JPH02108993A - 放射線汚染濃度測定方法 - Google Patents
放射線汚染濃度測定方法Info
- Publication number
- JPH02108993A JPH02108993A JP26315488A JP26315488A JPH02108993A JP H02108993 A JPH02108993 A JP H02108993A JP 26315488 A JP26315488 A JP 26315488A JP 26315488 A JP26315488 A JP 26315488A JP H02108993 A JPH02108993 A JP H02108993A
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- JP
- Japan
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- radiation
- cartridge
- contamination concentration
- sampling gas
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
本発明は、例えば放射性物質を取扱う施設から排出され
るサンプリングガスの放射線汚染濃度を測定する放射線
汚染濃度測定方法に関する。
るサンプリングガスの放射線汚染濃度を測定する放射線
汚染濃度測定方法に関する。
（従来の技術）
かかるサンプリングガスの放射線汚染濃度を測定する方
法としては、次のような技術が知られている。先ず、第
１の技術は第４図に示すようにサンプリングガスＡの流
入口１、流出口２及び検出器用穴３を形成した検出台４
の検出器用穴３底部にサンプリングガスを吸着する放射
線吸収体としてのカートリッジ５が配置される。なお、
このカートリッジ５は活性炭等を円柱状に形成したもの
で、サンプリングガスを吸着するものである。
法としては、次のような技術が知られている。先ず、第
１の技術は第４図に示すようにサンプリングガスＡの流
入口１、流出口２及び検出器用穴３を形成した検出台４
の検出器用穴３底部にサンプリングガスを吸着する放射
線吸収体としてのカートリッジ５が配置される。なお、
このカートリッジ５は活性炭等を円柱状に形成したもの
で、サンプリングガスを吸着するものである。
そして、検出用穴３の上部には放射線検出器６がカート
リッジ５と対向する如く配置される。このような配置状
態においてサンプリングガスＡを流入口１から流入され
てカートリッジ５内を通過させることによってサンプリ
ングガスＡがカートリッジ５に連続的にサンプリングさ
れる。そして、サンプリングガスＡは流出口２から流出
される。
リッジ５と対向する如く配置される。このような配置状
態においてサンプリングガスＡを流入口１から流入され
てカートリッジ５内を通過させることによってサンプリ
ングガスＡがカートリッジ５に連続的にサンプリングさ
れる。そして、サンプリングガスＡは流出口２から流出
される。
従って、サンプリングガス中のダストはカートリッジ５
に吸着されかつ集積される。この状態で放射線検出器６
はカートリッジ５から放射される放射線を検出し、この
検出結果からサンプリングガスの放射線汚染濃度が求め
られる。
に吸着されかつ集積される。この状態で放射線検出器６
はカートリッジ５から放射される放射線を検出し、この
検出結果からサンプリングガスの放射線汚染濃度が求め
られる。
次に第２の技術は第５図に示すように先ず活性炭から成
る各カートリッジ７ａ〜７ｆが放射線汚染濃度の各測定
箇所に配置されてサンプリングガスの吸着及びその集積
が行われる。そして、このサンプリングガスの吸着及び
その集積が終了すると、これらカートリッジ７ａ〜７ｆ
が回収されてターンテーブル８上に積重ねられる。なお
、このターンテーブル８は第６図に示すように上方から
見ると円形状でかつ円周上に複数の穴９が形成されてい
る。しかるに、各カートリッジ７ａ〜７ｆはこれら穴９
のうち１つの穴９に積重ねられる。
る各カートリッジ７ａ〜７ｆが放射線汚染濃度の各測定
箇所に配置されてサンプリングガスの吸着及びその集積
が行われる。そして、このサンプリングガスの吸着及び
その集積が終了すると、これらカートリッジ７ａ〜７ｆ
が回収されてターンテーブル８上に積重ねられる。なお
、このターンテーブル８は第６図に示すように上方から
見ると円形状でかつ円周上に複数の穴９が形成されてい
る。しかるに、各カートリッジ７ａ〜７ｆはこれら穴９
のうち１つの穴９に積重ねられる。
一方、各カートリッジ７ａ〜７ｆが積重ねられた穴９と
は別の穴９の上方には放射線検出器１０が配置されてい
る。しかして、ターンテーブル８が回転されて各カート
リッジ７ａ〜７ｆがそれぞれ各穴９内に分配されて配置
される。そして、各カートリッジ７ａ〜７ｆが順次放射
線検出器１０の下方に配置されて各カートリッジ７ａ〜
７ｆから放射される各放射線が検出される。なお、第５
図に示す装置ではカートリッジ７ｆ〜７ａの順に放射線
検出器１０の下方に配置される。そうして、全てのカー
トリッジ７ａ〜７ｆに対する検出が終了すると、検出さ
れた各放射線量から各放射線汚染測定箇所における各放
射線汚染濃度が求められる。
は別の穴９の上方には放射線検出器１０が配置されてい
る。しかして、ターンテーブル８が回転されて各カート
リッジ７ａ〜７ｆがそれぞれ各穴９内に分配されて配置
される。そして、各カートリッジ７ａ〜７ｆが順次放射
線検出器１０の下方に配置されて各カートリッジ７ａ〜
７ｆから放射される各放射線が検出される。なお、第５
図に示す装置ではカートリッジ７ｆ〜７ａの順に放射線
検出器１０の下方に配置される。そうして、全てのカー
トリッジ７ａ〜７ｆに対する検出が終了すると、検出さ
れた各放射線量から各放射線汚染測定箇所における各放
射線汚染濃度が求められる。
ところで、カートリッジ５は放射能物質の違いによって
その大きさを変える必要がある。例えば、放射能物質が
よう素の場合はカートリッジ５の大きさを厚み２５ｍｍ
に形成することで良いが、放射能物質がカートリッジ５
に対して吸着効率の低い例えばルテニウムやロジウム等
であるとカートリッジ５の厚みを４００〜５００ｍａ＋
とする必要がある。ところが、サンプリングガスを吸着
させるには上記の如く放射能物質に応じてその厚みを変
えれば良いが、吸着したサンプリングガスから放射され
る放射線を検出する場合にこの厚みが影響を与える。
その大きさを変える必要がある。例えば、放射能物質が
よう素の場合はカートリッジ５の大きさを厚み２５ｍｍ
に形成することで良いが、放射能物質がカートリッジ５
に対して吸着効率の低い例えばルテニウムやロジウム等
であるとカートリッジ５の厚みを４００〜５００ｍａ＋
とする必要がある。ところが、サンプリングガスを吸着
させるには上記の如く放射能物質に応じてその厚みを変
えれば良いが、吸着したサンプリングガスから放射され
る放射線を検出する場合にこの厚みが影響を与える。
つまり、第７図に示すように厚みの大きいカートリッジ
１１の放射線をＢ方向から検出する場合、カートリッジ
１］の上部からの放射線ｅｌは減衰せずに放射されるが
、カートリッジ１１の底部からの放射線ｏ２はカートリ
ッジ１１の内部を通過する際に減衰してしまう。このた
め、主にカートリッジ１１の上部から放射される放射線
のみで検出が行われてしまい、精度高い放射線汚染濃度
の測定ができなかった。
１１の放射線をＢ方向から検出する場合、カートリッジ
１］の上部からの放射線ｅｌは減衰せずに放射されるが
、カートリッジ１１の底部からの放射線ｏ２はカートリ
ッジ１１の内部を通過する際に減衰してしまう。このた
め、主にカートリッジ１１の上部から放射される放射線
のみで検出が行われてしまい、精度高い放射線汚染濃度
の測定ができなかった。
（発明が解決しようとする課題）
以上のように放射能物質の吸着効率が悪くてカートリッ
ジの厚みを大きくした場合、精度高くカートリッジから
放射される放射線量を検出することができない。
ジの厚みを大きくした場合、精度高くカートリッジから
放射される放射線量を検出することができない。
そこで本発明は、放射線吸着体の厚みが大きくなっても
高精度に放射線量を検出できて放射線汚染濃度を求める
ことができる放射線汚染濃度測定方法を提供することを
目的とする。
高精度に放射線量を検出できて放射線汚染濃度を求める
ことができる放射線汚染濃度測定方法を提供することを
目的とする。
［発明の構成］
（課題を解決するための手段と作用）
本発明は、放射線に汚染されたサンプリングガスを吸着
する比較的厚みのある棒状の放射線吸着体をこの放射線
吸着体内部から放射される放射線が減衰しない長さごと
に分割し、これら分割さ４た各放射線吸着体から放射さ
れる放射線を検出してサンプリングガスの放射線汚染濃
度を測定するようにした放射線汚染濃度測定方法である
。
する比較的厚みのある棒状の放射線吸着体をこの放射線
吸着体内部から放射される放射線が減衰しない長さごと
に分割し、これら分割さ４た各放射線吸着体から放射さ
れる放射線を検出してサンプリングガスの放射線汚染濃
度を測定するようにした放射線汚染濃度測定方法である
。
（実施例）
以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。
る。
第１図は本発明方法を適用した放射線汚染濃度測定装置
の構成図である。同図においてＳはサンプル装着装置で
あって、次のような構成となっている。すなわち、ター
ンテーブル２０は基台２１上の回転自在に載置されてモ
ータ２２によって回転するものとなっている。そして、
このターンテーブル２０は上方から見ると第２図に示す
ように円形上の形成され、かつその円周上に各式２３が
形成されている。又、このターンテーブル２０上にはカ
ッター機構２４が配置されている。このカッター機構２
４は駆動部２５と刃２６とから構成され、駆動部２５に
よって刃２６が矢印（イ）方向に移動するものとなって
いる。そして、このカッター機構２４の刃２６は１つの
穴２３上を通過するように配置されている。なお、この
カッター機構２４はターンテーブル２０に対して固定さ
れておらず、別途図示しない支持体によって基台２１に
対して固定されている。さらに、刃２６が上部を通過す
る穴２３上にはカートリッジホルダ２７が配置されてい
る。なお、このカートリッジホルダ２７も別途図示しな
い支持体によって基台２１に対して固定されている。一
方、カートリッジホルダ２７が配置された穴２３からタ
ーンテーブル２０の回転中心を通って対向する位置の穴
２３の上方には放射線検出器２８が配置されている。そ
して、この放射線検出器２８の出力端は■［定器２９例
えばディジタルレートメータに接続され、放射線検出器
２８から出力される測定信号が測定器２９に送られて計
数処理されるようになっている。この測定器２９にはデ
ータ伝送ライン３０を介してデータ処理装置３１が接続
されている。このデータ処理装置３１は測定器２９の計
数処理結果を集計して放射線汚染濃度を演算し求める機
能を有している。又、このデータ処理装置３１はデータ
伝送ライン３２、インターフェース３３を通してモータ
２２に駆動制御信号を送出するとともにカッター機構２
４にカッタ制御信号を送出する機能を自゛している。な
お、左ツタ制御信号はカッタ動作及びカットする位置の
データを含んでいる。なお、３４はフードカバーである
。
の構成図である。同図においてＳはサンプル装着装置で
あって、次のような構成となっている。すなわち、ター
ンテーブル２０は基台２１上の回転自在に載置されてモ
ータ２２によって回転するものとなっている。そして、
このターンテーブル２０は上方から見ると第２図に示す
ように円形上の形成され、かつその円周上に各式２３が
形成されている。又、このターンテーブル２０上にはカ
ッター機構２４が配置されている。このカッター機構２
４は駆動部２５と刃２６とから構成され、駆動部２５に
よって刃２６が矢印（イ）方向に移動するものとなって
いる。そして、このカッター機構２４の刃２６は１つの
穴２３上を通過するように配置されている。なお、この
カッター機構２４はターンテーブル２０に対して固定さ
れておらず、別途図示しない支持体によって基台２１に
対して固定されている。さらに、刃２６が上部を通過す
る穴２３上にはカートリッジホルダ２７が配置されてい
る。なお、このカートリッジホルダ２７も別途図示しな
い支持体によって基台２１に対して固定されている。一
方、カートリッジホルダ２７が配置された穴２３からタ
ーンテーブル２０の回転中心を通って対向する位置の穴
２３の上方には放射線検出器２８が配置されている。そ
して、この放射線検出器２８の出力端は■［定器２９例
えばディジタルレートメータに接続され、放射線検出器
２８から出力される測定信号が測定器２９に送られて計
数処理されるようになっている。この測定器２９にはデ
ータ伝送ライン３０を介してデータ処理装置３１が接続
されている。このデータ処理装置３１は測定器２９の計
数処理結果を集計して放射線汚染濃度を演算し求める機
能を有している。又、このデータ処理装置３１はデータ
伝送ライン３２、インターフェース３３を通してモータ
２２に駆動制御信号を送出するとともにカッター機構２
４にカッタ制御信号を送出する機能を自゛している。な
お、左ツタ制御信号はカッタ動作及びカットする位置の
データを含んでいる。なお、３４はフードカバーである
。
次に上記の如く構成された装置での放射線汚染濃度測定
の作用について説明する。
の作用について説明する。
ここで、放射線に汚染されたサンプリングガスを吸着す
る放射線吸着体としてのカートリッジ３４は第３図に示
すように円柱形状で比較的厚みのあるものとなっており
、その内部にシリカゲルが収容されている。具体的にそ
の大きさはφ５０ Ｘ ５０ｂｍ となっている。
る放射線吸着体としてのカートリッジ３４は第３図に示
すように円柱形状で比較的厚みのあるものとなっており
、その内部にシリカゲルが収容されている。具体的にそ
の大きさはφ５０ Ｘ ５０ｂｍ となっている。
さて、このカートリッジ３４は放射線汚染濃度１１定箇
所に配置されてサンプリングガスの吸着が行われる。そ
して、この吸着が終了すると、このカートリッジ３４は
カートリッジホルダ２７に置かれる。この場合、カート
リッジ３４はターンテーブル２０の穴２３内に配置され
る。
所に配置されてサンプリングガスの吸着が行われる。そ
して、この吸着が終了すると、このカートリッジ３４は
カートリッジホルダ２７に置かれる。この場合、カート
リッジ３４はターンテーブル２０の穴２３内に配置され
る。
この状態にデータ処理装置３１はデータ伝送ライン３２
及びインターフェース３３を通してカッター機構２４の
駆動部２５にカッタ制御信号を送出する。これにより、
カッター機構２４はカッタ制御信号に含まれるカッタ位
置データがら刃２６の高さ位置を調整し、この後に駆動
部５の駆動によって刃２６を矢印（イ）方向に移動させ
る。しかして、カートリッジ３４は第３図に示すように
位置ｒ１でカットされて厚さ例えば約２５１の分割カー
トリッジ３４ａに分割される。次にデータ処理装置３１
はデータ伝送ライン３２及びインターフェース３３を通
してモータ２２に所定の回転角度だけ回転させる駆動制
御信号を送出する。これにより、ターンテーブル２０は
所定角度だけ回転して分割カートリッジ３４ａを１つの
穴２３にホールドし、かつ隣接する次の穴２３内にカー
トリッジ３４を配置する。再びカッター機構２４はカッ
ター機構２４の駆動部２５にカッタ制御信号を送出する
。これにより、カッター機構２４は上記同様に刃２６の
高さ位置を調整して刃２６を矢印（イ）方向に移動させ
る。しかして、カートリッジ３４は第３図に示すように
位置ｒ２でカットされて分割カートリッジ３４ａと同一
厚さの分割カートリッジ３４ｂに分割される。そして、
データ処理装置３１はモータ２２に所定の回転角度だけ
回転させる駆動制御信号を送出してターンテーブル２０
を所定角度だけ回転させ、これにより分割カートリッジ
３４ａ、３４ｂはそれぞれ各人２３にホールドされ、か
つさらに隣接する次の穴２３内にカートリッジ３４が配
置される。このようにカートリッジ３４の分割カットと
ターンテーブル２０の回転の動作によって各分割カート
リッジ３４ａ〜３４ｇが各穴２３内にホールドされる。
及びインターフェース３３を通してカッター機構２４の
駆動部２５にカッタ制御信号を送出する。これにより、
カッター機構２４はカッタ制御信号に含まれるカッタ位
置データがら刃２６の高さ位置を調整し、この後に駆動
部５の駆動によって刃２６を矢印（イ）方向に移動させ
る。しかして、カートリッジ３４は第３図に示すように
位置ｒ１でカットされて厚さ例えば約２５１の分割カー
トリッジ３４ａに分割される。次にデータ処理装置３１
はデータ伝送ライン３２及びインターフェース３３を通
してモータ２２に所定の回転角度だけ回転させる駆動制
御信号を送出する。これにより、ターンテーブル２０は
所定角度だけ回転して分割カートリッジ３４ａを１つの
穴２３にホールドし、かつ隣接する次の穴２３内にカー
トリッジ３４を配置する。再びカッター機構２４はカッ
ター機構２４の駆動部２５にカッタ制御信号を送出する
。これにより、カッター機構２４は上記同様に刃２６の
高さ位置を調整して刃２６を矢印（イ）方向に移動させ
る。しかして、カートリッジ３４は第３図に示すように
位置ｒ２でカットされて分割カートリッジ３４ａと同一
厚さの分割カートリッジ３４ｂに分割される。そして、
データ処理装置３１はモータ２２に所定の回転角度だけ
回転させる駆動制御信号を送出してターンテーブル２０
を所定角度だけ回転させ、これにより分割カートリッジ
３４ａ、３４ｂはそれぞれ各人２３にホールドされ、か
つさらに隣接する次の穴２３内にカートリッジ３４が配
置される。このようにカートリッジ３４の分割カットと
ターンテーブル２０の回転の動作によって各分割カート
リッジ３４ａ〜３４ｇが各穴２３内にホールドされる。
一方、ターンテーブル２０の回転により分割カートリッ
ジ３４ａが放射線検出器２８の下方に配置されると、こ
の放射線検出器２８は分割カートリッジ３４ａから放射
される放射線量を検出してその測定信号をｕＪ定器２９
に送出する。次に夕−ンテーブル２０が回転して分割カ
ートリッジ３４ｂが放射線検出器２８の下方に配置され
ると、この放射線検出器２８は分割カートリッジ３４ｂ
から放射される放射線量を検出してその測定信号を測定
器２９に送出する。以下、放射線検出器２８は順次下方
に配置される各分割カートリッジ３４ｃ〜３４ｇから放
射される放射線量を検出してそのＭ１１定器を測定器２
９に送出する。
ジ３４ａが放射線検出器２８の下方に配置されると、こ
の放射線検出器２８は分割カートリッジ３４ａから放射
される放射線量を検出してその測定信号をｕＪ定器２９
に送出する。次に夕−ンテーブル２０が回転して分割カ
ートリッジ３４ｂが放射線検出器２８の下方に配置され
ると、この放射線検出器２８は分割カートリッジ３４ｂ
から放射される放射線量を検出してその測定信号を測定
器２９に送出する。以下、放射線検出器２８は順次下方
に配置される各分割カートリッジ３４ｃ〜３４ｇから放
射される放射線量を検出してそのＭ１１定器を測定器２
９に送出する。
このとき、測定器２９は放射線検出器２８から送られて
くる測定信号を順次計数処理してその計数結果をデータ
伝送ライン３０を通してデータ処理装置３１に送る。か
くして、このデータ処理装置３１はル１定器２９からの
計数結果を受けて集計処理等を実行してカートリッジ３
４に吸着されたサンプリングガスの放射線汚染濃度Ｑを
求める。
くる測定信号を順次計数処理してその計数結果をデータ
伝送ライン３０を通してデータ処理装置３１に送る。か
くして、このデータ処理装置３１はル１定器２９からの
計数結果を受けて集計処理等を実行してカートリッジ３
４に吸着されたサンプリングガスの放射線汚染濃度Ｑを
求める。
なお、この放射線１９染濃度ＱはＣＲＴ表示装置で表示
出力されたり、又プリンタでプリントアウトされる。
出力されたり、又プリンタでプリントアウトされる。
このように上記一実施例においては、サンプリングガス
を吸着するカートリッジ３４をその内部から放射される
放射線が減衰しない長さごとに分割し、これら分割カー
トリッジ３４ａ〜３４ｇから放射される放射線を検出し
てサンプリングガスの放射線汚染濃度を／１１１定する
ようにしたので、放射能物質の吸着効率が低くカートリ
ッジ３４の形状が厚くなってもこのカートリッジ３４に
吸着されたサンプリングガスの放射線汚染濃度を高精度
に測定できる。しかも、この測定が自動的にかつ迅速に
できる。又、カートリッジ３４を分割する厚みはＭＪ定
対象とする放射能物質により調整できる。又、サンプル
装着装置Ｓにカッター機構２４を備えるだけなので、簡
単な構成で安価に製作できる。
を吸着するカートリッジ３４をその内部から放射される
放射線が減衰しない長さごとに分割し、これら分割カー
トリッジ３４ａ〜３４ｇから放射される放射線を検出し
てサンプリングガスの放射線汚染濃度を／１１１定する
ようにしたので、放射能物質の吸着効率が低くカートリ
ッジ３４の形状が厚くなってもこのカートリッジ３４に
吸着されたサンプリングガスの放射線汚染濃度を高精度
に測定できる。しかも、この測定が自動的にかつ迅速に
できる。又、カートリッジ３４を分割する厚みはＭＪ定
対象とする放射能物質により調整できる。又、サンプル
装着装置Ｓにカッター機構２４を備えるだけなので、簡
単な構成で安価に製作できる。
なお、本発明は上記一実施例に限定されるものでなくそ
の主旨を逸脱しない範囲で変形してもよい。例えば、フ
ードカバー３４及びカートリッジ３４の自動回収装置を
付加することによって放射線の肢曝防止を強化できる。
の主旨を逸脱しない範囲で変形してもよい。例えば、フ
ードカバー３４及びカートリッジ３４の自動回収装置を
付加することによって放射線の肢曝防止を強化できる。
又、カートリッジは予め分割しておき、この分割された
状態でサンプリングガスの吸着を行なって回収し、この
後にカートリッジホルダー２７に積重ねてセットしても
よい。
状態でサンプリングガスの吸着を行なって回収し、この
後にカートリッジホルダー２７に積重ねてセットしても
よい。
「発明の効果」
以上詳記したように本発明によれば、放射線吸着体の厚
みが大きくなっても高精度に放射線量を検出できて放射
線汚染濃度を求めることができる放射線汚染濃度測定方
法を提供できる。
みが大きくなっても高精度に放射線量を検出できて放射
線汚染濃度を求めることができる放射線汚染濃度測定方
法を提供できる。
第１図乃至第３図は本発明の放射線汚染濃度測定方法を
説明するための図であって、第１図は同方法を適用した
放射線汚染濃度７１Ｆ１定装置の構成図、第２図はター
ンテーブルを上方から見た図、第３図はカートリッジの
分割を示す図、第４図乃至第７図は従来技術を説明する
ための図である。 ２０・・・ターンテーブル、２２・・・基台、２３・・
・穴、２４・・・カッター機構、２５・・・駆動部、２
６・・・は、２７・・・カートリッジホルダ、２８・・
・放射線検出器、２９・・・ｍ１定器、３１・・・デー
タ処理装置、３４・・・カートリッジ、３４ａ〜３４ｇ
・・・分割カートリッジ。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第３図 第 図 ７ご 第 図 第 図 第 図
説明するための図であって、第１図は同方法を適用した
放射線汚染濃度７１Ｆ１定装置の構成図、第２図はター
ンテーブルを上方から見た図、第３図はカートリッジの
分割を示す図、第４図乃至第７図は従来技術を説明する
ための図である。 ２０・・・ターンテーブル、２２・・・基台、２３・・
・穴、２４・・・カッター機構、２５・・・駆動部、２
６・・・は、２７・・・カートリッジホルダ、２８・・
・放射線検出器、２９・・・ｍ１定器、３１・・・デー
タ処理装置、３４・・・カートリッジ、３４ａ〜３４ｇ
・・・分割カートリッジ。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第３図 第 図 ７ご 第 図 第 図 第 図
Claims (1)
- 放射線に汚染されたガスをサンプリングしこのサンプリ
ングガスの放射線汚染濃度を測定するものにおいて、前
記サンプリングガス中のダストを吸着する棒状の放射線
吸着体をこの放射線吸着体内部から放射される放射線が
減衰しない厚さに分割し、これら分割された各放射線吸
着体から放射される放射線を検出して前記サンプリング
ガスの放射線汚染濃度を測定することを特徴とする放射
線汚染濃度測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26315488A JPH02108993A (ja) | 1988-10-19 | 1988-10-19 | 放射線汚染濃度測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26315488A JPH02108993A (ja) | 1988-10-19 | 1988-10-19 | 放射線汚染濃度測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02108993A true JPH02108993A (ja) | 1990-04-20 |
Family
ID=17385549
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26315488A Pending JPH02108993A (ja) | 1988-10-19 | 1988-10-19 | 放射線汚染濃度測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02108993A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006071442A (ja) * | 2004-09-02 | 2006-03-16 | Fuji Electric Systems Co Ltd | 集塵用フィルタの再利用可否判定方法および集塵装置 |
| JP2013033012A (ja) * | 2011-08-03 | 2013-02-14 | Nippon Steel & Sumitomo Metal | 物体の放射能濃度測定方法 |
-
1988
- 1988-10-19 JP JP26315488A patent/JPH02108993A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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