JPH02122643A - プローブ装置 - Google Patents

プローブ装置

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JPH02122643A
JPH02122643A JP27649588A JP27649588A JPH02122643A JP H02122643 A JPH02122643 A JP H02122643A JP 27649588 A JP27649588 A JP 27649588A JP 27649588 A JP27649588 A JP 27649588A JP H02122643 A JPH02122643 A JP H02122643A
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JP
Japan
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stopper
lever
clamp
test head
wafer prober
Prior art date
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Granted
Application number
JP27649588A
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English (en)
Other versions
JP2665506B2 (ja
Inventor
Munetoshi Nagasaka
旨俊 長坂
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Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
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Publication date
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  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】
この発明は、プローブ装置等に設けられたテストヘッド
を確実に閉じておくためのクランプ装置に関し、指を挟
んだりする危険を防止することのできるウェハプローバ
クランプに関するものである。
【従来の技術】
従来、プローブ装置のプローブカードを搭載した開閉自
在のテーブルからなるテストヘッドはかなり重量がある
。そのため開閉にあまり力をかけないですむように、エ
アスプリング等の加圧手段の加圧力とテストヘッドの重
量とがつり合うようにして、テストヘッドが支持されて
いた。 したがってテストヘッドは、常時開放される方向に付勢
されている。そのため、テストヘッドは閉じているとき
には、上面を本体側に取付けられたクランプにより確実
に押えられ、クランプを開いてから開けるようになって
いる。上記従来のウェハプローバクランプは、第4図に
示すようにテストヘッド1に当接するストッパ2と、こ
のストッパ2を回動させるリンク機構3と、リンク機構
3に取付けられたレバー4とを有するものであった。
【発明が解決しようとする問題点】
ところが、上記した従来のウェハプローバクランプの場
合には、レバー4がストッパ2の回動する軌跡とほぼ同
じ軌跡で回動するようにしであるので、テストヘッドの
開放時にレバー4を持つ手にストッパ2部分が接近し、
極端な場合にはレバー4とストッパ2との間に手が挾ま
れて負傷してしまうという欠点があった。 この発明は従来例の以上のような問題点に鑑みなされた
もので、クランプのレバーとストッパとが交差するよう
回動する場合でも、レバーを持つ手にストッパが接近し
て挾まれることがないようにした、ウェハプローバクラ
ンプを提供することを目的としている。
【問題点を解決するための手段】
すなわち、この発明のウェハプローバクランプは、テス
トヘッドのクランプ部に当接するストッパと、このスト
ッパを回動させるリンク機構と、リンク機構に取付けら
れたレバーとを有するプローバにおいて、上記レバーを
ストッパとは反対の側に屈曲させて把手とするとともに
、把手にストッパ側に張り出すように安全カバーを設け
たことを特徴とするものである。
【作用】
この発明のウェハプローバクランプは、レバーを持つ手
がストッパとは交差しないようになっており、しかもス
トッパの回動する位置には安全カバーによって手が入ら
ないようになっているので、テストヘッドの開閉を安全
に行なえるようになり、非常に作業がしやすくなった。
【実施例】
以下、この発明のウエハプローバの実施例を第1図ない
し第3図を参照して説明する。 ウエハプローバについては当業者において周知であるた
め、詳細は省略する。テストヘッド10をクランプする
クランプ装置は、第1図および第2図に示すように構成
されている。すなわち、ウエハプローバの本体11上面
に取付けたU字状のフレーム12と、このフレーム12
に回動可能に軸着されたレバー13と、同様にフレーム
12に回動可能に軸着されたストッパ14とを有してい
る。そしてこのレバー13とストッパ14とは、リンク
機構15により連結されてレバー13の操作によりスト
ッパ14が回動し、テストヘッド10に当接あるいは離
脱してテストヘッド10を開放ないし閉鎖するようにな
っている。 上記レバー13は、U字状フレーム12の上部に回転軸
21によって軸着され、回転軸21の上方に伸びてその
上部をテストヘッド10とは反対側に屈曲し、把手22
を形成している。また回転軸21の下方には、フレーム
12の側壁にそって分岐させたL字形のアーム23が、
レバー13と一体的に形成しである。 次に上記ストッパ14は、分岐したアーム23の間にお
いて回転軸24によってフレーム12に軸着され、回転
軸24からテストヘッド10側に伸びて、その先端に下
向きにヘッダ25を取付けである。26はヘッダ25の
端面に取付けたバッキングで、テストヘッド10を被測
定体であるウェハ上方に載置した位置を保持するためテ
ストヘッドlOのクランプ部に当接する。なおヘッダ2
5はストッパ14に螺着され、他端をナツト27でねじ
止めされている。また回転軸24の他方の側にも、アー
ム28がストッパ14と一体的に形成され、このアーム
28ど上記アーム23との間はリンク29で連結されて
いる。このようにレバー13とストッパ14とは各アー
ム23.28とリンク29とからなるリンク機構15に
よって連結され、レバー13の操作によりストッパ14
が連動して回動するようになっている。 上述のようにレバー13は、テストヘッド10とは反対
側に屈曲して把手22を形成したので、この把手22を
握って操作する場合には、第3図のようにストッパ14
がレバー13側に回動しても手が挟まれることがない。 また、レバー13の把手22の上部端面には、ストッパ
14側に張り出すように幅広の安全カバー31が設けら
れている。したがって、もし把手22を握ろうとして誤
って手がレバー13とストッパ14との間に入ろうとし
ても、この安全カバー31によって手がストッパ14側
に落ち込むことはなく、極めて安全性が高くなった。 この発明のウェハプローバクランプは上記プローブ装置
等のテストヘッドだけではなく、種々の機器のテストヘ
ッドのためのクランプ装置に適用4゜ することができる。
【発明の効果】
この発明のウェハプローバクランプは以上のように、把
手部分をストッパの軌跡上から離すとともに、把手に安
全カバーを取付けてレバーとストッパとの間に手が入ら
ないようにしであるので、テストヘッドの開放時にレバ
ーを持つ手にストッパ部分が接近しても、レバーとスト
ッパとの間に手が挟まれて負傷してしまう虞れがない。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明のウェハプローバクランプの一実施例
を示す側面図、第2図は第1図の平面図、第3図はレバ
ーを操作した状態の側面図、第4図は従来例を示す側面
図である。 lO・・・テストへラド  11・・・本体12・・・
フレーム    13・・・レバー14・・・ストッパ
    15・・・リンク機構21・・・回転軸   
  22・・・把手23・・・アーム     24・
・・回転軸25・・・ヘッダ     26・・・バッ
キング27・・・ナツト 28・・・アーム 29・・・リンク 31・・・安全カバー 特 許 出 願 人 東京エレクトロン株式会社 第 図 第 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、テストヘッドのクランプ部に当接するストッパと、
    このストッパを回動させるリンク機構と、リンク機構に
    取付けられたレバーとを有するプローバにおいて、上記
    レバーをストッパとは反対側に屈曲させて把手とすると
    ともに、把手にストッパ側に張り出すように安全カバー
    を設けたことを特徴とするウエハプローバクランプ。
JP27649588A 1988-11-01 1988-11-01 プローブ装置 Expired - Fee Related JP2665506B2 (ja)

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JP27649588A JP2665506B2 (ja) 1988-11-01 1988-11-01 プローブ装置

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JPH02122643A true JPH02122643A (ja) 1990-05-10
JP2665506B2 JP2665506B2 (ja) 1997-10-22

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020169895A (ja) * 2019-04-03 2020-10-15 Necプラットフォームズ株式会社 部品評価用フィクスチャー

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2020169895A (ja) * 2019-04-03 2020-10-15 Necプラットフォームズ株式会社 部品評価用フィクスチャー

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Publication number Publication date
JP2665506B2 (ja) 1997-10-22

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