JPH0580034A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
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- JPH0580034A JPH0580034A JP3268270A JP26827091A JPH0580034A JP H0580034 A JPH0580034 A JP H0580034A JP 3268270 A JP3268270 A JP 3268270A JP 26827091 A JP26827091 A JP 26827091A JP H0580034 A JPH0580034 A JP H0580034A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/06—Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
- G01N29/0609—Display arrangements, e.g. colour displays
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】被検材内欠陥から反射された欠陥エコーの標本
化ならびに量子化信号によるＢモードカラー表示におけ
るカラー表示の改良を図る。 【構成】超音波を用いて被検材内欠陥から反射され直線
増幅する受信回路を介して得られた欠陥エコーは，標本
化ならびに量子化を行った後いったんラインメモリ９へ
格納する。欠陥エコーはエコーレベルの対数変換値をし
きい値として用いた比較器よりなる色弁別回路１０にお
いて，たとえば赤，緑，白，青の色区分が行われ，一画
面分のフレーム画像を形成してＢモードカラー表示す
る。従って欠陥表示においてカラーが増加するので欠陥
の大きさが詳細に検出できる，欠陥エコーはレベル変換
をしないのでカラー表示が迅速且つ経済的に行える。
化ならびに量子化信号によるＢモードカラー表示におけ
るカラー表示の改良を図る。 【構成】超音波を用いて被検材内欠陥から反射され直線
増幅する受信回路を介して得られた欠陥エコーは，標本
化ならびに量子化を行った後いったんラインメモリ９へ
格納する。欠陥エコーはエコーレベルの対数変換値をし
きい値として用いた比較器よりなる色弁別回路１０にお
いて，たとえば赤，緑，白，青の色区分が行われ，一画
面分のフレーム画像を形成してＢモードカラー表示す
る。従って欠陥表示においてカラーが増加するので欠陥
の大きさが詳細に検出できる，欠陥エコーはレベル変換
をしないのでカラー表示が迅速且つ経済的に行える。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は例えば被検材上を探触
子が走査して超音波を放射し内部の欠陥から反射された
欠陥エコーをＢモードにてカラー表示して被検材の欠陥
検出を行う超音波探傷装置，特にカラー表示の改良に関
する。
子が走査して超音波を放射し内部の欠陥から反射された
欠陥エコーをＢモードにてカラー表示して被検材の欠陥
検出を行う超音波探傷装置，特にカラー表示の改良に関
する。
【０００２】
【従来の技術】図６は被検材内欠陥の一例を示す断面
図，４は探触子，１９は被検材，２０は欠陥であり，被
検材１９内には例えば表面からの距離が異なりまた大き
さも異る複数の欠陥２０がある。被検材１９表面に探触
子４を当接し超音波パルスの送受波により内部の欠陥検
出が行われる。
図，４は探触子，１９は被検材，２０は欠陥であり，被
検材１９内には例えば表面からの距離が異なりまた大き
さも異る複数の欠陥２０がある。被検材１９表面に探触
子４を当接し超音波パルスの送受波により内部の欠陥検
出が行われる。
【０００３】図７は従来のＡモード表示における欠陥エ
コー色区分の説明図，図７ａは第１欠陥エコーの色区
分，超音波伝搬の距離を横軸，欠陥エコーレベルを縦軸
としたＡモード表示におて，欠陥エコーは等しいレベル
間隔のたとえば赤，緑，白，青（背景）の４色により色
区分される。は第１欠陥エコーを示し，第１欠陥エコ
ーはエコーレベルが大きいので赤，緑，白，青（背
景）凡ての色区分に係わっている。図７ｂは第２欠陥エ
コーの色区分，は第２欠陥エコーを示し，Ａモード表
示における第２欠陥エコーはエコーレベルにより緑，
白，青（背景）に係わる。図７ｃは第３欠陥エコーの色
区分，は第３欠陥エコーを示し，Ａモード表示におけ
る第３欠陥エコーはエコーレベルが小さいので色区分
白，青（背景）に係わる。
コー色区分の説明図，図７ａは第１欠陥エコーの色区
分，超音波伝搬の距離を横軸，欠陥エコーレベルを縦軸
としたＡモード表示におて，欠陥エコーは等しいレベル
間隔のたとえば赤，緑，白，青（背景）の４色により色
区分される。は第１欠陥エコーを示し，第１欠陥エコ
ーはエコーレベルが大きいので赤，緑，白，青（背
景）凡ての色区分に係わっている。図７ｂは第２欠陥エ
コーの色区分，は第２欠陥エコーを示し，Ａモード表
示における第２欠陥エコーはエコーレベルにより緑，
白，青（背景）に係わる。図７ｃは第３欠陥エコーの色
区分，は第３欠陥エコーを示し，Ａモード表示におけ
る第３欠陥エコーはエコーレベルが小さいので色区分
白，青（背景）に係わる。
【０００４】図８は従来の欠陥表示の一例を示すＢモー
ド図形，Ｂ型走査即ち探触子４が被検材１９上を移動し
つつ欠陥検出を行い，探傷位置を横軸，超音波伝搬の距
離を縦軸とするＢモードにて欠陥エコーが表示される。
各欠陥エコーはそのレベルに応じ上記赤，緑，白，青
（背景）のしきい値により色が弁別される。
ド図形，Ｂ型走査即ち探触子４が被検材１９上を移動し
つつ欠陥検出を行い，探傷位置を横軸，超音波伝搬の距
離を縦軸とするＢモードにて欠陥エコーが表示される。
各欠陥エコーはそのレベルに応じ上記赤，緑，白，青
（背景）のしきい値により色が弁別される。
【０００５】第１欠陥エコーは中心部が赤，その周縁
部が緑，外周部が白，背景が青の４色にて表示され，第
２欠陥エコーは中心部が緑，周縁部が白，背景が青の
３色表示で，第３欠陥エコーは白，背景が青の２色表
示である。被検材１９内の欠陥２０はその大きさにより
区分されるカラーの種類ならびに表示寸法が決まり，且
つ被検材１９内の欠陥２０対応位置にカラー表示され
る。
部が緑，外周部が白，背景が青の４色にて表示され，第
２欠陥エコーは中心部が緑，周縁部が白，背景が青の
３色表示で，第３欠陥エコーは白，背景が青の２色表
示である。被検材１９内の欠陥２０はその大きさにより
区分されるカラーの種類ならびに表示寸法が決まり，且
つ被検材１９内の欠陥２０対応位置にカラー表示され
る。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上記のような従来の超
音波探傷装置では，被検材１９に向け超音波を放射し
て，被検材１９内欠陥２０から反射された欠陥エコー
は，直線増幅され通常Ａモードにより超音波伝搬の距離
に応じた位置に欠陥２０の大きさに比例したエコーレベ
ルにて表示される。欠陥評価は被検材１９の底面エコー
に対する欠陥エコーの相互のレベルの割合による。
音波探傷装置では，被検材１９に向け超音波を放射し
て，被検材１９内欠陥２０から反射された欠陥エコー
は，直線増幅され通常Ａモードにより超音波伝搬の距離
に応じた位置に欠陥２０の大きさに比例したエコーレベ
ルにて表示される。欠陥評価は被検材１９の底面エコー
に対する欠陥エコーの相互のレベルの割合による。
【０００７】上記欠陥エコーを等しいレベル間隔のしき
い値による色区分を行いＢモードにてカラー表示する
と，欠陥２０はその大きさに応じて第１欠陥エコーは
赤，緑，白，青の４色，第２欠陥エコーは緑，白，青
の３色，第３欠陥エコーは白，青２色にてカラー表示
される。
い値による色区分を行いＢモードにてカラー表示する
と，欠陥２０はその大きさに応じて第１欠陥エコーは
赤，緑，白，青の４色，第２欠陥エコーは緑，白，青
の３色，第３欠陥エコーは白，青２色にてカラー表示
される。
【０００８】しかし欠陥２０の色区分のダイナミックレ
ンジを広くするためには，欠陥エコーを対数増幅器を介
してエコーレベルの対数変換を行い，上記色区分のしき
い値によって色を弁別すれば，欠陥の大きさがより詳細
に検出され，欠陥評価が正確に行える。しかし対数増幅
器を用いるので直線増幅に比べてコストが増加する。ま
た欠陥エコーレベルは対数変換されるので，Ａモード表
示されるエコーレベルは欠陥２０の大きさに比例しない
ので欠陥評価が正しくできない。
ンジを広くするためには，欠陥エコーを対数増幅器を介
してエコーレベルの対数変換を行い，上記色区分のしき
い値によって色を弁別すれば，欠陥の大きさがより詳細
に検出され，欠陥評価が正確に行える。しかし対数増幅
器を用いるので直線増幅に比べてコストが増加する。ま
た欠陥エコーレベルは対数変換されるので，Ａモード表
示されるエコーレベルは欠陥２０の大きさに比例しない
ので欠陥評価が正しくできない。
【０００９】更に対数増幅を行うと雑音などの妨害信号
の影響が顕著になり欠陥検出に干渉する。また色区分を
対数関数以外の非直線特性に基づいて行うとき，これら
関数特性を備えた増幅器を用いるので迅速且つ容易に行
えないという問題点があった。
の影響が顕著になり欠陥検出に干渉する。また色区分を
対数関数以外の非直線特性に基づいて行うとき，これら
関数特性を備えた増幅器を用いるので迅速且つ容易に行
えないという問題点があった。
【００１０】この発明はかかる問題点を解決するために
なされたもので，欠陥エコーの直線増幅や任意関数によ
る色区分のしきい値設定が迅速且つ低コストにて行えカ
ラー表示に基づく欠陥評価が正しくでき，更にＡモード
表示におけるエコーレベルが欠陥の大きさに比例する超
音波探傷装置を得ることを目的とする。
なされたもので，欠陥エコーの直線増幅や任意関数によ
る色区分のしきい値設定が迅速且つ低コストにて行えカ
ラー表示に基づく欠陥評価が正しくでき，更にＡモード
表示におけるエコーレベルが欠陥の大きさに比例する超
音波探傷装置を得ることを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】この発明に係る超音波探
傷装置は，標本化の後量子化された欠陥エコーを格納す
るラインメモリと，欠陥エコーを所定関数に従うレベル
にて色区分するため区分毎のしきい値を設定する設定器
と，ラインメモリから読出された信号を区分する色毎の
しきい値と比較して欠陥エコーを色区分する色弁別回路
と，色区分された信号をカラー表示信号にレベル変換し
て順次格納し一画面分のフレーム画像を形成するフレー
ムメモリを設けたものである。
傷装置は，標本化の後量子化された欠陥エコーを格納す
るラインメモリと，欠陥エコーを所定関数に従うレベル
にて色区分するため区分毎のしきい値を設定する設定器
と，ラインメモリから読出された信号を区分する色毎の
しきい値と比較して欠陥エコーを色区分する色弁別回路
と，色区分された信号をカラー表示信号にレベル変換し
て順次格納し一画面分のフレーム画像を形成するフレー
ムメモリを設けたものである。
【００１２】
【作用】この発明においては，被検材内の欠陥から反射
された欠陥エコーは直線増幅器を用いた受信回路を経
て，標本化ならびに量子化されていったんラインメモリ
へ格納される。欠陥エコーはたとえば赤，緑，白，青
（背景）による色区分のため，上記エコーレベルの対数
変換値を各色のしきい値とする設定器を用いた複数の比
較器よりなる色弁別回路に加える。
された欠陥エコーは直線増幅器を用いた受信回路を経
て，標本化ならびに量子化されていったんラインメモリ
へ格納される。欠陥エコーはたとえば赤，緑，白，青
（背景）による色区分のため，上記エコーレベルの対数
変換値を各色のしきい値とする設定器を用いた複数の比
較器よりなる色弁別回路に加える。
【００１３】このとき対数変換されたしきい値を用いる
と，各色の区分範囲は非直線で赤，緑，白，青（背景）
の順に順次小さくなり，欠陥エコーは広いレベル範囲に
亙り色区分が詳細にできる。色区分された欠陥エコーは
カラーエンコーダを経て一画面分のフレーム画像を形成
するフレームメモリへ格納され，欠陥表示のカラーが増
し微小欠陥から大きな欠陥まで適切に色区分できてデイ
ジタル表示器へ明瞭に表示される。
と，各色の区分範囲は非直線で赤，緑，白，青（背景）
の順に順次小さくなり，欠陥エコーは広いレベル範囲に
亙り色区分が詳細にできる。色区分された欠陥エコーは
カラーエンコーダを経て一画面分のフレーム画像を形成
するフレームメモリへ格納され，欠陥表示のカラーが増
し微小欠陥から大きな欠陥まで適切に色区分できてデイ
ジタル表示器へ明瞭に表示される。
【００１４】受信回路には直線増幅器をまた設定器には
エコーレベルの関数変換値をしきい値としてカラー表示
するので，しきい値を変えるのみで各種色区分のカラー
表示が迅速且つ経済的にできる。また欠陥エコーはＡモ
ード表示されるので底面エコーとの比較による欠陥評価
が正しく行える。更に受信回路には非直線増幅器を用い
ないので，雑音や妨害信号の干渉が抑制され欠陥検出が
容易にできる。
エコーレベルの関数変換値をしきい値としてカラー表示
するので，しきい値を変えるのみで各種色区分のカラー
表示が迅速且つ経済的にできる。また欠陥エコーはＡモ
ード表示されるので底面エコーとの比較による欠陥評価
が正しく行える。更に受信回路には非直線増幅器を用い
ないので，雑音や妨害信号の干渉が抑制され欠陥検出が
容易にできる。
【００１５】
【実施例】この発明の一実施例を添付図面を参照して詳
細に説明する。図１はこの発明の一実施例を示す要部ブ
ロック図，７はＡ／Ｄ変換回路，８はメモリへ格納する
データのアドレス指定ならびにデータの書込，読出しを
指定するメモリ制御器，９はラインメモリ，１０は欠陥
エコーを色区分する色弁別回路，１１は色区分のため各
色のしきい値を設定する設定器，１２は色区分された信
号をカラー表示信号に変換するカラーエンコーダ，１３
は一画面分のフレーム画像を形成するフレームメモリ，
１５はデイジタル型の表示器，１６は色赤を識別する第
１比較器，１７は色緑を識別する第２比較器，１８は色
白を識別する第３比較器を示している。
細に説明する。図１はこの発明の一実施例を示す要部ブ
ロック図，７はＡ／Ｄ変換回路，８はメモリへ格納する
データのアドレス指定ならびにデータの書込，読出しを
指定するメモリ制御器，９はラインメモリ，１０は欠陥
エコーを色区分する色弁別回路，１１は色区分のため各
色のしきい値を設定する設定器，１２は色区分された信
号をカラー表示信号に変換するカラーエンコーダ，１３
は一画面分のフレーム画像を形成するフレームメモリ，
１５はデイジタル型の表示器，１６は色赤を識別する第
１比較器，１７は色緑を識別する第２比較器，１８は色
白を識別する第３比較器を示している。
【００１６】上記のように構成された超音波探傷装置に
おいては，被検材へ向け放射された超音波パルスによる
被検材内の欠陥から反射された欠陥エコーは，標本化さ
れた後Ａ／Ｄ変換回路７にて量子化され，メモリ制御器
８の指令によりいったんラインメモリ９に格納される。
ラインメモリ９から読出された欠陥エコーは例えば赤，
緑，白，青（背景）に区分するため，３種類のしきい値
を個別に備えた比較器よりなる色弁別回路１０へ加わ
る。
おいては，被検材へ向け放射された超音波パルスによる
被検材内の欠陥から反射された欠陥エコーは，標本化さ
れた後Ａ／Ｄ変換回路７にて量子化され，メモリ制御器
８の指令によりいったんラインメモリ９に格納される。
ラインメモリ９から読出された欠陥エコーは例えば赤，
緑，白，青（背景）に区分するため，３種類のしきい値
を個別に備えた比較器よりなる色弁別回路１０へ加わ
る。
【００１７】図２は欠陥エコーレベルとしきい値との相
関図，は折線近似による対数関数を示し，色区分を縦
軸，欠陥エコーレベルを横軸とすると，等レベル間隔を
なす色区分と対数関数との交点より，しきい値１…色
区分赤，しきい値２…色区分緑，しきい値３…色区分
白，以下背景…色区分青が決定される。
関図，は折線近似による対数関数を示し，色区分を縦
軸，欠陥エコーレベルを横軸とすると，等レベル間隔を
なす色区分と対数関数との交点より，しきい値１…色
区分赤，しきい値２…色区分緑，しきい値３…色区分
白，以下背景…色区分青が決定される。
【００１８】図３はＡモード表示における欠陥エコー色
区分の説明図，図３ａは第１欠陥エコーの色区分，図３
ｂは第２欠陥エコーの色区分，図３ｃは第３欠陥エコー
の色区分を示し，しきい値としてエコーレベルの対数変
換値を用いることにより，第１欠陥エコーと第２欠陥
エコーの表示カラーは共に赤，緑，白，青（背景）の
４色に，また第３欠陥エコーの表示カラーは緑，白，
青（背景）に係わる。
区分の説明図，図３ａは第１欠陥エコーの色区分，図３
ｂは第２欠陥エコーの色区分，図３ｃは第３欠陥エコー
の色区分を示し，しきい値としてエコーレベルの対数変
換値を用いることにより，第１欠陥エコーと第２欠陥
エコーの表示カラーは共に赤，緑，白，青（背景）の
４色に，また第３欠陥エコーの表示カラーは緑，白，
青（背景）に係わる。
【００１９】各色区分に対応するしきい値を設定器１１
に設定する。しきい値１が係わる第１比較器１６からは
色区分赤相当信号が，しきい値２が係わる第２比較器１
７からは色区分緑相当信号が，またしきい値３が係わる
第３比較器１８からは色区分白相当信号がそれぞれ出力
される。各色区分相当信号はカラーエンコーダ１２に加
わり表示カラーに対応した信号変換が行われる。
に設定する。しきい値１が係わる第１比較器１６からは
色区分赤相当信号が，しきい値２が係わる第２比較器１
７からは色区分緑相当信号が，またしきい値３が係わる
第３比較器１８からは色区分白相当信号がそれぞれ出力
される。各色区分相当信号はカラーエンコーダ１２に加
わり表示カラーに対応した信号変換が行われる。
【００２０】カラーエンコーダ１２出力信号はメモリ制
御器８からのＸ軸とＹ軸方向のアドレスならびに書込み
指令を受けてフレームメモリ１３へ順次格納され，一画
面分のフレーム画像を形成し，その後読出されて表示器
１５へカラー表示される。このとき欠陥エコーについて
は対数関数などによるレベル変換を行わないので，被検
材内の欠陥の大きさに正しく比例する。
御器８からのＸ軸とＹ軸方向のアドレスならびに書込み
指令を受けてフレームメモリ１３へ順次格納され，一画
面分のフレーム画像を形成し，その後読出されて表示器
１５へカラー表示される。このとき欠陥エコーについて
は対数関数などによるレベル変換を行わないので，被検
材内の欠陥の大きさに正しく比例する。
【００２１】図４は欠陥表示の一例を示すＢモード図
形，被検材の探傷位置ならびに超音波伝搬の距離の該当
位置に，各欠陥はエコーレベルとしきい値との関連よ
り，第１欠陥エコーと第２欠陥エコーは赤，緑，
白，青（背景）の４色，第３欠陥エコーは緑，白，青
（背景）３色にて，欠陥の大きさに応じた表示寸法でカ
ラー表示される。欠陥の表示カラーが増加するので欠陥
の大きさが正確に検出できる。色区分は対数関数以外の
非直線関数により行うとき，当該非直線関数を用いてし
きい値を決定し同様に欠陥エコーのカラー表示が行え
る。
形，被検材の探傷位置ならびに超音波伝搬の距離の該当
位置に，各欠陥はエコーレベルとしきい値との関連よ
り，第１欠陥エコーと第２欠陥エコーは赤，緑，
白，青（背景）の４色，第３欠陥エコーは緑，白，青
（背景）３色にて，欠陥の大きさに応じた表示寸法でカ
ラー表示される。欠陥の表示カラーが増加するので欠陥
の大きさが正確に検出できる。色区分は対数関数以外の
非直線関数により行うとき，当該非直線関数を用いてし
きい値を決定し同様に欠陥エコーのカラー表示が行え
る。
【００２２】図５はこの発明に係る超音波探傷装置の一
例を示すブロック図，４，７，８，９，１０，１１，１
２，１３，１５，１９，２０は上記実施例と同一であ
り，１は時間の基準パルスを発生するクロック回路，２
は超音波放射のタイミング信号を発生するタイミング回
路，３はパルス回路，６はアナログ信号を周期的に標本
化し標本値を保持するサンプルホールド回路，１４はＢ
モード表示を制御する駆動回路を示している。
例を示すブロック図，４，７，８，９，１０，１１，１
２，１３，１５，１９，２０は上記実施例と同一であ
り，１は時間の基準パルスを発生するクロック回路，２
は超音波放射のタイミング信号を発生するタイミング回
路，３はパルス回路，６はアナログ信号を周期的に標本
化し標本値を保持するサンプルホールド回路，１４はＢ
モード表示を制御する駆動回路を示している。
【００２３】上記のように構成された超音波探傷装置に
おいては，クロック回路１のクロック回路１のクロック
に同期して放射された超音波による被検材１９内の欠陥
２０からの反射による時系列のアナログ信号は，受信回
路５を経てサンプルホールド回路６へ加えられる。アナ
ログ信号はクロックの周期にて標本化され，標本値はＡ
／Ｄ変換回路７にて量子化して，メモリ制御器８の指令
によりラインメモリ９へいったん格納される。
おいては，クロック回路１のクロック回路１のクロック
に同期して放射された超音波による被検材１９内の欠陥
２０からの反射による時系列のアナログ信号は，受信回
路５を経てサンプルホールド回路６へ加えられる。アナ
ログ信号はクロックの周期にて標本化され，標本値はＡ
／Ｄ変換回路７にて量子化して，メモリ制御器８の指令
によりラインメモリ９へいったん格納される。
【００２４】つぎに欠陥エコーの量子化信号は色弁別回
路１０へ加わり，設定器１１による各色しきい値と比較
器にて比較され色信号たとえば赤，緑，白，青（背景）
に区別される。色区分された欠陥エコーはカラーエンコ
ーダ１２を経て赤，緑，白毎にフレームメモリ１３へ順
次格納され，一画面分のフレーム画像を形成する。上記
画像信号は各色毎に駆動回路１４により表示器１５へ表
示される。表示器１５としては例えば画素単位に動作制
御が行われるマトリクス型ＬＣＤよりなる液晶デイスプ
レイを用いてデイジタル表示を行う。
路１０へ加わり，設定器１１による各色しきい値と比較
器にて比較され色信号たとえば赤，緑，白，青（背景）
に区別される。色区分された欠陥エコーはカラーエンコ
ーダ１２を経て赤，緑，白毎にフレームメモリ１３へ順
次格納され，一画面分のフレーム画像を形成する。上記
画像信号は各色毎に駆動回路１４により表示器１５へ表
示される。表示器１５としては例えば画素単位に動作制
御が行われるマトリクス型ＬＣＤよりなる液晶デイスプ
レイを用いてデイジタル表示を行う。
【００２５】被検材１９内の欠陥２０はその大きさによ
り色区分ならびに表示寸法が決定しＢモードにてカラー
表示される。更にカラー表示を赤，緑，白，青（背景）
以外の多色にて行うためには，液晶表示における赤，
緑，白各色の階調数を増加しこれを制御することにより
実現できる。
り色区分ならびに表示寸法が決定しＢモードにてカラー
表示される。更にカラー表示を赤，緑，白，青（背景）
以外の多色にて行うためには，液晶表示における赤，
緑，白各色の階調数を増加しこれを制御することにより
実現できる。
【００２６】本発明においては受信回路５において欠陥
エコーレベルの関数変換を行わず，しきい値を色区分に
従う値とすることにより所望のカラー表示が容易に実現
できる。欠陥表示のカラーが増加するので微小欠陥から
大きな欠陥まで適切に色区分され明瞭に表示できる。受
信回路５には非直線増幅器を用いないのでコストが低下
し，またエコーレベルは欠陥の大きさに比例するので，
Ａモード表示において欠陥の大きさが正しく評価でき
る。
エコーレベルの関数変換を行わず，しきい値を色区分に
従う値とすることにより所望のカラー表示が容易に実現
できる。欠陥表示のカラーが増加するので微小欠陥から
大きな欠陥まで適切に色区分され明瞭に表示できる。受
信回路５には非直線増幅器を用いないのでコストが低下
し，またエコーレベルは欠陥の大きさに比例するので，
Ａモード表示において欠陥の大きさが正しく評価でき
る。
【００２７】
【発明の効果】この発明は以上説明したとおり，標本化
の後量子化された欠陥エコーを色区分するためしきい値
を設定する設定器と，上記しきい値により欠陥エコーを
色区分する色弁別回路ならびに一画面分の画像を形成す
るフレームメモリを設ける簡単な構造により，欠陥表示
のカラーが増加し微小欠陥から大きな欠陥まで適切に色
区分して明瞭に表示できる。受信回路は欠陥エコーレベ
ルの関数変換を行わないのでカラー表示が簡易に行え
る。また対数増幅器などを用いないので経済的に行え
る。エコーレベルは欠陥の大きさに比例し欠陥の評価が
正しく行えるという効果がある。
の後量子化された欠陥エコーを色区分するためしきい値
を設定する設定器と，上記しきい値により欠陥エコーを
色区分する色弁別回路ならびに一画面分の画像を形成す
るフレームメモリを設ける簡単な構造により，欠陥表示
のカラーが増加し微小欠陥から大きな欠陥まで適切に色
区分して明瞭に表示できる。受信回路は欠陥エコーレベ
ルの関数変換を行わないのでカラー表示が簡易に行え
る。また対数増幅器などを用いないので経済的に行え
る。エコーレベルは欠陥の大きさに比例し欠陥の評価が
正しく行えるという効果がある。
【図１】この発明の一実施例を示す要部ブロック図
【図２】欠陥エコーレベルとしきい値との相関図
【図３】Ａモード表示における欠陥エコー色区分の説明
図 ａは第１欠陥エコーの色区分 ｂは第２欠陥エコーの色区分 ｃは第３欠陥エコーの色区分
図 ａは第１欠陥エコーの色区分 ｂは第２欠陥エコーの色区分 ｃは第３欠陥エコーの色区分
【図４】欠陥表示の一例を示すＢモード図形
【図５】この発明に係る超音波探傷装置の一例を示すブ
ロック図
ロック図
【図６】被検材内の欠陥の一例を示す断面図
【図７】従来のＡモード表示における欠陥エコー色区分
の説明図 ａは第１欠陥エコーの色区分 ｂは第２欠陥エコーの色区分 ｃは第３欠陥エコーの色区分
の説明図 ａは第１欠陥エコーの色区分 ｂは第２欠陥エコーの色区分 ｃは第３欠陥エコーの色区分
【図８】従来の欠陥表示の一例を示すＢモード図形
７ Ａ／Ｄ変換回路 ８ メモリ制御器 ９ ラインメモリ１０ 色弁別回路 １１ 設定器 １２ カラーエンコーダ １３ フレームメモリ １６ 第１比較器 １７ 第２比較器 １８ 第３比較器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 井上 隆 東京都大田区南蒲田２丁目16番46号 株式 会社トキメツク内 (72)発明者 斉藤 興二 東京都大田区南蒲田２丁目16番46号 株式 会社トキメツク内
Claims (3)
- 【請求項１】 被検材内の欠陥から反射された時系列の
欠陥エコーを離散的な時間にて標本化の後量子化してデ
イジタル表示器へＢモードにてカラー表示する超音波探
傷装置において，標本化の後量子化された欠陥エコーを
格納するラインメモリと，上記欠陥エコーを所定関数に
従うレベルにて色区分するため区分毎のしきい値を設定
する設定器と，上記ラインメモリから読出された信号を
区分する色毎のしきい値と比較して欠陥エコーを色区分
する色弁別回路と，上記色区分された信号をカラー表示
信号にレベル変換して順次格納し一画面分のフレーム画
像を形成するフレームメモリとを備えたことを特徴とす
る超音波探傷装置。 - 【請求項２】 関数は対数関数である請求項１記載の超
音波探傷装置。 - 【請求項３】 色区分は赤，緑，白，青の４色である請
求項１記載の超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3268270A JPH0580034A (ja) | 1991-09-19 | 1991-09-19 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3268270A JPH0580034A (ja) | 1991-09-19 | 1991-09-19 | 超音波探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0580034A true JPH0580034A (ja) | 1993-03-30 |
Family
ID=17456236
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3268270A Pending JPH0580034A (ja) | 1991-09-19 | 1991-09-19 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0580034A (ja) |
Cited By (7)
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1991
- 1991-09-19 JP JP3268270A patent/JPH0580034A/ja active Pending
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