JPH02154138A - 透光性容器の検査方法 - Google Patents
透光性容器の検査方法Info
- Publication number
- JPH02154138A JPH02154138A JP25981388A JP25981388A JPH02154138A JP H02154138 A JPH02154138 A JP H02154138A JP 25981388 A JP25981388 A JP 25981388A JP 25981388 A JP25981388 A JP 25981388A JP H02154138 A JPH02154138 A JP H02154138A
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- Japan
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- light
- container
- interference filter
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- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 4
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- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
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Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、透光性材料よりなる容器の検査領域に光を照
射し、容器を透過した光の強度分布に基づいて容器の欠
陥や容器に付着した異物を検出するようにした透光性容
器の検査方法に関するものである。
射し、容器を透過した光の強度分布に基づいて容器の欠
陥や容器に付着した異物を検出するようにした透光性容
器の検査方法に関するものである。
[従来の技術]
一般に透光性材料で形成された容器を検査するには、第
3図に示すように、容器1の検査領域(底部)に光を照
射する照射源10を有し、容器1を透過した光をテレビ
ジョンカメラ等の受光器21で受光するようにしている
。検査対象となる容器1は、コツプ、びん、照明器具の
グローブ等であり、ガラスや合成樹脂等の透光性材料で
形成されている。照射源10は、光源11と反射板12
と拡散板13とで構成されており、容器1に対して略均
−な拡散光を照射するように構成される。したがって、
容器1に欠けやひびがあったり、異物が付着していたり
すると、その部位に陰影が生じることになるから、光の
強度分布に基づいて容器1の欠陥や異物を検出すること
ができる。
3図に示すように、容器1の検査領域(底部)に光を照
射する照射源10を有し、容器1を透過した光をテレビ
ジョンカメラ等の受光器21で受光するようにしている
。検査対象となる容器1は、コツプ、びん、照明器具の
グローブ等であり、ガラスや合成樹脂等の透光性材料で
形成されている。照射源10は、光源11と反射板12
と拡散板13とで構成されており、容器1に対して略均
−な拡散光を照射するように構成される。したがって、
容器1に欠けやひびがあったり、異物が付着していたり
すると、その部位に陰影が生じることになるから、光の
強度分布に基づいて容器1の欠陥や異物を検出すること
ができる。
[発明が解決しようとする課題]
上記構成では、第4図に示すように、容器1の底部に設
定された検査領域を透過する光以外に、容器1の側壁を
透過する光や、容器1の底面を透過した後容器の内周面
で反射された光も受光器21に入射するから、これらの
光は、受光器21に対しては雑音成分となり、信号対雑
音比を低下させる原因となっていた。
定された検査領域を透過する光以外に、容器1の側壁を
透過する光や、容器1の底面を透過した後容器の内周面
で反射された光も受光器21に入射するから、これらの
光は、受光器21に対しては雑音成分となり、信号対雑
音比を低下させる原因となっていた。
本発明(i上記問題点を解決することを目的とするもの
であり、受光器に対して雑音成分となる光の入射を抑制
して検出精度を高めな透光性容器の検査方法を提供しよ
うとするものである。
であり、受光器に対して雑音成分となる光の入射を抑制
して検出精度を高めな透光性容器の検査方法を提供しよ
うとするものである。
[課題を解決するための手段]
本発明では、上記目的を達成するために、受光器の前方
に所要波長領域を選択的に受光器に入射させる干渉フィ
ルタを配設し、干渉フィルタへの入射光を上記波長領域
内の所定の波長領域に設定しているのである。
に所要波長領域を選択的に受光器に入射させる干渉フィ
ルタを配設し、干渉フィルタへの入射光を上記波長領域
内の所定の波長領域に設定しているのである。
[作用]
干渉フィルタにおいては、第2図に破線で示すように、
入射角が大きくなると透過波長が短いほうに偏移するこ
とか知られている。このような現象は、入射角が±20
°程度よりも大きくなるとま著になるが、入射角が小さ
いときにはほとんど現われないのである。したがって、
特定波長の光については、入射角が大きくなると透過率
が極端に低下するのである。
入射角が大きくなると透過波長が短いほうに偏移するこ
とか知られている。このような現象は、入射角が±20
°程度よりも大きくなるとま著になるが、入射角が小さ
いときにはほとんど現われないのである。したがって、
特定波長の光については、入射角が大きくなると透過率
が極端に低下するのである。
しかるに、上記構成のように、受光器の前方に干渉フィ
ルタを配置し、干渉フィルタへの入射光を干渉フィルタ
の通過波長領域内の所定の波長領域に設定することによ
り、干渉フィルタへの入射角が大きい光を、受光器に入
射させないようにすることができるのである。すなわち
、容器を検査する際に検査領域以外から受光器に入射す
る光は、一般に、検査領域からの光に対して入射角が大
きいから、干渉フィルタの性質を利用して不要光を遮断
することができるのである。
ルタを配置し、干渉フィルタへの入射光を干渉フィルタ
の通過波長領域内の所定の波長領域に設定することによ
り、干渉フィルタへの入射角が大きい光を、受光器に入
射させないようにすることができるのである。すなわち
、容器を検査する際に検査領域以外から受光器に入射す
る光は、一般に、検査領域からの光に対して入射角が大
きいから、干渉フィルタの性質を利用して不要光を遮断
することができるのである。
[実施例1]
本実施例では、着色された容器1を検査する場合につい
て説明する。
て説明する。
第1図に示すように、容器1の底部に拡散光を照射する
照射源10が設けられ、容器1の口部には受光器21が
配設される。受光器21の前方には干渉フィルタ22が
配設されており、この干渉フィルタ22は、容器lを透
過した光の波長帯域を透過させるように通過帯域が設定
されている。
照射源10が設けられ、容器1の口部には受光器21が
配設される。受光器21の前方には干渉フィルタ22が
配設されており、この干渉フィルタ22は、容器lを透
過した光の波長帯域を透過させるように通過帯域が設定
されている。
すなわち、容器1は着色されているから、容器1を通過
した光は、特定の波長帯域を含む光となっており、干渉
フィルタ22は、この波長帯域の全部または一部を含む
特定の波長帯域を透過させるように設定されているので
ある。また、干渉フィルタ22の面積および容器1との
距離を適宜設定することにより、検査領域からの光は透
過させ、検査領域以外からの光は透過させないように設
定される。
した光は、特定の波長帯域を含む光となっており、干渉
フィルタ22は、この波長帯域の全部または一部を含む
特定の波長帯域を透過させるように設定されているので
ある。また、干渉フィルタ22の面積および容器1との
距離を適宜設定することにより、検査領域からの光は透
過させ、検査領域以外からの光は透過させないように設
定される。
以上の構成により、受光器21に対して雑音成分となる
光を入射させないようにし、検査領域からの光のみを受
光器21に入射させるようにすることができるのである
。すなわち、信号対雑音比が大きくなり、高精度に検査
を行なうことができるのである。
光を入射させないようにし、検査領域からの光のみを受
光器21に入射させるようにすることができるのである
。すなわち、信号対雑音比が大きくなり、高精度に検査
を行なうことができるのである。
[実施例2]
容器1が着色されていない場合には、照射源10の反射
板12や拡散板13に着色を施したり、特定波長で発光
する光源11を用いたり、光源11と拡散板13との間
にカラーフィルタを介在させる等の構成により、干渉フ
ィルタ22への入射光を着色するようにすれば、実施例
1と同等の効果が得られるものである。
板12や拡散板13に着色を施したり、特定波長で発光
する光源11を用いたり、光源11と拡散板13との間
にカラーフィルタを介在させる等の構成により、干渉フ
ィルタ22への入射光を着色するようにすれば、実施例
1と同等の効果が得られるものである。
[発明の効果コ
本発明は上述のように、受光器の前方に所要波長領域を
選択的に受光器に入射させる干渉フィルタを配設し、干
渉フィルタへの入射光を上記波長領域内の所定の波長領
域に設定しているものであり、干渉フィルタの性質を利
用して、干渉フィルタへの入射角が大きい光を、受光器
に入射させないようにすることができるから、容器を検
査する際に検査領域以外から受光器に入射する不要光を
遮断し、受光器に入射させないようにすることができる
という利点を有する。
選択的に受光器に入射させる干渉フィルタを配設し、干
渉フィルタへの入射光を上記波長領域内の所定の波長領
域に設定しているものであり、干渉フィルタの性質を利
用して、干渉フィルタへの入射角が大きい光を、受光器
に入射させないようにすることができるから、容器を検
査する際に検査領域以外から受光器に入射する不要光を
遮断し、受光器に入射させないようにすることができる
という利点を有する。
第1図は本発明の実施例1.を示す断面図、第2図は同
上に用いる干渉フィルタの特性を示す動作説明図、第3
図は従来例を示す一部切欠分解斜視図、 第4図は同上の動作説明図である。 1・・・容器、 10・・・照射源、 1・・・光源、 12・・・ 反射板、 13・・・拡散板、 21・・・受光器、 22・・・干 渉フィルタ。
上に用いる干渉フィルタの特性を示す動作説明図、第3
図は従来例を示す一部切欠分解斜視図、 第4図は同上の動作説明図である。 1・・・容器、 10・・・照射源、 1・・・光源、 12・・・ 反射板、 13・・・拡散板、 21・・・受光器、 22・・・干 渉フィルタ。
Claims (1)
- (1)透光性材料よりなる容器の検査領域に照射源から
光を照射し、照射源から容器に照射された光のうち容器
を透過した光を受光器で受光することにより、光の強度
分布に基づいて容器の欠陥を判定する透光性容器の検査
方法において、受光器の前方には所要波長領域を選択的
に受光器に入射させる干渉フィルタが配設され、干渉フ
ィルタへの入射光は上記波長領域内の所定の波長領域に
設定されて成ることを特徴とする透光性容器の検査方法
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63259813A JP2501884B2 (ja) | 1988-10-15 | 1988-10-15 | 透光性容器の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63259813A JP2501884B2 (ja) | 1988-10-15 | 1988-10-15 | 透光性容器の検査方法 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63149000A Division JPH0711494B2 (ja) | 1988-06-16 | 1988-06-16 | 透光性容器の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02154138A true JPH02154138A (ja) | 1990-06-13 |
| JP2501884B2 JP2501884B2 (ja) | 1996-05-29 |
Family
ID=17339356
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63259813A Expired - Lifetime JP2501884B2 (ja) | 1988-10-15 | 1988-10-15 | 透光性容器の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2501884B2 (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5713342A (en) * | 1980-06-27 | 1982-01-23 | Kirin Brewery Co Ltd | Defect detecting system |
| JPS6315143A (ja) * | 1986-07-07 | 1988-01-22 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 面状体の欠陥検出方法 |
-
1988
- 1988-10-15 JP JP63259813A patent/JP2501884B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5713342A (en) * | 1980-06-27 | 1982-01-23 | Kirin Brewery Co Ltd | Defect detecting system |
| JPS6315143A (ja) * | 1986-07-07 | 1988-01-22 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 面状体の欠陥検出方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2501884B2 (ja) | 1996-05-29 |
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