JPH0213251B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0213251B2 JPH0213251B2 JP19333883A JP19333883A JPH0213251B2 JP H0213251 B2 JPH0213251 B2 JP H0213251B2 JP 19333883 A JP19333883 A JP 19333883A JP 19333883 A JP19333883 A JP 19333883A JP H0213251 B2 JPH0213251 B2 JP H0213251B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transistor
- temperature
- voltage
- power supply
- supply line
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K3/00—Thermometers giving results other than momentary value of temperature
- G01K3/005—Circuits arrangements for indicating a predetermined temperature
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/36—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using magnetic elements, e.g. magnets, coils
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、温度制御装置に使用されている感温
インダクタンスで構成された温度検出素子の断線
等の異常を検出する機能を有する回路に関するも
のである。
インダクタンスで構成された温度検出素子の断線
等の異常を検出する機能を有する回路に関するも
のである。
一般に、恒温槽、冷暖房機などにおいては、適
切に温度制御をする必要があるため、感温インダ
クタンスで構成された温度検出素子(以下単に温
度検出素子という)などを用いた温度制御装置を
内蔵しているのが普通である。
切に温度制御をする必要があるため、感温インダ
クタンスで構成された温度検出素子(以下単に温
度検出素子という)などを用いた温度制御装置を
内蔵しているのが普通である。
しかし、温度制御装置に使用されている温度検
出素子に断線が生じたり、温度検出素子が被温度
検出部に対して、所定の位置からずれて配置され
ている場合など、温度検出素子に何らかの異常が
発生すると、被温度検出部の正確な温度測定がで
きなくなり、その結果、適切な温度制御が行われ
なくなる。また適切な温度制御が行われないと、
機器が過冷あるいは過熱され、機器の故障などの
原因となる場合もある。
出素子に断線が生じたり、温度検出素子が被温度
検出部に対して、所定の位置からずれて配置され
ている場合など、温度検出素子に何らかの異常が
発生すると、被温度検出部の正確な温度測定がで
きなくなり、その結果、適切な温度制御が行われ
なくなる。また適切な温度制御が行われないと、
機器が過冷あるいは過熱され、機器の故障などの
原因となる場合もある。
また、従来のこの種の回路においては、実公昭
55―17208(動作温度表示回路を備えた温度制御回
路)にみられるように、複数のトランジスタ及び
ダイオード等により回路を構成しなければならな
いため、回路が複雑になるという問題点がある。
55―17208(動作温度表示回路を備えた温度制御回
路)にみられるように、複数のトランジスタ及び
ダイオード等により回路を構成しなければならな
いため、回路が複雑になるという問題点がある。
本発明の目的とするところは、温度制御装置に
使用されている温度検出素子に断線が生じたり、
又温度検出素子が被温度検出部に対して、所定の
位置からずれた場合など、正確な温度測定ができ
なくなるような原因が発生したことを検出するこ
とができる回路を提供することにある。
使用されている温度検出素子に断線が生じたり、
又温度検出素子が被温度検出部に対して、所定の
位置からずれた場合など、正確な温度測定ができ
なくなるような原因が発生したことを検出するこ
とができる回路を提供することにある。
本発明の他の目的は、回路の構成が非常に簡単
な温度検出素子の異常検出回路を提供することで
ある。
な温度検出素子の異常検出回路を提供することで
ある。
本発明によれば、トランジスタと、このトラン
ジスタのベース部に接続されたパルス発振器と、
上記のトランジスタのエミツタ・コレクタ間に接
続されたコンデンサとを有し、上記のトランジス
タのベース・エミツタ間には、感温インダクタン
スで構成された温度検出素子、リードスイツチを
直列に接続して挿入し、かつ上記のリードスイツ
チの近傍には、永久磁石が固着されている回路に
おいて、上記のパルス発振器は、アースライン
と、このアースラインに対して予め定められた正
の直流電圧に設定された第1の電源ラインより電
源を供給され、また前記パルス発振器の出力線
は、前記第1の電源ラインに、前記の温度検出素
子、リードスイツチを介して接続され、かつ上記
のトランジスタのエミツタ部は、第1の電源ライ
ンに接続され、上記トランジスタのコレクタ部
は、第1の電源ラインの電圧より大きな直流電圧
に設定された第2の電源ラインに接続されている
ことを特徴とする温度検出素子の異常検出回路を
得ることができる。
ジスタのベース部に接続されたパルス発振器と、
上記のトランジスタのエミツタ・コレクタ間に接
続されたコンデンサとを有し、上記のトランジス
タのベース・エミツタ間には、感温インダクタン
スで構成された温度検出素子、リードスイツチを
直列に接続して挿入し、かつ上記のリードスイツ
チの近傍には、永久磁石が固着されている回路に
おいて、上記のパルス発振器は、アースライン
と、このアースラインに対して予め定められた正
の直流電圧に設定された第1の電源ラインより電
源を供給され、また前記パルス発振器の出力線
は、前記第1の電源ラインに、前記の温度検出素
子、リードスイツチを介して接続され、かつ上記
のトランジスタのエミツタ部は、第1の電源ライ
ンに接続され、上記トランジスタのコレクタ部
は、第1の電源ラインの電圧より大きな直流電圧
に設定された第2の電源ラインに接続されている
ことを特徴とする温度検出素子の異常検出回路を
得ることができる。
以下、本発明について実施例にもとずいて説明
する。
する。
第1図は、本発明による温度検出素子の異常検
出回路の1実施例である。第1図を参照すると電
源ライン2はアースライン1に対して予め定めら
れた正の直流電圧値に設定されており、さらに電
源ライン3は、電源ライン2より大きな正の直流
電圧に設定されている。パルス発振器7は、アー
スライン1及び電源ライン2によつて電源を供給
されており、トランジスタ8のベース部には、抵
抗4を介してパルス発振器7の出力線が接続さ
れ、トランジスタ8のエミツタ部は、電源ライン
2に接続され、かつ、トランジスタ8のコレクタ
部は抵抗9を介して、電源ライン3に接続されて
いる。又、パルス発振器7の出力線は、抵抗4、
温度検出素子である感温インダクタンス5、リー
ドスイツチ6を介して、電源ライン2にも接続し
ている。さらにトランジスタ8のエミツタ・コレ
クタ間には、コンデンサ10が接続されている。
出回路の1実施例である。第1図を参照すると電
源ライン2はアースライン1に対して予め定めら
れた正の直流電圧値に設定されており、さらに電
源ライン3は、電源ライン2より大きな正の直流
電圧に設定されている。パルス発振器7は、アー
スライン1及び電源ライン2によつて電源を供給
されており、トランジスタ8のベース部には、抵
抗4を介してパルス発振器7の出力線が接続さ
れ、トランジスタ8のエミツタ部は、電源ライン
2に接続され、かつ、トランジスタ8のコレクタ
部は抵抗9を介して、電源ライン3に接続されて
いる。又、パルス発振器7の出力線は、抵抗4、
温度検出素子である感温インダクタンス5、リー
ドスイツチ6を介して、電源ライン2にも接続し
ている。さらにトランジスタ8のエミツタ・コレ
クタ間には、コンデンサ10が接続されている。
なお、リードスイツチ6の近傍には、リードス
イツチ6を開閉するための磁石12が固着され、
かつ感温インダクタンス5とリードスイツチ6は
一体として同一の耐熱性及び熱伝導性のよいケー
ス内に収納されている。
イツチ6を開閉するための磁石12が固着され、
かつ感温インダクタンス5とリードスイツチ6は
一体として同一の耐熱性及び熱伝導性のよいケー
ス内に収納されている。
次に、第1図に示す温度検出素子の異常検出回
路について、その動作を第1図〜第3図を用いて
説明する。
路について、その動作を第1図〜第3図を用いて
説明する。
感温インダクタンス5及びリードスイツチ6を
収納したケースが、被温度検出部に対して所定の
位置からずれているとき、すなわち磁石12の磁
力がはたらかず、リードスイツチ6が開いた状態
となつている場合、あるいは、感温インダクタン
ス5の巻線、リード線が断線している場合は、ト
ランジスタ8のエミツタ部が電源ライン2に接続
されており、かつ、パルス発振器7は、アースラ
イン1及び電源ライン2によつて電源を供給され
ているため、言い換えると、パルス発振器7のパ
ルス21はトランジスタ8のベース・エミツタ間
電圧22を越えることができないため、パルス発
振器7のパルス21によつてトランジスタ8をオ
ンの状態とすることができない。すなわちトラン
ジスタ8はオフ状態である。このため、電源ライ
ン3からの直流電圧23が抵抗9を通して出力端
子11にあらわれる。
収納したケースが、被温度検出部に対して所定の
位置からずれているとき、すなわち磁石12の磁
力がはたらかず、リードスイツチ6が開いた状態
となつている場合、あるいは、感温インダクタン
ス5の巻線、リード線が断線している場合は、ト
ランジスタ8のエミツタ部が電源ライン2に接続
されており、かつ、パルス発振器7は、アースラ
イン1及び電源ライン2によつて電源を供給され
ているため、言い換えると、パルス発振器7のパ
ルス21はトランジスタ8のベース・エミツタ間
電圧22を越えることができないため、パルス発
振器7のパルス21によつてトランジスタ8をオ
ンの状態とすることができない。すなわちトラン
ジスタ8はオフ状態である。このため、電源ライ
ン3からの直流電圧23が抵抗9を通して出力端
子11にあらわれる。
次に、感温インダクタンス5が、あらかじめ設
定された温度範囲内であつて、断線がない状態で
あるとき、及び、感温インダクタンス5及びリー
ドスイツチ6を収納したケースが、被温度検出部
に対して、所定の位置にあるとき、この場合に
は、トランジスタ8のベース部には、感温インダ
クタンス5によつて、直流電圧24にパルス電圧
21が微分された電圧が重畳した電圧25が印加
される。したがつて、ベース・エミツタ間スレシ
ユホールド電圧を越える電圧がかかるため、トラ
ンジスタ8はオン状態となり、パルス21の振幅
に比例した出力電圧がコンデンサ10によつて平
滑されて出力端子11に出力される。このときの
電圧値は、電源ライン2より高いが、前述のトラ
ンジスタ8がオフ状態の出力電圧よりも低い。
定された温度範囲内であつて、断線がない状態で
あるとき、及び、感温インダクタンス5及びリー
ドスイツチ6を収納したケースが、被温度検出部
に対して、所定の位置にあるとき、この場合に
は、トランジスタ8のベース部には、感温インダ
クタンス5によつて、直流電圧24にパルス電圧
21が微分された電圧が重畳した電圧25が印加
される。したがつて、ベース・エミツタ間スレシ
ユホールド電圧を越える電圧がかかるため、トラ
ンジスタ8はオン状態となり、パルス21の振幅
に比例した出力電圧がコンデンサ10によつて平
滑されて出力端子11に出力される。このときの
電圧値は、電源ライン2より高いが、前述のトラ
ンジスタ8がオフ状態の出力電圧よりも低い。
さらに、感温インダクタンス5が、あらかじめ
設定された温度範囲以上となると、感温インダク
タンス5の電圧が急激に降下するため、トランジ
スタ8のベースに印加される電圧は、ベース・エ
ミツタ間電圧を越えることはできない。したがつ
て、トランジスタ8はオン状態とはならない。す
なわちオフ状態であるので、出力端子11には、
電源ライン3の電圧23が抵抗9を通してかかる
ため、前述のトランジスタ8がオフ状態の出力電
圧と同じ電圧が出力される。
設定された温度範囲以上となると、感温インダク
タンス5の電圧が急激に降下するため、トランジ
スタ8のベースに印加される電圧は、ベース・エ
ミツタ間電圧を越えることはできない。したがつ
て、トランジスタ8はオン状態とはならない。す
なわちオフ状態であるので、出力端子11には、
電源ライン3の電圧23が抵抗9を通してかかる
ため、前述のトランジスタ8がオフ状態の出力電
圧と同じ電圧が出力される。
以上説明したように、感温インダクタンスが、
断線していたり、被温度検出部に対して所定の位
置に配置されていなかつたり、あるいは、設定温
度以上となるなど、なんらかの異常があつた場合
には、トランジスタの出力端子には、異常のない
場合に比べて基準となる電圧値に対して、ハイレ
ベルの電圧が出力される。したがつて、上記の出
力端子の電圧を測定すれば、感温インダクタンス
の異常を発見することができる。
断線していたり、被温度検出部に対して所定の位
置に配置されていなかつたり、あるいは、設定温
度以上となるなど、なんらかの異常があつた場合
には、トランジスタの出力端子には、異常のない
場合に比べて基準となる電圧値に対して、ハイレ
ベルの電圧が出力される。したがつて、上記の出
力端子の電圧を測定すれば、感温インダクタンス
の異常を発見することができる。
さらに本発明においては、1つのトランジス
タ、すなわち1つの比較器によつて検出回路を構
成できるので、従来の検出回路に比べて、非常に
簡単な構成の検出回路を実現することができる。
タ、すなわち1つの比較器によつて検出回路を構
成できるので、従来の検出回路に比べて、非常に
簡単な構成の検出回路を実現することができる。
第1図は、本発明の1実施例である温度検出素
子の異常検出回路図、第2図及び第3図は、第1
図における温度検出素子の異常検出回路各部の電
圧値を表わす図 1…アースライン、2,3…電源ライン、4,
9…抵抗、5…感温インダクタンス、6…リード
スイツチ、7…パルス発振器、8…トランジス
タ、10…コンデンサ、11…出力端子、12…
磁石、21…パルス電圧、22…ベース・エミツ
タ間電圧、23…電圧ライン3の電圧、24…電
源ライン2の電圧、25…電源ライン2の電圧に
パルス電圧を微分して重畳した電圧。
子の異常検出回路図、第2図及び第3図は、第1
図における温度検出素子の異常検出回路各部の電
圧値を表わす図 1…アースライン、2,3…電源ライン、4,
9…抵抗、5…感温インダクタンス、6…リード
スイツチ、7…パルス発振器、8…トランジス
タ、10…コンデンサ、11…出力端子、12…
磁石、21…パルス電圧、22…ベース・エミツ
タ間電圧、23…電圧ライン3の電圧、24…電
源ライン2の電圧、25…電源ライン2の電圧に
パルス電圧を微分して重畳した電圧。
Claims (1)
- 1 トランジスタと、該トランジスタのベース部
に接続されたパルス発振器と、前記トランジスタ
のエミツタ・コレクタ間に接続されたコンデンサ
とを有し、前記トランジスタのエミツタ・コレク
タ間には感温インダクタンスで構成された温度検
出素子、リードスイツチを直列に接続して挿入
し、かつ前記リードスイツチの近傍には、永久磁
石が固着されている回路において、前記パルス発
振器は、アースラインと、該アースラインに対し
て、予め定められた正の直流電圧に設定された第
1の電源ラインによつて、電源を供給されてお
り、また前記パルス発振器の出力線は、前記温度
検出素子、リードスイツチを介して前記第1の電
源ラインに接続され、かつ前記トランジスタのエ
ミツタ部は、前記第1の電源ラインに接続され、
前記トランジスタのコレクタ部は、前記第1の電
源ラインの電圧より大きな直流電圧に設定された
第2の電源ラインに接続されていることを特徴と
する温度検出素子の異常検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19333883A JPS6085340A (ja) | 1983-10-18 | 1983-10-18 | 温度検出素子の異常検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19333883A JPS6085340A (ja) | 1983-10-18 | 1983-10-18 | 温度検出素子の異常検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6085340A JPS6085340A (ja) | 1985-05-14 |
| JPH0213251B2 true JPH0213251B2 (ja) | 1990-04-03 |
Family
ID=16306228
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19333883A Granted JPS6085340A (ja) | 1983-10-18 | 1983-10-18 | 温度検出素子の異常検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6085340A (ja) |
-
1983
- 1983-10-18 JP JP19333883A patent/JPS6085340A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6085340A (ja) | 1985-05-14 |
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