JPH02142155A - Semiconductor-wafer transfer apparatus - Google Patents
Semiconductor-wafer transfer apparatusInfo
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- JPH02142155A JPH02142155A JP63295563A JP29556388A JPH02142155A JP H02142155 A JPH02142155 A JP H02142155A JP 63295563 A JP63295563 A JP 63295563A JP 29556388 A JP29556388 A JP 29556388A JP H02142155 A JPH02142155 A JP H02142155A
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(概 要)
半導体ウェハの製造プロセスにおける半導体ウェハ移し
替え装置に関し、
半導体ウェハの移し替え時における該ウェハとボート等
保持具との接触、 Ig擦によって生ずる塵埃に起因す
る半導体デバイスとしての特性劣化を防止することを目
的とし、
内側に半導体ウェハを立てた状態で挿入保持する溝が等
間隔平行に形成されたボート2個を、上記溝を合致させ
た状態で対□向させて構成する半導体ウェハ移し替え治
具を、液体中で該治具を−に下反転させる手段に連結し
て構成する。[Detailed Description of the Invention] (Summary) Regarding a semiconductor wafer transfer device in a semiconductor wafer manufacturing process, dust caused by contact between the wafer and a holder such as a boat, and Ig friction during transfer of the semiconductor wafer In order to prevent the characteristics of semiconductor devices from deteriorating, two boats, each of which has equally spaced parallel grooves for inserting and holding a semiconductor wafer in an upright position, are placed together with the grooves aligned. A semiconductor wafer transfer jig is connected to a means for inverting the jig downwardly in a liquid.
本発明は半導体ウェハの製造プロセスにおける半導体ウ
ェハ移し替え装置に係り、特に半導体ウェハの移し替え
時におけるウェハとボートやバスケット等保持具との接
触、摩擦によって生ずる塵埃に起因する半導体デバイス
としての特性劣化の防止を図った半導体ウェハ移し替え
装置に関する。The present invention relates to a semiconductor wafer transfer device in a semiconductor wafer manufacturing process, and in particular, deterioration of characteristics of semiconductor devices due to dust caused by contact and friction between the wafer and a holder such as a boat or basket when transferring the semiconductor wafer. The present invention relates to a semiconductor wafer transfer device that aims to prevent such problems.
一般に半導体ウェハの製造プロセスでは多数回の洗浄や
被膜形成工程を必要としているが、工程にしたがってウ
ェハを移動させる場合にはボートやバスケット等の保持
具を替える必要がある。Generally, the manufacturing process of semiconductor wafers requires multiple cleaning and film forming steps, and when moving the wafers according to the process, it is necessary to change holders such as boats and baskets.
この際の移し替え作業は通常雰囲気のよい環境中で行わ
れるが、該ウェハやウェハと直接接触するボートやバス
ケット等の保持具から発生する摩耗粉等の塵埃が問題と
なっている。This transfer work is usually performed in a good atmosphere, but dust such as abrasion powder generated from the wafer and holders such as boats and baskets that come into direct contact with the wafer poses a problem.
この場合の発塵は、ウェハと上記保持具が擦れ合い少な
くとも一方が損傷することに起因するが、ウェハおよび
保持具を洗浄水または各種薬液に浸漬するとこれらの塵
埃粒子がウェハ表面に付着するため爾後の諸工程で半導
体デバイスとしての欠陥を生じ特性をt員なうことにな
る。Dust generation in this case is caused by the wafer and the holder rubbing against each other, damaging at least one of them, but when the wafer and holder are immersed in cleaning water or various chemical solutions, these dust particles adhere to the wafer surface. In subsequent steps, defects will occur as a semiconductor device and the characteristics will become t-membered.
特に最近の如くウェハの大口径化やパターンの微細化が
進展すると、塵埃粒子の発生が多くなると共にパターン
に及ぼす影響が大きくなることから、これら塵埃粒子の
発生およびウェハ表面への付着を極力抑制する必要があ
る。In particular, as the diameter of wafers increases and the patterns become finer as in recent years, the generation of dust particles increases and the influence on the patterns increases. Therefore, the generation of these dust particles and their adhesion to the wafer surface are suppressed as much as possible. There is a need to.
〔従来の技術)
第4図は従来の半導体ウェハ移し替え治具の例を示す図
であり、(A)は治具の構成例をまた(B)は移し替え
動作を説明する図である。[Prior Art] FIG. 4 is a diagram showing an example of a conventional semiconductor wafer transfer jig, in which (A) shows an example of the structure of the jig, and (B) illustrates a transfer operation.
第4図(Δ)で、1は例えば6J:径で厚さが0.5m
m程度の半導体ウェハ(以下ウェハとする)を示し、2
及び3はその内部に複数の上記ウェハ1を立てた状態で
所定間隔例えば数mm間隔で平行に整列保持するための
満28.及び3aが相互に対応して形成されている等し
い大きさのボートである。In Figure 4 (Δ), 1 is, for example, 6J: diameter and thickness 0.5m
Indicates a semiconductor wafer (hereinafter referred to as a wafer) of approximately 2 m.
and 3 are for holding a plurality of wafers 1 standing in parallel alignment at predetermined intervals, for example, several mm intervals. and 3a are equally sized boats formed to correspond to each other.
このボート2及び3の該ウェハ1を位置決めするための
上記溝2aと3aは、その幅Wを処理工程中における該
ウェハ1の反りや曲がりにも対応できるように通常上記
ウェハ1の厚さの3〜4倍例えば1.5〜2.01とす
ると共に、該ウェハの外形に沿う0寸法を該ウェハの外
径より僅かに大きくしたU字型に形成している。The grooves 2a and 3a of the boats 2 and 3 for positioning the wafers 1 are usually designed so that the width W thereof is equal to the thickness of the wafer 1 so as to correspond to the warping or bending of the wafer 1 during the processing process. It is set to 3 to 4 times, for example, 1.5 to 2.01, and is formed into a U-shape in which the zero dimension along the outer diameter of the wafer is slightly larger than the outer diameter of the wafer.
尚該ボート2及び3の両側面部と底部に設けている溝2
b、 3bは、上記溝2a、 3a部分でのみ該ボート
2または3の壁部分を貫通するような深さに形成してい
るものであり、純水や薬液等の液体を該移し変え治具4
の内部で循環させるためのものである。Furthermore, the grooves 2 provided on both sides and bottom of the boats 2 and 3
The grooves b and 3b are formed deep enough to penetrate the wall of the boat 2 or 3 only at the grooves 2a and 3a, and are used to transfer liquids such as pure water and chemicals to the transfer jig. 4
It is intended for circulation within the .
ここで例えばボート2の谷溝2aにウェハ1を挿入し、
ボート3の溝3aが上記ボート2の谷溝2aと対応する
ようにボート3を対向させて装着し、半導体ウェハ移し
替え治具4を完成させている。Here, for example, insert the wafer 1 into the groove 2a of the boat 2,
The boats 3 are mounted facing each other so that the grooves 3a of the boats 3 correspond to the valley grooves 2a of the boat 2, and the semiconductor wafer transfer jig 4 is completed.
ウェハを移し替える際の動作を示す図(B)で、(イ)
は例えば洗浄、乾燥が終了し良好な雰囲気中にある複数
のウェハIがボート2の溝2aに挿入された状態にある
ことを示している。In the diagram (B) showing the operation when transferring the wafer, (A)
For example, indicates that a plurality of wafers I, which have been cleaned and dried and are in a good atmosphere, are inserted into the groove 2a of the boat 2.
ここで、該ウェハ1を次工程に進まぜるために他のボー
ト(図の場合にはボート3)に移し替えるが、この際該
半導体つェハ移し替え治具4をそのまま例えば図示矢印
R方向に図(ロ)のように上下反転させてウェハをボー
ト3の対応する溝3aに落とし込み、次工程例えば被膜
形成等の工程に移行さ・せでいる。Here, the wafer 1 is transferred to another boat (boat 3 in the case of the figure) in order to proceed to the next process, but at this time, the semiconductor wafer transfer jig 4 is moved as it is, for example in the direction of the arrow R shown in the figure. Then, the wafer is turned upside down and dropped into the corresponding groove 3a of the boat 3 as shown in FIG.
このウェハを移し替える際の該ウェハの移動は自重によ
って行われるため、ウェハとボートが衝突し合って微細
な塵埃が発生しウェハを汚染することになる。Since the wafers are moved by their own weight when being transferred, the wafers and the boat collide with each other, generating fine dust and contaminating the wafers.
特にこの傾向はウェハが大口径化するにつれて大きくな
るため、深刻な問題となっている。In particular, this tendency becomes more serious as the diameter of the wafer increases, making it a serious problem.
従来の構成になる半導体ウェハ移し替え治具は、ウェハ
の移し替え時に発生ずる塵埃が洗浄や被膜形成等の工程
でウェハの表面に多く付着するため、洗浄や被膜形成等
が均一にできずひいてはデバイスとしての特性低下によ
る不良が増大すると云う問題があった。With conventional semiconductor wafer transfer jigs, a large amount of dust generated during wafer transfer adheres to the surface of the wafer during cleaning and film formation processes, making cleaning and film formation difficult and even worse. There is a problem in that the number of defects increases due to deterioration in device characteristics.
上記問題点は、内側に半導体ウェハを立てた状態で挿入
保持する溝が等間隔平行に形成されたポート2個を、上
記溝を合致させた状態で対向させて構成する半導体ウェ
ハ移し替え治具が、液体中で該治具を上下反転させる手
段に連結されてなる半導体ウェハ移し替え装置によって
解決される。The above problem is solved by a semiconductor wafer transfer jig that consists of two ports in which grooves for inserting and holding a semiconductor wafer in an upright position are formed in parallel and equally spaced, facing each other with the grooves aligned. This problem is solved by a semiconductor wafer transfer device connected to means for turning the jig upside down in a liquid.
〔作 用]
ウェハの移し替え作業を液体中で行うと、該液体による
浮力によってウェハはゆっくりと下降すると共にウェハ
とボートの各接触部分に介在する液体がダンパとなるた
め、相互の衝突によって発塵することがない。[Function] When wafers are transferred in a liquid, the wafers slowly descend due to the buoyant force of the liquid, and the liquid present at each contact point between the wafers and the boat acts as a damper, which prevents the wafers from colliding with each other. No dust.
本発明では、半導体ウェハ移し替え治具にウェハ処理液
体中で上下反転できる手段を付加することによってウェ
ハの移し替えを液体中で行うようにしている。In the present invention, the semiconductor wafer transfer jig is provided with means that can be turned upside down in the wafer processing liquid, thereby allowing the wafer to be transferred in the liquid.
従って、ウェハの移し替え時の発塵がなくなりデバイス
としての特性低下による不良発生を防止することができ
る。Therefore, dust is not generated during wafer transfer, and defects due to deterioration of device characteristics can be prevented.
(実施例]
第1図は本発明になる半導体ウェハ移し替え装置を説明
する図であり、(八)はウェハを移し替える前を、また
(B)は該ウェハを移し替えた後の状態をそれぞれ示し
た図である。(Example) FIG. 1 is a diagram for explaining the semiconductor wafer transfer apparatus according to the present invention, in which (8) shows the state before the wafer is transferred, and (B) shows the state after the wafer is transferred. FIG.
また第2図はウェハの移し替え治具を説明する図であり
(八)は主要部構成例を(B)は機能を説明する図であ
る。また第3図はウェハの移し替え工程の一例を説明す
る図である。Further, FIG. 2 is a diagram for explaining the wafer transfer jig, (8) is a diagram for explaining an example of the main part configuration, and (B) is a diagram for explaining the function. Further, FIG. 3 is a diagram illustrating an example of a wafer transfer process.
第1図は第4図における半導体ウェハ移し替え治具を処
理容器に装着して側面から見た状態を示したものである
。FIG. 1 shows the semiconductor wafer transfer jig shown in FIG. 4 installed in a processing container and viewed from the side.
図(^)で、4はウェハ1がホード2に保持されている
第4図におけるウェハ移し替え治具を示し、該治具4は
純水や薬液等の液体10が満たされた処理容器11の隔
壁を貫通して例えばバンキング12aを介して密閉を保
つように回転自在に装着された回転軸12と一体化した
台板13の上に固定されている。なお該回転軸I2の他
端は、処理容器11の外部にある図示されない回転機構
部に連結されている。In the figure (^), 4 indicates the wafer transfer jig in FIG. 4 in which the wafer 1 is held in the holder 2, and the jig 4 is a processing container 11 filled with a liquid 10 such as pure water or a chemical solution. It is fixed on a base plate 13 integrated with a rotary shaft 12 which is rotatably mounted so as to penetrate through a partition wall of, for example, a banking 12a to maintain a hermetic seal. Note that the other end of the rotation shaft I2 is connected to a rotation mechanism (not shown) located outside the processing container 11.
また14は該処理容器11の排液ボートである。Further, 14 is a drain boat for the processing container 11.
ここで、該液体10で」二記ウェハ1を洗浄あるいは皮
膜形成等の処理を行った後上記排液ボート14から矢印
の如く排出し、更に上部から例えば洗浄水10′を該ウ
ェハ移し替え治具4が充分に浸されるまで注入する。After cleaning the wafer 1 with the liquid 10 or performing a treatment such as forming a film, the liquid is discharged from the liquid drain boat 14 as shown by the arrow, and then, for example, cleaning water 10' is supplied from the upper part to the wafer transfer treatment. Pour until the ingredient 4 is fully immersed.
そこでそのままの状態で図示されない回転機構部を作動
して回転軸12を180度回転させて上下反転させ、下
側に来るボート3にウェハlを落下させて図(B)の状
態とする。Then, in this state, a rotation mechanism (not shown) is operated to rotate the rotation shaft 12 by 180 degrees to turn it upside down, and the wafer 1 is dropped into the boat 3 located below, resulting in the state shown in Figure (B).
更に該液体10’を排液ボート14から除去した後皮膜
形成液あるいは洗浄液等を注入して所要の処理工程を継
続して実施するようにしている。Furthermore, after the liquid 10' is removed from the drain boat 14, a film-forming liquid, a cleaning liquid, etc. are injected, and the necessary treatment steps are continued.
かかる構成になる半導体ウェハ移し替え装置では、落下
するウェハlには液体10’による浮力が働くため該液
体10゛の流動抵抗とあいまって落下速度が遅くなり、
更にボート3に到達した時点でも該ボート3との接触点
の間に液体10°が介在するため、衝突による発塵を起
こすことがない。In the semiconductor wafer transfer apparatus having such a configuration, the buoyancy of the liquid 10' acts on the falling wafer l, which, together with the flow resistance of the liquid 10', slows down the falling wafer l.
Furthermore, even when the liquid reaches the boat 3, 10 degrees of liquid is present between the contact point with the boat 3, so that no dust is generated due to collision.
第2図のウェハ移し替え治具22の構成例を示す(A)
で、Iは第4図で示した半導体ウェハ(以下ウェハとす
る)を示し、2も第4図で説明した溝2a、2bを備え
たボート2と同等のものである。(A) shows an example of the configuration of the wafer transfer jig 22 in FIG.
I indicates the semiconductor wafer (hereinafter referred to as wafer) shown in FIG. 4, and 2 is also equivalent to the boat 2 provided with grooves 2a and 2b explained in FIG.
また20は第4図におけるボート3と外形が等しくその
内部にはボート3に設けた溝3aと同様の1.′420
aが1また底部(図面では上面)にボート3の溝3bと
等しい溝20bが形成されている。20 has the same external shape as the boat 3 in FIG. '420
A groove 20b, which is equal to the groove 3b of the boat 3, is formed on the bottom (top surface in the drawing).
更に該ボート20の両サイド側面に設けた上記ウェハl
の存在領域をカバーするに足る長さの窓20Cにはその
外部から、断面が“く”の字状に曲げられた形状記憶樹
脂板よりなる矩形状のストッパ21がその曲がり方向が
内側になるように装着されており、上記ウェハ1が該ボ
ート20の溝20a部分に装着された状態で該ストッパ
21の先端21aがウェハ1の外周部2箇所で接触して
該ウェハ1を該ボート20の所定位置に保持するように
構成している。Further, the wafers l provided on both sides of the boat 20
A rectangular stopper 21 made of a shape-memory resin plate whose cross section is bent into a dogleg shape is attached to the window 20C, which is long enough to cover the area where the window exists, from the outside. When the wafer 1 is mounted in the groove 20a of the boat 20, the tip 21a of the stopper 21 contacts the wafer 1 at two points on the outer periphery, and the wafer 1 is held in the boat 20. It is configured to be held in a predetermined position.
一方つエバを洗浄したりまた被膜形成する場合には、通
常洗浄液あるいは処理薬液を例えば90゛C程度の所定
温度まで加熱して行うことが多い。On the other hand, when cleaning the evaporator or forming a film, it is often done by heating the cleaning liquid or processing chemical to a predetermined temperature, for example, about 90°C.
そこでこのストツパ21は、常温では図示の如く断面が
“く”の字状に曲げられた形状を呈しているが、所定温
度例えば約90°C程度になると予め記憶された形状例
えばほぼ平板状に戻るように形状が記憶されたものを使
用している。Therefore, at room temperature, the stopper 21 has a bent shape in cross section as shown in the figure, but when it reaches a predetermined temperature, for example, about 90°C, it changes to a pre-memorized shape, for example, a substantially flat plate shape. I am using one whose shape is memorized so that it can return.
ここで前記ボート2と上記ストッパ21を備えたボート
20の谷溝2a、20aを対応させながら対向させて一
体化し、ウェハ移し替え治具22を構成している。Here, the boat 2 and the boat 20 provided with the stopper 21 are integrated with the valley grooves 2a and 20a of the boat 20 facing each other in correspondence to form a wafer transfer jig 22.
図(B)の■はかかる構成になるウェハ移し替え治具2
2のボート20に複数のウェハ1が保持されたまま、処
理容器23内に位置している状態を示しているが、この
状態ではウェハlは上記ストッパ21に保持されている
ため落下することがない。■ in Figure (B) indicates wafer transfer jig 2 with such a configuration.
The figure shows a state in which a plurality of wafers 1 are held in the boat 20 of No. 2 and located in the processing container 23, but in this state, the wafers 1 are held by the stopper 21 and cannot fall. do not have.
ここで該処理容器23内に例えば純水や処理薬液等の液
体24を注入し該液体を約90°C程度に加熱すると、
上記ストッパ21が予め記憶した平板形状になるため図
示矢印の方向に変形して先端21aが開く。その結果ウ
ェハ1が溝20aに沿って落下し■に示す状態となる。Here, when a liquid 24 such as pure water or a processing chemical is injected into the processing container 23 and the liquid is heated to about 90°C,
Since the stopper 21 assumes the pre-memorized flat plate shape, it deforms in the direction of the arrow in the figure and the tip 21a opens. As a result, the wafer 1 falls along the groove 20a, resulting in the state shown in (3).
この際のウェハ1には、液体24による浮力が働くため
液体の流動抵抗とあいまって落下速度が遅くなり、更に
ボート2に到達した時点でも該ボート2との接触点の間
に液体24が介在するため、衝突による発塵を起こすこ
とがない。At this time, the buoyant force of the liquid 24 acts on the wafer 1, which together with the flow resistance of the liquid slows down the falling speed, and even when the wafer reaches the boat 2, the liquid 24 is present between the contact points with the boat 2. Therefore, no dust is generated due to collision.
ウェハの移し替え工程の一例を説明する第3図は、第1
図で説明した処理容器内の合板上に第2図で説明した半
導体ウェハ移し替え治具を装着固定した場合を示したも
ので、図では第2図における治具22のボート20が第
1図の台板13に装着固定された状態を示している。Figure 3, which explains an example of the wafer transfer process, is
This figure shows the case where the semiconductor wafer transfer jig explained in FIG. 2 is mounted and fixed on the plywood in the processing container explained in the figure. In the figure, the boat 20 of the jig 22 in FIG. It shows a state where it is attached and fixed to the base plate 13 of.
なお第3図では理解し易くするため、例えば(イ)は洗
浄工程を、また(二)はウェハ移動工程を表わし、 (
ロ)3(ハ)をそれぞれ途中の段階としている。In order to make it easier to understand in Fig. 3, for example, (a) represents the cleaning process, (2) represents the wafer moving process, and (
B) 3 and (C) are each considered to be an intermediate stage.
(イ)で処理容器1)内の台板13上に設置固定してい
る半導体ウェハ移し替え治具22のボート20には複数
のウェハlが保持されており、該処理容器lI内には該
ウェハlを洗浄するための純水10が約90°Cの温度
を保って満たされている。In (a), a plurality of wafers l are held in the boat 20 of the semiconductor wafer transfer jig 22 installed and fixed on the base plate 13 in the processing container l), and the wafers l are held in the processing container lI. It is filled with pure water 10 for cleaning the wafer 1 while maintaining a temperature of about 90°C.
この場合、ボート20のストッパ21の先端21aは第
2図で説明した如く開いた状態にある。In this case, the tip 21a of the stopper 21 of the boat 20 is in an open state as explained in FIG. 2.
洗浄が終了して純水10が図示されてい排液ボートから
除去されると、ストッパ21の温度が低下して常温に戻
るため先端21aが閉じて図(ロ)に示す如くウェハ1
を保持する状態になる。When the cleaning is completed and the pure water 10 is removed from the drain boat (not shown), the temperature of the stopper 21 decreases and returns to room temperature, so the tip 21a closes and the wafer 1 is removed as shown in FIG.
It will be in a state where it will hold.
そこで第1図で説明した如(該半導体ウェハ移し替え治
具22を180度反転させてボート20とボート2を上
下方向で逆転させて図(ハ)の状態とするが、この時点
ではウェハ1はストッパ21で保持されているため落下
することがない。Therefore, as explained in FIG. Since it is held by the stopper 21, it will not fall.
ついで例えば純水等の液体lO°を注入し約90°Cに
加熱すると再度ストッパ21の先端21aが徐々に開い
てウェハ1を落下させるが、この際のウェハ1の落下速
度は前述の如く極めて遅い。Then, when a liquid lO° such as pure water is injected and heated to about 90°C, the tip 21a of the stopper 21 gradually opens again and the wafer 1 is dropped, but the falling speed of the wafer 1 at this time is extremely high as described above. slow.
従って衝突による発塵を起こすことなくウェハ1をボー
ト20からボート2に移し替えることができる。Therefore, the wafers 1 can be transferred from the boat 20 to the boat 2 without causing dust generation due to collision.
ここで該液体10“を排液ボートから除去した後、次工
程の処理薬液等を該処理容器11に注入して次工程に進
むようにしている。Here, after the liquid 10'' is removed from the drain boat, processing chemicals and the like for the next step are injected into the processing container 11 to proceed to the next step.
(発明の効果]
上述の如く本発明により、処理工程中でも塵埃を発生さ
せることなくウェハを他のボートに移し替えることがで
きる半導体ウェハ移し替え装置を提供することができる
。(Effects of the Invention) As described above, according to the present invention, it is possible to provide a semiconductor wafer transfer device that can transfer wafers to another boat without generating dust even during the processing process.
なお本発明の説明に当たっては、半導体ウェハ移し替え
治具の片側ボートにのみストッパを装4した場合につい
て行っているが、該ストッパを両側のボートに装着する
と更に効率のよい移し替え作業を実施することができる
。The present invention will be described with reference to a case in which a stopper is installed only on one boat of the semiconductor wafer transfer jig, but if the stopper is attached to both boats, the transfer operation will be more efficient. be able to.
第1図は本発明になる半導体ウェハ移し替え装置を示す
図、
第2図はウェハの移し替え治具を説明する図、第3図は
ウェハの移し替え工程の一例を説明する図、
第4図は従来の半導体ウェハの移し替え治具の例を示す
図、
である。図において、
lは半導体ウェハ、 2,3.20はボート、2a、
2b;20a、 20bは溝、 20cは窓、4はウ
ェハ移し替え治具、
IQ、10. ’ 、24は液体、
11.23は処理容器、
12は回転軸、 12aはバッキング、13
は合板、 14は排液ポート、21はスト
ッパ、 21aは先端、22は半導体ウェハ移
し替え治具、
をそれぞれ表わしている。
ぐ15
木タト巳、月c二1ろよニυ竪1′才〈・シエI\要づ
〉し1号、乏−寿5置乏占え鯛才ろ因
(イ)
(ロ)
(ハ)
(ニ)
ウェハめ均C替久二姪の一例召説明する圓1 3 で
(B’)
(イ)
4口)
夜呆ごヒ導15hニハ妨し賃て治翼1つ今ミ示すコ8
斗 つ1 is a diagram showing a semiconductor wafer transfer device according to the present invention; FIG. 2 is a diagram illustrating a wafer transfer jig; FIG. 3 is a diagram illustrating an example of a wafer transfer process; The figure shows an example of a conventional semiconductor wafer transfer jig. In the figure, l is a semiconductor wafer, 2, 3.20 is a boat, 2a,
2b; 20a, 20b is a groove, 20c is a window, 4 is a wafer transfer jig, IQ, 10. ', 24 is a liquid, 11.23 is a processing container, 12 is a rotating shaft, 12a is a backing, 13
14 is a plywood, 14 is a drain port, 21 is a stopper, 21a is a tip, and 22 is a semiconductor wafer transfer jig. 15 Ki Tatomi, moon c21 royo ni υvert 1' year old〈・shie I\necessary〉shi 1, short life 5 place short fortune telling Taisairoin (a) (b) (c) (D) An example of a wafer, a uniform C, Kyuji's niece, will be explained. En 1 3 (B') (A) 4 mouths) A 15-hour guide to the night sickness. 8.
Dou Tsu
Claims (2)
溝が内側に等間隔平行に形成されたボート2個を、上記
溝を合致させた状態で対向させて構成する半導体ウェハ
移し替え治具が、 液体中で該治具を上下反転させる手段に連結されてなる
ことを特徴とした半導体ウェハ移し替え装置。(1) A semiconductor wafer transfer jig consisting of two boats, each of which has grooves formed in parallel at equal intervals on the inside for inserting and holding multiple semiconductor wafers in an upright state, facing each other with the grooves aligned. A semiconductor wafer transfer device, characterized in that the device is connected to means for vertically inverting the jig in a liquid.
ートの内少なくとも片側のボートの対向する両側面のウ
ェハ存在領域の所定位置に、保持されたウェハを温度変
化によって該ボートから着脱可能とする形状記憶材料よ
りなるストッパを設けてなることを特徴とした請求項1
記載の半導体ウェハ移し替え装置。(2) The semiconductor wafer transfer jig is capable of attaching and detaching the held wafer to a predetermined position in a wafer presence area on both opposing sides of at least one of the two boats by changing temperature. Claim 1 further comprising a stopper made of a shape memory material.
The semiconductor wafer transfer device described above.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63295563A JP2625992B2 (en) | 1988-11-22 | 1988-11-22 | Semiconductor wafer transfer equipment |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63295563A JP2625992B2 (en) | 1988-11-22 | 1988-11-22 | Semiconductor wafer transfer equipment |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02142155A true JPH02142155A (en) | 1990-05-31 |
| JP2625992B2 JP2625992B2 (en) | 1997-07-02 |
Family
ID=17822261
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63295563A Expired - Lifetime JP2625992B2 (en) | 1988-11-22 | 1988-11-22 | Semiconductor wafer transfer equipment |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2625992B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04354350A (en) * | 1991-05-31 | 1992-12-08 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | Wafer transfer device |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57141331A (en) * | 1981-02-24 | 1982-09-01 | Nec Home Electronics Ltd | Thin plate piece conveying method |
| JPS605131U (en) * | 1983-06-23 | 1985-01-14 | 日本電気株式会社 | Carrier for semiconductor wafer |
-
1988
- 1988-11-22 JP JP63295563A patent/JP2625992B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57141331A (en) * | 1981-02-24 | 1982-09-01 | Nec Home Electronics Ltd | Thin plate piece conveying method |
| JPS605131U (en) * | 1983-06-23 | 1985-01-14 | 日本電気株式会社 | Carrier for semiconductor wafer |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04354350A (en) * | 1991-05-31 | 1992-12-08 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | Wafer transfer device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2625992B2 (en) | 1997-07-02 |
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