JPH02154415A - 薄膜塗布装置 - Google Patents

薄膜塗布装置

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Publication number
JPH02154415A
JPH02154415A JP63309082A JP30908288A JPH02154415A JP H02154415 A JPH02154415 A JP H02154415A JP 63309082 A JP63309082 A JP 63309082A JP 30908288 A JP30908288 A JP 30908288A JP H02154415 A JPH02154415 A JP H02154415A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thin film
envelope
air
wafer
enclosure
Prior art date
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Pending
Application number
JP63309082A
Other languages
English (en)
Inventor
Takuyuki Motoyama
本山 琢之
Hiroko Nakamura
裕子 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP63309082A priority Critical patent/JPH02154415A/ja
Publication of JPH02154415A publication Critical patent/JPH02154415A/ja
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  • Coating Apparatus (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 レジスト膜などの薄膜の塗布に用いる回転式の薄膜塗布
装置(スピンナー)に関し、 塗布膜へのゴミの付着を減少させることを目的とし、 外囲器の被塗布基板面より上部の側壁に複数の吸気孔を
設け、前記複数の吸気孔から外囲器内部を排気するよう
に構成する。
あるいは、外囲器内の液滴下ノズルの周囲に複数の通気
孔を設けた空気流入筒を付設し、且つ、外囲器における
被塗布基板面より上部の側壁に複数の吸気孔を設け、前
記複数の吸気孔より外囲器内部を排気するように構成す
る。
〔産業上の利用分野〕
本発明はレジスト膜などの薄膜の塗布に用いる回転式の
薄膜塗布装置(スピンナー)に関する。
例えば、半導体装置を製造する際、ウェハープロセスに
おいてはりソグラフィ技術が汎用されており、その場合
、ウェハーにレジスト膜パターンを形成するためのレジ
スト膜塗布がおこなわれて、それには回転式の薄膜塗布
装置(スピンナー;5pinnet)が使用されている
。しかし、そのスピンナ−での塗布時にレジスト膜にゴ
ミが付着しないように塗布することが重要である。
〔従来の技術〕
第3図は従来の薄膜塗布装置の要部概要図を示しており
、1はウェハー(被塗布基板)、2は回転支持台、3は
外囲器、4は液滴下ノズル、5は排気口、6は廃液排出
口である。
操作法はウェハー1を真空チャック方式で回転支持台2
に吸着保持した後、所要量のレジスト液を液滴下ノズル
4からウェハー1面に滴下し、次いで、回転支持台2を
最初はゆっくり回転しながら次第に回転速度を高めて、
レジスト液をウェハ−1全面に均一な厚さに塗布し、余
分のレジスト液をウェハー1より側方に振り飛ばしてそ
れを廃液排出口6より排出させる。
その際、外囲器3の底部に設けた排気口5から強制的に
排気しているが、その理由はウェハー1周辺の端部にし
ばしば生じている繊維状のレジスト髭がウェハー表面に
舞い戻って付着するのを防ぐため、また、振り飛ばした
レジスト液が再びウェハー面に舞い戻らないようにする
ために、そのように底部から吸引しているわけである。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし、このような底部への強制排気はウェハー1の上
方から空気(あるいはガス)を流入させる(矢印で示す
)結果になり、そのために空気中に含まれる微細なゴミ
(塵埃)がウェハー面のレジストに付着してレジスト膜
を汚染する問題が起きる。このゴミの大きさは数μm以
下でサブミクロン程度のものであるが、このゴミの付着
によって付着部分に欠陥を発生させるだけでなく、広く
周囲部分にも拡大した欠陥を生じる悪い影響がある。
且つ、最近、ウェハーが大口径化して、径8インチ程度
の大きな口径のウェハーを用いており、そのため、外囲
器内への空気の流入も増加して、−層ゴミの防止対策が
必要になってきた。
本発明はそのような塗布膜(レジスト膜)へのゴミの付
着を減少させることができる薄膜塗布装置を提案するも
のである。
触する機会が少なくなって、それだけゴミの付着が減少
する。
〔課題を解決するための手段〕
その課題は、外囲器の被塗布基板面より上部の側壁に複
数の吸気孔を設け、前記複数の吸気孔から外囲器内部を
排気するように構成した薄膜塗布装置によって解決され
る。
あるいは、外囲器内の液滴下ノズルの周囲に複数の通気
孔を設けた空気流入筒を付設し、且つ、外囲器における
被塗布基板面より上部の側壁に複数の吸気孔を設け、前
記複数の吸気孔より外囲器内部を排気するように構成し
た薄膜塗布装置によって解決される。
〔作 用〕
本発明は外囲器上部の側壁6手複数の吸気孔を設け、そ
こから上部に流入した空気(あるいはガス)の多くを吸
気する。そうすれば、外部から流入した空気は直接被塗
布基板(ウェハー)面へ接〔実 施 例〕 以下、図面を参照しながら実施例によって詳細に説明す
る。
第1図は本発明にかかる薄膜塗布装置(1,)の要部概
要図、を示しており、lはウェハー、2は回転支持台、
3は外囲器、4は液滴下ノズル2,5は排気口、6は廃
、液排出口で、11は多数の吸気孔10を設けた外囲器
3のウェハー1より上部の側壁。
12は側部排気室、13は側部排気口である。このよう
に構成して、従来の構造と同様に底部に設けた排気口5
から排気すると同時に、側部排気口12から排気する。
そうすると、多数の吸気孔10から外囲器1上部に流入
した空気の多くを吸気できて、その空気中に含まれるゴ
ミがウェハー面に達せずに吸気孔10から側部排気口1
2へ排出される。図中の矢印がそ、の空気の流れを示し
ている。、排気口5からの排気量と側部排気口13から
の排気量との比は装置の大きさと細部構成に関わりがあ
り、−概には決められないが、通常は同量程度にする。
なお、操作法は従来と変わりがない。
次に、第2図は本発明にかかる薄膜塗布装置(II)の
要部概要図を示しており、本例はカバを設けた実施例で
ある。記号15はカバー、16はカバーの中心に設けた
空気流大筒、20は空気流入筒16の周囲に設けた多数
の通気孔で、その他の部材の記号は第1図と同一部材に
同一記号が付けであるが、本例はカバー15を設けて外
囲器3の内部を密閉しており、しかも、上記の理由で排
気「15より排気がおこなわれるために外囲器内に空気
を送入する必要がある。しかし、その時、空気流入部分
を設けないと、外囲器3とカバー15との隙間から空気
が流入して逆にゴミが増加する恐れがあるために、中心
に液滴下ノズル4と組合せた空気流入筒16を設けて比
較的清浄な空気を流入し、且つ、第1図と同じく底部に
設けた排気口5と同時に側部排気口12から排気をおこ
なう。これらの吸気孔10や通気孔20の大きさは、例
えば、3〜10cm中程度の孔にして、その多数個を側
壁]1および空気流入筒16に設けるものである。また
、この塗布装置の構成部材は一般に有機樹脂材料で形成
している。
上記のような本発明にかかる薄膜塗布装置は塗布膜に付
着するゴミを著しく減少させることができる。
且つ、上記実施例は1個の液滴下ノズル4を被塗布基板
1の中央上部にのみ位置する薄膜塗布装置で説明したが
、数個の液滴下ノズルを被塗布基板1上部の数点に配置
する薄膜塗布装置も知られており、そのような数個の液
滴下ノズルを設けた薄膜塗布装置にも本発明は適用でき
る。
なお、上記例は塗布膜としてレジスト膜で説明したが、
他の塗布液、例えば、SOG (スピンオングラス)膜
の塗布にも本考案が適用できることはいうまでもない。
〔発明の効果〕
以上の説明から明らかなように本発明によれば従来の装
置に比べてゴミの付着の少ない塗布薄膜膜が得られ、I
C,LSIなど半導体装置の品質信頼性の向上に太き(
寄与することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明にかかる薄膜塗布装置(1)の要部概要
図、 第2図は本発明にかかる薄膜塗布装置(II)の要部概
要図、 第3図は従来の薄膜塗布装置の要部概要図である。 図において、 ■はウェハー(被塗布基板)、 2は回転支持台、    3は外囲器、4は液滴下ノズ
ル、  5は排気口、 6は廃液排出口、   10は吸気孔、11は側壁、 
     12は側部排気室、13は側部排気口、  
 15はカバー16は空気流入筒、   20は通気孔
を示している。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)外囲器の被塗布基板面より上部の側壁に複数の吸
    気孔を設け、前記複数の吸気孔から外囲器内部を排気す
    るように構成したことを特徴とする薄膜塗布装置。
  2. (2)外囲器内の液滴下ノズルの周囲に複数の通気孔を
    設けた空気流入筒を付設し、且つ、外囲器における被塗
    布基板面より上部の側壁に複数の吸気孔を設け、前記複
    数の吸気孔より外囲器内部を排気するように構成したこ
    とを特徴とする薄膜塗布装置。
JP63309082A 1988-12-06 1988-12-06 薄膜塗布装置 Pending JPH02154415A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63309082A JPH02154415A (ja) 1988-12-06 1988-12-06 薄膜塗布装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63309082A JPH02154415A (ja) 1988-12-06 1988-12-06 薄膜塗布装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02154415A true JPH02154415A (ja) 1990-06-13

Family

ID=17988671

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63309082A Pending JPH02154415A (ja) 1988-12-06 1988-12-06 薄膜塗布装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02154415A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0360761A (ja) * 1989-07-31 1991-03-15 Hitachi Ltd 塗布装置および塗布方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0360761A (ja) * 1989-07-31 1991-03-15 Hitachi Ltd 塗布装置および塗布方法

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