JPH0216247Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0216247Y2 JPH0216247Y2 JP1983105971U JP10597183U JPH0216247Y2 JP H0216247 Y2 JPH0216247 Y2 JP H0216247Y2 JP 1983105971 U JP1983105971 U JP 1983105971U JP 10597183 U JP10597183 U JP 10597183U JP H0216247 Y2 JPH0216247 Y2 JP H0216247Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output
- displacement detector
- comparator
- reference voltage
- peak hold
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この考案は、突起をもち、回転する被測定物の
突起部分の仮想回転円の径を測定する寸法測定器
についてのものである。
突起部分の仮想回転円の径を測定する寸法測定器
についてのものである。
［従来の技術］
寸法測定装置の従来技術としては、例えば、実
開昭55−59311号公報などがある。
開昭55−59311号公報などがある。
この従来技術は、材料の変動による測定誤差を
解消するために、被測定物が一対の非接触の距離
センサの直線特性範囲内に位置した時点だけ距離
検出値を取込み、この検出値から厚みを算出する
ものである。
解消するために、被測定物が一対の非接触の距離
センサの直線特性範囲内に位置した時点だけ距離
検出値を取込み、この検出値から厚みを算出する
ものである。
［考案が解決しようとする課題］
従来技術による厚み測定装置は、材料の厚みの
変動を検出するもので、非接触の距離センサの直
線特性範囲内に位置した時点だけ距離検出値を取
込むものであり、変動範囲が大きくなると使用で
きないという問題がある。
変動を検出するもので、非接触の距離センサの直
線特性範囲内に位置した時点だけ距離検出値を取
込むものであり、変動範囲が大きくなると使用で
きないという問題がある。
一方、マシニングセンターなどで使用するボー
リングヘツドでは、マシニングセンターに装着す
る前にボーリングヘツドに取り付けたチツプの先
端が描く仮想切削円の直径を調べ、間接的に切削
円の内径を測定する。このようにして測定した切
削円の内径とボーリングヘツドを登録しておけ
ば、チツプの摩耗による加工穴径の変化を間接的
に知ることができる。
リングヘツドでは、マシニングセンターに装着す
る前にボーリングヘツドに取り付けたチツプの先
端が描く仮想切削円の直径を調べ、間接的に切削
円の内径を測定する。このようにして測定した切
削円の内径とボーリングヘツドを登録しておけ
ば、チツプの摩耗による加工穴径の変化を間接的
に知ることができる。
この考案は、チツプのように突起をもち、回転
する被測定物の仮想回転円を測定する場合に、被
測定物を挟むようにして配置し、被測定物の先端
に接触して変位を検出する２個の変位検出器と、
この検出器出力で動作する比較器と、アナログス
イツチおよびピークホールド回路をそれぞれ２組
設け、これら２組のピークホールド回路の出力を
加算するという電子的手段により被測定物の径を
測定する寸法測定器を提供するものである。
する被測定物の仮想回転円を測定する場合に、被
測定物を挟むようにして配置し、被測定物の先端
に接触して変位を検出する２個の変位検出器と、
この検出器出力で動作する比較器と、アナログス
イツチおよびピークホールド回路をそれぞれ２組
設け、これら２組のピークホールド回路の出力を
加算するという電子的手段により被測定物の径を
測定する寸法測定器を提供するものである。
［課題を解決するための手段］
この目的を達成するため、この考案では、突起
をもち、回転する被測定物１の回転円の第１の先
端の位置を接触して検出する第１の変位検出器２
Ａと、第１の先端の位置と反対側の被測定物１の
回転円の第２の先端の位置を接触して検出する第
２の変位検出器２Ｂと、第１の変位検出器２Ａの
出力を第１の入力端子３１Ａの入力とし、第１の
変位検出器２Ａの測定範囲の最小値に対応する第
１の基準電圧V1を第２の入力端子３２Ａの入力
とし、第１の変位検出器２Ａの出力が第１の基準
電圧V1より大きいとき、「１」を出し、第１の変
位検出器２Ａの出力が第１の基準電圧V1より小
さいとき、「０」を出す第１の比較器３Ａと、第
１の比較器３Ａの出力が「１」のとき、オンにな
つて第１の変位検出器２Ａの出力を出し、第１の
比較器３Ａの出力が「０」のときオフになる第１
のアナログスイツチ４Ａと、第１のアナログスイ
ツチ４Ａの出力を入力とする第１のピークホール
ド回路５Ａと、第２の変位検出器２Ｂの出力を第
３の入力端子３１Ｂの入力とし、第２の変位検出
器２Ｂの測定範囲の最小値に対応する第２の基準
電圧V2を第４の入力端子３２Ｂの入力とし、第
２の変位検出器２Ｂの出力が第２の基準電圧V2
より大きいとき「１」を出し、第２の変位検出器
２Ｂの出力が第２の基準電圧V2より小さいとき
「０」を出す第２の比較器３Ｂと、第２の比較器
３Ｂの出力が「１」のとき、オンになつて第２の
変位検出器２Ｂの出力を出し、第２の比較器３Ｂ
の出力が「０」のときオフになる第２のアナログ
スイツチ４Ｂと、第２のアナログスイツチ４Ｂの
出力を入力とする第２のピークホールド回路５Ｂ
と、第１のピークホールド回路５Ａの出力と第２
のピークホールド回路５Ｂの出力を加算する加算
器６を備える。
をもち、回転する被測定物１の回転円の第１の先
端の位置を接触して検出する第１の変位検出器２
Ａと、第１の先端の位置と反対側の被測定物１の
回転円の第２の先端の位置を接触して検出する第
２の変位検出器２Ｂと、第１の変位検出器２Ａの
出力を第１の入力端子３１Ａの入力とし、第１の
変位検出器２Ａの測定範囲の最小値に対応する第
１の基準電圧V1を第２の入力端子３２Ａの入力
とし、第１の変位検出器２Ａの出力が第１の基準
電圧V1より大きいとき、「１」を出し、第１の変
位検出器２Ａの出力が第１の基準電圧V1より小
さいとき、「０」を出す第１の比較器３Ａと、第
１の比較器３Ａの出力が「１」のとき、オンにな
つて第１の変位検出器２Ａの出力を出し、第１の
比較器３Ａの出力が「０」のときオフになる第１
のアナログスイツチ４Ａと、第１のアナログスイ
ツチ４Ａの出力を入力とする第１のピークホール
ド回路５Ａと、第２の変位検出器２Ｂの出力を第
３の入力端子３１Ｂの入力とし、第２の変位検出
器２Ｂの測定範囲の最小値に対応する第２の基準
電圧V2を第４の入力端子３２Ｂの入力とし、第
２の変位検出器２Ｂの出力が第２の基準電圧V2
より大きいとき「１」を出し、第２の変位検出器
２Ｂの出力が第２の基準電圧V2より小さいとき
「０」を出す第２の比較器３Ｂと、第２の比較器
３Ｂの出力が「１」のとき、オンになつて第２の
変位検出器２Ｂの出力を出し、第２の比較器３Ｂ
の出力が「０」のときオフになる第２のアナログ
スイツチ４Ｂと、第２のアナログスイツチ４Ｂの
出力を入力とする第２のピークホールド回路５Ｂ
と、第１のピークホールド回路５Ａの出力と第２
のピークホールド回路５Ｂの出力を加算する加算
器６を備える。
次に、この考案による寸法測定装置の構成図を
第１図により説明する。
第１図により説明する。
第１図の１は突起をもち、回転する被測定物、
２Ａと２Ｂは変位検出器、３Ａと３Ｂは比較器、
４Ａと４Ｂはアナログスイツチ、５Ａと５Ｂはピ
ークホールド回路、６は加算器である。
２Ａと２Ｂは変位検出器、３Ａと３Ｂは比較器、
４Ａと４Ｂはアナログスイツチ、５Ａと５Ｂはピ
ークホールド回路、６は加算器である。
変位検出器２Ａは被測定物１の回転円の第１の
先端の位置を接触して検出し、変位検出器２Ｂは
第１の先端の位置と反対側の被測定物１の回転円
の第２の先端の位置を接触して検出する。
先端の位置を接触して検出し、変位検出器２Ｂは
第１の先端の位置と反対側の被測定物１の回転円
の第２の先端の位置を接触して検出する。
変位検出器２Ａと変位検出器２Ｂには電子マイ
クロメータなどを使用することができる。
クロメータなどを使用することができる。
第１図では、変位検出器２Ａ側に比較器３Ａ、
アナログスイツチ４Ａおよびピークホールド回路
５Ａがある。
アナログスイツチ４Ａおよびピークホールド回路
５Ａがある。
また、変位検出器２Ｂ側には、比較器３Ｂ、ア
ナログスイツチ４Ｂおよびピークホールド回路５
Ｂがある。
ナログスイツチ４Ｂおよびピークホールド回路５
Ｂがある。
そして、ピークホールド回路５Ａの出力とピー
クホールド回路５Ｂの出力を入力とする加算器６
がある。
クホールド回路５Ｂの出力を入力とする加算器６
がある。
すなわち、第１図は被測定物１を挟んで変位検
出器、比較器、アナログスイツチ、ピークホール
ド回路を２組配置し、２組のピークホールド回路
の出力を加算器６で加算するものである。
出器、比較器、アナログスイツチ、ピークホール
ド回路を２組配置し、２組のピークホールド回路
の出力を加算器６で加算するものである。
比較器３Ａの入力端子３１Ａには変位検出器２
Ａの出力が加えられ、比較器３Ａの入力端子３２
Ａには変位検出器２Ａの測定範囲の最小値に対応
する基準電圧V1が加えられる。
Ａの出力が加えられ、比較器３Ａの入力端子３２
Ａには変位検出器２Ａの測定範囲の最小値に対応
する基準電圧V1が加えられる。
変位検出器２Ａの出力が基準電圧V1より大き
いとき、比較器３Ａは「１」を出す。また、検出
器２Ａの出力が基準電圧V1より小さいとき、比
較器３Ａは「０」を出す。
いとき、比較器３Ａは「１」を出す。また、検出
器２Ａの出力が基準電圧V1より小さいとき、比
較器３Ａは「０」を出す。
比較器３Ｂの入力端子３１Ｂには変位検出器２
Ｂの出力が加えられ、比較器３Ｂの入力端子３２
Ｂには変位検出器２Ｂの測定範囲の最小値に対応
する基準電圧V2が加えられる。そして、比較器
３Ｂは、比較器３Ａと同じように動作する。
Ｂの出力が加えられ、比較器３Ｂの入力端子３２
Ｂには変位検出器２Ｂの測定範囲の最小値に対応
する基準電圧V2が加えられる。そして、比較器
３Ｂは、比較器３Ａと同じように動作する。
変位検出器２Ａの出力はアナログスイツチ４Ａ
に加えられ、変位検出器２Ｂの出力はアナログス
イツチ４Ｂに加えられる。
に加えられ、変位検出器２Ｂの出力はアナログス
イツチ４Ｂに加えられる。
アナログスイツチ４Ａは、比較器３Ａの出力で
オンオフし、オンのときだけ変位検出器２Ａの出
力をピークホールド回路５Ａに加える。
オンオフし、オンのときだけ変位検出器２Ａの出
力をピークホールド回路５Ａに加える。
アナログスイツチ４Ｂは、比較器３Ｂの出力で
オンオフし、アナログスイツチ４Ａと同じように
動作する。
オンオフし、アナログスイツチ４Ａと同じように
動作する。
比較器３Ａの出力が「１」のとき、アナログス
イツチ４Ａはオンし、変位検出器１の出力をピー
クホールド回路５Ａに加える。
イツチ４Ａはオンし、変位検出器１の出力をピー
クホールド回路５Ａに加える。
比較器３Ａの出力が「０」のとき、アナログス
イツチ４Ａはオフし、変位検出器２Ａの出力をピ
ークホールド回路５Ａに加えないようにする。
イツチ４Ａはオフし、変位検出器２Ａの出力をピ
ークホールド回路５Ａに加えないようにする。
［作用］
次に、変位検出器２Ａと比較器３Ａのレベル関
係を第２図により説明する。
係を第２図により説明する。
第２図アは変位検出器２Ａの出力レベル図であ
り、第２図イは比較器３Ａの出力レベル図であ
る。
り、第２図イは比較器３Ａの出力レベル図であ
る。
第２図の横軸は変位検出器２Ａの変位であり、
第２図アは変位「０」を中心に変位検出器２Ａに
変位があると出力レベルが増えることを示す。こ
のような状態は変位検出器２Ａに差動トランスと
３整流回路を使用すれば実現することができる。
第２図アは変位「０」を中心に変位検出器２Ａに
変位があると出力レベルが増えることを示す。こ
のような状態は変位検出器２Ａに差動トランスと
３整流回路を使用すれば実現することができる。
比較器３Ａの入力端子３１Ａには第２図アに示
す基準電圧V1を加えている。
す基準電圧V1を加えている。
変位検出器２Ａの出力が０〜V1までは、第２
図イに示すように、比較器３Ａの出力は「１」で
ある。
図イに示すように、比較器３Ａの出力は「１」で
ある。
比較器３Ａの出力が「１」のときアナログスイ
ツチ４Ａがオンになるので、アナログスイツチ４
Ａがオンになつているときの最大値がピークホー
ルド回路５Ａに保持される。
ツチ４Ａがオンになるので、アナログスイツチ４
Ａがオンになつているときの最大値がピークホー
ルド回路５Ａに保持される。
変位検出器２Ｂ、比較器３Ｂ、アナログスイツ
チ４Ｂおよびピークホールド回路５Ｂの動作も検
出器２Ａからピークホールド回路５Ａまでと同じ
である。
チ４Ｂおよびピークホールド回路５Ｂの動作も検
出器２Ａからピークホールド回路５Ａまでと同じ
である。
なお、基準電圧V1は基準電圧V2と同じでもよ
いし、別の電圧をセツトしてもよい。
いし、別の電圧をセツトしてもよい。
このようにしてえられたピークホールド回路５
Ａとピークホールド回路５Ｂの値を加算器６で加
算すれば、出力端子７から被測定物１の径を取り
出すことができる。
Ａとピークホールド回路５Ｂの値を加算器６で加
算すれば、出力端子７から被測定物１の径を取り
出すことができる。
次に、被測定物１と変位検出器２Ａ，２Ｂの関
係を第３図により説明する。
係を第３図により説明する。
第３図の１Ａは被測定物１の突起であり、第３
図アは被測定物１の回転状態を示したものであ
る。
図アは被測定物１の回転状態を示したものであ
る。
第３図ア−１から反時計方向に被測定物１は回
転し、第３図ア−２は変位検出器２Ｂに接触して
いる。
転し、第３図ア−２は変位検出器２Ｂに接触して
いる。
第３図ア−３は第３図ア−２から回転した状態
図であり、第３図ア−４は変位検出器２Ａに被測
定物１が接触している状態図である。
図であり、第３図ア−４は変位検出器２Ａに被測
定物１が接触している状態図である。
第３図イは変位検出器２Ａの出力であり、第３
図ウは変位検出器２Ｂの出力である。
図ウは変位検出器２Ｂの出力である。
第３図エは比較器３Ａの出力であり、第３図オ
は比較器３Ｂの出力である。
は比較器３Ｂの出力である。
［考案の効果］
この考案によれば、突起をもち、回転する被測
定物を挟んで変位検出器、比較器、アナログスイ
ツチおよびピークホールド回路を２組配置し、被
測定物の先端の位置が変位検出器の測定範囲に入
つたことを比較器で検出し、この比較器の出力が
「１」の間の変位検出器の最大出力をピークホー
ルド回路で保持し、２組のピークホールド回路の
出力を加算器で加算し、被測定物の回転円の外径
を電子的手段で測定できるので次のような効果が
ある。
定物を挟んで変位検出器、比較器、アナログスイ
ツチおよびピークホールド回路を２組配置し、被
測定物の先端の位置が変位検出器の測定範囲に入
つたことを比較器で検出し、この比較器の出力が
「１」の間の変位検出器の最大出力をピークホー
ルド回路で保持し、２組のピークホールド回路の
出力を加算器で加算し、被測定物の回転円の外径
を電子的手段で測定できるので次のような効果が
ある。
(ア) ギアの直径やカムの先端部が描く直径などの
ように、単純に変位検出器を被測定物に接触さ
せるだけでは測定できないようなものでも測定
することができる。
ように、単純に変位検出器を被測定物に接触さ
せるだけでは測定できないようなものでも測定
することができる。
(イ) 比較器の出力で、変位検出器の出力がピーク
ホールド回路に入る時間を制限しているので、
ノイズの影響を少なくすることができる。
ホールド回路に入る時間を制限しているので、
ノイズの影響を少なくすることができる。
(ウ) ２つの変位検出器の出力を電気的に演算して
いるので、被測定物の位置が変動しても、正確
な測定をすることができる。
いるので、被測定物の位置が変動しても、正確
な測定をすることができる。
(エ) 加算器の出力にリミツトを設けておけば、被
測定物の不良を検出することができる。
測定物の不良を検出することができる。
第１図はこの考案による寸法測定装置の構成
図、第２図は変位検出器２Ａと比較器３Ａのレベ
ル関係を示す図、第３図は被測定物１と変位検出
器２Ａ，２Ｂの関係説明図である。 １…被測定物、１Ａ…突起、２Ａ，２Ｂ…変位
検出器、３Ａ，３Ｂ…比較器、４Ａ，４Ｂ…アナ
ログスイツチ、５Ａ，５Ｂ…ピークホールド回
路、６…加算器、７…端子。
図、第２図は変位検出器２Ａと比較器３Ａのレベ
ル関係を示す図、第３図は被測定物１と変位検出
器２Ａ，２Ｂの関係説明図である。 １…被測定物、１Ａ…突起、２Ａ，２Ｂ…変位
検出器、３Ａ，３Ｂ…比較器、４Ａ，４Ｂ…アナ
ログスイツチ、５Ａ，５Ｂ…ピークホールド回
路、６…加算器、７…端子。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 突起をもち、回転する被測定物１の回転円の第
１の先端の位置を接触して検出する第１の変位検
出器２Ａと、 第１の先端の位置と反対側の被測定物１の回転
円の第２の先端の位置を接触して検出する第２の
変位検出器２Ｂと、 第１の変位検出器２Ａの出力を第１の入力端子
３１Ａの入力とし、第１の変位検出器２Ａの測定
範囲の最小値に対応する第１の基準電圧V1を第
２の入力端子３２Ａの入力とし、第１の変位検出
器２Ａの出力が第１の基準電圧V1より大きいと
き、「１」を出し、第１の変位検出器２Ａの出力
が第１の基準電圧V1より小さいとき、「０」を出
す第１の比較器３Ａと、 第１の比較器３Ａの出力が「１」のとき、オン
になつて第１の変位検出器２Ａの出力を出し、第
１の比較器３Ａの出力が「０」のときオフになる
第１のアナログスイツチ４Ａと、 第１のアナログスイツチ４Ａの出力を入力とす
る第１のピークホールド回路５Ａと、 第２の変位検出器２Ｂの出力を第３の入力端子
３１Ｂの入力とし、第２の変位検出器２Ｂの測定
範囲の最小値に対応する第２の基準電圧V2を第
４の入力端子３２Ｂの入力とし、第２の変位検出
器２Ｂの出力が第２の基準電圧V2より大きいと
き「１」を出し、第２の変位検出器２Ｂの出力が
第２の基準電圧V2より小さいとき「０」を出す
第２の比較器３Ｂと、 第２の比較器３Ｂの出力が「１」のとき、オン
になつて第２の変位検出器２Ｂの出力を出し、第
２の比較器３Ｂの出力が「０」のときオフになる
第２のアナログスイツチ４Ｂと、 第２のアナログスイツチ４Ｂの出力を入力とす
る第２のピークホールド回路５Ｂと、 第１のピークホールド回路５Ａの出力と第２の
ピークホールド回路５Ｂの出力を加算する加算器
６を備えることを特徴する寸法測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10597183U JPS6013408U (ja) | 1983-07-07 | 1983-07-07 | 寸法測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10597183U JPS6013408U (ja) | 1983-07-07 | 1983-07-07 | 寸法測定器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6013408U JPS6013408U (ja) | 1985-01-29 |
| JPH0216247Y2 true JPH0216247Y2 (ja) | 1990-05-02 |
Family
ID=30248181
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10597183U Granted JPS6013408U (ja) | 1983-07-07 | 1983-07-07 | 寸法測定器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6013408U (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63108355U (ja) * | 1986-12-31 | 1988-07-13 | ||
| JPS63117344U (ja) * | 1987-01-26 | 1988-07-29 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5559311U (ja) * | 1978-10-16 | 1980-04-22 |
-
1983
- 1983-07-07 JP JP10597183U patent/JPS6013408U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6013408U (ja) | 1985-01-29 |
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