JPH0216982B2 - - Google Patents
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- JPH0216982B2 JPH0216982B2 JP57148748A JP14874882A JPH0216982B2 JP H0216982 B2 JPH0216982 B2 JP H0216982B2 JP 57148748 A JP57148748 A JP 57148748A JP 14874882 A JP14874882 A JP 14874882A JP H0216982 B2 JPH0216982 B2 JP H0216982B2
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- Japan
- Prior art keywords
- irradiance
- ultraviolet
- light
- specific wavelength
- region
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N17/00—Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light
- G01N17/004—Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light to light
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biodiversity & Conservation Biology (AREA)
- Ecology (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Environmental Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、人工光源を用いた耐光性試験装置に
おいて光源から試験片にあたる特定波長の紫外線
の分光放射照度の経時変化および試験中の積算値
を求めると共に、ランプの点灯条件が適正に保た
れているか否かを監視するための耐光性試験装置
用放射照度モニター装置に関するものである。
おいて光源から試験片にあたる特定波長の紫外線
の分光放射照度の経時変化および試験中の積算値
を求めると共に、ランプの点灯条件が適正に保た
れているか否かを監視するための耐光性試験装置
用放射照度モニター装置に関するものである。
このような目的のために従来から光電式光セン
サーを用いた光モニター装置が用いられている
が、種々な欠点を持つている。例えば光電式光セ
ンサーの分光感度が温度の影響を受けその影響が
波長によつて異ること、又暗電流が温度によつて
変ること、等が知られているにもかかわらず従来
のものは光センサーの温度について注意が払われ
ていなかつた。
サーを用いた光モニター装置が用いられている
が、種々な欠点を持つている。例えば光電式光セ
ンサーの分光感度が温度の影響を受けその影響が
波長によつて異ること、又暗電流が温度によつて
変ること、等が知られているにもかかわらず従来
のものは光センサーの温度について注意が払われ
ていなかつた。
本発明においては光センサーの温度を一定に調
節制御することによつてこのような欠点を除いた
ものである。
節制御することによつてこのような欠点を除いた
ものである。
また従来のものは耐光性を試験する材料が劣化
する波長領域の紫外線の放射照度はまたその時間
積算値をモニターしているが、可視部の狭い特定
波長のモニターは行なわれていない。一般の人工
光源の放射照度は点灯条件を一定に保つた場合に
点灯時間の経過に従つて低下するが、その傾向す
なわち動程曲線は第１図のようである。可視部の
ある波長の放射照度は第１図のａのようにわずか
の低下を示し、紫外部のある波長は第１図ｂのよ
うに可視部にくらべてはるかに大きな低下を示
す。
する波長領域の紫外線の放射照度はまたその時間
積算値をモニターしているが、可視部の狭い特定
波長のモニターは行なわれていない。一般の人工
光源の放射照度は点灯条件を一定に保つた場合に
点灯時間の経過に従つて低下するが、その傾向す
なわち動程曲線は第１図のようである。可視部の
ある波長の放射照度は第１図のａのようにわずか
の低下を示し、紫外部のある波長は第１図ｂのよ
うに可視部にくらべてはるかに大きな低下を示
す。
点灯条件が一定に保たれない場合、例えば電源
電圧が変動する場合には放射照度は電源電圧の二
乗程度に比例して変化するので、可視部でも第１
図のａにくらべて大きな変動を示す。更に光源と
して紫外線螢光ランプを用いた場合にはランプの
周囲温度と風速とによつてランプ温度が変化し、
全波長域の放射温度の影響を受ける。
電圧が変動する場合には放射照度は電源電圧の二
乗程度に比例して変化するので、可視部でも第１
図のａにくらべて大きな変動を示す。更に光源と
して紫外線螢光ランプを用いた場合にはランプの
周囲温度と風速とによつてランプ温度が変化し、
全波長域の放射温度の影響を受ける。
このように点灯条件を監視するためには紫外部
だけでなく可視部の変化の少ない波長の光をモニ
ターする必要があり、そのためには可視部全領域
でなく変化の少ない波長領域をモニターしなけれ
ばならない。
だけでなく可視部の変化の少ない波長の光をモニ
ターする必要があり、そのためには可視部全領域
でなく変化の少ない波長領域をモニターしなけれ
ばならない。
これらを満足させるために、本発明においては
２個以上の光電式光センサーを、自動温度制御装
置を備えた同一の例へばアルミニウム製の金属ブ
ロツク中に取付けることによつて、全ての光セン
サーが一定温度に保たれるようにして複数波長で
の放射照度を同時に測定し、可視部の一波長での
測定を点灯条件の監視に利用し、紫外部の一波長
または複数波長での測定をランプの劣化の監視と
試験試料の受光量のモニターに利用した。又、放
射照度とその時間積算値は共に重要なので、両者
を同時にモニターできるようにしたものである。
２個以上の光電式光センサーを、自動温度制御装
置を備えた同一の例へばアルミニウム製の金属ブ
ロツク中に取付けることによつて、全ての光セン
サーが一定温度に保たれるようにして複数波長で
の放射照度を同時に測定し、可視部の一波長での
測定を点灯条件の監視に利用し、紫外部の一波長
または複数波長での測定をランプの劣化の監視と
試験試料の受光量のモニターに利用した。又、放
射照度とその時間積算値は共に重要なので、両者
を同時にモニターできるようにしたものである。
以下に第２図及び第３図に基いて本発明の実施
例を具体的に説明する。
例を具体的に説明する。
第２図は本発明に係る受光部の断面であつて、
本実施例では紫外部と可視部とを夫々一波長づつ
の放射照度を測定することが出来るものである。
本実施例では紫外部と可視部とを夫々一波長づつ
の放射照度を測定することが出来るものである。
１及び１′は受光部のコサイン特性改善のため
の拡散板で、焼結アルミナは砂ずり石英板を採用
してある。
の拡散板で、焼結アルミナは砂ずり石英板を採用
してある。
２及び２′はモニターすべき波長の光を通過さ
せるための干渉フイルターで、該干渉フイルター
２としては紫外用で最大透過波長の誤差±2nｍ
以内、透過半値幅10nｍ程度のものを用いてあ
る。
せるための干渉フイルターで、該干渉フイルター
２としては紫外用で最大透過波長の誤差±2nｍ
以内、透過半値幅10nｍ程度のものを用いてあ
る。
最大透過波長は光源の分光特性、試験試料の光
劣化の作用波長、フイルターの入手し易さ、など
から決定するものである。313nｍ、365nｍなど
の水銀輝線スペクトルに相当する波長のものが入
手し易い。光源として紫外線螢光ランプを使う場
合には螢光体から発光する連続スペクトル光と上
記輝線スペクトル光とをまとめて測定することに
なる。ここでは313nｍのものを用いたが、313±
10nｍすなわち303nｍから323nｍまでの紫外線放
射照度を求めることは考えず、313nｍにおける
分光放射照度を10nｍの波長幅で測定するものと
考えて値付けした。
劣化の作用波長、フイルターの入手し易さ、など
から決定するものである。313nｍ、365nｍなど
の水銀輝線スペクトルに相当する波長のものが入
手し易い。光源として紫外線螢光ランプを使う場
合には螢光体から発光する連続スペクトル光と上
記輝線スペクトル光とをまとめて測定することに
なる。ここでは313nｍのものを用いたが、313±
10nｍすなわち303nｍから323nｍまでの紫外線放
射照度を求めることは考えず、313nｍにおける
分光放射照度を10nｍの波長幅で測定するものと
考えて値付けした。
ただし紫外部干渉フイルターの分光透過率は最
大透過波長を中心として左右非対称である。
大透過波長を中心として左右非対称である。
前記した干渉フイルター2′は可視部用干渉フイ
ルターで、紫外線螢光ランプ光源の場合に最大透
過波長546±1nｍ、透過半値幅3nｍ透過率の左右
対称性のよいものを用いた。これは螢光ランプの
緑色の水銀輝線に相当する波長を監視するもの
で、この波長の光は第１図で示すようにランプの
劣化にともなう経時変化が少ない。
ルターで、紫外線螢光ランプ光源の場合に最大透
過波長546±1nｍ、透過半値幅3nｍ透過率の左右
対称性のよいものを用いた。これは螢光ランプの
緑色の水銀輝線に相当する波長を監視するもの
で、この波長の光は第１図で示すようにランプの
劣化にともなう経時変化が少ない。
紫外線螢光ランプではこの領域に螢光体発光は
なく、546nｍにおける輝線の放射照度だけを測
定していることになる。
なく、546nｍにおける輝線の放射照度だけを測
定していることになる。
３及び３′は光センサーへの斜入射を防止する
ための光ガイドでハニカム状に形成してある。干
渉フイルター２及び２′は斜入射によつて透過波
長が変るので、測定する波長領域を正確に保ちた
い場合に必要であるが、相対的モニターで充分な
場合には省略することもできる。
ための光ガイドでハニカム状に形成してある。干
渉フイルター２及び２′は斜入射によつて透過波
長が変るので、測定する波長領域を正確に保ちた
い場合に必要であるが、相対的モニターで充分な
場合には省略することもできる。
４及び４′は光センサーとしてのシリコンフオ
トダイオードで、同一性能のものを前記干渉フイ
ルター２及び２′との組合せによつて４は紫外部
４′は可視部用とする。可視部の放射照度が大き
すぎる場合には干渉フイルター２′と光センサー
４′との間にフオトエツチングによる金属減光板
（図示せず）を入れて入射光を調節できる。
トダイオードで、同一性能のものを前記干渉フイ
ルター２及び２′との組合せによつて４は紫外部
４′は可視部用とする。可視部の放射照度が大き
すぎる場合には干渉フイルター２′と光センサー
４′との間にフオトエツチングによる金属減光板
（図示せず）を入れて入射光を調節できる。
更に紫外部の測定波長の数をふやす場合には金
属ブロツク７としてのアルミニウムブロツク内に
上記と同様な受光係を増設すればよい。
属ブロツク７としてのアルミニウムブロツク内に
上記と同様な受光係を増設すればよい。
５は温度センサー、６は半導体発熱体であり、
金属ブロツク７としてのアルミニウムブロツク内
の温度を一定に保つために用いられる。８はシリ
カゲルであつて、アルミニウムブロツク内を乾操
させるものである。紫外用干渉フイルター２に組
合された黒色のバンドパスフイルター（図示せ
ず）は特に水蒸気によつて加水分解劣化するの
で、ブロツク内はＯリングとハーメチツクシール
９で完全に防湿構造としてある。
金属ブロツク７としてのアルミニウムブロツク内
の温度を一定に保つために用いられる。８はシリ
カゲルであつて、アルミニウムブロツク内を乾操
させるものである。紫外用干渉フイルター２に組
合された黒色のバンドパスフイルター（図示せ
ず）は特に水蒸気によつて加水分解劣化するの
で、ブロツク内はＯリングとハーメチツクシール
９で完全に防湿構造としてある。
１０はブロツク支持および測定回路を通すため
のパイプである。１１は熱絶縁用高分子発泡体
で、表面は光劣化を防止するためのアルミニウム
箔などで包んである。
のパイプである。１１は熱絶縁用高分子発泡体
で、表面は光劣化を防止するためのアルミニウム
箔などで包んである。
第３図は測光回路および温度調節回路のブロツ
クダイヤグラムである。
クダイヤグラムである。
１８及び１８′は光センサー４，４′の光電流を
電圧に変換する光電流一電圧変換回路であり、電
流測定用ICの負帰還抵抗を変えることにより又
次段増幅回路の増幅率を変えることによつて感度
を調節するよう成してある。又感度の値付けは分
光放射照度標準ランプによつて値付けされたハロ
ゲンランプを用いて行なう。
電圧に変換する光電流一電圧変換回路であり、電
流測定用ICの負帰還抵抗を変えることにより又
次段増幅回路の増幅率を変えることによつて感度
を調節するよう成してある。又感度の値付けは分
光放射照度標準ランプによつて値付けされたハロ
ゲンランプを用いて行なう。
１２及び１２′は光電流一電圧変換回路１８，
１８′で測定された電圧値を周波数に変換する電
圧一周波数変換回路１３及び１３′は短時間の積
分で瞬間の放射照度を計算する演算回路、１４及
び１４′は照射の開始から終了まで積分をつゞけ
て積算放射照度を計算する積分回路である。１５
及び１５′はそれらをデイジタル表示する表示器
である。又必要に応じてデイジタルプリントする
こともできる。１６はアナログ除算回路であり、
紫外／可視の比率を求めることができるように成
してある。
１８′で測定された電圧値を周波数に変換する電
圧一周波数変換回路１３及び１３′は短時間の積
分で瞬間の放射照度を計算する演算回路、１４及
び１４′は照射の開始から終了まで積分をつゞけ
て積算放射照度を計算する積分回路である。１５
及び１５′はそれらをデイジタル表示する表示器
である。又必要に応じてデイジタルプリントする
こともできる。１６はアナログ除算回路であり、
紫外／可視の比率を求めることができるように成
してある。
温度センサー５としては絶体温度測定用ICを
用い。温度調節回路１７によつて半導体発熱体６
の発熱を自動制御してアルミニウムブロツク７を
一定温度に保つように成してある。
用い。温度調節回路１７によつて半導体発熱体６
の発熱を自動制御してアルミニウムブロツク７を
一定温度に保つように成してある。
光センサー温度は暗電流減少の点からは低い方
が望ましいが、簡易化のため加熱保温としてあ
る。設定温度は周囲の空気温度の予想最高値とし
てある。
が望ましいが、簡易化のため加熱保温としてあ
る。設定温度は周囲の空気温度の予想最高値とし
てある。
次に叙上の構成から成る本発明の作用について
説明する。
説明する。
一定温度に制御された金属ブロツク７内の光セ
ンサー４に拡散板１、干渉フイルター２、光ガイ
ド３を介して光源（図示せず）からの紫外部の特
定波長を入射せしめると同時に光センサー４′に
拡散板１′、干渉フイルター２′、光ガイド３′を
介して光源からの可視部の特定波長を入射せしめ
る。
ンサー４に拡散板１、干渉フイルター２、光ガイ
ド３を介して光源（図示せず）からの紫外部の特
定波長を入射せしめると同時に光センサー４′に
拡散板１′、干渉フイルター２′、光ガイド３′を
介して光源からの可視部の特定波長を入射せしめ
る。
光センサー４，４′に入射した光は光電流一電
圧変換回路１８，１８′により電気信号に変換さ
れ、次段で電圧一周波数変換回路１２，１２′に
より周波数に変換され、演算回路１３，１３′、
積分回路１４，１４′を介して表示器１５，１
５′に放射照度がデジタル表示せしめられる。
圧変換回路１８，１８′により電気信号に変換さ
れ、次段で電圧一周波数変換回路１２，１２′に
より周波数に変換され、演算回路１３，１３′、
積分回路１４，１４′を介して表示器１５，１
５′に放射照度がデジタル表示せしめられる。
而して、本発明は叙上の如き構成及び作用を有
するもので、特に温度調節をした２個又はそれ以
上の数の光センサーに少なくとも紫外部と可視部
の２つの特定波長の光を同時に入射すべく成した
ので、 (a)光電式光センサーの波長依存する分光感度の温
度による変異特性又は、暗電流の温度変化等に
よる較正を考慮する必要がないので高精度で且
つ簡易に測定を行い得る。
するもので、特に温度調節をした２個又はそれ以
上の数の光センサーに少なくとも紫外部と可視部
の２つの特定波長の光を同時に入射すべく成した
ので、 (a)光電式光センサーの波長依存する分光感度の温
度による変異特性又は、暗電流の温度変化等に
よる較正を考慮する必要がないので高精度で且
つ簡易に測定を行い得る。
(b) 経時変化の大きい紫外部の特定波長として水
銀輝線の313nｍ、365nｍ等を採用し、経時変
化の小さい可視部の特定波長として水銀輝線の
546nｍを採用したので、可視部を基準にした
紫外部の放射照度の経時低下、光源ランプの点
灯条件の維持状態等を適確に比較モニターする
ことが出来る。
銀輝線の313nｍ、365nｍ等を採用し、経時変
化の小さい可視部の特定波長として水銀輝線の
546nｍを採用したので、可視部を基準にした
紫外部の放射照度の経時低下、光源ランプの点
灯条件の維持状態等を適確に比較モニターする
ことが出来る。
第１図は螢光灯から放射される紫外部ａ及び可
視部ｂの放射照度の時間に対する一般的変化を表
わす図で、横軸に時間ｔ、縦軸に放射照度Ｑを採
つてある。第２図は本発明に係るモニター装置の
概略図、第３図は同じくその電気回路のブロツク
ダイヤグラムである。 ４，４′……光センサー、５……温度センサー、
７……金属ブロツク、１５，１５′……表示器。
視部ｂの放射照度の時間に対する一般的変化を表
わす図で、横軸に時間ｔ、縦軸に放射照度Ｑを採
つてある。第２図は本発明に係るモニター装置の
概略図、第３図は同じくその電気回路のブロツク
ダイヤグラムである。 ４，４′……光センサー、５……温度センサー、
７……金属ブロツク、１５，１５′……表示器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 金属ブロツクケース内の２個又はそれ以上の
数の光電式光センサーによつて、経時変化の大き
紫外部の特定波長の水銀輝線と蛍光体発光による
連続スペクトルとの和としての放射照度と、経時
変化の小さい可視部の特定波長の水銀輝線の放射
照度とを同時測定し、前記可視部を基準にして紫
外部の放射照度の経時低下及び光源紫外線蛍光ラ
ンプの点灯条件の維持状態をモニターする装置に
於いて、 前記金属ブロツクケース内に設置した２個又は
それ以上の数の光電式光センサーを常時一定温度
に調節制御し且つ防湿に保持せしめると共に、前
記紫外部の特定波長が水銀輝線の313nｍ、365n
ｍ等であり、前記可視部の特定波長が水銀輝線の
546nｍである耐光性試験機用放射照度モニター
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14874882A JPS5937446A (ja) | 1982-08-26 | 1982-08-26 | 耐光性試験機用放射照度モニタ−装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14874882A JPS5937446A (ja) | 1982-08-26 | 1982-08-26 | 耐光性試験機用放射照度モニタ−装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5937446A JPS5937446A (ja) | 1984-02-29 |
| JPH0216982B2 true JPH0216982B2 (ja) | 1990-04-19 |
Family
ID=15459738
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14874882A Granted JPS5937446A (ja) | 1982-08-26 | 1982-08-26 | 耐光性試験機用放射照度モニタ−装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5937446A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0415783U (ja) * | 1990-05-29 | 1992-02-07 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02115726A (ja) * | 1988-10-25 | 1990-04-27 | Matsushita Electric Works Ltd | 受光量計測装置 |
| EP2982962B1 (de) * | 2014-08-07 | 2020-01-01 | Atlas Material Testing Technology GmbH | Sensoreinrichtung mit mehreren Sensoren für eine Bewitterungsvorrichtung |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5819535Y2 (ja) * | 1977-07-29 | 1983-04-22 | 京セラ株式会社 | マクロ撮影可能なズ−ム光学系を備える自動合焦点装置の動作規制装置 |
-
1982
- 1982-08-26 JP JP14874882A patent/JPS5937446A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0415783U (ja) * | 1990-05-29 | 1992-02-07 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5937446A (ja) | 1984-02-29 |
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