JPH02105079A - マルチコンタクト式プローブ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野］ 本発明は、トランジスタ、ＩＣ等の電子部品用のマルチ
コンタクト式プローブに関する。

〔従来の技術とその問題点〕

従来のプローブとしては、第５図の一点コンタクト式プ
ローブあるいは第６図のマルチコンタクト式プローブの
２つのものが知られている。

第５図は、前記したように一点コンタクト式プローブを
示し、３１はＩＣで、該ＩＣは本体２及び該本体２の両
側より導出するリード端子３３を有しており、プローブ
は、一方の接触ビン３４の端部にリード端子３に接触部
３４ａを接触させるようにしている。この従来例におい
ては、前記のリード端子３３と各プローブ端子３５の接
触部３４ａの接触は一点での接触であり、その上、リー
ド端子３３に対する接触ピッ３４０作用方向は、一方向
に限定されるため、リード端子上の汚れ、塵埃、封止材
のパリ等により接触不良を生じるという欠点があった。

また、実開昭６１−１７３０７３号公報には、マルチコ
ンタクト式プローブが示されており、これはプローブ端
子４１．４２は積層状とされるとともに、絶縁基Ｆｉ、
４４によって支持され、該両プローブ端子４１゜４２の
先端の自由端部４１ａ、４２ａは、ＩＣ３１の本体３２
の両側より導出するリード端子３３に向けて屈曲され、
リード端子３３への接触部が形成されている。

そして、ＩＣ３１が測定位置に供給されたときシリンダ
４５を作動して、ピストンロッド４６の前進によって前
記両プローブ端子４１．４２を移動させ、この移動によ
って接触部４１ａ、４２ａをリード端子３３に接触せし
めるものである。

そして、この従来例においては、前記した第５図に示す
１点コンタクト式の例に比べると、接触不良を回避する
確立は大きいが、接触部４１ａ、４２ａの作用方向は、
一方向に限定されるので、例えば４２ａが接触するリー
ド端子３３上に異物が存在すると前記の両接触部４１ａ
、４２ａともリード端子３３に接触することが困難にな
る。また、リード端子３３のフォーミング形状より多点
接触を行うにはスペース的に制約があり、リード端子３
３とプローブ端子４１．’　４２を接触させるためにシ
リンダ装置４５も必要となり装置全体が大型になるとい
う欠点もあった。

〔発明が解決しようとする課題〕

本発明は、上述した従来装置の欠点を解消し、ＩＣ等の
被検体の各リード端子への確実な接触を可能としたマル
チコンタクト式プローブを提供することをその目的とす
るものである。

〔課題を解決するための手段］ 本発明に係るマルチコンタクト式プローブは、前記の目
的を達成するために、本体と該本体より導出されるリー
ド端子とよりなる被検体の前記リード端子に接触して電
気的特性を検査する多点接触型プローブの多点接触端子
が弾性材で構成され、前記の被検体の垂直方向及び水平
方向にそれぞれ少なくとも１個の端子が接触するように
なし、前記各端子が相互に非接触状態を保持するよう、
各端子間に所要の間隙を形成したことをその特徴とする
ものである。

（作用〕 本発明に係るマルチコンタクト式プローブは、被検体の
垂直方向及び水平方向にそれぞれ少なくとも１個の端子
が接触するように構成されるとともに、前記の各端子が
相互に接触しないように、各端子間に所要の間隙が形成
され、しかも前記の端子が弾性材で構成されているので
、被検体の作用方向に対し、水平方向に接触する端子が
先に被検体のリード端子に接触する。そして、前記端子
の自由端部がリード端子と接触状態を保持しながら、接
触端子が撓むので、その撓みにより、上記の端子と所定
の間隙を保持し一体的に設けられている他方の端子も被
検体の垂直方向に接触するので、被検体のリード端子に
両接触端子が確実に接触し、試験機とリード端子とは電
気的に接続され、被検体の特性が試験されることとなる
。

試験終了後、被検体の荷重がな（なり、これに伴い両接
触端子はリード端子より離れ、弾性によって元の位置に
復帰するものである。

〔実施例〕

第１図及び第２図は、本発明の第１実施例を示し、第３
図及び第４図はそれぞれ本発明の第２実施例及び第３実
施例を示すものである。

本発明の第１実施例を第１図、第２図に基づいて説明す
る。

図において、■は本体２及び該本体２の両側から導出さ
れたリード端子３からなるトランジスタ、ＩＣ等の被検
体である。

５及び６は内側及び外側の接触ピンで、該接触ピン５及
び６のそれぞれは、絶縁板４に支持される水平基部５′
より所要の間隙を隔てて斜上方に突出せしめられ、これ
ら水平基部５′、接触ピン５及び６は弾性を有する部材
で一体的に構成され、該接触ピン５及び６は同一材料で
も、また異種材料でもよ（、要は水平基部５′が弾性を
有していればよいものである。

前記した接触ピン５及び６の自由端部５ａ、６ａは、前
記したように被検体１のリード端子３に向けて斜め上方
に突出して形成され、リード端子３への接触部を構成し
ている。そして、前記した接触ピン５及び６は、各接触
部５ａ、６ａがリード端子３と接触するときも、また、
接触していないときも接触ピン５及び６が相互に接触し
ないように平行四辺形の一部か、又は台形の一部に近い
形状とされているので、被検体１との作用方向に対して
水平方向に前記した内側の接触ピン５の自出端部５ａが
被検体１のリード端子３に接触し、垂直方向に外側の接
触ピン６の自由端部６ａがリード端子３が接触するよう
に構成されている。

本発明の第１実施例は、以上のように構成されているの
で、その作動について、第２図を参照して説明するに、
被検体ｌがその被検体保持部の荷重により測定位置Ｃに
達すると、両接触ビン５及び６の自由端部５ａ及び６ａ
は、被検体１のリード端子３側に移動する。そして、こ
の移動に伴い、先ず、被検体１の作用方向に対し水平方
向に接触する内側の接触ピン５の自由端部５ａが先に前
記の被検体１のリード端子３に接触し、該接触ピン５は
その自由端部５ａがリード端子３と接触した状態を保持
しながら接触ピン５の水平基部５′に１尭みｄが生ずる
とともに、その撓みｄにより、これら水平基部５′及び
接触ピン５と一体として形成されている外側の接触ピン
６は傾斜状態となり、被検体ｌの作用方向に対して垂直
方向に前記の接触ピン６の自由端６ａがリード端子３に
接触する。

上記のようにして、被検体■のリート端子３に両接触ピ
ン５，６が接触させられると、試験機（図示省略）とリ
ード端子３とが電気的に接続され、被検体１の特性が試
験されることとなる。試験が終了とともに前記の両接触
ビン５．６の自由端５ａ、６ａには、被検体保持部の荷
重が無くなり被検体１のリード端子３から離れ、両接触
ビン５゜６はその水平基部５′の弾力により元の位置に
復帰する。その後、被検体１は次工程の分類部へと自重
落下又は強制落下するとともに、前記した測定位置Ｃに
別の被検体が供給され、前記と同様の動作が繰り返えさ
れるものである。

本実施例においては、上記したように両接触ピン５．６
の自由端部５ａ、６ａは両者とも確実に被検体１のリー
ド端子３と接触させることが可能となるものであり、ま
た、例えば、被検体１の作用方向に対して水平方向に接
触する接触ピン５の自由端部５ａに対するリード端子３
上に異物が存在すると、接触ピン５，６が水平基部５′
を介して一本の弾性体で構成されているので、被検体ｌ
の作用方向に対してリード端子３に垂直方向に接触する
接触ピン６の自由端部６ａが異物の大きさだけリード端
子３に強く接触することができるものである。これは、
前記の自由端部６ａに接触するリード端子３上に異物が
存在する場合も同様自由端部５ａが異物の大きさだけリ
ード端子３に強（接触することができる。更に、前記し
た自由端部５ａ、６ａが接触する両方に対するリード端
子３上に異物が存在するときは、自由端部５ａ、６ａが
一本のタングステン、ベリリウム銅等の弾性体で構成さ
れているため相互にもとに戻ろうとする力が働き、リー
ド端子３上の異物を破壊し、リード端子３と接触するこ
ともでき、従って、信頼性の高い測定が可能となる。

また、第３図に示す第２実施例においては、第１実施例
と同一部品に対しては同一符号を付し、その説明は省略
する。そして、第１実施例では２本の接触ピン５．６が
示されているが、第３図に示す第２実施例では、被検体
１との作用方向に対して、水平方向に２個の接触ピン１
３．１４がリード端子３に接触し、垂直方向に１個の接
触ピン１５がリード端子３に接触するものである。また
、第４図に示す第３実施例も第１実施例と同一部品に対
しては同一符号で示し、その説明は省略する。そして、
第３実施例においては、被検体１との作用方向に対して
水平方向に１個の接触ピン１６がリード端子３に接触し
、垂直方向に２個の接触ピン１７゜１８がリード端子３
に接触するものである。

〔発明の効果〕

本発明に係る一体型マルチコンタクト式プローブによれ
ば、被検体に対するプローブの作用方向若しくは、プロ
ーブに対する被検体の作用方向が一方向にもかかわらず
、該作用方向に対して水平方向及び垂直方向の両方向か
ら被検体のリード端子に対してプローブを接触させるこ
とが可能となり測定の信頼性が向上するものであり、ま
た、本発明によれば、リード端子に水平方向、垂直方向
の両方向からプローブの接触が確実に行われ、従って、
高い信頼性を有する被検体の特性試験を行うことが可能
となるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１実施例を示す正面図、第２図は第
１図の第１実施例の作動状態を示す説明図、第３図は本
発明の第２実施例を示す正面図、第４図は本発明の第３
実施例を示す正面図、第５図は従来の１点コンタクト式
プローブの説明図、第６図は従来のマルチコンタクト式
プローブの説明図である。 ｌ；被検体　　　　　　　２：本　体 ３：リード端子 ５、　６．　７．１３．１４．１５．１６．１７．　ｔ
ａ：接触ピン特許出願人　　旭化成電子株式会社 二 第１図 第２図 第３図 第５図 第６図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 本体と該本体より導出されるリード端子とよりなる被検
   体の前記リード端子に接触して電気的特性を検査する多
   点接触型プローブの多点接触端子が弾性材で構成され、
   前記の被検体の垂直方向及び水平方向にそれぞれ少なく
   とも１個の端子が接触するようになし、前記各端子が相
   互に非接触状態を保持するよう、各端子間に所要の間隙
   を形成したことを特徴とするマルチコンタクト式プロー
   ブ。