JPH02128332A - 情報記録用部材 - Google Patents
情報記録用部材Info
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- JPH02128332A JPH02128332A JP63281239A JP28123988A JPH02128332A JP H02128332 A JPH02128332 A JP H02128332A JP 63281239 A JP63281239 A JP 63281239A JP 28123988 A JP28123988 A JP 28123988A JP H02128332 A JPH02128332 A JP H02128332A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【産業上の利用分野]
本発明はレーザ光などの記録用エネルギービームによっ
て、たとえば映像や音声などのアナログ信号をFM変調
したものや、電子計算機のデータや、ファクシミリ信号
やディジタルオーディオ信号などのディジタル情報を、
リアルタイムで記録することが可能な情報の記録用薄膜
に関する。 【従来の技術] レーザ光によって薄膜に記録を行う記S原理は種々ある
が、膜材料の相転移(相変化とも呼ばれる)、フォトダ
ークニングなどの原子配列変化による記録や、磁性体薄
膜の磁化方向反転を利用する光磁気記録は、膜の形状変
化をほとんど伴わない。従って、それら2枚のディスク
を樹脂により直接貼りあわせ、両面ディスクとすること
が出来るという長所を持っている。 なお、この種の記録に関連する従来技術としては、例え
ば特願昭60−241470号、特開昭61−2179
44号が挙げられる。 【発明が解決しようとする課題1 上記従来技術のうち、相変化による記録は記録用ビーム
の照射による熱(約300℃以上)によって膜形状変化
をほとんど伴わない原子配列変化を生じさせるものであ
る。 このような記録媒体においては、記録膜中に発生した熱
を記録膜に近接した保護層に速やかに逃ルてやらなけれ
ばならない。すなわち、記録パルスの幅や密度によって
は、記録とトラック上の各部の冷却速度が異なるため、
記録する信号に忠実な相変化が起こらず、再生波形歪み
が大きくなる。 従って、本発明の目的は、記録信号に忠実な再生波形が
得られ、上記の記録または再生用ビームのレーザ光が表
面の形状の変化により散乱されない、また、記録感度が
低下しにくい記録用部材を提供することにある。 【課題を解決するための手段】 上記目的は、基板上に形成された記録用ビームの照射を
受けて変化を生ずる情報記録用1膜を有する情報記録用
部材において、上記の記録用薄膜に近接して適当な金属
元素を主成分とする薄膜を設けることにより達成される
。 これによって、記録時の熱で上記の樹脂が変形した
り、読み出しを行なう際にノイズが増加することを防ぐ
ことができる。 金属元素を主成分とする上記薄膜は、その熱伝導率が高
過ぎると記録感度が大幅に低下するため。 適当な熱伝導率をもち、かつ上記の変形を防止する効果
の高い金属が望ましい。 記録用薄膜と上記の金属元素を主成分とする薄膜との間
に、中間層を設け、この膜厚を調節することによって上
記の金属元素を主成分とする薄膜への熱伝導をある程度
調節できる。・しかし、光の干渉効果を利用して大きな
再生信号を得ために膜厚は制約を受け、実際には調節が
難しい。 上記の金属元素を主成分とする薄膜には、Al。 Cu、AgおよびAuより成る群(A群)より選ばれた
少なくとも一者と、Mg、Si、Ca、TI、V、Cr
、Mn、Fe、Co、Ni、Zn。 Zr、Nb、Mo、Rh、Zr、PdJ、Sn。 Sb、Te、Ta、W、I r、Pt、Pb、Biおよ
びCより成る群(B群)より選ばれた少なくとも一者と
を組合せた合金を用いる。より好ましくは、金−ニッケ
ル合金(例えばAu:95%。 Ni:5%、で表される合金)、ホワイトゴールド(例
えばAuニア5%、Cu:2%、Ni:17%、Zn:
6%で表される合金)で表される合金を用いる。 A群金属の含有量は原子%で5%以上95%以下が好ま
しく20%以上80%以下がより好ましい。
て、たとえば映像や音声などのアナログ信号をFM変調
したものや、電子計算機のデータや、ファクシミリ信号
やディジタルオーディオ信号などのディジタル情報を、
リアルタイムで記録することが可能な情報の記録用薄膜
に関する。 【従来の技術] レーザ光によって薄膜に記録を行う記S原理は種々ある
が、膜材料の相転移(相変化とも呼ばれる)、フォトダ
ークニングなどの原子配列変化による記録や、磁性体薄
膜の磁化方向反転を利用する光磁気記録は、膜の形状変
化をほとんど伴わない。従って、それら2枚のディスク
を樹脂により直接貼りあわせ、両面ディスクとすること
が出来るという長所を持っている。 なお、この種の記録に関連する従来技術としては、例え
ば特願昭60−241470号、特開昭61−2179
44号が挙げられる。 【発明が解決しようとする課題1 上記従来技術のうち、相変化による記録は記録用ビーム
の照射による熱(約300℃以上)によって膜形状変化
をほとんど伴わない原子配列変化を生じさせるものであ
る。 このような記録媒体においては、記録膜中に発生した熱
を記録膜に近接した保護層に速やかに逃ルてやらなけれ
ばならない。すなわち、記録パルスの幅や密度によって
は、記録とトラック上の各部の冷却速度が異なるため、
記録する信号に忠実な相変化が起こらず、再生波形歪み
が大きくなる。 従って、本発明の目的は、記録信号に忠実な再生波形が
得られ、上記の記録または再生用ビームのレーザ光が表
面の形状の変化により散乱されない、また、記録感度が
低下しにくい記録用部材を提供することにある。 【課題を解決するための手段】 上記目的は、基板上に形成された記録用ビームの照射を
受けて変化を生ずる情報記録用1膜を有する情報記録用
部材において、上記の記録用薄膜に近接して適当な金属
元素を主成分とする薄膜を設けることにより達成される
。 これによって、記録時の熱で上記の樹脂が変形した
り、読み出しを行なう際にノイズが増加することを防ぐ
ことができる。 金属元素を主成分とする上記薄膜は、その熱伝導率が高
過ぎると記録感度が大幅に低下するため。 適当な熱伝導率をもち、かつ上記の変形を防止する効果
の高い金属が望ましい。 記録用薄膜と上記の金属元素を主成分とする薄膜との間
に、中間層を設け、この膜厚を調節することによって上
記の金属元素を主成分とする薄膜への熱伝導をある程度
調節できる。・しかし、光の干渉効果を利用して大きな
再生信号を得ために膜厚は制約を受け、実際には調節が
難しい。 上記の金属元素を主成分とする薄膜には、Al。 Cu、AgおよびAuより成る群(A群)より選ばれた
少なくとも一者と、Mg、Si、Ca、TI、V、Cr
、Mn、Fe、Co、Ni、Zn。 Zr、Nb、Mo、Rh、Zr、PdJ、Sn。 Sb、Te、Ta、W、I r、Pt、Pb、Biおよ
びCより成る群(B群)より選ばれた少なくとも一者と
を組合せた合金を用いる。より好ましくは、金−ニッケ
ル合金(例えばAu:95%。 Ni:5%、で表される合金)、ホワイトゴールド(例
えばAuニア5%、Cu:2%、Ni:17%、Zn:
6%で表される合金)で表される合金を用いる。 A群金属の含有量は原子%で5%以上95%以下が好ま
しく20%以上80%以下がより好ましい。
上記の金属元素を主成分とする薄膜は、熱伝導率を調節
した合金薄膜であり、上記の記録用ビームの照射によっ
て生じる熱を吸収あるいは拡散させるが記録感度の低下
は少ない。また、外力、特に引っ張り力に対して強い。 それによって、再生波形歪みを小さくできるとともに、
上記の樹脂に上記の記録用ビームの照射によって生ずる
変質あるいは変形を防止することができる。 金属元素を主成分とする薄膜は、熱伝導率が500W/
m/K以下の範囲が好ましく、膜厚は50nm以上50
00nm以下の範囲が好ましい。 特に、熱伝導率が100W/m/K以上300W/m/
K以下、膜厚が約110nm以上、500nm以下の金
属元素を主成分とする薄膜を用いると、記録感度がほと
んど低下せずに上記の記録用ビームの照射によって生ず
る変質あるいは変形を防止する効果が顕著である。また
、合金としたことによって熱伝導率を最適化でき、記録
感度を大幅に下げずに膜厚を厚くして変形防止効果を得
ることができる6熱拡散係数は23m”/sec以上6
9m”/sec以下が好ましい。記録膜の膜厚は20n
m以上250nm以下の範囲が記録感度、S/N比など
の点で好ましく、中間層の膜厚と合せて調整することが
好ましい。 中間層の膜厚は50nm以上500nm以下の範囲が好
ましい。この層の膜厚は、光の干渉効果を利用して大き
な再生信号を得るために上記記録膜の膜厚と合せて調整
することが好ましい。 一般に薄膜に光を照射すると、その反射光は薄膜表面か
らの反射光と薄膜裏面からの反射光との重ねあわせにな
るため干渉をおこす。反射率で信号を読み取る場合には
、上記のそれぞれの膜の膜厚を調整して反射率の値が小
さい条件を満たすことが好ましい。これは、信号読みだ
し時のコントラスト比が大きくなり、記録感度も高くな
るからである。 中間層の特に好ましい膜厚範囲は80nm以上200n
m以下の範囲である。記録膜の屈折率と膜厚の積は20
0nm以上、600nm以下、中間層の屈折率と膜厚の
積は150nm以上、400nm以下の範囲が特に好ま
しい。ただし、記録膜については、記録膜の少なくとも
一部分の屈折率と膜厚の積が上記の範囲内にあればよい
。これらの屈折率と膜厚の積の好ましい範囲は、本発明
に含まれない低熱伝導率金属あるいは高熱伝導率金属を
主成分とする層を設ける場合にも有効である。 中間層に使用できる物質は、酸化物、低酸化物、硫化物
、窒化物などであって、たとえば主成分がCeO2,L
a、03.SiO2S x O2g I n zO,、
Al、O,、Gem、Gem、、PbO,SnO,Sn
O,、Bi、O,、TaO2,WO,、Wo 3、 T
a20s、 S c、○、、 Y、O,、T i 0
21ZrO2,CdS、ZnS、CdSe、 Zn5
e HI n2s3p I n、S sit S bx
syr ” bS ex、Gazss* G a2
S e31 Mg Fz+ CeF2.CaF2.G
em、GeSe、QeSe、。 SnS、5nSe、PbS、Pb5e、Bi、S、。 Bi、Sa、、TaN、5i3N4.AIN、Si。 Ti、B、C,SiC,BおよびCのうちの少なくとも
一者に近い組成であるものが好ましい。 中間層は使用するレーザ光の消衰係数kが0603以上
1.0以下であると、記録感度が高く好ましい。中間層
とは反対側(光入射側)の保護層にも中間層に用いるも
のに近い組成の物質を使用できるが、消衰係数は0.1
以下が好ましいので、例えば酸化物の場合、酸素欠陥を
少なくする方がよい。本発明の金属元素を主成分とする
薄膜に近接してさらに上記の中間層に使用可能な材料の
層や金属層を設ければさらに強度が増す。 本発明の金属元素を主成分とする薄膜は、記録膜と基板
との間に形成してもよいし、記録膜の基板とは反対の側
に設けてもよい。 本発明はディスク状記録媒体ばかりでなく、テープ状、
カード状などの記録媒体にも有効である。 【実施例1 以下1本発明の一実施例を第1図により説明する。 まず、案内溝を有する基板1(ポリカーボネート、直径
130mm、厚さ1.2mm)に、光入射側保護層2(
SiO,、厚さ約200nm)を介して、記録用ビーム
の照射を受けてほとんど変形を伴わないで原子配列変化
を生ずる5n−3b−Se系情報記録用薄膜3(厚さ約
80nm)を形成する。上記記録用薄膜3に、酸素欠陥
を持ったS i O,に近い組成の酸化物よりなる中間
層4(厚さ約10100nを積層し、さらに本発・明の
熱伝導率を調節した金属元素を主成分とする薄膜5とし
て金合金(Au:95%、Ni:5%で表される合金)
の薄膜(約10100nを積層した。 その後、紫外線の照射により硬化する樹脂6を用いて、
真空中(約10Pa)で紫外線に約2分間露光し、前記
金属元素を主成分とする薄膜5と保護板7(直径130
mm、厚さ1.2mm)を貼りあわせた。次に、上記の
情報記録用薄膜3に基板1側、(紙面上で下方)より記
録用レーザビームを照射し、情報の記録を行った。 次に、上記の情報記録用薄膜3に情報を記録した部分の
上記の樹脂6を上記保護板7側(紙面上で上方)より顕
微1R(X400倍)で観察し変質および変形が生じて
いないことを確認した。 本実施例の金合金膜の膜厚を変化させたとき、記録に必
要なレーザパワーと100回記S書き換え後の雑音レベ
ルは第1表のように変化した。 第1表 上記の上部保護層4をS i O,以外のCeO2゜L
a、03.Sin、In、○、、AI、○、、Gem。 Gem、、Ta2O,、PbO,SnO,SnO2゜B
is Ox r T e 02 + WQz +
WO3HS C20,。 Y t Oz F T I Oz t Z r O
2p Cd S 、 Z n S 。 CdSe、Zn5e、 In2S3.In、Se3゜
Sb、Ssp Sb、Ss、、Ga、S、、Ga2S
s3゜MgF、、CeF、、CaF、、Gas、GeS
e。 G5Se2.SnS、5nSe、PbS、Pb5e +
B l 2 S 2 HB l z S 83 t
T a N ) S i3 N 4 HAIN、
Si、Ti、B、C,SiC,BおよびCのうちの少な
くとも一部を主成勿とするもので置き換えても同様の結
果が得られた。 また、上記の金属元素を主成分とする薄膜5のAυおよ
びN1の少なくとも一方の少なくとも一部を金合金以外
のAl、、CuおよびAgより成る群(A群)より選ば
れた少なくとも一部と、Mg。 S iHCa I T x g V ) Cr HM
n g F e g (/ o HNi、Zn、Zr、
Nb、Mo、Rh、Zr、Pd、、Sn、Sb、Te、
Ta、W、I r、Pt。 Pb、BiおよびCより成る群(B群)より選ばれた少
なくとも一部とを組合せた合金で置き換えても同様の特
性が得られる。 例えば、A1合金(Al:92%、Mg:8%の合金)
、またはCu合金(Cu:30%、Niニア0%の合金
)、あるいはAg合金(Agニア0%、Pt:30%の
合金、Ag=92.5%、Cuニア、5%の合金)で置
き換えても同様の結果が得られた。 本実施例の金合金膜の熱伝導率は約200W/m /
Kであった。熱伝導率の異なる材質を用いた場合、記録
レーザパワーと再生波形歪みを表わす第二次高調波は第
2表のように変化した。 また、記録膜の非晶質に近い状態の部分の屈折率と膜厚
の積が200nm以上、550nm以下、中間層の屈折
率と膜厚の積が150nm以上、300nm以下の範囲
で再生信号CN比46dB以上が得られた。記録膜の結
晶状態の部分の屈折率と膜厚の積が上記の範囲内に有る
ようにしても差し支えない。中間層を形成しない場合は
、記録感度が約20%低下するが、他の特性に大きな変
化は無く、使用可能であった。 第2表 第2図に示したように、ガラス基板9上に形成した紫外
線硬化樹脂層8の表面に案内溝を形成し、その上に第1
図のディスクと同様な記録層を順序を逆に(金合金層か
ら)構成し、保護板と貼り合せずに使用しても、はぼ同
様な効果が得られた。 ただし、この場合はレーザ光は基板とは反対の側から入
射させた。 第3図に示すように、従来は情報の書き換えによって雑
音レベル(図中B)が10%程度増加す〜るが1本発明
の金属元素を主成分とする薄膜を導入することによって
雑音レベル(図中A)はほとんど変化しないことがわか
った。 よって雑音レベル(図中B)が10%程度増加するが、
本発明の金属元素を主成分とする薄膜を導入することに
よって雑音レベル(図中A)はほとんど変化しないこと
がわかった。 [発明の効果] 本発明によれば、レーザ光などの記録用ビームを記録用
薄膜に照射して情報を記録しても、上記記録用ビームの
照射によって生ずる熱は、上記金属元素を主成分とする
薄膜によって吸収され、拡散されるため、再生波形歪み
が生じにくいと同時に上記ディスクの貼りあわせに用い
る樹脂に熱が伝播することが少ない。また、金属元素を
主成分とする薄膜が外力(特に張力)に対して強く、−
方、上部保fit層は圧力に対して強いので樹脂が変質
あるいは変形することがない。 本発明は、光磁気記録膜などの他の記録膜を用いた記録
媒体にも適用可能である。
した合金薄膜であり、上記の記録用ビームの照射によっ
て生じる熱を吸収あるいは拡散させるが記録感度の低下
は少ない。また、外力、特に引っ張り力に対して強い。 それによって、再生波形歪みを小さくできるとともに、
上記の樹脂に上記の記録用ビームの照射によって生ずる
変質あるいは変形を防止することができる。 金属元素を主成分とする薄膜は、熱伝導率が500W/
m/K以下の範囲が好ましく、膜厚は50nm以上50
00nm以下の範囲が好ましい。 特に、熱伝導率が100W/m/K以上300W/m/
K以下、膜厚が約110nm以上、500nm以下の金
属元素を主成分とする薄膜を用いると、記録感度がほと
んど低下せずに上記の記録用ビームの照射によって生ず
る変質あるいは変形を防止する効果が顕著である。また
、合金としたことによって熱伝導率を最適化でき、記録
感度を大幅に下げずに膜厚を厚くして変形防止効果を得
ることができる6熱拡散係数は23m”/sec以上6
9m”/sec以下が好ましい。記録膜の膜厚は20n
m以上250nm以下の範囲が記録感度、S/N比など
の点で好ましく、中間層の膜厚と合せて調整することが
好ましい。 中間層の膜厚は50nm以上500nm以下の範囲が好
ましい。この層の膜厚は、光の干渉効果を利用して大き
な再生信号を得るために上記記録膜の膜厚と合せて調整
することが好ましい。 一般に薄膜に光を照射すると、その反射光は薄膜表面か
らの反射光と薄膜裏面からの反射光との重ねあわせにな
るため干渉をおこす。反射率で信号を読み取る場合には
、上記のそれぞれの膜の膜厚を調整して反射率の値が小
さい条件を満たすことが好ましい。これは、信号読みだ
し時のコントラスト比が大きくなり、記録感度も高くな
るからである。 中間層の特に好ましい膜厚範囲は80nm以上200n
m以下の範囲である。記録膜の屈折率と膜厚の積は20
0nm以上、600nm以下、中間層の屈折率と膜厚の
積は150nm以上、400nm以下の範囲が特に好ま
しい。ただし、記録膜については、記録膜の少なくとも
一部分の屈折率と膜厚の積が上記の範囲内にあればよい
。これらの屈折率と膜厚の積の好ましい範囲は、本発明
に含まれない低熱伝導率金属あるいは高熱伝導率金属を
主成分とする層を設ける場合にも有効である。 中間層に使用できる物質は、酸化物、低酸化物、硫化物
、窒化物などであって、たとえば主成分がCeO2,L
a、03.SiO2S x O2g I n zO,、
Al、O,、Gem、Gem、、PbO,SnO,Sn
O,、Bi、O,、TaO2,WO,、Wo 3、 T
a20s、 S c、○、、 Y、O,、T i 0
21ZrO2,CdS、ZnS、CdSe、 Zn5
e HI n2s3p I n、S sit S bx
syr ” bS ex、Gazss* G a2
S e31 Mg Fz+ CeF2.CaF2.G
em、GeSe、QeSe、。 SnS、5nSe、PbS、Pb5e、Bi、S、。 Bi、Sa、、TaN、5i3N4.AIN、Si。 Ti、B、C,SiC,BおよびCのうちの少なくとも
一者に近い組成であるものが好ましい。 中間層は使用するレーザ光の消衰係数kが0603以上
1.0以下であると、記録感度が高く好ましい。中間層
とは反対側(光入射側)の保護層にも中間層に用いるも
のに近い組成の物質を使用できるが、消衰係数は0.1
以下が好ましいので、例えば酸化物の場合、酸素欠陥を
少なくする方がよい。本発明の金属元素を主成分とする
薄膜に近接してさらに上記の中間層に使用可能な材料の
層や金属層を設ければさらに強度が増す。 本発明の金属元素を主成分とする薄膜は、記録膜と基板
との間に形成してもよいし、記録膜の基板とは反対の側
に設けてもよい。 本発明はディスク状記録媒体ばかりでなく、テープ状、
カード状などの記録媒体にも有効である。 【実施例1 以下1本発明の一実施例を第1図により説明する。 まず、案内溝を有する基板1(ポリカーボネート、直径
130mm、厚さ1.2mm)に、光入射側保護層2(
SiO,、厚さ約200nm)を介して、記録用ビーム
の照射を受けてほとんど変形を伴わないで原子配列変化
を生ずる5n−3b−Se系情報記録用薄膜3(厚さ約
80nm)を形成する。上記記録用薄膜3に、酸素欠陥
を持ったS i O,に近い組成の酸化物よりなる中間
層4(厚さ約10100nを積層し、さらに本発・明の
熱伝導率を調節した金属元素を主成分とする薄膜5とし
て金合金(Au:95%、Ni:5%で表される合金)
の薄膜(約10100nを積層した。 その後、紫外線の照射により硬化する樹脂6を用いて、
真空中(約10Pa)で紫外線に約2分間露光し、前記
金属元素を主成分とする薄膜5と保護板7(直径130
mm、厚さ1.2mm)を貼りあわせた。次に、上記の
情報記録用薄膜3に基板1側、(紙面上で下方)より記
録用レーザビームを照射し、情報の記録を行った。 次に、上記の情報記録用薄膜3に情報を記録した部分の
上記の樹脂6を上記保護板7側(紙面上で上方)より顕
微1R(X400倍)で観察し変質および変形が生じて
いないことを確認した。 本実施例の金合金膜の膜厚を変化させたとき、記録に必
要なレーザパワーと100回記S書き換え後の雑音レベ
ルは第1表のように変化した。 第1表 上記の上部保護層4をS i O,以外のCeO2゜L
a、03.Sin、In、○、、AI、○、、Gem。 Gem、、Ta2O,、PbO,SnO,SnO2゜B
is Ox r T e 02 + WQz +
WO3HS C20,。 Y t Oz F T I Oz t Z r O
2p Cd S 、 Z n S 。 CdSe、Zn5e、 In2S3.In、Se3゜
Sb、Ssp Sb、Ss、、Ga、S、、Ga2S
s3゜MgF、、CeF、、CaF、、Gas、GeS
e。 G5Se2.SnS、5nSe、PbS、Pb5e +
B l 2 S 2 HB l z S 83 t
T a N ) S i3 N 4 HAIN、
Si、Ti、B、C,SiC,BおよびCのうちの少な
くとも一部を主成勿とするもので置き換えても同様の結
果が得られた。 また、上記の金属元素を主成分とする薄膜5のAυおよ
びN1の少なくとも一方の少なくとも一部を金合金以外
のAl、、CuおよびAgより成る群(A群)より選ば
れた少なくとも一部と、Mg。 S iHCa I T x g V ) Cr HM
n g F e g (/ o HNi、Zn、Zr、
Nb、Mo、Rh、Zr、Pd、、Sn、Sb、Te、
Ta、W、I r、Pt。 Pb、BiおよびCより成る群(B群)より選ばれた少
なくとも一部とを組合せた合金で置き換えても同様の特
性が得られる。 例えば、A1合金(Al:92%、Mg:8%の合金)
、またはCu合金(Cu:30%、Niニア0%の合金
)、あるいはAg合金(Agニア0%、Pt:30%の
合金、Ag=92.5%、Cuニア、5%の合金)で置
き換えても同様の結果が得られた。 本実施例の金合金膜の熱伝導率は約200W/m /
Kであった。熱伝導率の異なる材質を用いた場合、記録
レーザパワーと再生波形歪みを表わす第二次高調波は第
2表のように変化した。 また、記録膜の非晶質に近い状態の部分の屈折率と膜厚
の積が200nm以上、550nm以下、中間層の屈折
率と膜厚の積が150nm以上、300nm以下の範囲
で再生信号CN比46dB以上が得られた。記録膜の結
晶状態の部分の屈折率と膜厚の積が上記の範囲内に有る
ようにしても差し支えない。中間層を形成しない場合は
、記録感度が約20%低下するが、他の特性に大きな変
化は無く、使用可能であった。 第2表 第2図に示したように、ガラス基板9上に形成した紫外
線硬化樹脂層8の表面に案内溝を形成し、その上に第1
図のディスクと同様な記録層を順序を逆に(金合金層か
ら)構成し、保護板と貼り合せずに使用しても、はぼ同
様な効果が得られた。 ただし、この場合はレーザ光は基板とは反対の側から入
射させた。 第3図に示すように、従来は情報の書き換えによって雑
音レベル(図中B)が10%程度増加す〜るが1本発明
の金属元素を主成分とする薄膜を導入することによって
雑音レベル(図中A)はほとんど変化しないことがわか
った。 よって雑音レベル(図中B)が10%程度増加するが、
本発明の金属元素を主成分とする薄膜を導入することに
よって雑音レベル(図中A)はほとんど変化しないこと
がわかった。 [発明の効果] 本発明によれば、レーザ光などの記録用ビームを記録用
薄膜に照射して情報を記録しても、上記記録用ビームの
照射によって生ずる熱は、上記金属元素を主成分とする
薄膜によって吸収され、拡散されるため、再生波形歪み
が生じにくいと同時に上記ディスクの貼りあわせに用い
る樹脂に熱が伝播することが少ない。また、金属元素を
主成分とする薄膜が外力(特に張力)に対して強く、−
方、上部保fit層は圧力に対して強いので樹脂が変質
あるいは変形することがない。 本発明は、光磁気記録膜などの他の記録膜を用いた記録
媒体にも適用可能である。
第1図は案内溝を有する、基板を用いて本発明の記録用
部材の一実施例の構成を示す断面図、第2図は案内溝を
有する樹脂を設けた基板を用いて本発明の記録用部材の
一実施例の構成を示す断面図、第3図は本発明の記録用
部材による情報の書換え回数に対する雑音レベルの変化
を示す図である。 符号の説明 1・・・案内溝を有する基板、2・・・下部保護層、3
情報記録用薄膜、4・・・上部保護層、5・・・金属元
素を主成分とする薄膜、6・・・樹脂、7・・・保護板
、8・・・案内溝を有する樹脂
部材の一実施例の構成を示す断面図、第2図は案内溝を
有する樹脂を設けた基板を用いて本発明の記録用部材の
一実施例の構成を示す断面図、第3図は本発明の記録用
部材による情報の書換え回数に対する雑音レベルの変化
を示す図である。 符号の説明 1・・・案内溝を有する基板、2・・・下部保護層、3
情報記録用薄膜、4・・・上部保護層、5・・・金属元
素を主成分とする薄膜、6・・・樹脂、7・・・保護板
、8・・・案内溝を有する樹脂
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、記録用ビームの照射を受けて変化を生ずる情報記録
用薄膜を有する記録媒体において、上記情報記録用薄膜
に近接して、もしくは上記の情報記録用薄膜に隣接して
形成した無機物および有機物のうち少なくとも一者から
なる保護層に接して、Al、Cu、AgおよびAuより
成るA群より選ばれた少なくとも一者と、Ti、V、C
r、Fe、Co、Ni、Zn、Zr、Nb、Mo、Rh
、Pd、Sn、Sb、Te、Ta、W、Ir、Pt、P
b、BiおよびCより成るB群より選ばれた少なくとも
一者を主成分とする層を有することを特徴とする情報記
録用部材。 2、熱伝導率が230W/m/K以上420W/m/K
以下の範囲より成る金属元素を主成分とするA群より選
ばれた少なくとも一者と、熱伝導率が15W/m/K以
上170W/m/K以下より成る元素を主成分とするB
群より選ばれた少なくとも一者を主成分とする層を有す
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の情報
記録用部材。 3、A群元素の含有量は原子%で30%以上98%以下
B群元素の含有量は原子%で2%以上70%以下である
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項および第2項に
記載の情報記録用部材。 4、上記の少なくともA群元素およびB群元素より成る
層の膜厚が10nm以上1000nm以下であることを
特徴とする特許請求の範囲第1項、第2項および第3項
に記載の記録用部材。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63281239A JP2749080B2 (ja) | 1988-11-09 | 1988-11-09 | 情報記録用部材 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63281239A JP2749080B2 (ja) | 1988-11-09 | 1988-11-09 | 情報記録用部材 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02128332A true JPH02128332A (ja) | 1990-05-16 |
| JP2749080B2 JP2749080B2 (ja) | 1998-05-13 |
Family
ID=17636300
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63281239A Expired - Lifetime JP2749080B2 (ja) | 1988-11-09 | 1988-11-09 | 情報記録用部材 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2749080B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02267752A (ja) * | 1989-04-07 | 1990-11-01 | Fuji Photo Film Co Ltd | 光記録媒体 |
| JP2002506808A (ja) * | 1998-03-19 | 2002-03-05 | アジェンデ・キミケ・リウニテ・アンジェリニ・フランチェスコ・ア・チ・エレ・ア・エフェ・ソシエタ・ペル・アチオニ | グリコーゲン含有眼用溶液 |
| EP1736559A4 (en) * | 2003-12-10 | 2009-04-08 | Tanaka Precious Metal Ind | SILVER ALLOY WITH EXCELLENT REFLECTION FORMAT PROPERTIES |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7027382B2 (en) | 2001-06-26 | 2006-04-11 | Ricoh Company, Ltd. | Optical recording medium having relation between reflection layer and pit lengths |
| CN1290106C (zh) | 2002-03-07 | 2006-12-13 | 株式会社理光 | 光记录媒体及其制造方法 |
-
1988
- 1988-11-09 JP JP63281239A patent/JP2749080B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02267752A (ja) * | 1989-04-07 | 1990-11-01 | Fuji Photo Film Co Ltd | 光記録媒体 |
| JP2002506808A (ja) * | 1998-03-19 | 2002-03-05 | アジェンデ・キミケ・リウニテ・アンジェリニ・フランチェスコ・ア・チ・エレ・ア・エフェ・ソシエタ・ペル・アチオニ | グリコーゲン含有眼用溶液 |
| EP1736559A4 (en) * | 2003-12-10 | 2009-04-08 | Tanaka Precious Metal Ind | SILVER ALLOY WITH EXCELLENT REFLECTION FORMAT PROPERTIES |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2749080B2 (ja) | 1998-05-13 |
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