JPH02125514A - クロック入力回路 - Google Patents

クロック入力回路

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JPH02125514A
JPH02125514A JP27972488A JP27972488A JPH02125514A JP H02125514 A JPH02125514 A JP H02125514A JP 27972488 A JP27972488 A JP 27972488A JP 27972488 A JP27972488 A JP 27972488A JP H02125514 A JPH02125514 A JP H02125514A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
circuit
clock signal
input clock
output
Prior art date
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Pending
Application number
JP27972488A
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English (en)
Inventor
Shinichi Hirano
平野 進一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野] 本発明はクロック入力回路に係り、特に半導体集積回路
からなるクロック入力回路に関する。
〔従来の技術〕
従来は、半導体集積回路素子の高速動作についても、他
の回路と同様に、ビンからの入力クロック信号を使用し
て、その動作確認をしていた。
第5図は被測定回路への従来のクロック入力を示す回路
ブロック図である。第5図において、出力ビン12を有
する被測定回路10の入力ビン11に測定系から出力さ
れるクロック信号Aが、そのまま入力された場合を示す
。
〔発明が解決しようとする課題〕
前述した従来のクロック入力回路では、第6図に示すよ
うに被測定回路10のビン11に測定系から出力される
クロック信号Aが直接入力されているので、半導体集積
回路の高速処理化に伴ない、クロック信号Aも高い周波
数が必要である。しかしながら、測定系の能力に限界が
あることから、半導体集積回路の動作確認が困難罠なっ
てきている。
本発明の目的は、前述した従来の欠点を解決し、さらに
高速なりロック信号を出力できるようにしたクロック入
力回路を提供することにある。
〔課題を解決するだめの手段〕
本発明の構成は、被測定回路に入力する出力りロック信
号を入力クロック信号から発生させるクロック入力回路
において、互いに位相の異なる複数の前記入力クロック
信号から、前記入力クロック信号の整数倍の周波数を有
する前記出力クロック信号を得る論理回路を設けたこと
を特徴とする。
〔実施例〕
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の第1の実施例のクロック入力回路を示
す回路ブロック図、第2図は第1図の回路の各部の波形
を示すタイミング図である。第1図、第2図において、
本実施例は、セレクト信号Tと、互いに位相の異なる入
力クロック信号A。
Bとで論理構成されている。
今、セレクト信号T=Oの時、NAND回路l回路力B
′は常に′1″を出力するため、XNOR回路2の出力
Cは、入力クロック信号Aと同じ論理信号を出力する。
つまり、セレクト信号T=0の時には、被測定回路lO
に入力クロック信号Aそのものが入力される。
次に、セレクト信号T=1の時、0NAND 回路1の
出力B′は、入力クロック信号Bの反転信号を出力し、
XNOR回路2の出力Cは、入力クロック信号Aと、入
力クロック信号Bの反転信号B′ とのXNOR論理を
出力する。この時、入力クロック信号AとBとの間に、
第2図のような関係(4分の1周期の遅れ)がある場合
、出力信号Cは、入力クロック信号Aの2倍の周波数の
信号を出力する。
第3図は本発明の第2の実へ例のクロック入力回路を示
す回路ブロック図、第4図は第3図の回路の各部の波形
を示すタイミング図である。第3図、第4図において、
本実施例は、セレクト信号Tと、互いに位相の異なる入
力クロック信号A。
Bl、B2  とで論理構成されている。
本実施例は、互いに位相の異なる複数のクロック信号の
排他的論理を第1の出力とする回路と、前記第1の出力
とセレクト信号の論理和あるいは論理積を第2の出力と
する回路と、前記第2の出力と前記互いに位相の異なる
複数のクロック(,4号の位相よりもさらに位相の異な
るクロック信号との排他的論理を出力する回路とを含み
、構成される。
今、セレクト信号T=0の時、NAND回路4の出力B
“は常に′1”を出力するため、XNOR回路5の出力
Cは、入力クロック信号Aと同じ論理信号を出力する。
つまり、セレクト信号T=0の時には、被測定回路10
に人カクロック信号人そのものが入力される。
次に、セレクト信号T=1の時、XOR回路3の出力B
′は、入力クロック信号B1とB2とのXOR論理を出
力するため、NAND回路4の出力BIIu人カクロッ
ク億号B1とB2とのNAND論理を出力する。従りf
、XNOR回路5の出力Cは、入力クロック信号人と、
入力クロック信号BlとB2とのXNOR論理信号B信
号のXNOR論理を出力する。この時、入力クロック信
号AとBl、B2との間に、第4図の関係がある場合、
出力信号Cは入力クロック信号Aの3倍の周波数の信号
を出力する。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明は、互いに位相の異なる複
数の入力クロック信号から周波数の高いクロック信号を
得て、これを被測定回路に入力しているから、入力クロ
ック信号よりさらに高速なりロック信号で動作試験がな
し得るという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例のクロック入力回路を示
す回路ブロック図、第2図は第1図の各部のタイミング
図、第3図は本発明の第2の実施例のクロック入力回路
を示す回路ブロック図、第4図は第3図の各部のタイミ
ング図、第5図は従来の半導体集積回路で、被測定回路
に入力クロック信号が直接入力された場合を示す回路図
、第6図は第5図のタイミング図である。 T・・・・・・セレクト信号、A、B、Bl、B2・・
・・・・入力クロック信号、B’、B”、C・・・・・
・出力信号、OUT・・・・・・被測定回路の出力信号
、1. 4・・・・・・NAND回路、2,5・・・・
・・XNOR回路、3・・・・・・XOR回路、 0・・・・・・被測定回路、 1・・・・・・入力 端子、 2・・・・・・出力端子。 偶Z閃

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 被測定回路に入力する出力クロック信号を入力クロック
    信号から発生させるクロック入力回路において、互いに
    位相の異なる複数の前記入力クロック信号から、前記入
    力クロック信号の整数倍の周波数を有する前記出力クロ
    ック信号を得る論理回路を設けたことを特徴とするクロ
    ック入力回路。
JP27972488A 1988-11-04 1988-11-04 クロック入力回路 Pending JPH02125514A (ja)

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