JPH04332872A - 測定端子ユニット - Google Patents
測定端子ユニットInfo
- Publication number
- JPH04332872A JPH04332872A JP10418591A JP10418591A JPH04332872A JP H04332872 A JPH04332872 A JP H04332872A JP 10418591 A JP10418591 A JP 10418591A JP 10418591 A JP10418591 A JP 10418591A JP H04332872 A JPH04332872 A JP H04332872A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- terminal
- terminals
- unit
- measurement terminal
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、チップ抵抗器等の電子
部品の電気的特性（抵抗、電圧、電流等）を測定する際
に用いる測定端子ユニットに関する。
部品の電気的特性（抵抗、電圧、電流等）を測定する際
に用いる測定端子ユニットに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の一般的な測定端子ユニットを図４
に示す。このユニット１０は、平面が四角形状を呈する
ベース１１と、ベース１１に取付けた対の基板ホルダ１
２と、基板ホルダ１２に固定した基板１３とを有する。 基板１３の一端には測定端子１４を、他端には測定端子
１４と連絡すると共に測定器（図示せず）に接続するリ
ード線１５を取付けてある。
に示す。このユニット１０は、平面が四角形状を呈する
ベース１１と、ベース１１に取付けた対の基板ホルダ１
２と、基板ホルダ１２に固定した基板１３とを有する。 基板１３の一端には測定端子１４を、他端には測定端子
１４と連絡すると共に測定器（図示せず）に接続するリ
ード線１５を取付けてある。
【０００３】このユニット１０は、例えばチップ抵抗器
の抵抗値を測定するには、図４に示すように、抵抗器２
０の電極２３に測定端子１４をそれぞれ接触させて使用
する。なお、ここに示したチップ抵抗器２０は、基板２
１と、基板２１上に設けた抵抗体膜２２と、抵抗体膜２
２に接触させて形成した電極２３と、抵抗体膜２２を覆
う保護外装２４とからなる。
の抵抗値を測定するには、図４に示すように、抵抗器２
０の電極２３に測定端子１４をそれぞれ接触させて使用
する。なお、ここに示したチップ抵抗器２０は、基板２
１と、基板２１上に設けた抵抗体膜２２と、抵抗体膜２
２に接触させて形成した電極２３と、抵抗体膜２２を覆
う保護外装２４とからなる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記のようなユニット
１０は、測定端子１４とリード線１５を基板１３にハン
ダ等によって接続することにより組立てている。そのた
め、多数の電子部品の電気的特性を一度に測定するため
に多数の測定端子１４を有するユニットでは、組立に時
間がかかる不利がある。特に、チップ抵抗器等の電子部
品は小サイズであるため、全ての測定端子１４について
電子部品の電極幅に対応するように各対の測定端子１４
の先端を同一間隔に整列させる調整作業は、大変な手間
を要し、組立時間を長くする大きな要因である。
１０は、測定端子１４とリード線１５を基板１３にハン
ダ等によって接続することにより組立てている。そのた
め、多数の電子部品の電気的特性を一度に測定するため
に多数の測定端子１４を有するユニットでは、組立に時
間がかかる不利がある。特に、チップ抵抗器等の電子部
品は小サイズであるため、全ての測定端子１４について
電子部品の電極幅に対応するように各対の測定端子１４
の先端を同一間隔に整列させる調整作業は、大変な手間
を要し、組立時間を長くする大きな要因である。
【０００５】又、上記ユニット１０では、電子部品の電
極に測定端子１４を何度も接触させているうちに、徐々
に測定端子１４の先端が摩耗し、先端が不整列になる。 この場合、測定端子１４が電極に不均一に接触するので
、接触圧が一様ではなく、測定値に誤差が生ずる。更に
、従来のユニット１０では測定端子１４を基板１３に固
定してあるのが通常であるため、電極と測定端子１４の
先端との間に異物が在ると接触不良を起こし易く、これ
も正確な測定を阻害することになる。
極に測定端子１４を何度も接触させているうちに、徐々
に測定端子１４の先端が摩耗し、先端が不整列になる。 この場合、測定端子１４が電極に不均一に接触するので
、接触圧が一様ではなく、測定値に誤差が生ずる。更に
、従来のユニット１０では測定端子１４を基板１３に固
定してあるのが通常であるため、電極と測定端子１４の
先端との間に異物が在ると接触不良を起こし易く、これ
も正確な測定を阻害することになる。
【０００６】従って、本発明の目的は、容易且つ安価に
製作できると共に、できるだけ測定誤差を少なくするこ
とができる測定端子ユニットを提供することにある。
製作できると共に、できるだけ測定誤差を少なくするこ
とができる測定端子ユニットを提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
の本発明の測定端子ユニットは、ベース板に対の端子ホ
ルダを移動可能に取付け、各端子ホルダに棒状の測定端
子を、各々対応する測定端子の先端が一定間隔を置いて
整列するようにベース板に対して斜方向に取付けたこと
を特徴とするものである。
の本発明の測定端子ユニットは、ベース板に対の端子ホ
ルダを移動可能に取付け、各端子ホルダに棒状の測定端
子を、各々対応する測定端子の先端が一定間隔を置いて
整列するようにベース板に対して斜方向に取付けたこと
を特徴とするものである。
【０００８】本発明のユニットでは、従来のユニットの
測定端子に比べて測定端子が長い棒状を呈し、しかもベ
ース板に対して斜方向に測定端子を端子ホルダに取付け
てあるので、電子部品の電極に測定端子の先端を接触さ
せると、加えた力に応じて測定端子が撓み、測定時に必
要な接触圧が得られる。測定端子が摩耗して短くなって
も、端子ホルダを動かすことで必要な接触圧を確保する
ことができる。
測定端子に比べて測定端子が長い棒状を呈し、しかもベ
ース板に対して斜方向に測定端子を端子ホルダに取付け
てあるので、電子部品の電極に測定端子の先端を接触さ
せると、加えた力に応じて測定端子が撓み、測定時に必
要な接触圧が得られる。測定端子が摩耗して短くなって
も、端子ホルダを動かすことで必要な接触圧を確保する
ことができる。
【０００９】
【実施例】以下、本発明の測定端子ユニットを実施例に
基づいて説明する。図１にその一実施例を示す。このユ
ニット１は、平面が四角形状を呈するベース板２と、ベ
ース板２に矢印方向に移動可能に取付けた対の端子ホル
ダ３、４と、各端子ホルダ３、４にボルト等（図示せず
）で固定した長い棒状の測定端子５、６とを有する。 測定端子５、６はベース板２に対して斜方向に固定され
ており、ボルト等を操作して電子部品の両電極の幅に応
じて測定端子５、６の先端の間隔を調整することができ
る。更に測定端子５、６は測定ケーブル７、８に接続し
てあり、測定時には測定ケーブル７、８を測定器（図示
せず）に接続する。
基づいて説明する。図１にその一実施例を示す。このユ
ニット１は、平面が四角形状を呈するベース板２と、ベ
ース板２に矢印方向に移動可能に取付けた対の端子ホル
ダ３、４と、各端子ホルダ３、４にボルト等（図示せず
）で固定した長い棒状の測定端子５、６とを有する。 測定端子５、６はベース板２に対して斜方向に固定され
ており、ボルト等を操作して電子部品の両電極の幅に応
じて測定端子５、６の先端の間隔を調整することができ
る。更に測定端子５、６は測定ケーブル７、８に接続し
てあり、測定時には測定ケーブル７、８を測定器（図示
せず）に接続する。
【００１０】このようなユニット１は、測定端子５、６
を端子ホルダ３、４にボルト等で固定してあるので、多
数の測定端子を有する場合であっても測定端子を整列さ
せる調整作業は簡易であり、組立時間は従来ほど長くな
らない。上記ユニット１を用いて、例えば電子部品とし
てチップ抵抗器の抵抗値を測定するには次の如く行う。 図２に示すユニット１は基板３０上に設けた多数の抵抗
体３１（図２では９個）に対応する９対の測定端子５、
６を有する。勿論、各対の測定端子５、６の先端は一定
間隔に整列させてある。このユニット１を基板３０の上
方から下げ、各対の測定端子５、６を各抵抗体３１の電
極３２、３３に接触させる（図１参照）。
を端子ホルダ３、４にボルト等で固定してあるので、多
数の測定端子を有する場合であっても測定端子を整列さ
せる調整作業は簡易であり、組立時間は従来ほど長くな
らない。上記ユニット１を用いて、例えば電子部品とし
てチップ抵抗器の抵抗値を測定するには次の如く行う。 図２に示すユニット１は基板３０上に設けた多数の抵抗
体３１（図２では９個）に対応する９対の測定端子５、
６を有する。勿論、各対の測定端子５、６の先端は一定
間隔に整列させてある。このユニット１を基板３０の上
方から下げ、各対の測定端子５、６を各抵抗体３１の電
極３２、３３に接触させる（図１参照）。
【００１１】この時、その接触状態の一部を拡大して示
す図３において、ベース板２を下方向に或る程度の力Ｆ
で押せば、測定端子５が撓んで電極３２に接触する。こ
の測定端子５の接触形態により、測定時に必要な接触圧
が得られ、測定誤差が生じなくなる。又、測定端子５、
６の先端が使用に伴い摩耗して短くなれば、その都度、
端子ホルダ３、４を互いに接近する方向に動かして、測
定端子５、６の先端を所定間隔に整列させればよい。こ
れと併せて、測定端子５、６を電極３２、３３に押圧す
る力を大きくしていけば、摩滅以前の長さの測定端子５
、６の接触圧を確保することができる。
す図３において、ベース板２を下方向に或る程度の力Ｆ
で押せば、測定端子５が撓んで電極３２に接触する。こ
の測定端子５の接触形態により、測定時に必要な接触圧
が得られ、測定誤差が生じなくなる。又、測定端子５、
６の先端が使用に伴い摩耗して短くなれば、その都度、
端子ホルダ３、４を互いに接近する方向に動かして、測
定端子５、６の先端を所定間隔に整列させればよい。こ
れと併せて、測定端子５、６を電極３２、３３に押圧す
る力を大きくしていけば、摩滅以前の長さの測定端子５
、６の接触圧を確保することができる。
【００１２】更に、測定端子５、６の先端と電極３２、
３３との間に小さな異物が介在しても、力Ｆを受けた測
定端子５、６は、その先端が電極３２、３３に接触した
まま僅かに撓むので、小さな異物を容易に除去すること
ができ、正常な測定を行える。
３３との間に小さな異物が介在しても、力Ｆを受けた測
定端子５、６は、その先端が電極３２、３３に接触した
まま僅かに撓むので、小さな異物を容易に除去すること
ができ、正常な測定を行える。
【００１３】
【発明の効果】本発明の測定端子ユニットは、以上説明
したように、電子部品の電極に接触させる測定端子を端
子ホルダに斜方向に取付けたので、下記の効果を奏する
。 （１）測定端子の先端を整列させる調整時間及び組立時
間を短縮でき、測定端子ユニットの組立コストを削減で
きる。 （２）測定端子が摩滅しても端子ホルダを動かして測定
端子の先端の位置調節を行うことができるので、測定端
子の長短によらずに常に一定の接触圧を得ることができ
る。そのため、測定誤差が生じないだけでなく、測定端
子の寿命が大幅に延びる。 （３）測定端子と電極との間に異物が在っても、測定端
子が撓むと共に僅かに平行移動することにより、異物を
簡単に取り除くことができるので、異物による測定異常
が殆ど発生しない。
したように、電子部品の電極に接触させる測定端子を端
子ホルダに斜方向に取付けたので、下記の効果を奏する
。 （１）測定端子の先端を整列させる調整時間及び組立時
間を短縮でき、測定端子ユニットの組立コストを削減で
きる。 （２）測定端子が摩滅しても端子ホルダを動かして測定
端子の先端の位置調節を行うことができるので、測定端
子の長短によらずに常に一定の接触圧を得ることができ
る。そのため、測定誤差が生じないだけでなく、測定端
子の寿命が大幅に延びる。 （３）測定端子と電極との間に異物が在っても、測定端
子が撓むと共に僅かに平行移動することにより、異物を
簡単に取り除くことができるので、異物による測定異常
が殆ど発生しない。
【図１】本発明の測定端子ユニット、及びその使用例を
示す側面図である。
示す側面図である。
【図２】図１のユニットの一部透視平面図である。
【図３】図１のユニットにおける棒状の測定端子と電極
との接触状態の一部を示す拡大図である。
との接触状態の一部を示す拡大図である。
【図４】従来の測定端子ユニット、及びその使用例を示
す側面図である。
す側面図である。
１ 測定端子ユニット
２ ベース板
３、４ 端子ホルダ
５、６ 棒状の測定端子
７、８ 測定ケーブル
Claims (1)
- 【請求項１】ベース板に対の端子ホルダを移動可能に取
付け、各端子ホルダに棒状の測定端子を、各々対応する
測定端子の先端が一定間隔を置いて整列するようにベー
ス板に対して斜方向に取付けたことを特徴とする測定端
子ユニット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3104185A JP2809894B2 (ja) | 1991-05-09 | 1991-05-09 | 測定端子ユニット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3104185A JP2809894B2 (ja) | 1991-05-09 | 1991-05-09 | 測定端子ユニット |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04332872A true JPH04332872A (ja) | 1992-11-19 |
| JP2809894B2 JP2809894B2 (ja) | 1998-10-15 |
Family
ID=14373939
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3104185A Expired - Fee Related JP2809894B2 (ja) | 1991-05-09 | 1991-05-09 | 測定端子ユニット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2809894B2 (ja) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5132181A (en) * | 1974-09-11 | 1976-03-18 | Matsushita Electric Industrial Co Ltd | Handotaisoshisokuteiyopuroobubarinoseizohoho |
| JPS6395187U (ja) * | 1986-12-10 | 1988-06-20 | ||
| JPH02105079A (ja) * | 1988-10-14 | 1990-04-17 | Asahi Kasei Denshi Kk | マルチコンタクト式プローブ |
| JP3012172U (ja) * | 1994-09-22 | 1995-06-13 | レック株式会社 | 収納ケース及びトイレ用清掃具 |
-
1991
- 1991-05-09 JP JP3104185A patent/JP2809894B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5132181A (en) * | 1974-09-11 | 1976-03-18 | Matsushita Electric Industrial Co Ltd | Handotaisoshisokuteiyopuroobubarinoseizohoho |
| JPS6395187U (ja) * | 1986-12-10 | 1988-06-20 | ||
| JPH02105079A (ja) * | 1988-10-14 | 1990-04-17 | Asahi Kasei Denshi Kk | マルチコンタクト式プローブ |
| JP3012172U (ja) * | 1994-09-22 | 1995-06-13 | レック株式会社 | 収納ケース及びトイレ用清掃具 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2809894B2 (ja) | 1998-10-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |