JPH02132842A - 半導体ウエハの移載装置 - Google Patents
半導体ウエハの移載装置Info
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- JPH02132842A JPH02132842A JP1181465A JP18146589A JPH02132842A JP H02132842 A JPH02132842 A JP H02132842A JP 1181465 A JP1181465 A JP 1181465A JP 18146589 A JP18146589 A JP 18146589A JP H02132842 A JPH02132842 A JP H02132842A
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- holding mechanism
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- H10P72/50—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for positioning, orientation or alignment
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/30—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations
- H10P72/34—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
- H10P72/3411—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading involving loading and unloading of wafers
- H10P72/3412—Batch transfer of wafers
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y10S414/135—Associated with semiconductor wafer handling
- Y10S414/141—Associated with semiconductor wafer handling includes means for gripping wafer
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Manipulator (AREA)
- Specific Conveyance Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は,半導体ウェハの移載装置に関する.(従来の
技術) 近年の半導体素子の高集積化に伴い,クリーンルーム内
における発塵防止対策は重要である。
技術) 近年の半導体素子の高集積化に伴い,クリーンルーム内
における発塵防止対策は重要である。
クリーンルーム内では発塵量を可能な限り小さくするた
めに,各機械的な機構をケーシングで覆い、発塵量の小
さな部材を用いて機構を構成している.また、クリーン
ルームの天井からフロアに向かってクリーンエアを流し
(クリーンエアのダウンフロー),ルーム内の清浄度を
高めている。更に、各装置の本体下部に排気機構を設け
、装置内で生じた塵埃をクリーンエアのダウンフローに
よりグレーチングフロアに強制的に排除している。
めに,各機械的な機構をケーシングで覆い、発塵量の小
さな部材を用いて機構を構成している.また、クリーン
ルームの天井からフロアに向かってクリーンエアを流し
(クリーンエアのダウンフロー),ルーム内の清浄度を
高めている。更に、各装置の本体下部に排気機構を設け
、装置内で生じた塵埃をクリーンエアのダウンフローに
よりグレーチングフロアに強制的に排除している。
一般に、半導体素子製造プロセスでは、熱処理,エッチ
ング等の諸工程で多数の半導体ウェハが一括処理される
。ウェハをある工程から次工程に移送する場合は,複数
枚のウェハをウェハ処理容器例えばカセットに収納し,
このカセットごと搬送される。ウェハ搬送用のカセット
は,それぞれの処理工程に応じて種々のカセットが使用
される。
ング等の諸工程で多数の半導体ウェハが一括処理される
。ウェハをある工程から次工程に移送する場合は,複数
枚のウェハをウェハ処理容器例えばカセットに収納し,
このカセットごと搬送される。ウェハ搬送用のカセット
は,それぞれの処理工程に応じて種々のカセットが使用
される。
このため、前工程で使用したカセットが次工程で使用で
きない場合が生じる。この場合、ウェハを熱処理炉内で
熱拡散処理するときは,カセットから石英製のボートに
ウェハを移し換える必要があ机 このようなウェハの移し換えには専用のウェハ移載装置
が使用される。ウェハ移載装置は、リフト機構と、ウェ
ハの移替え用保持機構と、ローディング機構と、を有す
る。この装置によりウェハを移し換える場合は、リフト
機構の部材によりカセットからウェハを持ち上げ,保持
機構の部材によりウェハを挟持し、このウェハをローデ
ィング機構によりボートに移送し、チャック部材を開動
作させてボート上にウェハを移載する.ボートには所定
のピッチ間隔で複数のウェハ保持溝が形成されているた
め、各ウェハはボート上にて一定の相互間隔で整列搭載
される。なお、ウェハの移し換え操作は、所定のプログ
ラミングに従って全自動的にコンピュータ制御されてい
る。
きない場合が生じる。この場合、ウェハを熱処理炉内で
熱拡散処理するときは,カセットから石英製のボートに
ウェハを移し換える必要があ机 このようなウェハの移し換えには専用のウェハ移載装置
が使用される。ウェハ移載装置は、リフト機構と、ウェ
ハの移替え用保持機構と、ローディング機構と、を有す
る。この装置によりウェハを移し換える場合は、リフト
機構の部材によりカセットからウェハを持ち上げ,保持
機構の部材によりウェハを挟持し、このウェハをローデ
ィング機構によりボートに移送し、チャック部材を開動
作させてボート上にウェハを移載する.ボートには所定
のピッチ間隔で複数のウェハ保持溝が形成されているた
め、各ウェハはボート上にて一定の相互間隔で整列搭載
される。なお、ウェハの移し換え操作は、所定のプログ
ラミングに従って全自動的にコンピュータ制御されてい
る。
上記ウェハ移し換え作業は、カセットテーブル上に載置
された複数のカセットに対して繰り返される。すなわち
、複数のカセットに収納されたウェハ群がボート上に次
々に移載さ九る6第1図に示すように、従来のウェハ移
載装置の保持機構では,1対のチャック部材3がそれぞ
わ軸4に取り付けられ、各軸4がケーシング5内の駆動
機構(図示せず)にそれぞれ連結されている.各軸4は
、ケーシング5の本体6のベアリング8に支持されてい
る。
された複数のカセットに対して繰り返される。すなわち
、複数のカセットに収納されたウェハ群がボート上に次
々に移載さ九る6第1図に示すように、従来のウェハ移
載装置の保持機構では,1対のチャック部材3がそれぞ
わ軸4に取り付けられ、各軸4がケーシング5内の駆動
機構(図示せず)にそれぞれ連結されている.各軸4は
、ケーシング5の本体6のベアリング8に支持されてい
る。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら,従来のウェハ移載装置においては、駆動
機構(モータ,プーリ、ベルト、ベアリング等の組み合
せからなる)を内蔵するケーシング5がチャック部材3
に近接しており、駆動機構で発生した塵埃がウェハ2に
付着しやすい。すなおち、軸4およびベアリング8の間
には僅かな間隙9が存在する。このため、間隙9を介し
てボックス5内の塵埃が外部に漏れ出し、ウェハ2が汚
染される。
機構(モータ,プーリ、ベルト、ベアリング等の組み合
せからなる)を内蔵するケーシング5がチャック部材3
に近接しており、駆動機構で発生した塵埃がウェハ2に
付着しやすい。すなおち、軸4およびベアリング8の間
には僅かな間隙9が存在する。このため、間隙9を介し
てボックス5内の塵埃が外部に漏れ出し、ウェハ2が汚
染される。
この場合に、ベアリング8にシールタイプのものを採用
して間隙9を無くすことも考えられるが、シールタイプ
のベアリングを採用すると、ベアリング自体から多量の
塵埃が発生し.逆効果となる,このような事情から、保
持機構のベアリング8には発塵量の少ないノンシールタ
イプのベアリングを採用せざるをえない。
して間隙9を無くすことも考えられるが、シールタイプ
のベアリングを採用すると、ベアリング自体から多量の
塵埃が発生し.逆効果となる,このような事情から、保
持機構のベアリング8には発塵量の少ないノンシールタ
イプのベアリングを採用せざるをえない。
また、ケーシング5の蓋7は,機構の軽量化を図るため
ステンレス鋼薄板でつくられている。蓋7が種々の要因
で変形し、蓋7および本体6の接合部に間隙が生じやす
い。このため、保持機構のケーシング5内の塵埃が外部
に漏れ出し,これがウェハに付着する。
ステンレス鋼薄板でつくられている。蓋7が種々の要因
で変形し、蓋7および本体6の接合部に間隙が生じやす
い。このため、保持機構のケーシング5内の塵埃が外部
に漏れ出し,これがウェハに付着する。
このように従来のウェハ移載装置においては、保持機構
で生じた塵埃によりウェハが汚染され、ウェハの歩留ま
りが低下する。
で生じた塵埃によりウェハが汚染され、ウェハの歩留ま
りが低下する。
この発明の目的は,各種の機構、特に、ウェハ保持機構
やピッチ変換機構で生じた塵埃がウェハに付着すること
を防止することができるウェハ移載装置を提供するもの
である。
やピッチ変換機構で生じた塵埃がウェハに付着すること
を防止することができるウェハ移載装置を提供するもの
である。
(課題を解決するための手段)
本発明のウェハの移載装置は、所定の配列ピッチで多数
配列された半導体ウェハ群を保持してウェハ授受間の移
載を行う保持機構を備えた半4体ウェハの移載装置にお
いて,保持機構内の雰囲気を装置本体部の排気機構に導
くように構成したことを特徴とするものである。
配列された半導体ウェハ群を保持してウェハ授受間の移
載を行う保持機構を備えた半4体ウェハの移載装置にお
いて,保持機構内の雰囲気を装置本体部の排気機構に導
くように構成したことを特徴とするものである。
(作 用)
本発明は,移載部で発生する塵埃を排出する如く,排気
機構を設け、装置の大型化や製造コストの上昇を防止し
つつ,チャック機構からの塵埃の漏洩防止が可能になる
。
機構を設け、装置の大型化や製造コストの上昇を防止し
つつ,チャック機構からの塵埃の漏洩防止が可能になる
。
(実施例)
以下,この発明の一実施例について、図面を参照しなが
ら説明する。
ら説明する。
クリーンルーム内に多段式の熱処理炉(図示せず)が設
置され、各段の炉口前には多数枚のウェハの収納された
ウェハボートを反応管内に非接触で搬入搬出するソフト
ランディング装置が設けられている.ウェハ移載装置が
、ソフトランディング装置に並ぶように設置されている
。ウェハ移載装置は,熱処理炉の炉軸(X軸)に沿って
延びている。ウェハ移載装置は、コンピュータシステム
に接続され、これにより装置の保持機構、リフト機構、
並びにローディング機構の動作が制御される。
置され、各段の炉口前には多数枚のウェハの収納された
ウェハボートを反応管内に非接触で搬入搬出するソフト
ランディング装置が設けられている.ウェハ移載装置が
、ソフトランディング装置に並ぶように設置されている
。ウェハ移載装置は,熱処理炉の炉軸(X軸)に沿って
延びている。ウェハ移載装置は、コンピュータシステム
に接続され、これにより装置の保持機構、リフト機構、
並びにローディング機構の動作が制御される。
第1図に示すように、ウェハ移し換え装置11は,グレ
ーチングフロア(以下フロアと略記する)10上に設置
されている。装置11の下部には複数のファン24が設
けられている。このファン24がまわると、装置11内
にダウンフローが生じ、装置11内で生じた塵埃がフロ
ア10に向かって強制的に排除される。装置11の上面
に、複数のカセット22例えば25枚のウェハが収納さ
れたカセットを載置するためのカセットステージlla
と、熱処理用耐熱材で形成された石英製ウェハボート2
3を載置するためのボートステージllbと、 が設け
られている.ステージlla, llbは、それぞれX
軸に沿って延びている。
ーチングフロア(以下フロアと略記する)10上に設置
されている。装置11の下部には複数のファン24が設
けられている。このファン24がまわると、装置11内
にダウンフローが生じ、装置11内で生じた塵埃がフロ
ア10に向かって強制的に排除される。装置11の上面
に、複数のカセット22例えば25枚のウェハが収納さ
れたカセットを載置するためのカセットステージlla
と、熱処理用耐熱材で形成された石英製ウェハボート2
3を載置するためのボートステージllbと、 が設け
られている.ステージlla, llbは、それぞれX
軸に沿って延びている。
カセットステージllaには開口が形成されている。こ
の開口の直下にリフト機構の部材25が待機している。
の開口の直下にリフト機構の部材25が待機している。
リフト部材25は,図示しない昇降装置に支持され,Z
軸に沿って昇降する。部材25の上面にはウェハ保持用
の溝が3/16インチのピッチ間隔に形成されている。
軸に沿って昇降する。部材25の上面にはウェハ保持用
の溝が3/16インチのピッチ間隔に形成されている。
ステージlla, Ilbの間に、一枚または複数枚の
ウェハ取出しハンドリング機構例えば保持機構13がX
軸に沿って移動するための開口が形成されている。保持
機構13の連結部材12の下部は装置11内のスライド
レールにスライド可能に連結されている.連結部材12
は、中空をなし、その最下部にファン20が設けられて
いる。
ウェハ取出しハンドリング機構例えば保持機構13がX
軸に沿って移動するための開口が形成されている。保持
機構13の連結部材12の下部は装置11内のスライド
レールにスライド可能に連結されている.連結部材12
は、中空をなし、その最下部にファン20が設けられて
いる。
第2図に示すように,保持機構13の上部は装置1lの
上面より突出している。連結部材l2の上にケーシング
14, 15からなるボックスが設けられている。ケー
シング14は厚板のアルミ部材でつくられ,ケーシング
15は薄板の鋼でつくられている。ケーシング15は,
カバーの役割を有し、ケーシング14にビス止めされて
いる。
上面より突出している。連結部材l2の上にケーシング
14, 15からなるボックスが設けられている。ケー
シング14は厚板のアルミ部材でつくられ,ケーシング
15は薄板の鋼でつくられている。ケーシング15は,
カバーの役割を有し、ケーシング14にビス止めされて
いる。
ケーシング14からステンレス鋼製の2対の軸17が水
平に延び出している。各対の軸17の先端には、それぞ
れチャック部材18が取り付けられている。
平に延び出している。各対の軸17の先端には、それぞ
れチャック部材18が取り付けられている。
1対のチャック部材18は,互いに向き合い、カセット
ステージllaの上方に位置している。なお,各チャッ
ク部材18の内面には、ウェハ保持用の溝が3716イ
ンチのピッチ間隔に形成されている。
ステージllaの上方に位置している。なお,各チャッ
ク部材18の内面には、ウェハ保持用の溝が3716イ
ンチのピッチ間隔に形成されている。
各対の軸17は、それぞれ軸受27. 28によりケー
シング14に支持されている。軸受27. 28には,
発塵景を抑制するため、ノンシールタイプのステンレス
鋼製のベアリングを採用する。
シング14に支持されている。軸受27. 28には,
発塵景を抑制するため、ノンシールタイプのステンレス
鋼製のベアリングを採用する。
保持機構について説明すると、1対のアーム29により
軸17がベルト30の往路に連結されている。
軸17がベルト30の往路に連結されている。
また、他の1対のアーム29(図示せず)により他の軸
17(図示せず)がベルト30の復路に連結されている
。ベルト30は、プーり32とプーり33との間に掛け
わたされている。一方のプーり32は、シンクロナスモ
ータ31の駆動軸に嵌め込まれている。
17(図示せず)がベルト30の復路に連結されている
。ベルト30は、プーり32とプーり33との間に掛け
わたされている。一方のプーり32は、シンクロナスモ
ータ31の駆動軸に嵌め込まれている。
モータ31の駆動軸を正転させると、1対のチャック部
材18がY軸に沿って互いに接近し(保持機構の閉動作
)、モータ31の駆動軸を逆転させると、1対のチャッ
ク部材18がY軸に沿って互いに離隔する(保持機構の
開動作).なお、ベルト30はウレタン樹脂でつくられ
、プーり32, 33は陽極酸化処理したアルミニウム
合金(アルマイト)でつくられている。
材18がY軸に沿って互いに接近し(保持機構の閉動作
)、モータ31の駆動軸を逆転させると、1対のチャッ
ク部材18がY軸に沿って互いに離隔する(保持機構の
開動作).なお、ベルト30はウレタン樹脂でつくられ
、プーり32, 33は陽極酸化処理したアルミニウム
合金(アルマイト)でつくられている。
反転機構について説明すると、ステッピングモータ38
が連結部材12内に設けられている。モータの駆動軸3
9は、Z軸を向き、オルダムカップリング37の下端部
に連結されている。更に,オルダムカップリング37の
上端部は反転軸40の下端突起43に連結されている。
が連結部材12内に設けられている。モータの駆動軸3
9は、Z軸を向き、オルダムカップリング37の下端部
に連結されている。更に,オルダムカップリング37の
上端部は反転軸40の下端突起43に連結されている。
反転軸40は、Z軸方向に延び、その上端部がケーシン
グ14内の風箱34に達している。風箱34の上にはフ
ァンl9が取り付けられている。
グ14内の風箱34に達している。風箱34の上にはフ
ァンl9が取り付けられている。
なお、反転軸40は、ベアリング35を介して連結部材
12に支持されている。ベアリング35はUナット36
により締め付けられている。
12に支持されている。ベアリング35はUナット36
により締め付けられている。
第3図に示すように、反転軸40の上端から下端部近傍
に至るまで通路41が形成され、この通路41は側面の
複数の孔42にて開口している.次に,第6図を参照し
ながら、カセット22内のウェハ21をボート23に移
し換える場合について説明する。
に至るまで通路41が形成され、この通路41は側面の
複数の孔42にて開口している.次に,第6図を参照し
ながら、カセット22内のウェハ21をボート23に移
し換える場合について説明する。
■ ウェハが等間隔に収納されたカセット22をステー
ジlla上の予め定められた位置に載置する。
ジlla上の予め定められた位置に載置する。
ウェハ熱処理用ボート23をステージllbに載置する
。一つのカセット22には3/16インチのビッチ間隔
で25枚のウェハ21が収納されている。
。一つのカセット22には3/16インチのビッチ間隔
で25枚のウェハ21が収納されている。
各種データ(ウェハサイズ、ピッチ間隔等)をコンピュ
ータシステムに入力する。ウェハ移し換え装置l1のス
イッチをONにして、保持機構13をX軸方向へ移動さ
せ、チャック部材18がカセット22の直上に位置する
ところで停止させる。
ータシステムに入力する。ウェハ移し換え装置l1のス
イッチをONにして、保持機構13をX軸方向へ移動さ
せ、チャック部材18がカセット22の直上に位置する
ところで停止させる。
第6図Aに示すように、リフト部材25を上昇させ、ウ
ェハ21をカセット22の上方へ一括に持ち上げる。
ェハ21をカセット22の上方へ一括に持ち上げる。
■ 第6図Bに示すように、チャック部材18を閉動作
させ、ウェハ21を一括に扶持する。
させ、ウェハ21を一括に扶持する。
■ 第6図Cに示すように、リフト部材25を下降させ
る. (イ)保持機構13を2軸まわりに反転させる。これに
より,第6図Dに示すように、ウェハ21をボート23
の直上に位置させる。
る. (イ)保持機構13を2軸まわりに反転させる。これに
より,第6図Dに示すように、ウェハ21をボート23
の直上に位置させる。
■ 保持機構13を静かに下降させる。これにより第6
図Eに示すように、ウェハ21がボート23の各溝に挿
入される。
図Eに示すように、ウェハ21がボート23の各溝に挿
入される。
0 第6図Fに示すように、チャック部材18を開動作
させ、ウェハ21をボート23に移載する.■ 保持機
構13を上昇させ,これを反転させ,次のカセット22
の直上に移動させる。
させ、ウェハ21をボート23に移載する.■ 保持機
構13を上昇させ,これを反転させ,次のカセット22
の直上に移動させる。
上記ω〜■のステップを繰り返して,次のカセット22
からボート23の所定位置にウェハ21を移載する。ボ
ート23上に200枚のウェハ21を移載したところで
、ウェハ移し換え作業を終了する。ボート23をソフト
ランディング装置により熱処理炉に装入し、ウェハ21
を一括に拡散熱処理する。
からボート23の所定位置にウェハ21を移載する。ボ
ート23上に200枚のウェハ21を移載したところで
、ウェハ移し換え作業を終了する。ボート23をソフト
ランディング装置により熱処理炉に装入し、ウェハ21
を一括に拡散熱処理する。
次に、第1図,第2図及び第3図を参照しながら、ウェ
ハ移し換え装置11における排気動作について説明する
。
ハ移し換え装置11における排気動作について説明する
。
ウェハ移載装置1lのスイッチをONすると、ファン1
9, 20. 24が一斉に回りはじめる。多数のファ
ン24の回転気流により装置工1の内部にダウンフロー
が生じ,装1i111内で生じた塵埃がクリーンルーム
に飛散するのを防止し吸引してグレーチングフロア10
に吸い込まれる。また、保持機構13内で生じた塵埃は
、ファン19の回転気流により反転軸40の通路41を
通過して孔42から連結部材12内に入り、更にファン
20の回転気流により部材12から装置11の本体内に
入り,更にこれがファン24の回転気流により装置11
からグレーチングフロア10に排出される。
9, 20. 24が一斉に回りはじめる。多数のファ
ン24の回転気流により装置工1の内部にダウンフロー
が生じ,装1i111内で生じた塵埃がクリーンルーム
に飛散するのを防止し吸引してグレーチングフロア10
に吸い込まれる。また、保持機構13内で生じた塵埃は
、ファン19の回転気流により反転軸40の通路41を
通過して孔42から連結部材12内に入り、更にファン
20の回転気流により部材12から装置11の本体内に
入り,更にこれがファン24の回転気流により装置11
からグレーチングフロア10に排出される。
上記第1実施例によれば,保持機構13で生じた塵埃を
強制的に排除することができ,塵埃によるウェハ21の
汚染を有効に防止することができる。
強制的に排除することができ,塵埃によるウェハ21の
汚染を有効に防止することができる。
また,上記第1実施例によれば,既設のファン24を利
用できるので、装置全体として構造が極めて簡略になる
。このため、装置の大型化を回避することができ,装置
の製造コストも低減することができる。
用できるので、装置全体として構造が極めて簡略になる
。このため、装置の大型化を回避することができ,装置
の製造コストも低減することができる。
更に、中空反転軸40の排気孔42が側面に開口する構
成としているので、軸40をモータの駆動軸39に容易
に連結することができる。このため、連結部材12を小
型化することができる。また、装置本体のファン24の
容量を大きくすることにより、ファン19. 20を不
要にすることも可能である。
成としているので、軸40をモータの駆動軸39に容易
に連結することができる。このため、連結部材12を小
型化することができる。また、装置本体のファン24の
容量を大きくすることにより、ファン19. 20を不
要にすることも可能である。
なお,第5図の変形例に示すように、反転機構を変更す
ることも可能である。この変形例では、反転軸50を中
空に形成し、通路51を塵埃が通過するように構成され
ている。中空反転軸50にはプーリ52が嵌め込まれて
おり、ベルト55がプーり52をモータ53のプーり5
4との間に掛けわたされている。
ることも可能である。この変形例では、反転軸50を中
空に形成し、通路51を塵埃が通過するように構成され
ている。中空反転軸50にはプーリ52が嵌め込まれて
おり、ベルト55がプーり52をモータ53のプーり5
4との間に掛けわたされている。
上記変形例によれば、装置11本体と保持機構13とを
電気的に接続する配線を通路51内に通過させることが
できるので、更に装置を小型化することができる。
電気的に接続する配線を通路51内に通過させることが
できるので、更に装置を小型化することができる。
また、第7図の変形例に示すように、排気通路を変更す
ることも可能である。この変形例では,保持機構13お
よび連結部材12を外部の排気ダクト58により連結さ
せている。
ることも可能である。この変形例では,保持機構13お
よび連結部材12を外部の排気ダクト58により連結さ
せている。
上記変形例によれば,排気ダクト58を付加するだけで
よいので、既存の装置を容易に改造することができ、更
に経済的である。また,デザイン上の自由度が大きいの
で、排気ダクト58を大口径化することにより、排気能
力の向上を図ることができる。
よいので、既存の装置を容易に改造することができ、更
に経済的である。また,デザイン上の自由度が大きいの
で、排気ダクト58を大口径化することにより、排気能
力の向上を図ることができる。
次に、第8図および第9図を参照しながら、第2実施例
の装置について説明する。なお,この第2実施例と上記
の第1実施例とが共通する部分の説明は省略する。
の装置について説明する。なお,この第2実施例と上記
の第1実施例とが共通する部分の説明は省略する。
この第2実施例の装置の保持機構63は,ウェハ21の
配列ピッチ間隔を変換するためのピッチ変換機構60を
有する。ピッチ変換機構60は、チャック部材18の相
互間隔を、例えば、当初の3716インチから6716
インチや9/l6インチに変更することができるように
構成されている。すなわち,この機構60を用いること
により、チャック部材18で扶持した状態でウェハ21
の相互ピッチ間隔が所望のものに変更される。
配列ピッチ間隔を変換するためのピッチ変換機構60を
有する。ピッチ変換機構60は、チャック部材18の相
互間隔を、例えば、当初の3716インチから6716
インチや9/l6インチに変更することができるように
構成されている。すなわち,この機構60を用いること
により、チャック部材18で扶持した状態でウェハ21
の相互ピッチ間隔が所望のものに変更される。
各排気ダクト66により、ピッチ変換機構60のケーシ
ング内と、保持機構63の上室65と、が互いに連通さ
れている。上室65内には小型のブロワ70が設置され
ている。ブロワ70の吹き出し口は、下室64に向かっ
て開口している。
ング内と、保持機構63の上室65と、が互いに連通さ
れている。上室65内には小型のブロワ70が設置され
ている。ブロワ70の吹き出し口は、下室64に向かっ
て開口している。
反転軸40が連結部材12から下室64まで設けられ、
その通路41が下室64にて開口している。下室64内
にはモータ31等からなる駆動機構が収納されている。
その通路41が下室64にて開口している。下室64内
にはモータ31等からなる駆動機構が収納されている。
上記第2の実施例の装置によりウェハを移し換えるとき
に、ブロワ70を運転し,ピッチ変換機構60で生じた
塵埃を上室65に吸い込む。塵埃を含む気流は、上室6
5から下室64に至り、反転軸40の通路41を介して
連結部材12に入り、更に、装1i!11の本体を通過
してフロア10に到達する。
に、ブロワ70を運転し,ピッチ変換機構60で生じた
塵埃を上室65に吸い込む。塵埃を含む気流は、上室6
5から下室64に至り、反転軸40の通路41を介して
連結部材12に入り、更に、装1i!11の本体を通過
してフロア10に到達する。
上記第2実施例によれば、ピッチ変換機構60は発塵量
が比較的大きいにも拘らず、塵埃によるウェハ21の汚
染を防止することができる。このため、ウェハの製品歩
留まりを飛費的に向上させることができた。
が比較的大きいにも拘らず、塵埃によるウェハ21の汚
染を防止することができる。このため、ウェハの製品歩
留まりを飛費的に向上させることができた。
なお、上記第2実施例では、吸気能力に優れた小型のブ
ロワ70を使用するため,装置の大型化を回避すること
ができる。
ロワ70を使用するため,装置の大型化を回避すること
ができる。
ホールド手段の各機構から装置本体に至るまでの排気通
路は、種々のルートを選定することが可能である。例え
ば,搬送手段に反転機構を採用する場合は、反転軸内部
に通路を形成し,これを介して塵埃を装置本体に導く。
路は、種々のルートを選定することが可能である。例え
ば,搬送手段に反転機構を採用する場合は、反転軸内部
に通路を形成し,これを介して塵埃を装置本体に導く。
また、外部ダクトにより各機構内部を装置本体に連通さ
せてもよい。
せてもよい。
排気手段は、塵埃の発生源に最も近い位置に設けること
が望ましい。従って,扶持動作機構またはピッチ変換機
構の内部に設けることが好ましい。
が望ましい。従って,扶持動作機構またはピッチ変換機
構の内部に設けることが好ましい。
しかし、これ以外の箇所、例えば、搬送手段、装置本体
,並びに連結部材に設けてもよい。また、これら全ての
箇所に排気手段を設けると,更に排気効果が向上する。
,並びに連結部材に設けてもよい。また、これら全ての
箇所に排気手段を設けると,更に排気効果が向上する。
上記実施例ではウェハをカセットから持ち上げ、ホール
ド手段の動作機楕でウェハを保持し,場合によってはピ
ッチ変換機構でウェハ相互のピッチ間隔を変換する。こ
のとき,ホールド手段の各機構で生じた塵埃を、排気手
段により装置本体内に吸引し、これを更に装置本体の外
部に排除するので、塵埃が機構からウェハの方へ漏れ出
さなくなり,塵埃によるウェハの汚染が防止される。
ド手段の動作機楕でウェハを保持し,場合によってはピ
ッチ変換機構でウェハ相互のピッチ間隔を変換する。こ
のとき,ホールド手段の各機構で生じた塵埃を、排気手
段により装置本体内に吸引し、これを更に装置本体の外
部に排除するので、塵埃が機構からウェハの方へ漏れ出
さなくなり,塵埃によるウェハの汚染が防止される。
以上説明したように、本願発明のウェハ移載装置によれ
ば、保持機構で生じる塵埃を強制的にクリーンルームの
外部に排除することができるので、塵埃によるウェハの
汚染を有効に防止することができ、半導体素子製品の歩
留まりを向上させることができる。
ば、保持機構で生じる塵埃を強制的にクリーンルームの
外部に排除することができるので、塵埃によるウェハの
汚染を有効に防止することができ、半導体素子製品の歩
留まりを向上させることができる。
第1図は本発明の第1実施例のウェハ移載装置を長手方
向から見て模式的に示す断面説明図、第2図は第1図の
装置の保持機構の部分を示す拡大説明図、第3図,第4
図は保持機構の反転軸を示す斜視説明図、第5図は第1
図の実施例の変形例として、別の反転機構を示す模式説
明図、第6図は第1図のそれぞれカセットからボートに
ウェハを移し換える場合の動作を説明するための模式説
明図、第7図は第1図の実施例の変形例として、外部に
排気通路を有する装置を示す模式説明図、第8図は本発
明の他の実施例のウェハ移載装置を長手方向から見て模
式的に示す断面説明図,第9保持機構を模式的に示す縦
断面図である。 l1・・・装置本体 13・・・保持機構18・
・・チャック部材 20・・・ファン22・・・カセ
ット 23・・・ボート 40・・・中空反転軸 63・・・保持機構
向から見て模式的に示す断面説明図、第2図は第1図の
装置の保持機構の部分を示す拡大説明図、第3図,第4
図は保持機構の反転軸を示す斜視説明図、第5図は第1
図の実施例の変形例として、別の反転機構を示す模式説
明図、第6図は第1図のそれぞれカセットからボートに
ウェハを移し換える場合の動作を説明するための模式説
明図、第7図は第1図の実施例の変形例として、外部に
排気通路を有する装置を示す模式説明図、第8図は本発
明の他の実施例のウェハ移載装置を長手方向から見て模
式的に示す断面説明図,第9保持機構を模式的に示す縦
断面図である。 l1・・・装置本体 13・・・保持機構18・
・・チャック部材 20・・・ファン22・・・カセ
ット 23・・・ボート 40・・・中空反転軸 63・・・保持機構
Claims (1)
- 所定の配列ピッチで多数配列された半導体ウェハ群を保
持してウェハ授受間の移載を行う保持機構を備えた半導
体ウェハの移載装置において、上記保持機構内の雰囲気
を装置本体部の排気機構に導くように構成したことを特
徴とする半導体ウェハの移載装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63-174070 | 1988-07-13 | ||
| JP17407088 | 1988-07-13 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02132842A true JPH02132842A (ja) | 1990-05-22 |
| JP2673157B2 JP2673157B2 (ja) | 1997-11-05 |
Family
ID=15972109
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1181465A Expired - Lifetime JP2673157B2 (ja) | 1988-07-13 | 1989-07-13 | 半導体ウエハの移載装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5054988A (ja) |
| JP (1) | JP2673157B2 (ja) |
| KR (1) | KR0147374B1 (ja) |
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