領域２ＯＡ、２０Ｃの検出
出力の加算結果及び光検出領域２０Ｂ、２０Ｄの検出出
力の加算結果とは比較され、その差に応じた出力即ち、
トラッキングずれ検出信号が駆動回路４５に供給される
。駆動回路４５に供給されるトラッキング制御信号に応
じて対物レンズ１６をその光軸に垂直な平面内で駆動す
るコイルに（図示しない）電流がフィードバックされる
。これにより対物レンズ１６が駆動されてトラッキング
ずれが補正される。
さらに加算回路３６の出力、すなわち光検出領域２ＯＡ
乃至２０Ｄの全出力信号は信号処理回路４３で処理され
て情報の再生の為に利用される。
乃至２０Ｄの全出力信号は信号処理回路４３で処理され
て情報の再生の為に利用される。
上述した焦点制御装置においては、半導体レーザ１１か
ら発生された発散性のレーザビームしは、コリメータレ
ンズ１３によって平行光束に変換され、ハーフプリズム
１４に導かれる。この／１−フプリズム１４に導かれた
レーザ光りは、このハーフプリズム１４を通過した後に
対物レンズ１６に入射される。入射された光ビームはｂ
ｊ物レンズ１６によって光ディスク１の記録膜に向けて
集光される。情報の記録においては、光デイスク１上へ
強光度の変調されたレーザビーム（記録ビーム）が照射
されることにより光デイスク１上のトラックにビットが
形成される。情報の再生においては、弱光度の定常レー
ザビーム（再生ビーム光）が光デイスク１上に照射され
ビットによって強度変調される。この再生ビームに対す
る光ディスク１からの反射光は対物レンズ１６によって
平行光束に変換されて再びハーフプリズム１４に戻され
る。
ら発生された発散性のレーザビームしは、コリメータレ
ンズ１３によって平行光束に変換され、ハーフプリズム
１４に導かれる。この／１−フプリズム１４に導かれた
レーザ光りは、このハーフプリズム１４を通過した後に
対物レンズ１６に入射される。入射された光ビームはｂ
ｊ物レンズ１６によって光ディスク１の記録膜に向けて
集光される。情報の記録においては、光デイスク１上へ
強光度の変調されたレーザビーム（記録ビーム）が照射
されることにより光デイスク１上のトラックにビットが
形成される。情報の再生においては、弱光度の定常レー
ザビーム（再生ビーム光）が光デイスク１上に照射され
ビットによって強度変調される。この再生ビームに対す
る光ディスク１からの反射光は対物レンズ１６によって
平行光束に変換されて再びハーフプリズム１４に戻され
る。
そして、ハーフプリズム１４で反射されたレーザビーム
Ｌは球面凸レンズ１７を通過される。球面凸レンズ１７
を通過された光ビームの一部、すなわち光ビーム断面の
略中央部は第１及び第２の平行平板１８．１９の間を経
て通過されて光検出器の中央部に放射される。また第１
及び第２の光屈折体１８．１９に入射された光ビームは
互いに略平行な第１の光ビームＬ１及び第２の光ビーム
Ｌ２に分岐されて光検出器２０上に照射される。光検出
器２０上に照射された各光ビームに応じて発生された信
号が光検出領域２０Ａ〜２０Ｄから出力され、それらの
信号が増幅回路３１Ａ〜３１Ｄに供給される。
Ｌは球面凸レンズ１７を通過される。球面凸レンズ１７
を通過された光ビームの一部、すなわち光ビーム断面の
略中央部は第１及び第２の平行平板１８．１９の間を経
て通過されて光検出器の中央部に放射される。また第１
及び第２の光屈折体１８．１９に入射された光ビームは
互いに略平行な第１の光ビームＬ１及び第２の光ビーム
Ｌ２に分岐されて光検出器２０上に照射される。光検出
器２０上に照射された各光ビームに応じて発生された信
号が光検出領域２０Ａ〜２０Ｄから出力され、それらの
信号が増幅回路３１Ａ〜３１Ｄに供給される。
このような状態におけるフォーカシング動作について説
明する。すなわち、上記増幅回路３１Ａ１３１Ｄからの
信号は加算回路３２に供給される。
明する。すなわち、上記増幅回路３１Ａ１３１Ｄからの
信号は加算回路３２に供給される。
上記増幅回路３１Ｂ、３１Ｃからの信号は、加算回路３
３に供給される。増幅回路３１Ａ、３３Ｄからの検出信
号は加算回路３２で加算されて差動増幅器４１へ供給さ
れる。増幅回路３１Ｂ、３１Ｃからの検出信号は加算回
路３３で加算されて差動増幅器４１に供給される。これ
により差動増幅器４１は、上記光検出領域２ＯＡ、２０
Ｄの検出信号の加算結果と上記光検出領域２０Ｂ、２０
Ｃの検出信号の加算結果とが比較され、その差信号つま
り焦点制御信号が駆動回路４４に供給される。
３に供給される。増幅回路３１Ａ、３３Ｄからの検出信
号は加算回路３２で加算されて差動増幅器４１へ供給さ
れる。増幅回路３１Ｂ、３１Ｃからの検出信号は加算回
路３３で加算されて差動増幅器４１に供給される。これ
により差動増幅器４１は、上記光検出領域２ＯＡ、２０
Ｄの検出信号の加算結果と上記光検出領域２０Ｂ、２０
Ｃの検出信号の加算結果とが比較され、その差信号つま
り焦点制御信号が駆動回路４４に供給される。
駆動回路４４に供給された焦点制御信号に応じてコイル
（図示しない）に電流が供給される。供給された電流に
応じて対物レンズ１６が光軸方向に駆動されて光ビーム
のフォーカス状態が制御される。
（図示しない）に電流が供給される。供給された電流に
応じて対物レンズ１６が光軸方向に駆動されて光ビーム
のフォーカス状態が制御される。
またトラッキング動作について説明する。すなわち上記
増幅回路３１Ａ、、３１Ｃからの信号は加算回路３４に
供給される。増幅回路３１Ｂ、３１Ｄからの信号は加算
回路３５に供給される。増幅回路３１Ａ、３１Ｃからの
信号は加算回路３４で加算されて差動増幅器４２に供給
される。増幅回路３１Ｂ、３１Ｄからの検出信号は加算
回路３５で加算されて差動増幅器４２に供給される。こ
れにより上記光検出領域２ＯＡ、２０Ｃの検出信号の加
算結果と上記検出領域２０Ｂ、２０Ｄの検出信号の加算
結果とは差動増幅器４２で比較されてその差に応じた出
力つまりトラッキング制御信号が駆動回路４５にフィー
ドバックされる。トラッキング制御信号に応じて駆動回
路４５からコイル（図示しない）に電流が供給される。
増幅回路３１Ａ、、３１Ｃからの信号は加算回路３４に
供給される。増幅回路３１Ｂ、３１Ｄからの信号は加算
回路３５に供給される。増幅回路３１Ａ、３１Ｃからの
信号は加算回路３４で加算されて差動増幅器４２に供給
される。増幅回路３１Ｂ、３１Ｄからの検出信号は加算
回路３５で加算されて差動増幅器４２に供給される。こ
れにより上記光検出領域２ＯＡ、２０Ｃの検出信号の加
算結果と上記検出領域２０Ｂ、２０Ｄの検出信号の加算
結果とは差動増幅器４２で比較されてその差に応じた出
力つまりトラッキング制御信号が駆動回路４５にフィー
ドバックされる。トラッキング制御信号に応じて駆動回
路４５からコイル（図示しない）に電流が供給される。
供給された信号によって対物レンズ１６がその先軸に垂
直な平面上で駆動され光ビームのトラッキング位置が制
御される。
直な平面上で駆動され光ビームのトラッキング位置が制
御される。
次に情報の再生について説明する。情報の再生において
は半導体レーザ１１から一定の弱光度のレーザビームＬ
が発生され、記録された情報に応じて再生ビーム光全体
は強度変調されて光検出器に入射される。光検出器の光
検出領域２０Ａ〜２０Ｄの出力は増幅回路３１Ａ、３１
Ｂ、３１Ｃ。
は半導体レーザ１１から一定の弱光度のレーザビームＬ
が発生され、記録された情報に応じて再生ビーム光全体
は強度変調されて光検出器に入射される。光検出器の光
検出領域２０Ａ〜２０Ｄの出力は増幅回路３１Ａ、３１
Ｂ、３１Ｃ。
３１Ｄに供給される。増幅回路３１Ａ、３１Ｂ。
３１Ｃ，３１Ｄの総出力が信号処理回路４３で処理され
ることによって記録されたデータは再生される。
ることによって記録されたデータは再生される。
上に述べたこの発明の一実施例には、焦点制御、トラッ
ク位置制御及び信号検出を同一の検出器を用いて検出す
ることのできる４分割の検出器が記述されている。しか
しこの検出器は４分割の検出器に限る必要はない。例え
ば４分割の検出器に変えてフォーカス状態の検出とトラ
ッキング状態の検出が別々に分離されている６分割の光
検出器が利用されてもよい。
ク位置制御及び信号検出を同一の検出器を用いて検出す
ることのできる４分割の検出器が記述されている。しか
しこの検出器は４分割の検出器に限る必要はない。例え
ば４分割の検出器に変えてフォーカス状態の検出とトラ
ッキング状態の検出が別々に分離されている６分割の光
検出器が利用されてもよい。
第９図及び第１０図にはこの発明の焦点制御装置に使用
される光検出器の第２の実施例が示されている。なおこ
の第２実施例の第９Ａ図乃至第９Ｃ図に記載されるビー
ムスポットの形状は、第１の実施例の光検出器２０上に
照射される各ビームスポットの形状と同一であり、単に
その検出方法及び信号処理方法が異なる。
される光検出器の第２の実施例が示されている。なおこ
の第２実施例の第９Ａ図乃至第９Ｃ図に記載されるビー
ムスポットの形状は、第１の実施例の光検出器２０上に
照射される各ビームスポットの形状と同一であり、単に
その検出方法及び信号処理方法が異なる。
第９Ａ図乃至第９Ｃ図には合焦時及び非合焦時における
ビームスポットサイズ形状の変化が示されている。この
実施例において第１実施例の光検出器と同様の機能を有
する部分は同一の参照符号として参照する。
ビームスポットサイズ形状の変化が示されている。この
実施例において第１実施例の光検出器と同様の機能を有
する部分は同一の参照符号として参照する。
光検出器２０は光非検出領域としての、Ｙ方向（横方向
）に延出する分割線２３．２４．２５によって略均等に
４分割され、その４分割された横方向に延出する帯状の
光検出領域の上部及びド部の２つの検出領域はさらにＸ
方向（縦方向）に延出される光非検出領域としての分割
線２６．２７によってそれぞれ２分割されている。なお
分割線２５は光ディスクから回折された投影されるグル
ープ５の影の延出される方向（Ｙ方向）と平行になるよ
うに予め設定されている。
）に延出する分割線２３．２４．２５によって略均等に
４分割され、その４分割された横方向に延出する帯状の
光検出領域の上部及びド部の２つの検出領域はさらにＸ
方向（縦方向）に延出される光非検出領域としての分割
線２６．２７によってそれぞれ２分割されている。なお
分割線２５は光ディスクから回折された投影されるグル
ープ５の影の延出される方向（Ｙ方向）と平行になるよ
うに予め設定されている。
このように分割される光検出領域に対して、第１の平行
平板１８から出射される第１の光ビームＬ１は、その分
割線２６によってその中央で分離された上部の光検出領
域２０Ｐ、２ＯＵ上に照射される。また第２の平行平板
１９から出射される第２の光ビームＬ２は、その分割線
２７によってその中央で分離された下部の光検出領域２
０Ｒ１２０Ｓ上に照射される。さらにまた第１の平行平
板１８と第２の平行平板１９の間の隙間幅を通過する第
３の光ビームＬ３は、検出器２０の中央部に設けられて
いる光検出領域２０Ｑ及び光検出領域２ＯＴ上に照射さ
れる。これらの各光検出領域のうち、光検出領域２０Ｐ
、２ＯＲ，２ＯＳ、２０Ｕで検出された信号は焦点補正
用のサーボ信号として利用され、光検出領域２０Ｑ、２
０Ｔで検出された信号はトラッキング補正用のサーボ信
号として利用される。また光検出領域２０Ｐ〜２０Ｕで
検出された全信号は情報再生信号として利用される。
平板１８から出射される第１の光ビームＬ１は、その分
割線２６によってその中央で分離された上部の光検出領
域２０Ｐ、２ＯＵ上に照射される。また第２の平行平板
１９から出射される第２の光ビームＬ２は、その分割線
２７によってその中央で分離された下部の光検出領域２
０Ｒ１２０Ｓ上に照射される。さらにまた第１の平行平
板１８と第２の平行平板１９の間の隙間幅を通過する第
３の光ビームＬ３は、検出器２０の中央部に設けられて
いる光検出領域２０Ｑ及び光検出領域２ＯＴ上に照射さ
れる。これらの各光検出領域のうち、光検出領域２０Ｐ
、２ＯＲ，２ＯＳ、２０Ｕで検出された信号は焦点補正
用のサーボ信号として利用され、光検出領域２０Ｑ、２
０Ｔで検出された信号はトラッキング補正用のサーボ信
号として利用される。また光検出領域２０Ｐ〜２０Ｕで
検出された全信号は情報再生信号として利用される。
対物レンズ１６が光ディスク１の対して合焦位置にある
場合は、光検出器には第９Ｂ図に示されるような像が形
成される。すなわち第１の平行平板１８を透過された第
１の光ビームＬ１により微少面積の円形ビームスポット
Ｓ１が光検出領域２０Ｐと２００を分割する分割線２６
上を中心に形成される。また同時に第２の平行平板１９
を透過された第２の光ビームによる微少面積の円形ビー
ムスポットＳ２が光検出領域２ＯＲと２Ｏ３を分割する
分割線２７上を中心に形成される。言替えると、光検出
領域２００〜２０Ｕの出力をそれぞれ■〜■とすると、
分割線２６．２７の位置は、合焦時においてフォー力ッ
シングエラー信号（Ｆ・Ｅ信号）が零に等しくなる位置
、すなわち（フォー力ッシングエラー信号）−（（■＋
■）（■＋■））−〇の条件を満たす位置に予め設定さ
れる。またこのとき同時に第３のビームＬ３の照射され
るべき光検出領域２０Ｑと光検出領域２０Ｔとの間の分
割線２５の位置は、光検出領域２０Ｑ上に照射される光
ビームの光強度と光検出領域２０Ｔ上に照射される光ビ
ームの光強度とが常に等しくなるように、すなわち（（
■）−（■））−〇となるように予め設定される。
場合は、光検出器には第９Ｂ図に示されるような像が形
成される。すなわち第１の平行平板１８を透過された第
１の光ビームＬ１により微少面積の円形ビームスポット
Ｓ１が光検出領域２０Ｐと２００を分割する分割線２６
上を中心に形成される。また同時に第２の平行平板１９
を透過された第２の光ビームによる微少面積の円形ビー
ムスポットＳ２が光検出領域２ＯＲと２Ｏ３を分割する
分割線２７上を中心に形成される。言替えると、光検出
領域２００〜２０Ｕの出力をそれぞれ■〜■とすると、
分割線２６．２７の位置は、合焦時においてフォー力ッ
シングエラー信号（Ｆ・Ｅ信号）が零に等しくなる位置
、すなわち（フォー力ッシングエラー信号）−（（■＋
■）（■＋■））−〇の条件を満たす位置に予め設定さ
れる。またこのとき同時に第３のビームＬ３の照射され
るべき光検出領域２０Ｑと光検出領域２０Ｔとの間の分
割線２５の位置は、光検出領域２０Ｑ上に照射される光
ビームの光強度と光検出領域２０Ｔ上に照射される光ビ
ームの光強度とが常に等しくなるように、すなわち（（
■）−（■））−〇となるように予め設定される。
合焦時における光ビームのスポットサイズ及び光検出器
の構成が上に述べたように設定されることによってフォ
ーカス状態のズレ及びトラッキング状態のズレが検出さ
れる。
の構成が上に述べたように設定されることによってフォ
ーカス状態のズレ及びトラッキング状態のズレが検出さ
れる。
例えば対物レンズ１６が光ディスクに対して合焦位置か
ら離れた場合、光ディスクで反射される光ビームは合焦
時よりもわずかに収束される。そのため第１、第２及び
第３の光ビームの集光点は合焦時より前方に移動されて
、検出器２０上には第９Ｃ図に示されるような像が投影
される。すなわち検出器２０上の光検出領域２ＯＰ上に
略半円形状のビームスポットＳ１が形成され、光検出領
域２０Ｓ上にビームスポットＳ１と逆向きの略半円形状
のビームスポットＳ２が形成される。また同時に光検出
器２０の中央部に設けられた光検出領域２０Ｑ、２ＯＴ
上にはビームスポットＳ３が合焦時よりも大きく形成さ
れる。このときフォー力ッシングエラー信号はＦ、Ｅ＞
０となる。
ら離れた場合、光ディスクで反射される光ビームは合焦
時よりもわずかに収束される。そのため第１、第２及び
第３の光ビームの集光点は合焦時より前方に移動されて
、検出器２０上には第９Ｃ図に示されるような像が投影
される。すなわち検出器２０上の光検出領域２ＯＰ上に
略半円形状のビームスポットＳ１が形成され、光検出領
域２０Ｓ上にビームスポットＳ１と逆向きの略半円形状
のビームスポットＳ２が形成される。また同時に光検出
器２０の中央部に設けられた光検出領域２０Ｑ、２ＯＴ
上にはビームスポットＳ３が合焦時よりも大きく形成さ
れる。このときフォー力ッシングエラー信号はＦ、Ｅ＞
０となる。
逆に対物レンズ１６が光ディスクに対し合焦位置よりも
近づいた場合、光ディスクで反射される光ビームは合焦
時よりもわずかに発散される。そのため第１、第２及び
第３の光ビームの集光点は合焦時より後方に移動されて
、検出ｒＡ２０上には第９Ａ図に示されるような像が投
影される。すなわち検出器２０上の光検出領域２ＯＵ上
に略半円形状のビームスポットＳ１が形成され、光検出
領域２ＯＲ上にビームスポットＳ１と逆向きの略半円形
状のビームスポットＳ２が形成される。また同時に光検
出器２０の中央部に設けられた光検出領域２０Ｑ、２Ｏ
Ｔ上にはビームスポットＳ３が合焦時よりも小さく形成
される。このときフォー力ッシングエラー信号はＦ、Ｅ
＞Ｏとなる。
近づいた場合、光ディスクで反射される光ビームは合焦
時よりもわずかに発散される。そのため第１、第２及び
第３の光ビームの集光点は合焦時より後方に移動されて
、検出ｒＡ２０上には第９Ａ図に示されるような像が投
影される。すなわち検出器２０上の光検出領域２ＯＵ上
に略半円形状のビームスポットＳ１が形成され、光検出
領域２ＯＲ上にビームスポットＳ１と逆向きの略半円形
状のビームスポットＳ２が形成される。また同時に光検
出器２０の中央部に設けられた光検出領域２０Ｑ、２Ｏ
Ｔ上にはビームスポットＳ３が合焦時よりも小さく形成
される。このときフォー力ッシングエラー信号はＦ、Ｅ
＞Ｏとなる。
なおこの発明の検出器２０上に照射されるビームスポッ
トＳ１、Ｓ２、Ｓ３の形状及び大きさは第１の平行平板
１８及び第２の平行平板１９の間の設定された隙間幅に
依存して変化する。上に述べたように光ディスクに対す
る対物レンズ１６の光軸方向の位置は、その先軸方向の
移動に応じて変動する光検出領域２０Ｐ、２Ｏ３から発
生される電気信号と、光検出領域２０Ｕ、２ＯＲから発
生される電気信号の差信号を対物レンズ１６の駆動回路
にフィードバックすることによって調整される。なお上
に記載した合焦状態及び非合焦状態のあらゆる状態にお
いて、光検出領域２０Ｑに照射されるビームスポット形
状と光検出領域２０Ｔに照射されるビームスポット形状
とが等しく照射される。
トＳ１、Ｓ２、Ｓ３の形状及び大きさは第１の平行平板
１８及び第２の平行平板１９の間の設定された隙間幅に
依存して変化する。上に述べたように光ディスクに対す
る対物レンズ１６の光軸方向の位置は、その先軸方向の
移動に応じて変動する光検出領域２０Ｐ、２Ｏ３から発
生される電気信号と、光検出領域２０Ｕ、２ＯＲから発
生される電気信号の差信号を対物レンズ１６の駆動回路
にフィードバックすることによって調整される。なお上
に記載した合焦状態及び非合焦状態のあらゆる状態にお
いて、光検出領域２０Ｑに照射されるビームスポット形
状と光検出領域２０Ｔに照射されるビームスポット形状
とが等しく照射される。
光ディスク１に記録された情報を読取るためには、上に
述べた合焦状態が維持されるとともに、読みだされるべ
き情報の記録された領域、すなわち所定の案内溝（グル
ープ）５に光ビームが照射されなければならない。その
ため、所定のトラック上に常に光ビームを維持するため
の制御（トラッキングガイド）が必要となる。
述べた合焦状態が維持されるとともに、読みだされるべ
き情報の記録された領域、すなわち所定の案内溝（グル
ープ）５に光ビームが照射されなければならない。その
ため、所定のトラック上に常に光ビームを維持するため
の制御（トラッキングガイド）が必要となる。
第１０Ａ図乃至第１０Ｃ図には合トラッキング時及び非
合トラッキング時におけるビームスポット像の変化が示
されている。
合トラッキング時におけるビームスポット像の変化が示
されている。
トラッキングガイドには、光デイスク１上に照射された
光ビームがそのグループ５で回折されて検出器上に投影
される帯状の暗部（グループの影）が利用される。グル
ープの影は第１０Ａ図乃至第１０Ｃ図に示されるように
光検出領域２０Ｑ、２０Ｔの分割線２５に対して平行に
現われる。合トラック時には第１０Ｂ図に示されるよう
なビームスポット像が照射される。すなわちグループの
影は分割線２５上を中心として対称に投影される。
光ビームがそのグループ５で回折されて検出器上に投影
される帯状の暗部（グループの影）が利用される。グル
ープの影は第１０Ａ図乃至第１０Ｃ図に示されるように
光検出領域２０Ｑ、２０Ｔの分割線２５に対して平行に
現われる。合トラック時には第１０Ｂ図に示されるよう
なビームスポット像が照射される。すなわちグループの
影は分割線２５上を中心として対称に投影される。
換言すると、グループの影が分割線２５上を中心として
対称に投影される位置を合トラック位置と定め、その位
置からのズレを検出することによってトラック位置のず
れが検出される。より詳細に述べると、光検出領域２０
Ｑの出力信号を■、光検出領域２０Ｔの出力信号を■と
すると、トラッキングエラー信号（Ｔ、Ｅ）−（（■）
−（■））、即ち光検出領域２０Ｑの検出信号と光検出
領域２０Ｔの検出信号との差信号すなわちトラック位置
ずれ信号を検出し、その信号が常に零信号となるように
対物レンズ１６の位置が光ディスクに平行な平面上で調
整される。
対称に投影される位置を合トラック位置と定め、その位
置からのズレを検出することによってトラック位置のず
れが検出される。より詳細に述べると、光検出領域２０
Ｑの出力信号を■、光検出領域２０Ｔの出力信号を■と
すると、トラッキングエラー信号（Ｔ、Ｅ）−（（■）
−（■））、即ち光検出領域２０Ｑの検出信号と光検出
領域２０Ｔの検出信号との差信号すなわちトラック位置
ずれ信号を検出し、その信号が常に零信号となるように
対物レンズ１６の位置が光ディスクに平行な平面上で調
整される。
次に、第１１図を参照して光検出器で検出された全電気
信号の処理回路について説明する。光検円領域２０Ｐ、
２ＯＳの出力は増幅回路３１Ａに供給される。光検出領
域２ＯＲ，２ＯＵ上の出力は増幅回路３１Ｂに供給され
る。光検出領域２０Ｑの出力は増幅回路３１Ｃに供給さ
れる。光検出領域２０Ｔの出力は増幅回路３１Ｄにそれ
供給される。
信号の処理回路について説明する。光検円領域２０Ｐ、
２ＯＳの出力は増幅回路３１Ａに供給される。光検出領
域２ＯＲ，２ＯＵ上の出力は増幅回路３１Ｂに供給され
る。光検出領域２０Ｑの出力は増幅回路３１Ｃに供給さ
れる。光検出領域２０Ｔの出力は増幅回路３１Ｄにそれ
供給される。
増幅回路３１Ａの出力及び増幅回路３１Ｂの出力はフォ
ー力ッシング制御信号をボイスコイルに供給するために
利用される。すなわち増幅回路３１Ａの出力は差動増幅
器４１の反転入力端に供給され、増幅回路３１Ｂの出力
は差動増幅器４１の非反転入力端に供給される。差動増
幅器４１において光検出領域２０Ｐ、２ＯＳの検出信号
の加算結果と光検出領域２ＯＲ１２０Ｕの検出信号の加
算結果とは比較され、その差信号に応じた出力即ち、フ
ォーカス制御信号が駆動回路４４に供給される。駆動回
路４４に供給されるフォーカスずれ検出信号に応じて、
対物レンズ１６をその先軸方向に駆動するコイル（図示
しない）に電流がフィードバックされる。フィードバッ
クされた電流に応じて対物レンズ１６が駆動されて焦点
ぼけが補正される。
ー力ッシング制御信号をボイスコイルに供給するために
利用される。すなわち増幅回路３１Ａの出力は差動増幅
器４１の反転入力端に供給され、増幅回路３１Ｂの出力
は差動増幅器４１の非反転入力端に供給される。差動増
幅器４１において光検出領域２０Ｐ、２ＯＳの検出信号
の加算結果と光検出領域２ＯＲ１２０Ｕの検出信号の加
算結果とは比較され、その差信号に応じた出力即ち、フ
ォーカス制御信号が駆動回路４４に供給される。駆動回
路４４に供給されるフォーカスずれ検出信号に応じて、
対物レンズ１６をその先軸方向に駆動するコイル（図示
しない）に電流がフィードバックされる。フィードバッ
クされた電流に応じて対物レンズ１６が駆動されて焦点
ぼけが補正される。
また増幅回路３１Ｃの出力及び増幅回路３１Ｄの出力は
、トラッキング制御信号をボイスコイルに供給するため
に利用される。すなわち増幅回路３１Ｃの出力は差動増
幅器４２の反転入力端に供給され、増幅回路３１Ｄの出
力は差動増幅器４２の非反転入力端に供給される。差動
増幅器４２において、上記光検出領域２０Ｑ検出出力と
光検出領域２０Ｔの検出出力とが比較され、その差に応
じた出力即ち、トラッキングずれ検出信号が駆動回路４
５に供給される。駆動回路４５に供給されるトラッキン
グ制御信号に応じて対物レンズ１６をその先軸に垂直な
平面内で駆動するコイルに（図示しない）１ｒ１流がフ
ィードバックされる。これにより対物レンズ１６が駆動
されてトラッキングずれが補正される。
、トラッキング制御信号をボイスコイルに供給するため
に利用される。すなわち増幅回路３１Ｃの出力は差動増
幅器４２の反転入力端に供給され、増幅回路３１Ｄの出
力は差動増幅器４２の非反転入力端に供給される。差動
増幅器４２において、上記光検出領域２０Ｑ検出出力と
光検出領域２０Ｔの検出出力とが比較され、その差に応
じた出力即ち、トラッキングずれ検出信号が駆動回路４
５に供給される。駆動回路４５に供給されるトラッキン
グ制御信号に応じて対物レンズ１６をその先軸に垂直な
平面内で駆動するコイルに（図示しない）１ｒ１流がフ
ィードバックされる。これにより対物レンズ１６が駆動
されてトラッキングずれが補正される。
さらに各増幅器３１Ａ〜３１Ｄに供給された各信号はそ
れぞれ増幅されて加算回路３６に供給される。加算回路
３６で加算された信号、すなわち光検出領域２０Ｐ乃至
２０Ｕの全出力信号は図示しない制御回路に供給されて
情報再生信号として利用される。
れぞれ増幅されて加算回路３６に供給される。加算回路
３６で加算された信号、すなわち光検出領域２０Ｐ乃至
２０Ｕの全出力信号は図示しない制御回路に供給されて
情報再生信号として利用される。
この発明においては、焦点ぼけ信号の検出感度を向上さ
せるために第１の光ビームＬ１及び第２の光ビームＬ２
に対して各々光検出器が設けられているが、原理的には
光ビームの一方だけが検出されてもよい。
せるために第１の光ビームＬ１及び第２の光ビームＬ２
に対して各々光検出器が設けられているが、原理的には
光ビームの一方だけが検出されてもよい。
更に各平行平板の配置に伴う検出器の配置も変更可能で
ある。例えば、実施例においては２つの平行平板は入射
光ビームの光軸から所定幅で隙間が空けられていると共
に、その入射面が互いに反対方向に等しい角度に傾けて
配置されている。しかしながら、もし２つの平行平板が
入射光ビームに対して互いに反対方向に等しい角度に傾
けて配置されないとしても、検出器の配置及び検出器上
の分割線２１〜２５の位置を予め定めておくことで同様
の検出が可能である。
ある。例えば、実施例においては２つの平行平板は入射
光ビームの光軸から所定幅で隙間が空けられていると共
に、その入射面が互いに反対方向に等しい角度に傾けて
配置されている。しかしながら、もし２つの平行平板が
入射光ビームに対して互いに反対方向に等しい角度に傾
けて配置されないとしても、検出器の配置及び検出器上
の分割線２１〜２５の位置を予め定めておくことで同様
の検出が可能である。
（発明の効果）
この発明においては、第１及び第２の光屈折体から出射
される光ビームの間隔りが各光学部品の光軸方向のずれ
に影響されずに略一定に保たれる。
される光ビームの間隔りが各光学部品の光軸方向のずれ
に影響されずに略一定に保たれる。
そのため組立て及び調整の容易な焦点制御装置が提供さ
れる。
れる。
第１図はこの発明の焦点制御装置を備える光学ヘッドの
概略構成を示す図、第２図はこの発明の焦点制御装置の
要部を示す斜視図、第３図は光軸上に配置された２つの
平行平板と分岐される２つの光ビームの関係を示し、第
３Ａ図は球面凸レンズの光軸に沿って入射される光ビー
ムの光路図、第３Ｂ図は球面凸レンズの光軸かられずか
にずれて入射される光ビームの光路図、第４Ａ図乃至第
４Ｃ図は光ビームの合焦状態及び非合焦状態を示す第１
実施例の４分割光検出器の正面図、第５Ａ図乃至第５Ｃ
図は光ビームの合トラック状態及び非合トラック状態を
示す第１実施例の４分割光検出器の正面図、第６図は第
１実施例の４分割光検出器の正面図、第７Ａ図及び第７
Ｂ図は第６図の光検出器で検出された信号の処理方法を
示す電気回路図、第８図は第１実施例の光検出器で検出
される全信号の処理方法を示す電気回路図、第９Ａ図乃
至第９Ｃ図は光ビームの合焦状態及び非合焦状態を示す
第２実施例の６分割光検出器の正面図、第１０Ａ図乃至
第１０Ｃ図は光ビームの合トラック状態及び弁台トラッ
ク状態を示す第２実施例の６分割光検出器の正面図、第
１１図は第２実施例の光検出器で検出される全信号の処
理方法を示す電気回路図である。 １・・・光ディスク、３・・・光学ヘッド、１１・・・
半導体レーザ、１３・・・コリメータレンズ、１４・・
・ハーフプリズム、１６・・・対物レンズ、１７・・・
球面凸レンズ、１８・・・第１の光屈折体（第１の平行
平板）、１９・・・第２の光屈折体（第２の平行平板）
、２０・・・光検出器、２０Ａ〜２０Ｄ、２０Ｐ〜２０
Ｕ・・・光検出領域、２１〜２７・・・分割線、３１Ａ
〜３１Ｄ・・・増幅回路、３６・・・加算回路、４１．
４２・・・差動増幅器、４３・・・信号処理回路、４４
．４５・・・駆動回路。 出願人 代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第７Ａ 第７Ｂ
概略構成を示す図、第２図はこの発明の焦点制御装置の
要部を示す斜視図、第３図は光軸上に配置された２つの
平行平板と分岐される２つの光ビームの関係を示し、第
３Ａ図は球面凸レンズの光軸に沿って入射される光ビー
ムの光路図、第３Ｂ図は球面凸レンズの光軸かられずか
にずれて入射される光ビームの光路図、第４Ａ図乃至第
４Ｃ図は光ビームの合焦状態及び非合焦状態を示す第１
実施例の４分割光検出器の正面図、第５Ａ図乃至第５Ｃ
図は光ビームの合トラック状態及び非合トラック状態を
示す第１実施例の４分割光検出器の正面図、第６図は第
１実施例の４分割光検出器の正面図、第７Ａ図及び第７
Ｂ図は第６図の光検出器で検出された信号の処理方法を
示す電気回路図、第８図は第１実施例の光検出器で検出
される全信号の処理方法を示す電気回路図、第９Ａ図乃
至第９Ｃ図は光ビームの合焦状態及び非合焦状態を示す
第２実施例の６分割光検出器の正面図、第１０Ａ図乃至
第１０Ｃ図は光ビームの合トラック状態及び弁台トラッ
ク状態を示す第２実施例の６分割光検出器の正面図、第
１１図は第２実施例の光検出器で検出される全信号の処
理方法を示す電気回路図である。 １・・・光ディスク、３・・・光学ヘッド、１１・・・
半導体レーザ、１３・・・コリメータレンズ、１４・・
・ハーフプリズム、１６・・・対物レンズ、１７・・・
球面凸レンズ、１８・・・第１の光屈折体（第１の平行
平板）、１９・・・第２の光屈折体（第２の平行平板）
、２０・・・光検出器、２０Ａ〜２０Ｄ、２０Ｐ〜２０
Ｕ・・・光検出領域、２１〜２７・・・分割線、３１Ａ
〜３１Ｄ・・・増幅回路、３６・・・加算回路、４１．
４２・・・差動増幅器、４３・・・信号処理回路、４４
．４５・・・駆動回路。 出願人 代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第７Ａ 第７Ｂ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、光ビームを記録媒体上に集束するための集束手段と
、 前記記録媒体からの光ビームの光軸に対して互いに異な
る角度に傾けられると共に光ビーム断面の略中央部に対
してその両側に離間されて配置され、入射された光ビー
ムを互いに略平行な第１及び第２の光ビームに分岐する
第１及び第２の平行平面板と、 前記第１及び第２の光ビームに応答して前記記録媒体に
対する前記集束手段の光軸方向の位置を調整する第１の
応答手段と、 前記第１及び第２の平行平面板の互いに離間された領域
を通過された第３の光ビームに応答して前記記録媒体に
対する前記集束手段の光軸に垂直な面方向の位置を調整
する第２の応答手段を具備することを特徴とする焦点制
御装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63302474A JP2746957B2 (ja) | 1988-11-30 | 1988-11-30 | 焦点制御装置 |
| US07/441,449 US5105411A (en) | 1988-11-30 | 1989-11-27 | Apparatus for detecting and correcting focusing and tracking errors |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63302474A JP2746957B2 (ja) | 1988-11-30 | 1988-11-30 | 焦点制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02149933A true JPH02149933A (ja) | 1990-06-08 |
| JP2746957B2 JP2746957B2 (ja) | 1998-05-06 |
Family
ID=17909383
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63302474A Expired - Lifetime JP2746957B2 (ja) | 1988-11-30 | 1988-11-30 | 焦点制御装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5105411A (ja) |
| JP (1) | JP2746957B2 (ja) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05210858A (ja) * | 1991-10-29 | 1993-08-20 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | サーボ・クロストークを減少させるための収差補償を備えた光学式データ記憶システム |
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| DE4322149A1 (de) * | 1993-06-21 | 1994-12-22 | Fujitsu Ltd | Optische Informationsaufzeichnungs-/Wiedergabevorrichtung |
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| DE19638878A1 (de) * | 1996-09-23 | 1998-03-26 | Thomson Brandt Gmbh | Aufzeichnungs- oder Wiedergabegerät zum Aufzeichnen auf oder Wiedergeben von einem optischen Aufzeichnungsträger |
| JP3402997B2 (ja) * | 1997-03-12 | 2003-05-06 | 株式会社リコー | 光ピックアップ装置 |
| CN1112685C (zh) * | 1998-04-14 | 2003-06-25 | 德国汤姆森-布兰特有限公司 | 读写光学记录介质的设备 |
| JP2000207743A (ja) * | 1999-01-13 | 2000-07-28 | Taiyo Yuden Co Ltd | 光情報記録方法及びその装置 |
Family Cites Families (2)
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|---|---|---|---|---|
| JPS5683848A (en) * | 1979-12-11 | 1981-07-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Focusing device |
| US4504938A (en) * | 1981-04-07 | 1985-03-12 | Victor Company Of Japan, Limited | Device for feedback controlling focus of an optical system in an information recording/reproducing apparatus |
-
1988
- 1988-11-30 JP JP63302474A patent/JP2746957B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1989
- 1989-11-27 US US07/441,449 patent/US5105411A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2746957B2 (ja) | 1998-05-06 |
| US5105411A (en) | 1992-04-14 |
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