JPH0214319B2 - - Google Patents

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JPH0214319B2
JPH0214319B2 JP19018984A JP19018984A JPH0214319B2 JP H0214319 B2 JPH0214319 B2 JP H0214319B2 JP 19018984 A JP19018984 A JP 19018984A JP 19018984 A JP19018984 A JP 19018984A JP H0214319 B2 JPH0214319 B2 JP H0214319B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
single crystal
crucible
fine powder
compound semiconductor
aln
Prior art date
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Expired
Application number
JP19018984A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6168387A (ja
Inventor
Katsutoshi Yoneya
Akihiko Tsuge
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority to JP19018984A priority Critical patent/JPS6168387A/ja
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Publication of JPH0214319B2 publication Critical patent/JPH0214319B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/10Crucibles or containers for supporting the melt
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/20Controlling or regulating
    • C30B15/22Stabilisation or shape controlling of the molten zone near the pulled crystal; Controlling the section of the crystal
    • C30B15/26Stabilisation or shape controlling of the molten zone near the pulled crystal; Controlling the section of the crystal using television detectors; using photo or X-ray detectors

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] 本発明はLEC法による化合物半導体単結晶の
製造装置に関する。
[発明の技術的背景とその問題点] 従来から、Ga−As、In−P、Ga−P等の融点
での分解圧が高い化合物半導体単結晶の製造方法
としてLEC法が知られている。
この方法を図面を用いて説明すると、まず、結
晶原料とB2O3等の封止剤とを入れたるつぼ2を
高圧容器1内に配設されているるつぼ受け台3,
4,5に装着する。
次にるつぼ2を同軸的に取り囲む発熱体6によ
つてるつぼ2を加熱し、結晶原料と封止剤とを加
熱溶融する。
このとき結晶原料融液7と封止剤融液8とは密
度差によつて2層状態となり、密度の大きい結晶
原料融液7(融液の密度はGa−Asで約5.7g/
cm3、In−Pで約5.0g/cm3、Ga−Pで約4.4g/
cm3)は密度の小さい封止剤融液8(融液の密度は
B2O3で約1.5g/cm3)によつて被覆され、結晶原
料融液7の分解蒸発が抑えられる。また、このと
き高圧容器1内を不活性ガスで加圧することによ
つて結晶原料融液7の気化が抑えられる。
この状態で結晶引き上げ軸9の先端に取付けた
種結晶10を封止剤融液8を通過させて結晶原料
融液7に接触させ、しかる後、結晶引き上げ軸9
を回転させながら引き上げて単結晶11を得る。
これらの操作は、通常高圧容器の上面に取付けら
れた監視窓12から単結晶の形成過程を監視しな
がら行われている。
ところで、るつぼ2内の温度分布を均一にし、
発熱体6の加熱効率を確保するためには、るつぼ
2の全周を保温部材で覆うことが望ましいが、従
来のカーボン製の保温部材を用いたのでは視界が
遮られるため前述した監視を行なうことができな
くなつて、形状を制御しながら単結晶を引き上げ
る作業が困難になり、従つて、安定した形状の単
結晶が得られ難いという難点があつた。
[発明の目的] 本発明はこのような難点を解消するためなされ
たもので、透光性に優れ、かつ保温性や熱衝撃性
にも優れた窓材を監視窓とるつぼ間に配置するこ
とにより、るつぼ上を保温材で覆つたまま単結晶
の形成過程を監視することが可能な化合物半導体
単結晶の製造装置を提供することを目的とする。
[発明の概要] すなわち本発明の化合物半導体単結晶の製造装
置は、監視窓を有する高圧容器と、該高圧容器内
に配設されたるつぼおよびるつぼ受け台と、該る
つぼを取り囲んで加熱する発熱体と、前記るつぼ
上に昇降自在に配置された結晶引上げ装置とを備
えた化合物半導体単結晶の製造装置において、前
記監視窓とるつぼ間にAlNまたはAlONからなる
透光性セラミツクス焼結体で形成された保温窓材
を配設してなることを特徴としている。
本発明において透光性のAlNセラミツクス焼
結体からなる窓材は、次のようにして製造され
る。
すなわち、高純度AlN微粉末を主成分として
用い、他に好ましくはY2O3等の希土類元素の酸
化物やCaO等のアルカリ土類金属元素の酸化物を
焼結助剤として0.2〜5重量%添加し、さらにバ
インダを加えて板状あるいは円盤状の所定形状に
成形した後、脱脂し、次いでホツトプレスあるい
は常圧焼結法によつて焼成する。なお高純度
AlN微粉松として改良アルミナ還元法により得
られた平均粒径(光透過式の遠心式粒度分布測定
装置により測定)1〜2μm、最大粒径4〜5μm
のものを用いる。
また、透光性のAlONセラミツクス焼結体から
なる窓材は、次のようにして製造される。
汎用のAlN微粉末とスピネル型のAl2O3微粉末
とを1:2〜2:1の比率で混合し、さらに好ま
しくはY2O3等の希土類元素の酸化物やアルカリ
土類金属元素の酸化物を焼結助剤として0.5〜2
重量%添加し、次いでAlNセラミツクス焼結体
の場合と同様に製造する。
このようにして得られた窓材は、高圧容器の監
視窓とるつぼ間に配設して使用する。
[発明の実施例] 次に本発明の実施例について説明する。
実施例 1 高純度AlN微粉末に3重量%のY2O3を添加混
合し、中心部に貫通孔を有する円盤状に成形した
後、窒素雰囲気中1900℃×3時間の条件でホツト
プレスしてAlNセラミツクス焼結体からなる窓
材を製造した。
この窓材13を、図面に示すように、上面に監
視窓12を有する高圧容器1内のるつぼ2の上方
に配設して本発明装置を得た。なお図中符号14
は汎用のAlNセラミツクス焼結体からる円筒状
の保温部材である。
この装置内の発熱体6によりるつぼ2を加熱し
結晶材料および封止剤を溶融し、上方によりGa
As単結晶を引き上げた。この操作は窓材13が
透光性かつ保温性に優れているので、引き上げる
単結晶の形状を監視しつつ行え、安定した形状の
高品質の単結晶が得られた。
実施例 2 汎用のAlN微粉末とスピネル型Al2O3微粉末と
をほぼ1:1の比率で混合し、さらに3重量%の
Y2O3を添加混合して実施例1と同様の形状に成
形し、窒素雰囲気中1850℃×2時間の条件で常圧
焼結して窓材を得た。この窓材を実施例1と同様
に装置に取付けて常法によりGa As単結晶を引
き上げた。
この窓材も透光性かつ保温性に優れているの
で、単結晶の形状を監視しつつ引き上げることが
でき、安定した形状の高品質の単結晶が得られ
た。
[発明の効果] 以上説明したように本発明装置によれば、監視
窓とるつぼとの間に透光性および保温性に優れた
セラミツクス焼結体からなる窓材が取付けられて
いるので、単結晶の形状を監視しつつ引き上げる
ことができるとともに、るつぼ内の温度分布を均
一にすることができ、その結果、安定した形状の
高品質の単結晶を製造することができる。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明装置の一実施例を概略的に示す断
面図である。 1……高圧容器、2……るつぼ、3,4,5…
…るつぼ受け台、6……発熱体、7……結晶原料
融液、8……封止剤融液、11……単結晶、12
……監視窓、13……窓材。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 監視窓を有する高圧容器と、該高圧容器内に
    配設されたるつぼおよびるつぼ受け台と、該るつ
    ぼを取り囲んで加熱する発熱体と、前記るつぼ上
    に昇降自在に配置された結晶引上げ装置とを備え
    た化合物半導体単結晶の製造装置において、前記
    監視窓とるつぼ間にAlNまたはAlONからなる透
    光性セラミツクス焼結体で形成された保温窓材を
    配設してなることを特徴とする化合物半導体単結
    晶の製造装置。 2 透光性AlNセラミツクス焼結体は、高純度
    AlN微粉末に希土類元素またはアルカリ土類金
    属元素の酸化物を焼結助剤として添加し焼成する
    特許請求の範囲第1項記載の化合物半導体単結晶
    の製造装置。 3 透光性AlONセラミツクス焼結体は、AlN微
    粉末とAl2O3微粉末とを1:2〜2:1の重量比
    で混合したものを主成分とするセラミツクス微粉
    末を所定の形状に成形して焼成したものである特
    許請求の範囲第1項記載の化合物半導体単結晶の
    製造装置。 4 透光性AlONセラミツクス焼結体は、AlN微
    粉末とAl2O3微粉末に希土類元素またはアルカリ
    土類金属元素の酸化物を焼結助剤として添加し、
    これを所定の形状に成形して焼成したものである
    特許請求の範囲第3項記載の化合物半導体単結晶
    の製造装置。
JP19018984A 1984-09-11 1984-09-11 化合物半導体単結晶の製造装置 Granted JPS6168387A (ja)

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JP19018984A JPS6168387A (ja) 1984-09-11 1984-09-11 化合物半導体単結晶の製造装置

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JPS6168387A JPS6168387A (ja) 1986-04-08
JPH0214319B2 true JPH0214319B2 (ja) 1990-04-06

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JP19018984A Granted JPS6168387A (ja) 1984-09-11 1984-09-11 化合物半導体単結晶の製造装置

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