JPH0221373A - Check device for attachment of parts - Google Patents

Check device for attachment of parts

Info

Publication number
JPH0221373A
JPH0221373A JP63171117A JP17111788A JPH0221373A JP H0221373 A JPH0221373 A JP H0221373A JP 63171117 A JP63171117 A JP 63171117A JP 17111788 A JP17111788 A JP 17111788A JP H0221373 A JPH0221373 A JP H0221373A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
slit
circuit board
printed circuit
colors
parts
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63171117A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshihiro Harada
原田 登志太
Sachikuni Takahashi
高橋 祐邦
Makoto Kishimoto
真 岸本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP63171117A priority Critical patent/JPH0221373A/en
Publication of JPH0221373A publication Critical patent/JPH0221373A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Image Processing (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

PURPOSE:To check a position of an electronic parts regardless of the height of this parts by securing the discontinuous colors of the projection lines even though the coincidence of positions is obtained between the projection lines on the surface of a printed board and the surface of the electronic parts. CONSTITUTION:The slit beams having plural colors are obliquely projected onto a printed board 12, and a projection pattern including the contiguous projection lines of different colors is formed on the board 12. Thus the colors are discontinuous at the edge parts of a chip parts 14 despite the coincidence secured between the slit patterns since the contiguous slit patterns have different colors. Thus the attaching position of the parts 14 can be detected at a picture processing part 17 based on the discontinuous colors.

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、プリント基板上に搭載された電子部品の装着
状態を検査する部品装着検査装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION <Industrial Application Field> The present invention relates to a component mounting inspection device for inspecting the mounting state of electronic components mounted on a printed circuit board.

〈従来の技術〉 IC,コンデンサ、抵抗等のチップ部品を各種電子機器
に組み込む場合、通常は配線が施されたプリント基板に
電子部品を装着することによって行われる。処で、電子
機器が正常に動作するためには、各電子部品が良品でな
ければならないことは勿論であるが、たとえ各電子部品
が良品であっても、それらがプリント基板上の所定の位
置に正しく装着されていなければならない。そのため、
組立時に、プリント基板の電子部品の装着状態が検査さ
れる。
<Prior Art> When chip components such as ICs, capacitors, and resistors are incorporated into various electronic devices, the electronic components are usually mounted on a printed circuit board provided with wiring. In order for an electronic device to operate normally, it goes without saying that each electronic component must be of good quality, but even if each electronic component is of good quality, it is difficult to place them in their designated positions on the printed circuit board. must be installed correctly. Therefore,
During assembly, the mounting state of electronic components on the printed circuit board is inspected.

従来から実施されているこの電子部品装着検査方法は、
電子部品が搭載されたプリント基板に斜め上方からスリ
ット光を投影し、プリント基板の表面より突出した電子
部品の表面とプリント基板の表面における投影ラインの
ずれから電子部品のエツジを検出することにより、電子
部品の装着状態を検査するというものである。
This electronic component mounting inspection method, which has been implemented for a long time,
By projecting a slit light diagonally from above onto a printed circuit board on which electronic components are mounted, and detecting the edge of the electronic component from the deviation of the projection line between the surface of the electronic component that protrudes from the surface of the printed circuit board and the surface of the printed circuit board, This is to inspect the mounting status of electronic components.

〈発明が解決しようとする課題〉 上記従来の検査方法においては、電子部品のプリント基
板表面からの高さによっては、第6図に示すように、位
置aにおいてスリット光22のプリント基板12表面の
投影ラインとこのスリット光22に隣り合ったスリット
光23の電子部品14の表面の投影ラインとが一致する
。このため、垂直方向からみた投影パターンは、第7図
に示すように、連続したものとなり、電子部品14のエ
ツジを検出することができない。第8図は縦方向の2本
のスリット光24.25による投影ラインが重なった例
を示している。
<Problems to be Solved by the Invention> In the conventional inspection method described above, depending on the height of the electronic component from the surface of the printed circuit board, as shown in FIG. The projection line and the projection line of the surface of the electronic component 14 of the slit light 23 adjacent to this slit light 22 coincide. Therefore, the projected pattern viewed from the vertical direction becomes continuous as shown in FIG. 7, and the edges of the electronic component 14 cannot be detected. FIG. 8 shows an example in which the projection lines formed by two vertical slit lights 24 and 25 overlap.

本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、その目
的は、電子部品の高さに関係なく装着位置を検出できる
ようにした部品装着検査装置を提供することである。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide a component mounting inspection device that can detect the mounting position of an electronic component regardless of its height.

〈課題を解決するための手段〉 上記目的を達成するために、本発明による部品装着検査
装置においては、複数の色をもつスリット光をプリント
基板上に斜め方向から投影して隣り合った投影ラインの
色が異なった投影パターンをプリント基板上に形成する
投影手段と、プリント基板上の投影パターンをI最像す
る撮像手段と、撮像された画像における投影ラインの不
連続または投影ラインの色の不連続を検出して電子部品
の装着位置を検出する検出手段とを備える。
<Means for Solving the Problems> In order to achieve the above object, in a component mounting inspection device according to the present invention, slit lights having a plurality of colors are projected onto a printed circuit board from an oblique direction, and adjacent projection lines are a projection means for forming a projection pattern with different colors on a printed circuit board; an imaging means for imaging the projection pattern on the printed circuit board; and detection means for detecting continuity and detecting the mounting position of the electronic component.

く作用〉 本発明による部品装着検査装置は、隣り合った投影ライ
ンの色が異なるため、プリント基板表面の投影ラインと
電子部品表面の投影ラインとの位置が一致しても、投影
ラインの色が不連続となるので、電子部品のエツジを検
出することができる。
Effect> In the component mounting inspection device according to the present invention, adjacent projection lines have different colors, so even if the projection line on the surface of the printed circuit board and the projection line on the surface of the electronic component match, the color of the projection line may change. Since it is discontinuous, edges of electronic components can be detected.

〈実施例〉 第2図は本発明の部品装着検査装置に用いられるカラー
マルチスリット光源の構成を示している。
<Embodiment> FIG. 2 shows the configuration of a color multi-slit light source used in the component mounting inspection apparatus of the present invention.

図において、1は発光部、2は集光レンズ、3aは赤色
カラーフィルター、3bは緑色カラーフィルター、3c
は青色カラーフィルター+  4 a 、4 b t4
Cはスリット板、5は投影レンズ、6はシャッター、8
.9.10はカラーマルチスリット光。
In the figure, 1 is a light emitting part, 2 is a condensing lens, 3a is a red color filter, 3b is a green color filter, 3c
is blue color filter + 4 a, 4 b t4
C is a slit plate, 5 is a projection lens, 6 is a shutter, 8
.. 9.10 is a color multi-slit light.

11は被検査物である。11 is an object to be inspected.

光を照射するための3個の発光部1の各々の光出射側に
集光レンズ2が配設され、この3個の集光レンズ2の各
々の光出射側に光束を一定の波長に変換するカラーフィ
ルター3a、3b、3ch<それぞれ配設され、さらに
、一定波長に変換された光束から複数本のスリット光を
生成するスリット板4a、4b、4cがカラーフィルタ
ー3a。
A condenser lens 2 is disposed on the light output side of each of the three light emitting units 1 for irradiating light, and the light beam is converted into a fixed wavelength on the light output side of each of the three condenser lenses 2. The color filter 3a includes slit plates 4a, 4b, and 4c that generate a plurality of slit lights from a light beam converted to a constant wavelength.

3b、3cの各々の光出射側に配設されている。They are arranged on the light exit side of each of 3b and 3c.

さらに、スリット板4a、4b、4cの各々の光出射側
には、このスリット板4a、4b、4cによって作成さ
れた複数本のスリット光を被検査物11の検査部分に投
影する投影レンズ5が配設され、この投影レンズ5の光
出射側にスリット光の透過及び遮断を行うシャッター6
が配設されている。
Further, on the light output side of each of the slit plates 4a, 4b, 4c, there is a projection lens 5 for projecting a plurality of slit lights created by the slit plates 4a, 4b, 4c onto the inspection part of the inspection object 11. A shutter 6 is provided on the light output side of the projection lens 5 and transmits and blocks the slit light.
is installed.

上記のように構成されたカラーマルチスリット光源装置
(以下、光源とよぶ)7により得ることができるカラー
マルチスリット光8.9.10は、被検査物11に投影
されると、第3図に示すように相互に干渉しない複数の
カラーマルチスリットパターン8’、9’、10’を被
検査物11上に形成する。スリットパターン8′は赤色
、スリットパターン9′は緑色、スリットバタン−10
′は青色であり、このように隣り合ったスリットパター
ンは互いに色が異なる。
When the color multi-slit light 8.9.10 that can be obtained by the color multi-slit light source device (hereinafter referred to as a light source) 7 configured as described above is projected onto the object to be inspected 11, it is shown in FIG. As shown, a plurality of color multi-slit patterns 8', 9', and 10' that do not interfere with each other are formed on an object to be inspected 11. Slit pattern 8' is red, slit pattern 9' is green, slit button 10
' is blue, and adjacent slit patterns have different colors.

第1図は上記光源7を2個備えた部品装着検査装置の構
成を示している0図において、  6x、  6yはシ
ッヤター、7x、7yは光源、12はプリント基板、1
3はX−Yテーブル、14はチップ部品、15は撮像部
、16はA/D変換部、17は画像処理部、18は制御
回路部、19はX−Yテーブル駆動回路部、20はX軸
方向駆動部、21はY軸方向駆動部である。
FIG. 1 shows the configuration of a component mounting inspection apparatus equipped with two light sources 7, in which 6x and 6y are shutters, 7x and 7y are light sources, 12 is a printed circuit board, and 1
3 is an X-Y table, 14 is a chip component, 15 is an imaging section, 16 is an A/D conversion section, 17 is an image processing section, 18 is a control circuit section, 19 is an X-Y table drive circuit section, and 20 is an X-Y table drive circuit section. The axial drive unit 21 is a Y-axis drive unit.

X−Yテーブル13上にチップ部品14が実装されたプ
リント基板12が載置され、このプリント基板12に上
記カラーマルチスリットパターンを形成するためのX軸
方向光源7xとY軸方向光源7yとがプリント基板12
の斜め上方に配置されている。X軸方向光源7xは、プ
リント基板12上にX軸方向のスリットパターンを形成
し、Y軸方向光源7yはプリント基板12上にY軸方向
のスリットパターンを形成する。X軸方向光源7xとY
軸方向光源7yの光出射側にはシャッター6 x t6
yが各々取り付けられており、このシャッター6x、6
yの動作によって、プリント基板12上にX軸方向とY
軸方向のスリットパターンが個別に投影される。
A printed circuit board 12 on which a chip component 14 is mounted is placed on an X-Y table 13, and an X-axis direction light source 7x and a Y-axis direction light source 7y are provided to form the color multi-slit pattern on this printed circuit board 12. Printed circuit board 12
It is placed diagonally above. The X-axis direction light source 7x forms a slit pattern in the X-axis direction on the printed circuit board 12, and the Y-axis direction light source 7y forms a slit pattern in the Y-axis direction on the printed circuit board 12. X-axis direction light source 7x and Y
A shutter 6 x t6 is provided on the light output side of the axial light source 7y.
y are attached respectively, and these shutters 6x, 6
Due to the y movement, the X-axis direction and Y-axis direction are
The axial slit pattern is individually projected.

撮像部15は、プリント基板12上に形成されたスリッ
トパターンを撮像する。A/D変換部16は、撮像部1
5からの画像信号をディジタル信号に変換する。画像処
理部17は、撮像された画像におけるスリットパターン
の不連続またはスリットパターンの色の不連続を検出し
、プリント基板12上のチップ部品14の装着位置を検
出するとともに、チップ部品14の装着位置が誤差範囲
内かどうかを判定する。
The imaging unit 15 images a slit pattern formed on the printed circuit board 12. The A/D converter 16 is connected to the imaging unit 1
The image signal from 5 is converted into a digital signal. The image processing unit 17 detects discontinuity of the slit pattern or discontinuity of the color of the slit pattern in the captured image, detects the mounting position of the chip component 14 on the printed circuit board 12, and detects the mounting position of the chip component 14. Determine if is within the error range.

制御回路部18は、画像処理部17における検出及び判
定の処理の終了に応じて、プリント基板12の次の検査
範囲が撮像部15の撮像範囲に入るように、X−Yテー
ブル13を移動させる指令信号をX−Yテーブル駆動回
路部19へ与える。
The control circuit unit 18 moves the X-Y table 13 so that the next inspection range of the printed circuit board 12 falls within the imaging range of the imaging unit 15 in response to the completion of the detection and determination processing in the image processing unit 17. A command signal is given to the XY table drive circuit section 19.

X−Yテーブル駆動回路部19は、X軸方向駆動部20
とY軸方向駆動部21へX軸方向及びY軸方向の移動距
離に応じた駆動信号を与える。X軸方向駆動部20とY
軸方向駆動部21は、X軸方向駆動モータとY軸方向駆
動モータ(いずれも図示せず)を駆動する。
The X-Y table drive circuit section 19 includes an X-axis direction drive section 20
A drive signal corresponding to the moving distance in the X-axis direction and the Y-axis direction is given to the Y-axis direction drive unit 21. X-axis direction drive section 20 and Y
The axial drive unit 21 drives an X-axis drive motor and a Y-axis drive motor (both not shown).

以下、動作の手順について説明する。The operating procedure will be explained below.

まず、プリント基板12の最初の検査範囲が撮像部15
の撮像範囲に入るようにX−Yテーブル13を駆動し、
プリント基板12を位置決めする。
First, the first inspection range of the printed circuit board 12 is the imaging section 15.
Drive the X-Y table 13 to enter the imaging range of
Position the printed circuit board 12.

次に、X軸方向光源7xのシャッター6xを動作させて
プリント基板12上にX軸方向のスリットパターンを投
影する。ここで、撮像部15によりこのスリットパター
ンを撮像し、得られた画像信号をA/D変換部16でデ
ィジタル変換した後、画像処理部17へ送る。次に、シ
ャフタロyを動作させ、Y軸方向のスリットパターンを
投影し、上述と同様に、撮像部15によりスリットパタ
ーンを撮像し、画像信号をA/D変換部16でディジタ
ル変換して画像処理部17へ送る。
Next, the shutter 6x of the X-axis direction light source 7x is operated to project a slit pattern in the X-axis direction onto the printed circuit board 12. Here, this slit pattern is imaged by the imaging section 15, and the obtained image signal is digitally converted by the A/D conversion section 16 and then sent to the image processing section 17. Next, the Shaftallo y is operated to project a slit pattern in the Y-axis direction, and in the same manner as described above, the slit pattern is imaged by the imaging section 15, and the image signal is digitally converted by the A/D conversion section 16 for image processing. Send to Department 17.

画像処理部17へ与えられる画像信号は、プリント基板
12上でチップ部品14が3次元の形状を呈し且つライ
ン状のスリット光が斜め方向から投影されているため、
チップ部品14の形状に応じてスリットパターンが変化
し、特にチップ部品14の外郭部ではプリント基板12
の表面のスリットパターンと不連続となる。したがって
、画像処理部17では、このスリットパターンの不連続
箇所を検出することにより、チップ部品14の装着位置
を検出し、その位置が誤差範囲内かどうかを判定するこ
とができる。
The image signal given to the image processing unit 17 is generated because the chip component 14 has a three-dimensional shape on the printed circuit board 12 and linear slit light is projected from an oblique direction.
The slit pattern changes depending on the shape of the chip component 14, and especially in the outer part of the chip component 14, the printed circuit board 12
It becomes discontinuous with the slit pattern on the surface. Therefore, the image processing unit 17 can detect the mounting position of the chip component 14 by detecting the discontinuous portion of the slit pattern, and can determine whether the position is within the error range.

チップ部品14のプリント基板12表面からの高さによ
っては、隣り合ったスリットパターンにおいてチップ部
品14の表面のスリットパターンとプリント基板12の
表面のスリットパターンとが一致する場合がある。しか
し、上述のように、隣り合ったスリットパターンは色が
異なるため、スリットパターンの位置は一致するが色が
チ・ノブ部品14のエツジ部分において不連続となる。
Depending on the height of the chip component 14 from the surface of the printed circuit board 12, the slit pattern on the surface of the chip component 14 and the slit pattern on the surface of the printed circuit board 12 may match in adjacent slit patterns. However, as described above, since adjacent slit patterns have different colors, the positions of the slit patterns match, but the colors are discontinuous at the edge portions of the chi knob component 14.

したがって、画像処理部17では、この色の不連続から
チップ部品14の装着位置を検出することができる。
Therefore, the image processing unit 17 can detect the mounting position of the chip component 14 from this color discontinuity.

以上のX−Yテーブル13の移動、スリットパターンの
投影、撮影1画像処理の手順を繰)返すことにより、プ
リント基板12の全体に亘ってチップ部品14の装着位
置が正しいかどうかを検査することができる。
By repeating the above steps of moving the X-Y table 13, projecting the slit pattern, and processing the first image, it is possible to inspect whether the mounting positions of the chip components 14 are correct over the entire printed circuit board 12. I can do it.

第4図と第5図はチップ部品14上のスリットパターン
とプリント基板12上のスリットパターンとが重なる場
合のX軸方向とY軸方向のスリ・ノドパターンを示して
おり、白地のスリットパターン8′は赤色、斜線が施さ
れたスリットパターン9′は緑色である。画像処理部1
7では、矢印A方向にスリットパターンを走査し、色が
赤から緑あるいは緑から赤へ変化する箇所をチップ部品
14のエツジとして検出する。
FIGS. 4 and 5 show the slit pattern in the X-axis direction and the Y-axis direction when the slit pattern on the chip component 14 and the slit pattern on the printed circuit board 12 overlap, and the slit pattern 8 on the white background ' is red, and the hatched slit pattern 9' is green. Image processing section 1
In step 7, the slit pattern is scanned in the direction of arrow A, and a location where the color changes from red to green or from green to red is detected as an edge of the chip component 14.

なお、チップ部品の表面とプリント基板の表面のスリッ
トパターンが2本以上ずれて重なるような背の高いチッ
プ部品の場合においては、3色以上のスリット光を投影
することにより、上記実施例と同様の原理によって検査
を行うことができる。
In addition, in the case of a tall chip component where two or more slit patterns on the surface of the chip component and the surface of the printed circuit board are shifted and overlap, the same method as in the above embodiment can be achieved by projecting slit lights of three or more colors. The inspection can be performed according to the principle of

また、上記実施例においては、X軸方向及びY軸方向の
スリットパターンを投影するためにシャッターを用いて
いるが、このシャッターの代わりに光源部にストロボを
用いるかスイッチにより光源部を制御することにより、
必要時のみ発光させて所望のスリットパターンを得るこ
ともできる。
Further, in the above embodiment, a shutter is used to project the slit pattern in the X-axis direction and the Y-axis direction, but instead of this shutter, a strobe may be used as the light source, or the light source may be controlled by a switch. According to
A desired slit pattern can also be obtained by emitting light only when necessary.

さらに、上記実施例では、撮像部を1箇所としたが、プ
リント基板全面に一度にスリットパターンを形成し、そ
れを複数の区画に分割し、各区画に対して撮像部を設け
ることにより、X−Yテーブルを固定して検査を行うこ
とも可能である。
Furthermore, in the above embodiment, the imaging section was set at one location, but by forming a slit pattern on the entire surface of the printed circuit board at once, dividing it into a plurality of sections, and providing an imaging section for each section, - It is also possible to perform the inspection with the Y table fixed.

〈発明の効果〉 以上のように本発明によれば、隣り合った投影ラインの
色が異なるため、隣り合った投影ラインにおいて、プリ
ント基板表面の投影ラインと電子部品表面の投影ライン
との位置が一致しても投影ラインの色が不連続となるの
で、電子部品の高さに関係なく電子部品の位置を検査す
ることができる。また、検査するプリント基板の基材の
色に適合したカラースリット光を選択することにより、
正確な検査を行うことができる。
<Effects of the Invention> As described above, according to the present invention, since adjacent projection lines have different colors, the positions of the projection line on the surface of the printed circuit board and the projection line on the surface of the electronic component are different in the adjacent projection lines. Even if they match, the color of the projected line is discontinuous, so the position of the electronic component can be inspected regardless of the height of the electronic component. In addition, by selecting a color slit light that matches the color of the base material of the printed circuit board to be inspected,
Accurate inspection can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

°第1図は本発明実施例の構成を示す図、第2図は本発
明実施例の光源の構成を説明する図、 第3図、第4図、第5図は本発明実施例のスリットパタ
ーンを示す図、 第6図はスリットパターンが重なる様子を説明する図、 第7図、第8図は従来例のスリットパターンを示す図で
ある。 1・・・・・発光部 2・・・・・集光レンズ 3a、3b、3c カラーフィルタ C ・スリット板 ・投影レンズ ・シャッター ・カラーマルチスリット光源装置 4a、  4b。 5 ・ ・ ・ ・ 6 ・ ・ ・ ・ 7 ・ ・ ・ ・ 8′ 11 ・ 12 ・ 13 ・ 14 ・ 15 ・ 16 ・ 17 ・ 18 ・ 19 ・ 20 ・ 21 ・ 9′ 10′ カラーマルチスリットパターン 被検査物 プリント基板 X−Yテーブル チップ部品 撮像部 A/D変換部 画像処理部 制御回路部 X−Yテーブル駆動回路部 X軸方向駆動部 Y軸方向駆動部 第2図
° Figure 1 is a diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention, Figure 2 is a diagram explaining the configuration of a light source in an embodiment of the invention, Figures 3, 4, and 5 are slits of an embodiment of the present invention. FIG. 6 is a diagram illustrating how slit patterns overlap, and FIGS. 7 and 8 are diagrams showing conventional slit patterns. 1... Light emitting unit 2... Condensing lenses 3a, 3b, 3c Color filter C - Slit plate - Projection lens - Shutter - Color multi-slit light source device 4a, 4b. 5 ・ ・ ・ ・ 6 ・ ・ ・ ・ 7 ・ ・ ・ 8' 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 9'10' Color multi-slit pattern inspected object Printed circuit board X-Y table chip component imaging section A/D conversion section image processing section control circuit section X-Y table drive circuit section

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 電子部品が装着されたプリント基板の電子部品の装着位
置を検査する部品装着検査装置において、複数の色をも
つスリット光をプリント基板上に斜め方向から投影して
隣り合った投影ラインの色が異なった投影パターンをプ
リント基板上に形成する投影手段と、プリント基板上の
投影パターンを撮像する撮像手段と、撮像された画像に
おける投影ラインの不連続または投影ラインの色の不連
続を検出して電子部品の装着位置を検出する検出手段と
を備えたことを特徴とする部品装着検査装置。
In a component mounting inspection device that inspects the mounting position of electronic components on a printed circuit board on which electronic components are mounted, slit lights with multiple colors are projected diagonally onto the printed circuit board so that adjacent projection lines have different colors. projection means for forming a projected pattern on a printed circuit board; imaging means for imaging the projected pattern on the printed circuit board; 1. A component mounting inspection device comprising: a detection means for detecting a mounting position of a component.
JP63171117A 1988-07-08 1988-07-08 Check device for attachment of parts Pending JPH0221373A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63171117A JPH0221373A (en) 1988-07-08 1988-07-08 Check device for attachment of parts

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63171117A JPH0221373A (en) 1988-07-08 1988-07-08 Check device for attachment of parts

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0221373A true JPH0221373A (en) 1990-01-24

Family

ID=15917292

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63171117A Pending JPH0221373A (en) 1988-07-08 1988-07-08 Check device for attachment of parts

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0221373A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0241000A (en) * 1988-07-29 1990-02-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd How to install electronic parts
JP2014202492A (en) * 2013-04-01 2014-10-27 株式会社ヒカリ Light projection device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0241000A (en) * 1988-07-29 1990-02-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd How to install electronic parts
JP2014202492A (en) * 2013-04-01 2014-10-27 株式会社ヒカリ Light projection device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5450204A (en) Inspecting device for inspecting printed state of cream solder
CN101943571B (en) Circuit board inspection device and inspection method
US20050254066A1 (en) Three-dimensional measuring instrument
US20130342677A1 (en) Vision testing device using multigrid pattern
US20140232850A1 (en) Vision testing device with enhanced image clarity
JP3723057B2 (en) 3D measuring device
JPH01282410A (en) Curved surface nature inspection device
JPS6149218A (en) Automatic positioning method of screen printer
JPH08247736A (en) Mounting board inspection equipment
JPH02216407A (en) Substrate inspection device
JPH0221372A (en) Soldering check device
JPH02151702A (en) Apparatus for inspecting mounting of part
JPH0330812B2 (en)
KR101876391B1 (en) Apparatus for inspecting three dimension Using multi-channel image of single color light Moire
JP2648476B2 (en) Parts detection device
JPH02216408A (en) Substrate inspection device
JPH02151703A (en) Apparatus for inspecting mounting of part
JPH01140005A (en) Inspection device for loaded part
JP3400493B2 (en) Inspection device for height of object on printed circuit board
JPH03189544A (en) Substrate inspecting device
JPS63109308A (en) Apparatus for inspecting mounting of chip component
CN112857234A (en) Measuring method and device for combining two-dimensional and height information of object
JPH01162107A (en) Mounting inspector for chip part
JPH08184407A (en) Mounted printed wiring board automatic inspection device
JPH03219653A (en) Inspection apparatus of mounted component