JPH0212962Y2 - - Google Patents

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JPH0212962Y2
JPH0212962Y2 JP1984096546U JP9654684U JPH0212962Y2 JP H0212962 Y2 JPH0212962 Y2 JP H0212962Y2 JP 1984096546 U JP1984096546 U JP 1984096546U JP 9654684 U JP9654684 U JP 9654684U JP H0212962 Y2 JPH0212962 Y2 JP H0212962Y2
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JP
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visual acuity
indicator
electrode
outer periphery
acuity test
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JP1984096546U
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、視力検査用指標の電極構造を改良し
た視力測定装置に関する。
〔従来技術〕
従来の視力測定装置において、例えば視力検査
用のランドルト環を形成する場合、セグメント電
極1を、第3図Aに示すように、切れ目部分を有
する所望のランドルト環の形状を形成する視力検
査用指標の外周辺部を形成するリング部2と、接
続線として作用する引き出し線4とによつて構成
し、一方コモン電極6を第3図Bに示すように視
力検査用指標の外周辺部を形成するリング部2を
覆う面積を有する矩形部8と、引き出し線10と
によつて構成していた。ただし、引き出し線とは
引回し線に該当するものである。
そして、セグメント電極1とコモン電極6は、
第3図Cに示すように、セグメント電極1の視力
検査用指標の外周辺部を形成するリング部2と引
き出し線4との境界線にコモン電極6の矩形部8
の一辺が一致するように位置決めし、両電極1,
6間に液晶を介在させることにより視力測定装置
を構成していた。
〔考案が解決しようとする問題点〕
上記従来の視力測定装置においては、比較的大
きな視力検査用指標等の表示用としては実用的で
はあるが、例えばスクリーノスコープ等の机上型
の光学式視力検査装置用の視力表やレフラクトメ
ータ等において他覚式検眼装置の固視標と協働し
て使用される視力表においては、使用されるラン
ドルト環の直径は極めて小さいものとなり、セグ
メント電極とコモン電極との位置決め精度も高い
精度が必要となつてくる。
しかし、実際にはそのような高精度の位置決め
することは困難であり、矩形部8の一辺が視力検
査用指標の外周辺部を形成するリング部2に入り
込んでランドルト環の一部が欠けたり、あるいは
矩形部8の一辺が視力検査用指標の外周辺部を形
成するリング部2から離れてランドルト環に突起
部ができたりする問題が生じていた。
本考案の目的は従来の視力測定装置の上記問題
を解決し、セグメント電極とコモン電極の位置決
め精度がゆるくとも、高精度の視力検査用指標を
正確に形成することができる視力測定装置を提供
することにある。
〔実施例〕
本考案の第1実施例であるランドルト環を表示
する視力測定装置は第1図に基づいて説明する。
セグメント電極20は、第1図Aに示すように、
視力検査用指標の外周辺部の一部を形成するリン
グ部22と引き出し線24とによつて構成され
る。コモン電極6は、第1図Bに示すように、概
ね矩形で視力検査用指標の外周辺部の一部を形成
するリング部22を覆う面積を有し、かつ視力検
査用指標の外周辺部の他の部分で上記指標の切れ
目部分を形成する部分28を有する矩形部30
と、引き出し線32とによつて構成される。
引き出し線32は、視力検査用指標の外周辺部
の他の部分で上記指標の切れ目部分を形成する部
分28以外の部分から引き出されている。
そして、セグメント電極20とコモン電極26
は、第1図Cに示すように、矩形部30が視力検
査用指標の外周辺部の一部を形成するリング部2
2を覆い、かつ引き出し線24が視力検査用指標
の外周辺部の他の部分で上記指標の切れ目部分を
形成する部分28に含まれるように位置決めされ
て互いに重ね合わさつた部分が視力検査用指標を
形成する。
ところで、上記両電極20,26は、重ね合わ
された時内面となる面に電極物質を所望パターン
に蒸着して形成され、重ね合わされた電極間には
例えばMBPAと略称される液晶物質、メトキ
シ・ベンジリデン・パラブチル・アニリンが入れ
られ、第1図Cに斜線で示す両電極20,26の
重ね合わさつた部分34が通電により暗転して表
示される。
次に、本考案の第2実施例であるE文字指標を
表示する視力測定装置を第2図に基づいて説明す
る。セグメント電極50は、第2図Aに示すよう
に、視力検査用指標の外周辺部の一部を形成する
矩形部52と引き出し線54とによつて形成され
る。コモン電極56は、第2図Bに示すように、
2つの視力検査用指標の外周辺部の他の部分で上
記指標の切れ目部分を形成する部分58を有し、
矩形部52を覆う面積を有するE型部60と、引
き出し線62によつて形成される。
引き出し線62は視力検査用指標の外周辺部の
他の部分で上記切れ目部分を形成する部分58以
外の部分から引き出されている。
そして、両電極50,56は第2図Cに示すよ
うに、視力検査用指標の外周辺部の他の部分で上
記指標の切れ目部分を形成する部分58以外の一
方に引き出し線54が含まれるように位置決めさ
れて重ね合わされ、同図に斜線で示す両電極5
0,56の重ね合わさつた部分70が通電により
暗転して表示される。
〔考案の効果〕
本考案は上述の実施例から理解できるように、
表示されるべき切れ目部分を有する視力検査用指
標の一部は、上記指標の外周辺部の一部を形成す
る部分を有する形状をした第1電極と、上記指標
の外周辺部の他の部分で上記指標の切れ目部分を
含む形状をした第2電極とによつて形成され、し
かも視力検査用指標の外周辺部の一部を形成しな
い第1電極部分と、上記指標の外周辺部の他の部
分で上記指標の切れ目部分を含まない第2電極部
分とから引き出し線を引き出しているため、両電
極が互いに多少のずれがあつても視力検査用指標
そのものの形状、すなわち視力検査機能には大き
な影響を与えず、従来のように視力検査用指標の
一部が欠けたり突起部がつくられたりせず、従つ
て、両電極を比較的ゆるい精度によつて重ね合わ
せても高精度の視力検査用指標を得ることができ
る効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の第1実施例の構成説明図、第
2図は本考案の第2実施例の構成説明図、第3図
は従来の視力測定装置の構成説明図である。 20,50……セグメント電極、22……視力
検査用指標の外周辺部の一部を形成するリング
部、24,32,54,62……引き出し線、2
6,56……コモン電極、28……視力検査用指
標の外周辺部の他の部分で上記指標の切れ目部分
を形成する部分、30……矩形部、60……E形
部。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 互いに重ね合わさつた部分が被検者の視力測定
    のための視力検査用指標を形成する第1電極と第
    2電極とを有し、かつ該指標の切れ目部分が被検
    者に識別されることにより視力が測定されるよう
    に構成された視力測定装置において、 上記第1電極の一部分が上記指標の外周辺部の
    一部を形成し、上記第2電極の一部分が上記指標
    の外周辺部の他の部分を形成しかつ上記他の部分
    に上記指標の切れ目部分を含むように構成され、
    上記第1電極の引き出し線を上記指標の外周辺部
    の一部を形成しない上記第1電極部分から引き出
    し、上記第2電極の引き出し線を上記指標の外周
    辺部の他の部分で上記切れ目部分を含まないよう
    に上記第2電極部分から引き出し、上記引き出し
    線を通して電流を供給するようにして上記指標を
    形成するようにしたことを特徴とする視力測定装
    置。
JP9654684U 1984-06-27 1984-06-27 視力測定装置 Granted JPS6114002U (ja)

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JP9654684U JPS6114002U (ja) 1984-06-27 1984-06-27 視力測定装置

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JP9654684U JPS6114002U (ja) 1984-06-27 1984-06-27 視力測定装置

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JPS6114002U JPS6114002U (ja) 1986-01-27
JPH0212962Y2 true JPH0212962Y2 (ja) 1990-04-11

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US10604611B2 (en) 2013-07-31 2020-03-31 Basf Se Reverse-phase polymerisation process

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04130906U (ja) * 1991-05-23 1992-12-01 日本電気株式会社 光フアイバ通信用光接続器

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5697385A (en) * 1980-01-07 1981-08-06 Hitachi Ltd Liquid crystal display element

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US10604611B2 (en) 2013-07-31 2020-03-31 Basf Se Reverse-phase polymerisation process

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JPS6114002U (ja) 1986-01-27

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