JPH02129544A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
- Publication number
- JPH02129544A JPH02129544A JP63283181A JP28318188A JPH02129544A JP H02129544 A JPH02129544 A JP H02129544A JP 63283181 A JP63283181 A JP 63283181A JP 28318188 A JP28318188 A JP 28318188A JP H02129544 A JPH02129544 A JP H02129544A
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- ultrasonic
- ultrasonic wave
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は超音波を用いて金属材料や非金属材料等の接着
面でのハクリ状況を検査する超音波探傷装置に関する。
面でのハクリ状況を検査する超音波探傷装置に関する。
(従来の技術)
従来、金属とプラスチックあるいは材質の異なる金属同
志を接着した構造部材等の場合、これら部材の接着面の
品質を確保するため、超音波によるハクリ検査が実施さ
れている。
志を接着した構造部材等の場合、これら部材の接着面の
品質を確保するため、超音波によるハクリ検査が実施さ
れている。
ところで、異種材質を接着した場合、これらの接着面で
はそれぞれの材質の音響インピータンスの差が比較的大
きいことから接着が確実になされていても、その接着面
で超音波の反射が生じることがある。このことは接着面
からのエコー高さだけで接着面でのハクリ状況を判定す
ることは極めて不正確な結果を招くことになり、このた
め限られたものにしか適用できなかった。
はそれぞれの材質の音響インピータンスの差が比較的大
きいことから接着が確実になされていても、その接着面
で超音波の反射が生じることがある。このことは接着面
からのエコー高さだけで接着面でのハクリ状況を判定す
ることは極めて不正確な結果を招くことになり、このた
め限られたものにしか適用できなかった。
そこで、従来、接着面のエコー高さだけでなく音響イン
ピータンスの差による接着面エコーの位相変化に管口し
たハクリ検出法が考えられている。
ピータンスの差による接着面エコーの位相変化に管口し
たハクリ検出法が考えられている。
この音響インピータンスによる位相の変化は、例えば、
社団法人日本能率協会編「超音波試験技術(理論と実際
)」の第21頁〜第23頁に詳述されている。
社団法人日本能率協会編「超音波試験技術(理論と実際
)」の第21頁〜第23頁に詳述されている。
すなわち、音響インピータンスZlの媒質lから音響イ
ンピータンスZ2の媒質■との境界に垂直に入射した超
音波の音圧をPe、反射音圧をPrとすると、境界面で
の超音波の反射率はR−P r / P eであり、ま
た音響インピータンスとの関係は 22−2゜ Z2 +21 で表わされる。
ンピータンスZ2の媒質■との境界に垂直に入射した超
音波の音圧をPe、反射音圧をPrとすると、境界面で
の超音波の反射率はR−P r / P eであり、ま
た音響インピータンスとの関係は 22−2゜ Z2 +21 で表わされる。
ここでZ、>22の場合、Rは負の値になり反射波は入
射波に対して位相が逆になる。
射波に対して位相が逆になる。
このことから、前述の接る面に対し、ZlくZ2となる
ような方向から超音波を入射すれば、確実に接着してい
る場合の反射波は入射波と同位相になるものが、仮にパ
クリしている場合は、その境界は空気と接することから
、音響インピーダンスはほぼ0に近い空気層の影響によ
りZl>22の関係になり、反射波は入射波に対し位相
が逆位相となる。したがってこの関係の変化を利用すれ
ばハクリの検出ができることになる。
ような方向から超音波を入射すれば、確実に接着してい
る場合の反射波は入射波と同位相になるものが、仮にパ
クリしている場合は、その境界は空気と接することから
、音響インピーダンスはほぼ0に近い空気層の影響によ
りZl>22の関係になり、反射波は入射波に対し位相
が逆位相となる。したがってこの関係の変化を利用すれ
ばハクリの検出ができることになる。
(発明が解決しようとしている課題)
ところで、反射波の位相が入射波と同位相であるかを判
断するのは、入射波との比較結果からであるが、実際に
観測できるのは反射波形状だけであるため、確実に接着
した状態での反射波形とハクリ時の反射波形を間接的に
比較して判断しなければならない。
断するのは、入射波との比較結果からであるが、実際に
観測できるのは反射波形状だけであるため、確実に接着
した状態での反射波形とハクリ時の反射波形を間接的に
比較して判断しなければならない。
このことは、オペレータが接着状態およびハクリ状態の
夫々の波形の位相変化を熟知していなければならない。
夫々の波形の位相変化を熟知していなければならない。
しかもこの場合の判断は波形の立上がり方向及び波形の
正側、負側の対称性等を基準としてなされるため、オペ
レータの主観に左右されやすいと共に、反射波形が乱れ
た場合等にそれらの波形の特徴が不明瞭になり誤判定し
てしまう問題点がありだ。
正側、負側の対称性等を基準としてなされるため、オペ
レータの主観に左右されやすいと共に、反射波形が乱れ
た場合等にそれらの波形の特徴が不明瞭になり誤判定し
てしまう問題点がありだ。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、被検体接着
面からの反射波形の位相変化を視覚表示することができ
、ハクリ状況を簡単に、しかも高精度に検査できる超音
波探傷装置を提供することを目的とする。
面からの反射波形の位相変化を視覚表示することができ
、ハクリ状況を簡単に、しかも高精度に検査できる超音
波探傷装置を提供することを目的とする。
[考案の構成]
(課題を解決するための手段)
本発明は異種材質を接着してなる被検体表面を走査され
る超音波探触子より検出される被検体内部の接着面から
の超音波反射波形をRF波形の状態で上記探触子の位置
情報とともに記憶し、この超音波RF波形を上記超音波
探触子位置と超音波伝播時間軸とによる二次元座標上に
該超音波RF波形の振幅に対応させたカラー階調により
表示するようになっている。
る超音波探触子より検出される被検体内部の接着面から
の超音波反射波形をRF波形の状態で上記探触子の位置
情報とともに記憶し、この超音波RF波形を上記超音波
探触子位置と超音波伝播時間軸とによる二次元座標上に
該超音波RF波形の振幅に対応させたカラー階調により
表示するようになっている。
(作 用)
この結果、超音波探触子の走査位置に応じて収録された
被検体の接着面からの反射超音波波形データは探触子位
置と超音波波形データの時間軸との2次元座標上に上記
超音波波形データのRF波形の振幅をカラー階調に対応
づけして表示記録器に画像表示できるので探触子位置毎
に接着面より反射されてくる超音波波形の位相変化を視
覚的に監視できるようになる。
被検体の接着面からの反射超音波波形データは探触子位
置と超音波波形データの時間軸との2次元座標上に上記
超音波波形データのRF波形の振幅をカラー階調に対応
づけして表示記録器に画像表示できるので探触子位置毎
に接着面より反射されてくる超音波波形の位相変化を視
覚的に監視できるようになる。
(実施例)
以下本発明の一実施例を図面にしたがい説明する。
第1図は同実施例の回路構成を示すものである。図にお
いて、1は超音波送受信器で、この超音波送受信器1に
は超音波探触子2を接続している。この探触子2は異種
材質のものを接着して成る被検体3上に配置され、超音
波の送受信を行なうようになっている。また、この超音
波探触子2には探触子の走査と連動してその位置を検出
する位置検出器4を接続している。
いて、1は超音波送受信器で、この超音波送受信器1に
は超音波探触子2を接続している。この探触子2は異種
材質のものを接着して成る被検体3上に配置され、超音
波の送受信を行なうようになっている。また、この超音
波探触子2には探触子の走査と連動してその位置を検出
する位置検出器4を接続している。
超音波探触子2を介して超音波送受信S1で受信した被
検体3からの超音波受信号を高速のアナログ・ディジタ
ル変換器5に与え、ここでディジタルの波形信号に変換
し、探触子2の位置検出器4の探触子位置情報とともに
ディジタルメモリ6に格納するようになっている。そし
て、ディジタルメモリ6に格納した超音波波形データを
、信号処理器7によって信号処理を行ない、表示記録器
8に与え、画像表示するようにしている。
検体3からの超音波受信号を高速のアナログ・ディジタ
ル変換器5に与え、ここでディジタルの波形信号に変換
し、探触子2の位置検出器4の探触子位置情報とともに
ディジタルメモリ6に格納するようになっている。そし
て、ディジタルメモリ6に格納した超音波波形データを
、信号処理器7によって信号処理を行ない、表示記録器
8に与え、画像表示するようにしている。
ここで信号処理器7は、ディジタルメモリ6に格納され
た探触子位置情報と超音波波形データから、探触子位置
と超音波波形の二次元座標上に表示される、超音波波形
の振幅を、カラー階調で対応づけした画像表示信号に変
換する機能と、位置検出器からの位置情報を基にアナロ
グ・ディジタル変換器5の動作を制御する機能を存する
もので、マイクロプロセッサ−により構成している。ま
た表示記録器8は、カラー画像を表示するカラーCRT
あるいはカラープリンターからなっている。
た探触子位置情報と超音波波形データから、探触子位置
と超音波波形の二次元座標上に表示される、超音波波形
の振幅を、カラー階調で対応づけした画像表示信号に変
換する機能と、位置検出器からの位置情報を基にアナロ
グ・ディジタル変換器5の動作を制御する機能を存する
もので、マイクロプロセッサ−により構成している。ま
た表示記録器8は、カラー画像を表示するカラーCRT
あるいはカラープリンターからなっている。
次に、このように構成した実施例の動作を説明する。こ
の場合、被検体3は、第1図に示すように異種材料3a
、3bを接着して成るもので、このような被検体3の接
着面3Cでの71クリ状況を検査する場合を述べる。こ
の場合、超音波探触子2は探傷面側の材質3aの音響イ
ンピータンス21が他方の材質3bの音響インピータン
スZ2よりも小さくなるように探傷面を選択して配置す
る。
の場合、被検体3は、第1図に示すように異種材料3a
、3bを接着して成るもので、このような被検体3の接
着面3Cでの71クリ状況を検査する場合を述べる。こ
の場合、超音波探触子2は探傷面側の材質3aの音響イ
ンピータンス21が他方の材質3bの音響インピータン
スZ2よりも小さくなるように探傷面を選択して配置す
る。
この状態から超音波探触子2を被検体3表面上で走査し
つつ所定の探触子位置毎に被検体3の接6面3Cからの
反射波形を超音波送受信器1に送出する。そして、高速
のアナログディジタル変換器5により、ディジタル信号
に変換したのちメモリ6へ、位置検出器4からの探触子
位置情報と共に格納する。この時アナログディジタル変
換器5では、超音波送受信器1より出力された超音波受
信号をRF波形のまま、ディジタル信号に変換する。
つつ所定の探触子位置毎に被検体3の接6面3Cからの
反射波形を超音波送受信器1に送出する。そして、高速
のアナログディジタル変換器5により、ディジタル信号
に変換したのちメモリ6へ、位置検出器4からの探触子
位置情報と共に格納する。この時アナログディジタル変
換器5では、超音波送受信器1より出力された超音波受
信号をRF波形のまま、ディジタル信号に変換する。
このようにして探触子位置毎の超音波波形データは順次
ディジタルメモリ6に収録されるが、同時に、この時の
超音波波形データは、信号処理器7により画像化して表
示記録器8に与えられるようになる。この場合、信号処
理器7は探触子位置と超音波波形の時間軸とによる二次
元座標上にRF波形の振幅をカラー快調で対応づけした
画像表示信号を出力するようになるので、表示記録器8
にはカラー階調二次元画像が表示される。
ディジタルメモリ6に収録されるが、同時に、この時の
超音波波形データは、信号処理器7により画像化して表
示記録器8に与えられるようになる。この場合、信号処
理器7は探触子位置と超音波波形の時間軸とによる二次
元座標上にRF波形の振幅をカラー快調で対応づけした
画像表示信号を出力するようになるので、表示記録器8
にはカラー階調二次元画像が表示される。
この状態から第2図(a)に示すように、被検体3の接
着面3Cに部分的なノ\クリ部3dがある場合、探触子
位置Xに対する超音波送受信波形10は第2図(b)に
示すように変化する。すなわち確実に接むしている接着
部に対応する探触子位置x1.x5では、材質3aの音
響インピータンスZ1と、材質3bの音響インピータン
スZ2の関係がz、<z2であるから接着面からの反射
波eは入射波と同位相になるが、ハクリ部3dに対応す
る探触子位置X3ではハクリ部3dが空隙であるとすれ
ば材質3aと接する媒質(空気)の音響インピータンス
Z2 はほぼ0であるからZl>22 となって反射
波elの位相は入射波と逆位相となる。このことは、探
触子位置X 1 + X 5とx3とでは反射波形e1
の波形が正負反対となって検出されることである。一方
、接着部と71クリ部3dの境界部の探触子位置X2、
X4ではそれぞれからの逆位相の波形を加算された形で
検出されるため反射波形e1の振幅は小さくなる。
着面3Cに部分的なノ\クリ部3dがある場合、探触子
位置Xに対する超音波送受信波形10は第2図(b)に
示すように変化する。すなわち確実に接むしている接着
部に対応する探触子位置x1.x5では、材質3aの音
響インピータンスZ1と、材質3bの音響インピータン
スZ2の関係がz、<z2であるから接着面からの反射
波eは入射波と同位相になるが、ハクリ部3dに対応す
る探触子位置X3ではハクリ部3dが空隙であるとすれ
ば材質3aと接する媒質(空気)の音響インピータンス
Z2 はほぼ0であるからZl>22 となって反射
波elの位相は入射波と逆位相となる。このことは、探
触子位置X 1 + X 5とx3とでは反射波形e1
の波形が正負反対となって検出されることである。一方
、接着部と71クリ部3dの境界部の探触子位置X2、
X4ではそれぞれからの逆位相の波形を加算された形で
検出されるため反射波形e1の振幅は小さくなる。
このようにして各探触子位置X、、X、毎の超音波受信
波形10がディジタルメモリ6に収録されると、信号処
理器7は第2図(C)に示すように、探触子位置Xと、
波形の時間tの二次元座標上に、波形の振幅をカラー階
調11が対応づけした画像表示信号を生成し画像表示1
2として表示記録器8に表示させる。このようにして得
られた画像表示12による被検体3の接着面3Cからの
反射波形e1は、探触子位置X軸方向にカラーの縞模様
として表示され、かつ、RF波形のカラー階調表示であ
るため、探触子位置に対する波形の位相変化が明瞭に表
示される。この結果接着部とハクリ部3dの境界位置X
2、X4を境に縞模様が逆転して表示されるようになる
ため、視覚的にハクリ部の状況を簡単に、しかも高精度
に検査できることになる。またハクリ部3dの超音波反
射率は、はぼR−1に等しいのに対し、接着部では、そ
れぞれの音響インピータンスの差によるため、その反射
率はR<1であるところから、カラー階調表示とした接
着面からの超音波反射波形の画像表示において探触子位
置に対する反射波形の強度分布を容品に知ることができ
るので、ハクリに伴なう位相変化だけでなく振幅変化を
考慮したハクリ判定も可能になる。
波形10がディジタルメモリ6に収録されると、信号処
理器7は第2図(C)に示すように、探触子位置Xと、
波形の時間tの二次元座標上に、波形の振幅をカラー階
調11が対応づけした画像表示信号を生成し画像表示1
2として表示記録器8に表示させる。このようにして得
られた画像表示12による被検体3の接着面3Cからの
反射波形e1は、探触子位置X軸方向にカラーの縞模様
として表示され、かつ、RF波形のカラー階調表示であ
るため、探触子位置に対する波形の位相変化が明瞭に表
示される。この結果接着部とハクリ部3dの境界位置X
2、X4を境に縞模様が逆転して表示されるようになる
ため、視覚的にハクリ部の状況を簡単に、しかも高精度
に検査できることになる。またハクリ部3dの超音波反
射率は、はぼR−1に等しいのに対し、接着部では、そ
れぞれの音響インピータンスの差によるため、その反射
率はR<1であるところから、カラー階調表示とした接
着面からの超音波反射波形の画像表示において探触子位
置に対する反射波形の強度分布を容品に知ることができ
るので、ハクリに伴なう位相変化だけでなく振幅変化を
考慮したハクリ判定も可能になる。
[発明の効果]
以上述べたように、本発明によれば、被検体表面を走査
される超音波探触子による被検体内部の接着面からの超
音波反射波形をRF波形の状態でディジタル化して収録
した超音波形データを超音波探触子位置と超音波波形の
時間軸とによる二次元座標上に波形の振幅をカラー階調
で対応づけして表示するとともに、その画像表示におけ
る探触子位置方向にカラー階調の縞模様を、反射波形の
位相変化および振幅変化と対応させるようにしたので視
覚的に、接着面のハクリ状況を簡単に、しかも高精度に
検査することができる。
される超音波探触子による被検体内部の接着面からの超
音波反射波形をRF波形の状態でディジタル化して収録
した超音波形データを超音波探触子位置と超音波波形の
時間軸とによる二次元座標上に波形の振幅をカラー階調
で対応づけして表示するとともに、その画像表示におけ
る探触子位置方向にカラー階調の縞模様を、反射波形の
位相変化および振幅変化と対応させるようにしたので視
覚的に、接着面のハクリ状況を簡単に、しかも高精度に
検査することができる。
第1図は本発明の一実施例を示す回路構成図、第2図は
同実施例の動作を説明するための図である。 1・・・超音波送受信器、2・・・超音波探触子、3・
・・被検体、3a・・・材質I、3b・・・材質■、3
C・・・接着面、3d・・・ハクリ部、4・・・位置検
出器、5・・・アナログ・ディジタル変換器、6・・・
ディジタルメモリ、7・・・信号処理器、8・・・表示
記録器、10・・・超音波受信波形、11・・・画像表
示、12・・・カラー階調レベル。
同実施例の動作を説明するための図である。 1・・・超音波送受信器、2・・・超音波探触子、3・
・・被検体、3a・・・材質I、3b・・・材質■、3
C・・・接着面、3d・・・ハクリ部、4・・・位置検
出器、5・・・アナログ・ディジタル変換器、6・・・
ディジタルメモリ、7・・・信号処理器、8・・・表示
記録器、10・・・超音波受信波形、11・・・画像表
示、12・・・カラー階調レベル。
Claims (1)
- 異種材質を接着してなる被検体表面を走査される超音波
探触子と、この超音波探触子より検出された被検体内部
の接着面からの超音波反射波形をRF波形の状態で上記
探触子の位置情報とともに記憶する記憶手段と、上記超
音波探触子位置と超音波伝播時間軸とによる二次元座標
上での上記超音波RF波形の振幅をカラー階調で対応ず
けした画像表示信号として出力する信号処理手段と、こ
の信号処理手段による画像表示信号を表示する表示記録
手段とを具備したことを特徴とする超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63283181A JPH02129544A (ja) | 1988-11-09 | 1988-11-09 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63283181A JPH02129544A (ja) | 1988-11-09 | 1988-11-09 | 超音波探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02129544A true JPH02129544A (ja) | 1990-05-17 |
Family
ID=17662190
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63283181A Pending JPH02129544A (ja) | 1988-11-09 | 1988-11-09 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02129544A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0580034A (ja) * | 1991-09-19 | 1993-03-30 | Tokimec Inc | 超音波探傷装置 |
| JPH08178985A (ja) * | 1994-12-21 | 1996-07-12 | Nec Corp | わきだし電流計測装置 |
| JP2001194348A (ja) * | 2000-01-06 | 2001-07-19 | Nikko Kensa Service Kk | ロールの剥離検査方法 |
| JP2001221782A (ja) * | 2000-02-07 | 2001-08-17 | Mitsui Chemicals Inc | 融着不良の検出方法及び装置と樹脂管 |
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| JP2015219020A (ja) * | 2014-05-14 | 2015-12-07 | ミナモト通信株式会社 | 鋼管柱診断装置および鋼管柱診断方法 |
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| JP2017075866A (ja) * | 2015-10-15 | 2017-04-20 | 東京理学検査株式会社 | 測定装置および測定方法 |
| WO2018092726A1 (ja) * | 2016-11-21 | 2018-05-24 | 三菱重工業株式会社 | 検査装置、検査ユニット及び検査方法 |
-
1988
- 1988-11-09 JP JP63283181A patent/JPH02129544A/ja active Pending
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| CN109716124A (zh) * | 2016-11-21 | 2019-05-03 | 三菱重工业株式会社 | 检查装置、检查单元及检查方法 |
| JPWO2018092726A1 (ja) * | 2016-11-21 | 2019-06-24 | 三菱重工業株式会社 | 検査装置、検査ユニット及び検査方法 |
| EP3486646A4 (en) * | 2016-11-21 | 2019-07-24 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | INSPECTION DEVICE, INSPECTION UNIT, AND INSPECTION METHOD |
| US10697897B2 (en) | 2016-11-21 | 2020-06-30 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Inspection system, inspection device, and inspecting method |
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