JPH02151702A - Apparatus for inspecting mounting of part - Google Patents
Apparatus for inspecting mounting of partInfo
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- JPH02151702A JPH02151702A JP63306647A JP30664788A JPH02151702A JP H02151702 A JPH02151702 A JP H02151702A JP 63306647 A JP63306647 A JP 63306647A JP 30664788 A JP30664788 A JP 30664788A JP H02151702 A JPH02151702 A JP H02151702A
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- printed circuit
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- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、プリント基板上に搭載された電子部品の装着
状態を検査する部品装着検査装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION <Industrial Application Field> The present invention relates to a component mounting inspection device for inspecting the mounting state of electronic components mounted on a printed circuit board.
〈従来の技術〉
従来、IC,コンデンサ、抵抗等のチップ部品やボリュ
ーム等の異形部品を各種電子機器に組み込む場合、通常
は配線が形成されたプリント基板に装着することによっ
て行われる。ところで、これらの電子機器が正常に動作
するためには、各実装部品が良品でなければならないこ
とは勿論であるが、たとえ各実装部品が良品であっても
、それらがプリント基板上の所定位置に正しく装着され
ていなければならない。そのため、組み立て時にプリン
ト基板上での実装部品の装着状態が検査される。<Prior Art> Conventionally, when chip parts such as ICs, capacitors, and resistors, and irregularly shaped parts such as volumetric parts are incorporated into various electronic devices, this is usually done by mounting them on a printed circuit board on which wiring is formed. By the way, in order for these electronic devices to operate normally, it goes without saying that each mounted component must be of good quality, but even if each mounted component is of good quality, it is difficult to place them in their designated positions on the printed circuit board. must be installed correctly. Therefore, during assembly, the mounting state of the mounted components on the printed circuit board is inspected.
従来の部品装着検査方法は、第8図に示すように、電子
部品4が搭載されたプリント基板3に斜め上方から単色
のスリット光を投影すると、実装部品4の上面がプリン
ト基板3の表面から高さHの位置にあるので、プリント
基板3を垂直方向から見たスリットパターンは第9図と
第10図に示すように立体的な実装部品4のエツジ部分
で不連続となる。このスリットパターンを描像し、この
↑最像した画像データにおけるスリットパターンの不連
続の位置から部品の装着位置を検出する。そして、検出
位置が誤差範囲内であると「良」と判定し、誤差範囲を
超えているとr不良」と判定する。In the conventional component mounting inspection method, as shown in FIG. 8, when monochromatic slit light is projected obliquely from above onto a printed circuit board 3 on which an electronic component 4 is mounted, the top surface of the mounted component 4 is raised from the surface of the printed circuit board 3. Since it is located at the height H, the slit pattern when the printed circuit board 3 is viewed from the vertical direction becomes discontinuous at the edge portion of the three-dimensional mounted component 4, as shown in FIGS. 9 and 10. This slit pattern is imaged, and the mounting position of the component is detected from the discontinuous position of the slit pattern in this ↑ most imaged image data. Then, if the detected position is within the error range, it is determined to be "good", and if it is outside the error range, it is determined to be "fail".
〈発明が解決しようとする課題〉 上記従来の検査方法における欠点は下記の通りである。<Problem that the invention seeks to solve> The drawbacks of the conventional inspection method described above are as follows.
第8図に示すように、プリント基板3に対してスリット
光の入射角度をα、スリットパターンの間隔をSとする
と、実装部品4の高さHがH=S−tanα
を満足する場合、第11図と第12図に示すように、隣
り合ったスリット光による実装部品4の表面とプリント
基板3の表面のスリットパターンPl。As shown in FIG. 8, if the incident angle of the slit light with respect to the printed circuit board 3 is α, and the interval between the slit patterns is S, then when the height H of the mounted component 4 satisfies H=S-tan α, As shown in FIGS. 11 and 12, the slit pattern Pl on the surface of the mounted component 4 and the surface of the printed circuit board 3 is formed by adjacent slit lights.
P2が重なる。したがって、実装部品4のエツジを検出
することができない。このように従来では、実装部品の
高さによっては装着位置の検査が不可能になるという問
題があった。P2 overlaps. Therefore, the edges of the mounted component 4 cannot be detected. As described above, there has been a problem in the past in that the mounting position cannot be inspected depending on the height of the mounted component.
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、その目
的は、実装部品の高さに関係なく装着位置を検出できる
ようにした部品装着検査装置を提供することである。The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a component mounting inspection device that can detect the mounting position regardless of the height of the mounted component.
く課題を解決するための手段〉
上記目的を達成するために、本発明による部品装着検査
装置は、電子部品が実装されたプリント基板上に交互に
異なった複数種類の色のスリット光を斜め方向から投影
してスリットパターンを形成するスリットパターン投影
手段と、プリント基板上に投影されたスリットパターン
を複数種類の色のフィルタを通して個別に撮像する撮像
手段と、撮像されたスリットパターンの不連続から電子
部品の装着位置を検出する検出手段とを備える。Means for Solving the Problems> In order to achieve the above object, a component mounting inspection device according to the present invention diagonally directs slit lights of a plurality of different colors alternately onto a printed circuit board on which electronic components are mounted. slit pattern projection means for forming a slit pattern by projecting it onto the printed circuit board; and detection means for detecting the mounting position of the component.
く作用〉
本発明による部品装着検査装置においては、複数種類の
色のスリット光を斜め方向から投影し、隣り合ったパタ
ーンの色が異なったスリットパターンをプリント基板上
に形成し、各色のフィルタを通して個別にスリットパタ
ーンを撮像する。したがって、実装部品の高さによって
隣り合ったスリットパターンが部品表面と基板表面で重
なる場合でも、撮像された画像データのスリットパター
ンは実装部品のエツジ部分で不連続となる。In the component mounting inspection device according to the present invention, slit lights of multiple colors are projected from an oblique direction to form a slit pattern on a printed circuit board in which adjacent patterns have different colors, and the slit light is passed through a filter of each color. Image the slit patterns individually. Therefore, even if adjacent slit patterns overlap on the component surface and the substrate surface depending on the height of the mounted component, the slit pattern of the captured image data becomes discontinuous at the edge portion of the mounted component.
〈実施例〉
第1図はこの部品装着検査装置の一実施例の構成を示し
ている。図において、1.2はカラーマルチスリット光
源、3はプリント基板、4はチップ部品、5はX−Yテ
ーブル、6はカメラ、7はA/D変換部、8は画像処理
部、9は制御部、10はX−Yテーブル駆動回路、11
はX軸方向駆動部、12はY軸方向駆動部、13はフィ
ルタ切換回路、14は回転用アクチュエータ、15はカ
ラーフィルタである。<Embodiment> FIG. 1 shows the configuration of an embodiment of this component mounting inspection apparatus. In the figure, 1.2 is a color multi-slit light source, 3 is a printed circuit board, 4 is a chip component, 5 is an X-Y table, 6 is a camera, 7 is an A/D conversion unit, 8 is an image processing unit, and 9 is a control unit. part, 10 is an X-Y table drive circuit, 11
12 is an X-axis direction drive section, 12 is a Y-axis direction drive section, 13 is a filter switching circuit, 14 is a rotation actuator, and 15 is a color filter.
2個のカラーマルチスリット光源1,2は、X−Yテー
ブル5上のプリント基板3に対して斜め上方に配設され
ており、プリント基板3上に赤色と青色のスリット光を
投影する。カラーマルチスリット光源1はX軸方向、カ
ラーマルチスリット光源2はY軸方向のスリット光をそ
れぞれ投影する。カラーマルチスリット光源1は、光源
1aの光照射口にスリット板1bとシャッタICが取り
付けられている。カラーマルチスリット光源2は、光源
2aの光照射口にスリット板2bとシャッタ2cが取り
付けられている。スリット板1b、2bは、それぞれ複
数本のスリットを有し、各スリットは赤と青のフィルタ
で交互にマスクされた構造である。シャッタlc、2c
は、プリント基板3上へX軸方向とY軸方向のスリット
光を個別に投影するために、交互に開閉する。The two color multi-slit light sources 1 and 2 are arranged diagonally above the printed circuit board 3 on the XY table 5, and project red and blue slit lights onto the printed circuit board 3. The color multi-slit light source 1 projects slit light in the X-axis direction, and the color multi-slit light source 2 projects slit light in the Y-axis direction. A color multi-slit light source 1 includes a slit plate 1b and a shutter IC attached to a light irradiation port of a light source 1a. The color multi-slit light source 2 has a slit plate 2b and a shutter 2c attached to the light irradiation port of the light source 2a. Each of the slit plates 1b and 2b has a plurality of slits, and each slit is masked alternately with red and blue filters. Shutter lc, 2c
are alternately opened and closed in order to individually project the slit lights in the X-axis direction and the Y-axis direction onto the printed circuit board 3.
プリント基板3は、多数のチップ部品4が実装され、こ
れらのチップ部品4の装着位置が検査対象となる。X−
Yテーブル5は、プリント基板3を載せてX軸方向とY
軸方向へ移動する。カメラ6は、プリント基板3上に形
成されたカラーマルチスリットパターンをカラーフィル
タ15を通して撮像する。このカメラ6は、白黒CCD
カメラである。A large number of chip components 4 are mounted on the printed circuit board 3, and the mounting positions of these chip components 4 are to be inspected. X-
The Y table 5 has the printed circuit board 3 placed thereon in the X-axis direction and the Y-axis direction.
Move in the axial direction. The camera 6 images the color multi-slit pattern formed on the printed circuit board 3 through the color filter 15. This camera 6 is a black and white CCD
It's a camera.
A/D変換部7は、プリント基板3上のスリットパター
ンを撮像したカメラ6から出力される画像信号をディジ
タルデータに変換する。画像処理部8は、撮像された画
像におけるスリットパターンの不連続を検出し、プリン
ト基板3上のチップ部品4の装着位置を検出するととも
に、チップ部品4の装着位置が誤差範囲内かどうかを判
定する。The A/D converter 7 converts an image signal output from the camera 6 that captures an image of the slit pattern on the printed circuit board 3 into digital data. The image processing unit 8 detects discontinuity in the slit pattern in the captured image, detects the mounting position of the chip component 4 on the printed circuit board 3, and determines whether the mounting position of the chip component 4 is within the error range. do.
制御部9は、画像処理部8における検出及び判定の処理
の終了に応じて、プリント基板3の次の検査範囲がカメ
ラ6の撮像範囲に入るように、X−Yテーブル5を移動
させる指令信号をX−Yテーブル駆動回路10へ与える
。The control unit 9 sends a command signal to move the X-Y table 5 so that the next inspection range of the printed circuit board 3 falls within the imaging range of the camera 6 upon completion of the detection and determination processing in the image processing unit 8. is applied to the XY table drive circuit 10.
X−Yテーブル駆動回路10は、X軸方向駆動部11と
Y軸方向駆動部12へX軸方向及びY軸方向の移動距離
に応じた駆動信号を与える。X軸方向駆動部11とY軸
方向駆動部12は、それぞれに与えられる駆動信号に応
じてX−Yテーブル5をX軸方向及びY軸方向に駆動す
る。The X-Y table drive circuit 10 provides drive signals to the X-axis direction drive section 11 and the Y-axis direction drive section 12 according to the moving distances in the X-axis direction and the Y-axis direction. The X-axis direction drive section 11 and the Y-axis direction drive section 12 drive the X-Y table 5 in the X-axis direction and the Y-axis direction according to drive signals given to each of them.
フィルタ切換回路13は、制御部9からの制御信号に応
じて、カラーフィルタ15の中から所定の色のカラーフ
ィルタを選択する信号を出力する。The filter switching circuit 13 outputs a signal for selecting a color filter of a predetermined color from among the color filters 15 in response to a control signal from the control section 9 .
回転用アクチュエータ14は、複数のカラーフィルタ1
5の中から所要のカラーフィルタがカメラ6のレンズの
前にくるようにカラーフィルタ15を回転させる。カラ
ーフィルタ15は、カラーマルチスリット光源1.2の
スリット板1b、2bに取り付けられているカラーフィ
ルタと同じ特性のカラーフィルタから構成される。The rotation actuator 14 rotates a plurality of color filters 1.
The color filters 15 are rotated so that a desired color filter from among the color filters 5 is placed in front of the lens of the camera 6. The color filter 15 is composed of a color filter having the same characteristics as the color filter attached to the slit plates 1b, 2b of the color multi-slit light source 1.2.
以下、この部品装着検査装置の動作について説明する。The operation of this component mounting inspection device will be explained below.
まず、プリント基板3の最初の検査範囲がカメラ6の撮
像範囲に入るようにX−Yテーブル5を駆動し、プリン
ト基板3を位置決めする。その後、■ シャッタICを
開放し、プリント基板3上へX軸方向の赤、青のスリッ
ト光を投影する。First, the XY table 5 is driven so that the first inspection range of the printed circuit board 3 falls within the imaging range of the camera 6, and the printed circuit board 3 is positioned. Then, (1) the shutter IC is opened and red and blue slit lights are projected onto the printed circuit board 3 in the X-axis direction;
■ フィルタ切換回路13からの信号に応じて回転用ア
クチュエータ14がカラーフィルタ15を回転駆動し、
赤のカラーフィルタをカメラ6のレンズの前へ位置決め
する。■ The rotary actuator 14 rotates the color filter 15 in response to a signal from the filter switching circuit 13,
Position the red color filter in front of the lens of the camera 6.
■ プリント基板3上のスリットパターンを赤色フィル
タを通してカメラ6により撮像する。この場合、赤色フ
ィルタを通して撮像するため、カメラ6により撮像され
るスリットパターンは赤色のパターンのみであり、青色
のパターンは撮像されない。(2) The slit pattern on the printed circuit board 3 is imaged by the camera 6 through a red filter. In this case, since the image is captured through a red filter, the slit pattern imaged by the camera 6 is only the red pattern, and the blue pattern is not imaged.
■ カメラ6により撮像された画像データをA/D変換
部7によりディジタルデータに変換し、画像処理部8内
の赤(X)用画像メモリに格納する。(2) The image data captured by the camera 6 is converted into digital data by the A/D converter 7 and stored in the red (X) image memory in the image processor 8.
■ ■と同様の方法でカラーフィルタ15の青色フィル
タをカメラ6のレンズの前へ位置決めする。(2) Position the blue filter of the color filter 15 in front of the lens of the camera 6 in the same manner as (2).
■ ■と同様の方法で青色のスリットパターンを撮像す
る。■ Image the blue slit pattern in the same manner as in ■.
■ ■と同様の方法で青色の画像データを画像処理部8
内の青(X)用画像メモリに格納する。■ The blue image data is transferred to the image processing unit 8 in the same manner as in ■.
The image is stored in the blue (X) image memory within the blue (X) image memory.
■ 次に、シャッタICを閉じ、シャッタ2Cを開いて
、Y軸方向のスリット光をプリント基板3上へ投影する
。(2) Next, the shutter IC is closed, the shutter 2C is opened, and the slit light in the Y-axis direction is projected onto the printed circuit board 3.
■ ■〜■と同様の手順により、Y軸方向のスリットパ
ターン像を画像処理部8内の赤(Y)用画像メモリと青
(Y)用画像メモリに格納する。(2) The slit pattern image in the Y-axis direction is stored in the red (Y) image memory and the blue (Y) image memory in the image processing section 8 using the same procedure as (2) to (2).
以上の手順により入力された画像信号は、プリン)M板
3上でチップ部品4が3次元の形状を呈し且つライン状
のスリット光が斜め方向から投影されているため、チッ
プ部品4の形状に応じてスリットパターンが変化し、特
にチップ部品4の外郭部ではプリント基板3の表面のス
リットパターンと不連続になる。したがって、画像処理
部8では、このスリットパターンの不連続箇所を検出す
ることにより、チップ部品4の装着位置を検出し、その
位置が許容範囲内かどうかを判定することができる。The image signal input through the above procedure is based on the shape of the chip component 4 because the chip component 4 has a three-dimensional shape on the printed circuit board 3 and the linear slit light is projected from an oblique direction. The slit pattern changes accordingly, and becomes discontinuous with the slit pattern on the surface of the printed circuit board 3, especially at the outer edge of the chip component 4. Therefore, the image processing unit 8 can detect the mounting position of the chip component 4 by detecting the discontinuous portion of the slit pattern, and can determine whether the position is within the permissible range.
チップ部品4のプリント基板3の表面からの高さによっ
ては、隣り合ったスリットパターンにおいてチップ部品
4の表面のスリットパターンとプリント基板30表面の
スリットパターンとが重なる場合がある。しかし、上述
のように隣り合ったスリットパターンは色が異なるため
、スリットパターンの位置は重なるが、色がチップ部品
4の表面とプリント基板3の表面とで異なる。第2図は
この状態を示しており、隣り合ったスリットパターンP
I、P2は位置は一致するが、スリットパターンP1の
赤色(図中、白地で示す)とスリットパターンP2の青
色(図中、斜線で示す)とはチップ部品4のエツジ部分
で不連続となっている。Depending on the height of the chip component 4 from the surface of the printed circuit board 3, the slit pattern on the surface of the chip component 4 and the slit pattern on the surface of the printed circuit board 30 may overlap in adjacent slit patterns. However, as described above, adjacent slit patterns have different colors, so although the positions of the slit patterns overlap, the colors on the surface of the chip component 4 and the surface of the printed circuit board 3 are different. Figure 2 shows this state, where adjacent slit patterns P
Although the positions of I and P2 match, the red color of slit pattern P1 (indicated by a white background in the figure) and the blue color of slit pattern P2 (indicated by diagonal lines in the figure) are discontinuous at the edge part of the chip component 4. ing.
第3図はY軸方向のスリットパターンの例を示している
。FIG. 3 shows an example of a slit pattern in the Y-axis direction.
第2図と第3図に示すスリットパターンをフィルタを通
さずにそのまま白黒カメラで撮像すると、色の変化を撮
ることができず、チップ部品4上とプリント基FiG上
のスリットパターンPi、P2は連続したものとなり、
チップ部品4の位置を検出することはできない。If the slit patterns shown in Figs. 2 and 3 are imaged with a black and white camera without passing through a filter, the color change cannot be captured, and the slit patterns Pi and P2 on the chip component 4 and the printed substrate Fig are It becomes continuous,
The position of the chip component 4 cannot be detected.
しかしながら、前述のようにカメラ6のレンズの前に赤
のカラーフィルタを置いて撮像すると、赤のスリットパ
ターンのみ撮像するので、撮像したスリットパターンは
第4図に示すようにチップ部品4のエツジ部分で不連続
となる。また、カメラ6のレンズの前に青のカラーフィ
ルタを置いて撮像すると、青のスリットパターンのみ撮
像するので、撮像したスリットパターンは第5図に示す
ようにチップ部品4のエツジ部分で不連続となる。However, if a red color filter is placed in front of the lens of the camera 6 to take an image as described above, only the red slit pattern will be imaged, so the imaged slit pattern will be at the edge of the chip component 4 as shown in FIG. becomes discontinuous. Furthermore, if a blue color filter is placed in front of the lens of the camera 6 and an image is taken, only the blue slit pattern is imaged, so the imaged slit pattern is discontinuous at the edge part of the chip component 4, as shown in FIG. Become.
第6図と第7図はY軸方向のスリットパターンデータを
示している。6 and 7 show slit pattern data in the Y-axis direction.
画像処理部8内の画像メモリには第4図ないし第7図に
示すスリットパターンデータが格納される。したがって
、画像処理部8では、このスリットパターンの不連続部
分からチップ部品4の装着位置を検出し、その位置が許
容範囲内にあるかどうかを判定することができる。この
画像処理部8において処理されるスリットパターンデー
タは、従来の単色スリット光によるパターンと同じであ
る。したがって、処理のアルゴリズムは従来のものをそ
のまま使用することができる。The image memory in the image processing section 8 stores slit pattern data shown in FIGS. 4 to 7. Therefore, the image processing unit 8 can detect the mounting position of the chip component 4 from the discontinuous portion of this slit pattern, and can determine whether the position is within the permissible range. The slit pattern data processed in this image processing section 8 is the same as the pattern created by conventional monochromatic slit light. Therefore, the conventional processing algorithm can be used as is.
以上のX−Yテーブル5の移動、スリットパターンの投
影、撮像、画像処理の手順を繰り返すことにより、プリ
ント基板3の全体に亘ってチップ部品4の装着位置を検
査することができる。By repeating the above-described steps of moving the X-Y table 5, projecting the slit pattern, taking an image, and processing the image, the mounting positions of the chip components 4 can be inspected over the entire printed circuit board 3.
なお、チップ部品4の表面とプリント基板3の表面のス
リットパターンが2本以上ずれて重なるような背の高い
デツプ部品の場合においては、3色以上のフィルタを有
するスリット板を用い、撮像用のカラーフィルタもこの
スリット板のフィルタに対応して変更することにより、
同様の原理でチップ部品の位置検出が可能である。In addition, in the case of a tall deep component in which two or more slit patterns on the surface of the chip component 4 and the surface of the printed circuit board 3 are shifted and overlap, a slit plate with filters of three or more colors is used to By changing the color filter to correspond to the filter of this slit plate,
The position of chip components can be detected using a similar principle.
また、上記実施例においてはX軸方向とY軸方向のスリ
ットラインを個別に投影するためにシャッタを用いてい
るが、このシャッタの代わりに光源部にストロボやスイ
ッチ等を用いて必要なときのみ発光させるという方法を
用いてもよい。さらに、上記実施例では、撮像カメラを
1箇所としたが、プリント基板全面に一度にスリットパ
ターンを形成し、それを複数の区画に分割し、各区画に
対してカメラを設けることにより、X−Yテーブルを固
定して検査を行うことも可能である。In addition, in the above embodiment, a shutter is used to project the slit lines in the X-axis direction and the Y-axis direction separately, but instead of this shutter, a strobe or switch is used in the light source section only when necessary. A method of emitting light may also be used. Furthermore, in the above embodiment, the imaging camera was placed at one location, but by forming a slit pattern on the entire surface of the printed circuit board at once, dividing it into a plurality of sections, and providing a camera for each section, the X- It is also possible to perform the inspection with the Y table fixed.
〈発明の効果〉
以上のように本発明によれば、隣り合ったパターンの色
が異なったスリットパターンを投影し、各色のフィルタ
を通して個別にスリットパターンを撮像するようにした
ので、隣り合ったスリットパターンが重なるような高さ
の電子部品においても、撮像したパターンは電子部品の
エツジ部分で不連続となり、その装着位置を検出するこ
とができる。また、パターンの不連続から電子部品の装
着位置を検出するための画像処理のアルゴリズムが従来
の単色のスリットパターンの場合と同じであるので、シ
ステムの構築が容易である。<Effects of the Invention> As described above, according to the present invention, slit patterns in which adjacent patterns have different colors are projected, and the slit patterns are individually imaged through filters of each color. Even for electronic components whose height is such that the patterns overlap, the imaged patterns are discontinuous at the edges of the electronic components, making it possible to detect the mounting position. Further, since the image processing algorithm for detecting the mounting position of the electronic component from the discontinuity of the pattern is the same as that for the conventional monochromatic slit pattern, the system construction is easy.
第1図は本発明実施例の構成を示す図、第2図、第3図
は本発明実施例のスリットパターンを示す図、
第4図、第5図、第6図、第7図は本発明実施例の撮像
されたスリットパターンを示す図、第8図はスリット光
の投影方法を説明する図、第9図、第10図、第11図
、第12図は従来例のスリットパターンを示す図である
。
1.2・・・カラーマルチスリット光源3・・・プリン
ト基板
4・・・チップ部品
6・・・カメラ
8・・・画像処理部
15・・・カラーフィルタ
特許出願人 シャープ株式会社
代 理 人 弁理士 西1)新
第1図FIG. 1 is a diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention, FIGS. 2 and 3 are diagrams showing a slit pattern of an embodiment of the present invention, and FIGS. A diagram showing an imaged slit pattern of an embodiment of the invention, FIG. 8 is a diagram explaining a method of projecting slit light, and FIGS. 9, 10, 11, and 12 show slit patterns of conventional examples. It is a diagram. 1.2... Color multi-slit light source 3... Printed circuit board 4... Chip component 6... Camera 8... Image processing unit 15... Color filter patent applicant Sharp Corporation Agent Patent attorney Nishi 1) New diagram 1
Claims (1)
た複数種類の色のスリット光を斜め方向から投影してス
リットパターンを形成するスリットパターン投影手段と
、上記プリント基板上に投影されたスリットパターンを
上記複数種類の色のフィルタを通して個別に撮像する撮
像手段と、撮像されたスリットパターンの不連続から電
子部品の装着位置を検出する検出手段とを備えたことを
特徴とする部品装着検査装置。A slit pattern projection means for forming a slit pattern by alternately projecting slit lights of a plurality of different colors from an oblique direction onto a printed circuit board on which electronic components are mounted; A component mounting inspection device comprising: an imaging means for individually capturing images through the plurality of color filters; and a detection means for detecting a mounting position of an electronic component from discontinuity of the captured slit pattern.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63306647A JPH02151702A (en) | 1988-12-02 | 1988-12-02 | Apparatus for inspecting mounting of part |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63306647A JPH02151702A (en) | 1988-12-02 | 1988-12-02 | Apparatus for inspecting mounting of part |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02151702A true JPH02151702A (en) | 1990-06-11 |
Family
ID=17959624
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63306647A Pending JPH02151702A (en) | 1988-12-02 | 1988-12-02 | Apparatus for inspecting mounting of part |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02151702A (en) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04110707A (en) * | 1990-08-31 | 1992-04-13 | Kiyadeitsukusu:Kk | Device for measuring three-dimensional shape |
| KR20000067636A (en) * | 1999-04-30 | 2000-11-25 | 이중구 | Vision apparatus |
| JP2011521256A (en) * | 2008-05-19 | 2011-07-21 | ペムトロンカンパニーリミテッド | Surface shape measuring device |
| KR101237060B1 (en) * | 2010-10-27 | 2013-02-25 | 현대제철 주식회사 | Apparatus for detecting of overlap board |
| WO2016169984A1 (en) * | 2015-04-24 | 2016-10-27 | Oce-Technologies B.V. | Method for establishing a position of a media object on a flatbed surface of a printer |
-
1988
- 1988-12-02 JP JP63306647A patent/JPH02151702A/en active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04110707A (en) * | 1990-08-31 | 1992-04-13 | Kiyadeitsukusu:Kk | Device for measuring three-dimensional shape |
| KR20000067636A (en) * | 1999-04-30 | 2000-11-25 | 이중구 | Vision apparatus |
| JP2011521256A (en) * | 2008-05-19 | 2011-07-21 | ペムトロンカンパニーリミテッド | Surface shape measuring device |
| KR101237060B1 (en) * | 2010-10-27 | 2013-02-25 | 현대제철 주식회사 | Apparatus for detecting of overlap board |
| WO2016169984A1 (en) * | 2015-04-24 | 2016-10-27 | Oce-Technologies B.V. | Method for establishing a position of a media object on a flatbed surface of a printer |
| US10069992B2 (en) | 2015-04-24 | 2018-09-04 | Océ-Technologies B.V. | Method for establishing a position of a media object on a flatbed surface of a printer |
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